CN101506688A - 散射衰减断层成像 - Google Patents
散射衰减断层成像 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101506688A CN101506688A CNA2007800312478A CN200780031247A CN101506688A CN 101506688 A CN101506688 A CN 101506688A CN A2007800312478 A CNA2007800312478 A CN A2007800312478A CN 200780031247 A CN200780031247 A CN 200780031247A CN 101506688 A CN101506688 A CN 101506688A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- wave beam
- incident wave
- hard radiation
- ray
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003325 tomography Methods 0.000 title description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 41
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 7
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 3
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004611 CdZnTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 1
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 1
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 1
- 230000000452 restraining effect Effects 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 238000002603 single-photon emission computed tomography Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/12—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a flowing fluid or a flowing granular solid
-
- G01V5/222—
Abstract
基于以被辐照的成对体素确定的衰减表征检测目标的方法。用具有传播方向和能量分布的穿透射线的波束扫描目标，而具有校准视场的散射检测器检测被检测目标的每个体素散射的射线，检测目标与穿透射线的入射波束相交。通过计算穿透射线在入射波束入射的成对体素之间的衰减，获得断层图像，表征目标中穿透射线的一个或多个能量衰减的三维分布，从而表征各种材料特性。
Description
相关申请的交叉参考
本申请基于2006年8月23日提交的临时申请号为60/823,328的美国专利申请，并要求其优先权，在此结合其申请作为参考。
技术领域
本发明涉及一种使用穿透射线(penetrating radiation)的方法检测目标的方法和系统，和更特定地涉及一种通过以散射成不同，或者相反的方向的穿透射线的同步检查(simultaneous detection)来进行目标检查。
背景技术
自从2001年9月，X射线计算机断层成像(x ray computerizedtomography)(CT)已经被广泛地用于检查隐藏于航空行李的易爆性物质。这些方法通过测量包含在行李箱中目标的“CT编号(number)”进行作业。这种CT编号实质上是对X射线(具有给定能量分布)在组成各个目标的物质中每单位长度衰减的测量。然后这种CT编号可以用于识别这种物质。作为一个定义，这里和任何附加申请中用到的“CT编号”指的是一种X射线衰减的测量，通常是相对于水的衰减。
对于有机物质，这种CT编号实质上是一种该物质电子密度的测量，从而是与质量密度成正比。因此，X射线CT系统可以测量隐藏物质的质量密度。易爆性物质易于具有在于大约1.2—1.7克每立方厘米(g/cc)的范围中的质量密度。因为X射线CT系统以三维的方式重现了容器中的内容，也可以确定每个隐藏目标的体积。将这些信息结合密度得到各个目标的质量。通过选择密度在1.2到1.7g/cc，具有最小尺寸和质量的目标，可自动发现容器中的易爆性威胁，并拉响警报。
X射线CT系统的缺点包括它们的尺寸和成本。由于安装X射线源和检测器组的迅速旋转的台架，尺寸和成本增加很大。
专利号为5,930,326，题为“侧散射断层成像系统”的美国专利描述了一种用于检查与X射线的光栅扫描(raster scanning)笔形波束基本上差90度散射的射线的方法，通过分段(segmented)和平行(collimated)检测器组中的一种或多种检查。然后，侧散射射线的强度分布用于重现(以三维的方式)隐藏在容器中的有机对象。在此结合这个专利作为参考。
发明内容
根据本发明的优选实施例，提供了在基于体素(voxel)成对分析的穿透射线平均自由行程(mean free path)基础上来表征目标的方法和系统。
在不同实施例中，这种方法包括：
产生具有传播方向和能量分布的穿透射线的入射波束；
围绕穿透射线的波束设置多个检测器元件，每个检测器具有视场；
校准每个检测器元件的视场；
改变穿透射线的入射波束的传播方向从而在多个入射点依次入射到检测目标上；
探测从检测目标的成对体素散射的射线，该体素被定义为入射波束的传播方向与检测器元件的视场之间的交点；
计算入射波束的入射体素对之间的穿透射线的衰减。
根据本发明的另一个实施例，检测射线的步骤可包括检测穿透射线的入射波束散射出的射线的特定能量成分。除了改变入射波束的传播方向，入射波束可以大致横穿传播方向的方式扫描，从而以多个入射点入射在检测目标上。可以显示作为检测目标中的位置的函数的穿透射线的衰减。
根据本发明的另一个可选实施例，围绕穿透射线的入射波束设置检测器的步骤可包括沿具有大致平行于入射波束传播方向的向量分量的方向设置散射检测器组，或者可包括在大致横穿穿透射线波束的平面上设置检测器。
计算穿透射线的衰减可包括确定散射射线的平均自由行程，作为检测目标中位置的函数。校准可包括将每个检测器的视场限制到关于入射波束的传播方向的特定角度范围的方向。
根据本发明的另一个实施例，前述方法还可包括改变穿透射线的入射波束的能量分布。此外，扫描步骤可包括关于X射线管扫描孔(aperture)，以及激活源组的离散元件。基于对根据前述公开计算的平均自由行程和测量值表进行比较，识别作为危险物质的物质。可通过对相反视场的检测器元件体素的重复询问(interrogation)确认计算的衰减。
附图说明
通过连同附图参考下面详细描述，本发明的前述的图将更加容易理解。
图1根据本发明的实施例描述了散射衰减断层成像系统的操作原理；
图2描述了干涉目标插入图1系统中入射波束之一的几何尺寸；
图3本发明的优选实施例的示意性描述，其中相对检测器组的检测器元件检测被检测目标侧散射的穿透射线；
图4示意性地描述了一种情景(scenario)，其中两个周围目标位于待检测目标和上下散射组元件之间；
图5A和图5B根据本发明实施例描述系统扫描行李和小包裹；
图6描述当系统位于移动检测部件中，其中散射检测器设置在检测目标的一侧；
图7是示出了本发明的实施例，其中源设计在检测目标上方，并且散射检测器组设置在两侧；
图8A和图8B示出了本发明的用于人员检查的实施例，其中分别在检查物体上(或下)的相对水平表面地设置了穿透射线的源；和
图9示出了包括两个校准X射线检测器的手持检查设备，并且根据本发明的实施例放射(emitting)多个扫描X射线波束。
特定实施方式
本发明基于专利号为5,930,326的美国专利的公开内容，其描述了一种用来更加精确地测量隐藏有机目标密度的简单巧妙的方法。根据本发明的优选实施例，用两个检测器组检查侧散射分布。这种方法允许对容器中的有机内容进行全三维重现，并且利用专利号为5,930,326的美国专利公开的方法可以得到更加精确的密度确定。
现参考图1所描述，散射衰减断层成像通常关注的是当光栅扫描X射线波束进入检测目标深处时侧散射射线的衰减。
值得注意的是，尽管本描述将穿透射线的入射波束10称之为X射线波束，可以理解任何穿透射线的波束都属于本发明的范围。因此，这种波束可包括X射线，或者伽马射线，等等。
在图1中，光栅扫描X射线波束10从左侧进入并穿过有机物部件12。在图1中，在时间t1和t2，X射线波束10分别具有强度I1和I2，瞬时位置(instantaneous positions)用数字10和11来指定。分段散射检测器组14位于有机物上方，并且校准了组14中的每个检测器元件15，从而其用于检测散射射线的视场16位于其正下方，或者使得其视场垂直于入射波束10的传播方向。检测器元件15中的一个被突出显示，并且在时间t1和t2，它检测分别从包含在有机物12中的体积元素17和18上发射出的散射射线。在时间t1和t2，在第i个检测器元件上检测到的散射射线的强度S1和S2的比值如下表示：
S2/S1＝(I2/I1)·A(Λ) 公式1
其中，A(Λ)是表征在有机物中散射射线在分隔两波束的距离Δl之间衰减系数，并且Λ是有机物中散射射线的平均自由行程。衰减系数A(Λ)如下表示：
A(Λ)＝e-Δl/Λ 公式2
可以看出，对于图1中所示的简单几何尺寸，入射X射线在两个体素上的强度是相等的(I1＝I2)。在这种情况下，公式1得出：
A(Λ)＝S2/S1 公式3
因此，衰减(以及有机物中射线的平均自由行程)可以简单地用比值S2/S1来确定。由于有机物的平均自由行程实质上与质量密度成正比，因此可以推测出物质的密度。
然而在现实的情况下，波束强度I1和I2通常是不相等的。例如，如果发生有机物12关于波束10和11旋转，或者如图2所示当干涉目标20阻挡一个入射波束。
在图2描述的情况下，因为I1≠I2，公式1表明A(Λ)≠S2/S1。实际上，因为I1和I2未知，衰减无法由公式1得出。
本发明提供了用于解决这种问题的方法，如参考图3描述。根据本发明的优选实施例，提供了两个侧散射组，即上侧散射组U和下侧散射组L。当然，可以理解上和下方向的参考是任意的，检测器组可以设置在具有大致平行于穿透性放射线的入射波束的传播方向的向量成分的方向上，这也属于本发明的范围。因此，图3所示的上和下检测器组U和L也可以指定为例如左和右组。
在上检测器组的突出显示的检测器元件中的散射强度在时间t1和t2的比值如下表示：
U2/U1＝(I2/I1)·A(Λ) 公式4
类似地，在下检测器中的信号比值如下表示：
L1/L2＝(I1/I2)·A(Λ) 公式5
合并公式4和5到一起，得到：
A(Λ)＝√[L1U2/(L2U1)] 公式6
可以看到，公式6中衰减系数的表达完全独立于未知的波束强度I1和I2，并且独立于包中有机物12的方向，或者周围可阻挡入射波束的目标20的数量。仅有的要求是在两入射波束中存在足够的强度，和足够清晰的路径使散射射线达到两个检测器组中每一个。
本发明另一个重要方面是，因为仅使用了散射强度的比值(例如，公式6中仅出现了L1/L2和U2/U1)，这种用公式6计算衰减系数的方法不受任何在散射射线到达一个或两个检测器组之前衰减散射射线的周围目标20的影响。图示中示意性地示出，其中两个周围目标40和42现位于接受检查的有机物12和上下散射组U和L之间。在这种情况下，仍然可以确定在有机部件12中的衰减(以及其密度)，尽管存在阻挡入射波束和散射射线的周边“阻挡物”。
对散射数据的额外校正
公式4和公式5基于如下假设，发生散射的波束1和波束2上的体素与每个检测器组的距离大体上相同。事实上，通常情况下波束1的体素与波束2的体素相距检测器组中的每一个的距离是不同的。为了校正这些不同，公式4和5变成：
U2/U1＝(I2/I1)·(dΩU2/dΩU1)·A(Λ) 公式7
L1/L2＝(I1/I2)·(dΩL1/dΩL2)·A(Λ) 公式8
其中，例如dΩL1是用于位于波束1中体素的下组中检测器元件的立体角(solid angle)。通过这些立体角校正，公式6现在变成：
A(Λ)＝√[L1U2/(L2U1)·dΩL2dΩU1/(dΩL1dΩU2)] 公式9
通常，立体角校正系数dΩL2dΩU1/(dΩL1dΩU2)的效果相当小，通常具有接近统一的值(a value close to unity)。
发明的示例性实施例
公式9中所指的对隐藏有机物的衰减(因此其密度)的测量可以在任何使用X射线的笔形波束并包括两个分段散射检测器组的系统中实现。图5A和图5B中示出了两个用于扫描行李和小包裹的系统，其中穿透射线源分别包含了具有围绕X射线管的扫描孔的环，以及包含可寻址激活的离散元件碳纳米管X射线源组52，例如在同时待决的2007年4月19日提交的申请序号为11/737,317的美国专利中所描述，在此结合作为参考。在每一种情况下，对于上面描述的申请，提供了左检测器组54和右检测器组56。此外，反向散射组(backscatterarray)58可以设置在源和检测目标之间从而提供额外成像或物质特征信息。
可选地，如果到达容器侧面(用于定位检测器组)是不实际的，本发明的方法也可用于检查容器内部的隐藏物质。图6示出了这些方案，其中倾斜的校准检测器组60位于后向，朝向X射线源61。在图6描述的作为示例的实施例中，X射线源61和检测组61安装在用于检查车辆64的移动X射线反向散射成像系统中，例如在平台62上。
在图7中，示出了一个扫描车辆或上述其它容器的可选实施例。在这种情况下，检测器70和72安装在系统的侧面(例如可以安装在入口74或台架上)，而X射线源76设置在检测目标78上方。
在图8A和8B中，示出了用于检测被人用提包或背包携带，或隐藏在衣服下面的禁运有机物质的两个可选实施例。在图8A中，示出了一个实施例，其中从上方发出的X射线束82扫描人80。还可将X射线束设置成从下方对人进行扫描。图8B示出了实施例，其中从上方示意性地示出由大致保持在水平平面的X射线束82对人80进行扫描。在各实施例中，将检测器组72设置在人80的两侧。
图9中示出了本发明的另一可选实施例，其可用作手持装置。在该实施例中，装置90包括两个独立的校准X射线检测单元94，分别包括检测器92和93。此外，装置90包括释放多个扫描X射线束96和97的源95，如上所述，或者可选地，可释放如所示两条固定的射线束，其中在任意指定时间仅一条启动。例如，可使用遮板相继地启动射线束96和97。所发出的射线束及时地替换，使得隐藏的有机材料98的衰减因子可根据等式6而被检测到。
本发明的双能量实施例
等式6中衰减因子的表达式，
A(1)＝√[L1U2/(L2U1)]
使得可对隐藏有机物的特定部分进行测量散射射线的平均自由行程Λ。通过改变光栅扫描笔形波束的能量，可对X射线的几种不同的能量范围测量物质的平均自由行程Λ。通过分析物质的平均自由行程Λ如何随X射线能量而改变，除了测量物质的密度，还可以推导确定物质的大致有效原子数Z。例如，随着光子能量(photon energy)的降低，与Z较低的物质相比，Z较高的物质的平均自由行程降低得更快。这是由于光电效应(其吸收X射线)与物质的有效原子数有很强的依赖关系。随着X射线的光子能量的降低，具有物质有效原子数的光电吸收(photoelectric absorption)横截面快速增加。
可选地，也可以不改变光栅扫描X射线波束的能量，而是在在检测器组中使用能量敏感的检测器元件。这种情况的实例之一包括CdZnTe检测器的使用，从而可以测量每个探测X射线的能量。对于探测X射线的能量可以进行分割(cut)，并且可以计算对于几个不同的X射线能量范围，公式6中给出的衰减系数。然后，允许对于几个平均X射线能量范围计算物质的平均自由行程，使得对物质的密度和有效原子数进行测量。获得这两种测量值可以更加精确地识别伪装有机目标的物质，增加检查速度和降低错误报警率。注意，前面描述的本发明的每一个可选实施例可以扩展成包括双能量操作。
根据本发明某一个其它实施例，可以基于对根据前述公开计算的平均自由行程和测量值表的比较来识别物质为危险物质。可通过对在相反视场具有检测器元件的体素的重复询问(interrogation)确认计算衰减。
以前描述的本发明的全部实施例仅仅是试图作为示例，对于本领域的技术人员来说很明显可以进行多种变化和修改。所有变化和修改都包括在所附权利要求限定的本发明范围内。
Claims (14)
1.一种基于穿透射线的平均自由行程表征目标的方法，所述方法包括：
产生穿透射线的入射波束，所述入射波束具有传播方向和能量分布；
围绕穿透射线的波束设置多个检测器元件，每个检测器具有视场；
校准每个检测器的视场；
探测从位于检测目标内的多个体素散射的射线，每个体素被定义为所述检测器元件之一的视场与穿透射线的入射波束的传播方向的交点；和
计算体素对之间散射穿透射线的衰减，所述体素对中的每个体素对应于穿透射线入射波束的至少两个传播方向中的一个。
2.如权利要求1所述的方法，还包括改变穿透射线的入射波束的传播方向，使得入射波束在多个入射点处依次入射到检测目标上。
3.如权利要求1所述的方法，其中探测射线的步骤包括探测从穿透射线的入射波束散射的射线的特定能量成分。
4.如权利要求1所述的方法，还包括：
以大致横穿所述传播方向的方式扫描所述入射波束，使得所述入射波束在多个入射点处入射到检测目标上。
5.如权利要求1所述的方法，还包括将穿透射线的衰减作为检测目标中的位置的函数来显示的步骤。
6.如权利要求1所述的方法，其中围绕穿透射线的入射波束设置检测器的步骤包括沿一方向设置散射检测器组，所述方向具有大致平行于入射波束的传播方向的向量分量。
7.如权利要求1所述的方法，其中围绕穿透射线的入射波束设置检测器的步骤包括在大致横穿穿透射线的波束的平面上设置检测器。
8.如权利要求1所述的方法，其中计算穿透射线的衰减包括确定散射射线的平均自由行程，作为检测目标中位置的函数。
9.如权利要求1所述的方法，其中校准步骤包括将每个检测器的视场限制在一方向，所述方向相对于入射波束的传播方向具有特定角度范围。
10.如权利要求1所述的方法，还包括改变穿透射线的入射波束的能量分布。
11.如权利要求1所述的方法，其中扫描步骤包括相对于X射线管扫描一孔。
12.如权利要求1所述的方法，其中扫描步骤包括激活源组的离散元件。
13.如权利要求1所述的方法，还包括基于对计算出的平均自由行程与测量值表所作的比较识别物质是危险物质。
14.如权利要求1所述的方法，还包括基于对具有相反视场的检测器元件的体素的重复询问确认计算出的衰减。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US82332806P | 2006-08-23 | 2006-08-23 | |
| US60/823,328 | 2006-08-23 | ||
| PCT/US2007/076497 WO2008024825A2 (en) | 2006-08-23 | 2007-08-22 | Scatter attenuation tomography |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101506688A true CN101506688A (zh) | 2009-08-12 |
| CN101506688B CN101506688B (zh) | 2011-12-21 |
Family
ID=39107624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2007800312478A Active CN101506688B (zh) | 2006-08-23 | 2007-08-22 | 散射衰减断层成像 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7551718B2 (zh) |
| EP (1) | EP2054741B1 (zh) |
| JP (1) | JP2010501860A (zh) |
| KR (1) | KR20090046849A (zh) |
| CN (1) | CN101506688B (zh) |
| IL (1) | IL196756A (zh) |
| MX (1) | MX2009001939A (zh) |
| MY (1) | MY144438A (zh) |
| RU (1) | RU2428680C2 (zh) |
| WO (1) | WO2008024825A2 (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102630298A (zh) * | 2009-09-15 | 2012-08-08 | 佳能安内华股份有限公司 | 平均自由程测量装置、真空计和平均自由程测量方法 |
| CN107479102A (zh) * | 2017-09-19 | 2017-12-15 | 北京君和信达科技有限公司 | 辐射检查系统及方法 |
| CN114399564A (zh) * | 2022-03-25 | 2022-04-26 | 康达洲际医疗器械有限公司 | 一种基于散射识别的锥束计算机断层扫描成像方法与系统 |
Families Citing this family (41)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8503605B2 (en) | 2002-07-23 | 2013-08-06 | Rapiscan Systems, Inc. | Four sided imaging system and method for detection of contraband |
| US8275091B2 (en) | 2002-07-23 | 2012-09-25 | Rapiscan Systems, Inc. | Compact mobile cargo scanning system |
| US9958569B2 (en) | 2002-07-23 | 2018-05-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Mobile imaging system and method for detection of contraband |
| US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
| GB0525593D0 (en) | 2005-12-16 | 2006-01-25 | Cxr Ltd | X-ray tomography inspection systems |
| US8223919B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-07-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
| US8243876B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-08-14 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
| US6928141B2 (en) | 2003-06-20 | 2005-08-09 | Rapiscan, Inc. | Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers |
| US7856081B2 (en) | 2003-09-15 | 2010-12-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence |
| US7471764B2 (en) | 2005-04-15 | 2008-12-30 | Rapiscan Security Products, Inc. | X-ray imaging system having improved weather resistance |
| US7526064B2 (en) | 2006-05-05 | 2009-04-28 | Rapiscan Security Products, Inc. | Multiple pass cargo inspection system |
| US8737704B2 (en) | 2006-08-08 | 2014-05-27 | The Procter And Gamble Company | Methods for analyzing absorbent articles |
| KR101189550B1 (ko) * | 2008-03-21 | 2012-10-11 | 아츠시 타카하시 | 3차원 디지털 확대경 수술지원 시스템 |
| GB0809110D0 (en) | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Gantry scanner systems |
| US9310323B2 (en) | 2009-05-16 | 2016-04-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for high-Z threat alarm resolution |
| US10393915B2 (en) | 2010-02-25 | 2019-08-27 | Rapiscan Systems, Inc. | Integrated primary and special nuclear material alarm resolution |
| US8766764B2 (en) | 2010-09-23 | 2014-07-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Automated personnel screening system and method |
| US8908831B2 (en) | 2011-02-08 | 2014-12-09 | Rapiscan Systems, Inc. | Covert surveillance using multi-modality sensing |
| EP3270185B1 (en) | 2011-02-08 | 2023-02-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Covert surveillance using multi-modality sensing |
| US9218933B2 (en) | 2011-06-09 | 2015-12-22 | Rapidscan Systems, Inc. | Low-dose radiographic imaging system |
| US9244022B2 (en) | 2011-06-16 | 2016-01-26 | The Procter & Gamble Company | Mannequins for use in imaging and systems including the same |
| KR102065318B1 (ko) | 2012-02-03 | 2020-01-10 | 라피스캔 시스템스, 인코포레이티드 | 조합형 산란 및 투과 멀티-뷰 이미징 시스템 |
| US10670740B2 (en) | 2012-02-14 | 2020-06-02 | American Science And Engineering, Inc. | Spectral discrimination using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors |
| JP2015513075A (ja) | 2012-02-14 | 2015-04-30 | アメリカン サイエンス アンド エンジニアリング，インコーポレイテッドＡｍｅｒｉｃａｎ Ｓｃｉｅｎｃｅ ａｎｄ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，Ｉｎｃ． | 波長シフトファイバ結合シンチレーション検出器を用いるｘ線検査 |
| US8989342B2 (en) | 2012-04-18 | 2015-03-24 | The Boeing Company | Methods and systems for volumetric reconstruction using radiography |
| US20130315368A1 (en) * | 2012-05-22 | 2013-11-28 | Aribex, Inc. | Handheld X-Ray System for 3D Scatter Imaging |
| KR101270674B1 (ko) * | 2012-10-11 | 2013-06-05 | (주) 뉴캐어메디컬시스템 | 방사선 영상화 방법 |
| GB2523520B (en) | 2013-01-07 | 2018-05-23 | Rapiscan Systems Inc | X-ray scanner with partial energy discriminating detector array |
| AU2014212158B2 (en) | 2013-01-31 | 2017-04-20 | Rapiscan Systems, Inc. | Portable security inspection system |
| DE102013211526A1 (de) * | 2013-06-19 | 2014-12-24 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Gewichtsbestimmung insbesondere eines mit Produkt befüllten Behältnisses |
| US9557427B2 (en) | 2014-01-08 | 2017-01-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Thin gap chamber neutron detectors |
| WO2016003547A1 (en) | 2014-06-30 | 2016-01-07 | American Science And Engineering, Inc. | Rapidly relocatable modular cargo container scanner |
| JP6746603B2 (ja) | 2015-03-20 | 2020-08-26 | ラピスカン システムズ、インコーポレイテッド | 手持ち式携帯型後方散乱検査システム |
| US10345479B2 (en) | 2015-09-16 | 2019-07-09 | Rapiscan Systems, Inc. | Portable X-ray scanner |
| EP3516351A1 (de) * | 2016-09-26 | 2019-07-31 | LaVision BioTec GmbH | Messeinrichtung und verfahren zur charakterisierung eines strahlungsfeldes, insbesondere von laserstrahlung |
| US10663616B2 (en) | 2017-04-17 | 2020-05-26 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomography inspection systems and methods |
| WO2019245636A1 (en) | 2018-06-20 | 2019-12-26 | American Science And Engineering, Inc. | Wavelength-shifting sheet-coupled scintillation detectors |
| US11594001B2 (en) | 2020-01-20 | 2023-02-28 | Rapiscan Systems, Inc. | Methods and systems for generating three-dimensional images that enable improved visualization and interaction with objects in the three-dimensional images |
| US11193898B1 (en) | 2020-06-01 | 2021-12-07 | American Science And Engineering, Inc. | Systems and methods for controlling image contrast in an X-ray system |
| US11175245B1 (en) | 2020-06-15 | 2021-11-16 | American Science And Engineering, Inc. | Scatter X-ray imaging with adaptive scanning beam intensity |
| US11340361B1 (en) | 2020-11-23 | 2022-05-24 | American Science And Engineering, Inc. | Wireless transmission detector panel for an X-ray scanner |
Family Cites Families (52)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2670401A (en) * | 1948-06-15 | 1954-02-23 | Weinberg Marvin | X-ray diagnostic apparatus |
| USRE28544E (en) * | 1971-07-07 | 1975-09-02 | Radiant energy imaging with scanning pencil beam | |
| JPS5154793A (zh) * | 1974-08-28 | 1976-05-14 | Emi Varian Ltd | |
| US3955089A (en) * | 1974-10-21 | 1976-05-04 | Varian Associates | Automatic steering of a high velocity beam of charged particles |
| US4149076A (en) * | 1976-04-05 | 1979-04-10 | Albert Richard D | Method and apparatus producing plural images of different contrast range by X-ray scanning |
| US4144457A (en) * | 1976-04-05 | 1979-03-13 | Albert Richard D | Tomographic X-ray scanning system |
| DE2639631A1 (de) * | 1976-08-31 | 1978-03-02 | Frithjof Prof Dr Aurich | Diagnostikeinrichtung zur herstellung von schichtbildern mit hilfe durchdringender strahlung |
| JPS53117396A (en) * | 1977-03-24 | 1978-10-13 | Toshiba Corp | Radiation tomograph |
| DE2713581C2 (de) * | 1977-03-28 | 1983-04-14 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Anordnung zur Darstellung einer Ebene eines Körpers mit Gamma- oder Röntgenstrahlung |
| US4196351A (en) * | 1977-06-03 | 1980-04-01 | Albert Richard David | Scanning radiographic apparatus |
| US4194123A (en) * | 1978-05-12 | 1980-03-18 | Rockwell International Corporation | Lithographic apparatus |
| DE2944147A1 (de) * | 1979-11-02 | 1981-05-14 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Anordnung zur ermittlung der streudichteverteilung in einem ebenen untersuchungsbereich |
| US4357535A (en) * | 1980-04-30 | 1982-11-02 | North American Philips Corporation | Apparatus for inspecting hand-held articles and persons carrying same |
| US4672615A (en) * | 1982-07-20 | 1987-06-09 | Unisearch Limited | Ion and electron beam steering and focussing system |
| US4598415A (en) * | 1982-09-07 | 1986-07-01 | Imaging Sciences Associates Limited Partnership | Method and apparatus for producing X-rays |
| US4535243A (en) * | 1983-03-17 | 1985-08-13 | Imatron Associates | X-ray detector for high speed X-ray scanning system |
| GB8521287D0 (en) * | 1985-08-27 | 1985-10-02 | Frith B | Flow measurement & imaging |
| US4730350A (en) * | 1986-04-21 | 1988-03-08 | Albert Richard D | Method and apparatus for scanning X-ray tomography |
| DE3764315D1 (de) * | 1986-05-28 | 1990-09-20 | Heimann Gmbh | Roentgenscanner. |
| US4799247A (en) * | 1986-06-20 | 1989-01-17 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray imaging particularly adapted for low Z materials |
| US4809312A (en) * | 1986-07-22 | 1989-02-28 | American Science And Engineering, Inc. | Method and apparatus for producing tomographic images |
| US5097492A (en) * | 1987-10-30 | 1992-03-17 | Four Pi Systems Corporation | Automated laminography system for inspection of electronics |
| US4864142A (en) * | 1988-01-11 | 1989-09-05 | Penetron, Inc. | Method and apparatus for the noninvasive interrogation of objects |
| US5179581A (en) * | 1989-09-13 | 1993-01-12 | American Science And Engineering, Inc. | Automatic threat detection based on illumination by penetrating radiant energy |
| US5022062A (en) * | 1989-09-13 | 1991-06-04 | American Science And Engineering, Inc. | Automatic threat detection based on illumination by penetrating radiant energy using histogram processing |
| US5181234B1 (en) * | 1990-08-06 | 2000-01-04 | Rapiscan Security Products Inc | X-ray backscatter detection system |
| WO1992003722A1 (en) * | 1990-08-15 | 1992-03-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Detection of explosives and other materials using resonance fluorescence, resonance absorption, and other electromagnetic processes with bremsstrahlung radiation |
| US5153900A (en) * | 1990-09-05 | 1992-10-06 | Photoelectron Corporation | Miniaturized low power x-ray source |
| US5442678A (en) * | 1990-09-05 | 1995-08-15 | Photoelectron Corporation | X-ray source with improved beam steering |
| US5247561A (en) * | 1991-01-02 | 1993-09-21 | Kotowski Andreas F | Luggage inspection device |
| JPH04353792A (ja) * | 1991-05-31 | 1992-12-08 | Toshiba Corp | 散乱線映像装置及びそれに用いる散乱線検出器 |
| JPH04364454A (ja) * | 1991-06-11 | 1992-12-16 | Toshiba Corp | 散乱ｘ線測定装置 |
| US5182764A (en) * | 1991-10-03 | 1993-01-26 | Invision Technologies, Inc. | Automatic concealed object detection system having a pre-scan stage |
| US5430787A (en) * | 1992-12-03 | 1995-07-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Compton scattering tomography |
| US5682412A (en) * | 1993-04-05 | 1997-10-28 | Cardiac Mariners, Incorporated | X-ray source |
| US5712889A (en) * | 1994-08-24 | 1998-01-27 | Lanzara; Giovanni | Scanned volume CT scanner |
| DE4433133C1 (de) * | 1994-09-16 | 1995-12-07 | Siemens Ag | Röntgenstrahler mit einer Elektronenquelle zum Senden eines Bündels von Elektronen entlang einer langgestreckten Anode |
| US5504796A (en) * | 1994-11-30 | 1996-04-02 | Da Silveira; Enio F. | Method and apparatus for producing x-rays |
| RU94043357A (ru) * | 1994-12-08 | 1996-10-27 | А.В. Курбатов | Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления |
| US6052433A (en) * | 1995-12-29 | 2000-04-18 | Advanced Optical Technologies, Inc. | Apparatus and method for dual-energy x-ray imaging |
| US5696806A (en) | 1996-03-11 | 1997-12-09 | Grodzins; Lee | Tomographic method of x-ray imaging |
| US5642394A (en) * | 1996-04-03 | 1997-06-24 | American Science And Engineering, Inc. | Sidescatter X-ray detection system |
| DE19618749A1 (de) * | 1996-05-09 | 1997-11-13 | Siemens Ag | Röntgen-Computertomograph |
| ATE235065T1 (de) * | 1996-07-12 | 2003-04-15 | American Science & Eng Inc | System für tomographie mit seitenstreuung |
| DE19710222A1 (de) | 1997-03-12 | 1998-09-17 | Siemens Ag | Röntgenstrahlerzeuger |
| US6111974A (en) * | 1998-02-11 | 2000-08-29 | Analogic Corporation | Apparatus and method for detecting sheet objects in computed tomography data |
| CA2348150C (en) * | 2000-05-25 | 2007-03-13 | Esam M.A. Hussein | Non-rotating x-ray system for three-dimensional, three-parameter imaging |
| US7227982B2 (en) * | 2002-04-15 | 2007-06-05 | General Electric Company | Three-dimensional reprojection and backprojection methods and algorithms for implementation thereof |
| DE10244180B4 (de) * | 2002-09-23 | 2009-08-27 | Siemens Ag | Verfahren zur Bilderstellung in der Computertomographie eines periodisch bewegten Untersuchungsobjektes und CT-Gerät zur Durchführung des Verfahrens |
| US7330528B2 (en) * | 2003-08-19 | 2008-02-12 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for parallel image reconstruction of multiple depth layers of an object under inspection from radiographic images |
| JP2005110722A (ja) * | 2003-10-02 | 2005-04-28 | Shimadzu Corp | Ｘ線管およびｘ線撮影装置 |
| US7203276B2 (en) * | 2004-08-27 | 2007-04-10 | University Of New Brunswick | X-ray scatter image reconstruction by balancing of discrepancies between detector responses, and apparatus therefor |
-
2007
- 2007-08-22 CN CN2007800312478A patent/CN101506688B/zh active Active
- 2007-08-22 EP EP07841193.1A patent/EP2054741B1/en active Active
- 2007-08-22 KR KR1020097003483A patent/KR20090046849A/ko not_active Application Discontinuation
- 2007-08-22 WO PCT/US2007/076497 patent/WO2008024825A2/en active Application Filing
- 2007-08-22 JP JP2009525755A patent/JP2010501860A/ja active Pending
- 2007-08-22 US US11/843,185 patent/US7551718B2/en active Active
- 2007-08-22 RU RU2009110284/28A patent/RU2428680C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2007-08-22 MY MYPI20090691A patent/MY144438A/en unknown
- 2007-08-22 MX MX2009001939A patent/MX2009001939A/es active IP Right Grant
-
2009
- 2009-01-27 IL IL196756A patent/IL196756A/en active IP Right Grant
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102630298A (zh) * | 2009-09-15 | 2012-08-08 | 佳能安内华股份有限公司 | 平均自由程测量装置、真空计和平均自由程测量方法 |
| CN102630298B (zh) * | 2009-09-15 | 2014-08-13 | 佳能安内华股份有限公司 | 平均自由程测量装置、真空计和平均自由程测量方法 |
| CN107479102A (zh) * | 2017-09-19 | 2017-12-15 | 北京君和信达科技有限公司 | 辐射检查系统及方法 |
| CN114399564A (zh) * | 2022-03-25 | 2022-04-26 | 康达洲际医疗器械有限公司 | 一种基于散射识别的锥束计算机断层扫描成像方法与系统 |
| CN114399564B (zh) * | 2022-03-25 | 2022-08-12 | 康达洲际医疗器械有限公司 | 一种基于散射识别的锥束计算机断层扫描成像方法与系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2008024825A2 (en) | 2008-02-28 |
| IL196756A0 (en) | 2009-11-18 |
| US7551718B2 (en) | 2009-06-23 |
| RU2428680C2 (ru) | 2011-09-10 |
| EP2054741B1 (en) | 2017-01-11 |
| JP2010501860A (ja) | 2010-01-21 |
| RU2009110284A (ru) | 2010-09-27 |
| WO2008024825A3 (en) | 2008-10-02 |
| MY144438A (en) | 2011-09-15 |
| CN101506688B (zh) | 2011-12-21 |
| US20080049899A1 (en) | 2008-02-28 |
| KR20090046849A (ko) | 2009-05-11 |
| EP2054741A2 (en) | 2009-05-06 |
| MX2009001939A (es) | 2009-03-05 |
| IL196756A (en) | 2012-06-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101506688B (zh) | 散射衰减断层成像 | |
| CN106233160B (zh) | 使用宇宙射线电子和μ子的散射和停止辨别低原子重量材料 | |
| US8842808B2 (en) | Scatter attenuation tomography using a monochromatic radiation source | |
| JP5054518B2 (ja) | 物質の平均原子番号及び質量を求めるための方法及びシステム | |
| US8551785B2 (en) | Dual angle radiation scanning of objects | |
| US8428217B2 (en) | Methods and systems for rapid detection of concealed objects | |
| US7366282B2 (en) | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence | |
| US7924979B2 (en) | Scatter attenuation tomography | |
| US20010046275A1 (en) | Non-rotating X-ray system for three-dimensional, three-parameter imaging | |
| KR20170127412A (ko) | 관심대상이 되는 물질의 검출을 위한 비침습검사 시스템과 방법 | |
| US9128200B2 (en) | Method and apparatus for detecting a particular material in an object by means of electromagnetic radiation | |
| CN106164707B (zh) | 特别用于对象的无损检测的方法和x-射线检测系统 | |
| BR112012021520B1 (pt) | Sistema de varredura de raios x | |
| CN105549103B (zh) | 基于宇宙射线的检查运动对象的方法、装置及系统 | |
| US20110193711A1 (en) | Method and device for detecting the presence, in a load, of objects suspected of containing at least one material having a given atomic weight | |
| D’Alessandro et al. | Muography applied to nuclear waste storage sites | |
| Checchia | Principle of Cosmic Muography—Techniques and Review |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant |