WO2005015488A1 - Chipkarte, chipkartenmodul sowie verfahren zur herstellung eines chipkartenmoduls - Google Patents

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Edward FÜRGUT
Bernd Goller
Jens Pohl
Peter Strobel
Simon Jerebic
Robert-Christian Hagen
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Infineon Technologies Ag
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    • H01L2924/181Encapsulation

Definitions

  • Chip card, chip card module and method for producing a chip card module 5 The invention relates to a chip card for contact-based data transmission, which consists of a card body and a chip card module inserted into the card body.
  • the invention relates to a chip card module and a method for producing such a chip card module.
  • Chip cards and chip card modules have been known for a long time and are described, for example, in DE 195 00 925 AI.
  • .5 chip card module shown there in FIG. 4 has a substrate on which a semiconductor chip and the metallic connection areas are arranged, the semiconductor chip being connected to the connection areas via bond wires.
  • the semiconductor chip and the bond wires are of a 'protecting them
  • the semiconductor chip and the metallic connection areas are arranged on one side of the substrate. On the other side of the substrate are the contact areas for the contact-based data exchange of the chip card. Access openings to the contact
  • the chip card module shown there is installed in a chip card by inserting it into the opening provided there and gluing it to the card body.
  • the procedure is usually such that the semiconductor chips with their active 0 tops are fixed on a carrier tape facing upwards. Fixation on the carrier tape is usually done by gluing. At appropriate locations, the carrier tape has metallic surfaces, the underside of which is later used for contacting 5 the chip card module with the peripheral devices. Contacting of the connection areas on the active top sides of the semiconductor chip with these contact areas is carried out using wirebond technology.
  • the wire bond method has the major disadvantage that the use of wire bond wires limits the miniaturization of the chip card module very strongly. It is not possible to achieve chip card modules with very low overall heights, since the wire bond wires have a spatial expansion that is not to be undercut.
  • FIG. 11 of DE 195 00 925 AI mentioned at the beginning shows an alternative embodiment for a chip card module in which the contact areas and connection areas
  • Chip scale packaging is also often referred to as "CSP”.
  • the CSP which is a subspecies of flip-chip technology, is based on
  • the active upper side of the semiconductor chips is drawn directly onto conductor tracks, and then onto these conductor tracks directly the solder balls, with which the semiconductor chip is then attached to a substrate.
  • CSP technology A major disadvantage of CSP technology, however, is that the 5 active top side of the semiconductor chips available does not usually offer enough space to make all the necessary external contacts. Furthermore, the CSP technology is unsuitable for the production of chip card modules if only because the semiconductor chips that are used in chip .0 card modules are extremely strong miniaturization, i. H. an extremely strong "shrink".
  • a chip card module with: a semiconductor chip with a rear side, with an active top side and with side surfaces; a plastic housing compound enveloping the semiconductor chip, which has at least one surface which is coplanar with the active upper side of the semiconductor chip; a first dielectric layer, which is also arranged on this surface and on the active upper side of the semiconductor chip; one or more redistribution metallization levels separated by further dielectric layers, which are connected to the active top side of the semiconductor chip; and - external contact areas which are formed on the outermost rewiring level, to which a contact metallization for contact-based data transmission is applied.
  • This chip card module is distinguished by a very low overall height and does not have the problem of the chip scale package, since rewiring levels are provided in such a chip card module.
  • chip cards for contact-based data transmission can be produced according to the present invention, which consist of a card body and an above chip card module installed in the card body.
  • the present invention it is particularly favorable to produce the above-mentioned chip card modules using a method in which a semiconductor wafer with semiconductor chips arranged in rows and columns is first provided.
  • the semiconductor chips have rear sides and active upper sides, the active upper sides being provided with inner contact surfaces. hen are. These inner contact surfaces are also called contact pads.
  • the semiconductor wafer is then separated into individual semiconductor chips.
  • the semiconductor chips are then applied to a carrier device, the individual semiconductor chips with their active upper sides being brought onto the upper side of the carrier device.
  • a plastic package is then applied to the carrier device, so that a common carrier of plastic package is formed, the semiconductor chips being embedded in the plastic package.
  • the carrier device is then removed and a first dielectric layer is applied to the now exposed active top sides of the semiconductor chips, which are embedded in a matrix of plastic, which now covers the active top sides of the semiconductor chips and the exposed surfaces of the encapsulated plastic housing compound.
  • At least one or more redistribution metallization levels separated by further dielectric layers are then deposited onto this deposited first dielectric layer.
  • the outermost rewiring metallization level then has external contact areas, to which the contact metallization is then applied, which serves for the contact-based data exchange of the chip card with its periphery.
  • the common carrier made of plastic housing mass is separated into individual chip card modules.
  • the common carrier made of plastic housing compound is made on the carrier device by means of injection molding processes with the aid of a molding tool.
  • the common carrier can also be produced from plastic housing compound by centrifugal casting.
  • the rewiring metallization levels can be applied to the common carrier made of plastic housing compound by applying a closed metal layer and subsequent structuring of the metal layer using photoresist technology.
  • the rewiring metallization levels are applied to the common carrier made of plastic housing compound by printing technology, in particular by screen printing technology.
  • FIG. 1 shows a chip card module from the prior art.
  • FIGS. 2a to 2e show lateral cross-sectional views of a process sequence for forming a chip card module 1 with a plastic housing 2 according to the present invention.
  • FIG. 1 shows a chip card module 1 'which has an electrically insulating substrate 2' on which a semiconductor chip 3 'is arranged. Furthermore, the chip card module l 1 has metallic connection areas 4 ′, the semiconductor chip 3 ′ being connected to the connection areas 4 ′ via bond wires 5 ′. The semiconductor chip 3 'and the bonding wires 5' are surrounded by a plastic casting compound 6 'protecting them. On one side of the electrically insulating substrate 2 ', the semiconductor chip 3' and the metallic connection surfaces 4 'are orderly. On the other side of the substrate 2 ', the contact areas 8' for a contact-based data exchange of the chip card module 1 "with its periphery are arranged. In the electrically insulating substrate 2 ', access openings 7' to the contact areas 8 'are left out. FIG. 1 is immediately closed derive that the bond wires 5 'make up the factor that limits the construction volume.
  • a carrier device 8 is initially provided, which in the present case consists of a carrier frame 10 and an adhesive film 12.
  • the carrier device 8 is subsequently equipped with semiconductor chips 3.
  • the semiconductor chips 3 are applied with their active upper sides 5 to the upper side 9 of the adhesive film 12. This is preceded by the fact that a completely processed semiconductor wafer 4 is provided which has semiconductor chips 3 arranged in rows and columns.
  • the semiconductor chips 3 have active top sides 5 and back sides 6, the active top sides 5 being provided with contact surfaces 7.
  • the semiconductor wafer 4 is then separated into individual semiconductor chips 3, for example by sawing.
  • the semiconductor chips 3 are encased with a plastic housing compound, so that a common carrier 11 made of plastic housing compound is formed on the carrier device 8 is, in which the semiconductor chips 3 are embedded.
  • a common carrier 11 made of plastic housing compound is formed on the carrier device 8 is, in which the semiconductor chips 3 are embedded.
  • the individual semiconductor chips 3 can be encased in wafer molding in the stencil printing process, in conventional encapsulation processes, in spin-on processes and in coating processes.
  • the laminated adhesive film 12 is peeled off after the plastic housing compound has hardened.
  • the carrier frame 10 is first removed and the adhesive film 12 adhering to the common carrier made of plastic housing compound 11 is either peeled off or peeled off.
  • the common carrier 11 is divided, which is indicated by dash-dotted lines in FIG. 2e, so that individual chip card modules 1 with a plastic housing 2 are present.

Abstract

Es wird eine Chipkarte zur kontaktbehafteten Datenübertragung bestehend aus einem Kartenkörper und einem in den Kartenkörper eingebauten Chipkartenmodul mit: einem Halbleiterchip (3) mit einer Rückseite, mit einer aktiven Oberseite und mit Seitenflächen; einer den Halbleiterchip umhüllenden Kunststoffgehäusemasse, (11) die zumindest eine Oberfläche aufweist, die koplanar zu der aktiven Oberseite des Halbleiterchips ist; einer ersten dielektrischen Schicht, die auf diese Oberfläche und auf der aktiven Oberseite des Halbleiterchips angeordnet ist; einer oder mehrerer über weitere dielektrische Schichten getrennte Umverdrahtungsmetallisierungsebenen (13), die mit der aktiven Oberseite des Halbleiterchips verbunden sind; und Aussenkontaktflächen (14), die auf der äussersten Umverdrahtungsebene ausgebildet sind, auf die eine Kontaktmetallisierung (15) für eine kontaktbehaftete Datenübertragung aufgebracht ist. Das Chipkartenmodul zeichnet sich durch ein sehr geringes Bauvolumen aus, da keine Bonddrähte verwendet werden.

Description

Beschreibung
Chipkarte, Chipkartenmodul sowie Verfahren zur Herstellung eines Chipkartenmoduls 5 Die Erfindung betrifft eine Chipkarte zur kontaktbehafteten Datenübertragung, die aus einem Kartenkörper und einem in den Kartenkörper eingebrachten Chipkartenmodul besteht.
0 Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Chipkartenmodul sowie ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Chipkartenmoduls.
Chipkarten und Chipkartenmodule sind seit langer Zeit bekannt und beispielsweise in der DE 195 00 925 AI beschrieben. Das
.5 dort in der Figur 4 gezeigte Chipkartenmodul weist ein Substrat auf, auf dem ein Halbleiterchip und die metallischen Anschlussflächen angeordnet sind, wobei der Halbleiterchip über Bonddrähte mit den Anschlussflächen verbunden ist. Der Halbleiterchip und die Bonddrähte sind von einer' sie schützenden
!0 Vergussmasse umgeben. Auf der einen Seite des Substrats sind der Halbleiterchip und die metallischen Anschlussflächen angeordnet. Auf der anderen Seite des Substrats befinden sich die Kontaktflächen für den kontaktbehafteten Datenaustausch der Chipkarte. Im Substrat sind Zugangsöffnungen zu den Kontakt-
_5 flächen ausgespart.
Das dort gezeigte Chipkartenmodul wird in eine Chipkarte eingebaut, indem es in die dort vorgesehene Öffnung eingeführt wird und dort mit dem Kartenkörper verklebt wird.
30 Bei der Fertigung solcher Chipkartenmodule wird in der Regel so vorgegangen, dass die Halbleiterchips mit ihren aktiven 0- berseiten nach oben weisend auf ein Trägerband fixiert werden. Die Fixierung auf dem Trägerband erfolgt in der Regel durch Kleben. Das Trägerband weist an entsprechenden Stellen metallische Flächen auf, deren Unterseite später zur Kontaktierung 5 des Chipkartenmoduls mit den Peripheriegeräten dient. Die Kontaktierung der Anschlussflächen auf den aktiven Oberseiten des Halbleiterchips mit diesen Kontaktflächen erfolgt durch Wire- Bond-Technik.
.0 Das Wire-Bond-Verfahren hat den großen Nachteil, dass die Verwendung von Wire-Bond-Drähten eine Miniaturisierung des Chipkartenmoduls sehr stark beschränkt. Es lassen sich keine Chipkartenmodule mit sehr geringen Bauhöhen erzielen, da die Wire- Bond-Drähte eine nicht zu unterschreitende räumliche Ausdeh-
L5 nung aufweisen.
Des Weiteren ist in der Figur 11 der eingangs erwähnten DE 195 00 925 AI eine alternative Ausführungsform für ein Chipkartenmodul gezeigt, bei dem die Kontaktflächen und Anschlussflächen
20 von einem Leadframe gebildet werden, auf dem der Halbleiterchip direkt angeordnet ist. Es wird dort gezeigt, dass der Halbleiterchip mit seinen Anschlussflächen mittels Flip-Chip- Kontaktierung direkt auf den entsprechenden Kontaktflächen und den Anschlussflächen elektrisch leitend fixiert ist. Die dort 5 gemachten Ausführungen machen deutlich, dass es sich bei dem in der Figur 11 gezeigten Chipkartenmodul um eine Ausführung im so genannten "Chip Scale Package" handelt. "Chip Scale Pa- ckaging" wird auch oft unter Abkürzung "CSP" geführt. Beim CSP, das eine Unterart Flip-Chip-Technologie ist, werden auf
30 die aktive Oberseite der Halbleiterchips direkt Leiterbahnen gezogen, und auf diese Leiterbahnen dann direkt die Lötkugeln, mit denen der Halbleiterchip dann auf ein Substrat befestigt wird.
Ein großer Nachteil der CSP-Technologie ist jedoch, dass die 5 zur Verfügung stehende aktive Oberseite der Halbleiterchips in der Regel nicht genug Fläche bietet, um alle notwendigen externen Kontakte herzustellen. Des weiteren ist die CSP- Technologie für das Fertigen von Chipkartenmodulen schon deswegen ungeeignet, da gerade die Halbleiterchips, die in Chip- .0 kartenmodulen Verwendung finden einer extrem starken Miniaturisierung, d. h. einem extrem starken "shrink", unterliegen.
Eine Verarbeitung von Chipkarten-Mikrocontrollern in CSP- Technologie zur Herstellung von Chipkartenmodulen, wie in der L5 DE 195 00 925 AI vorgeschlagen, scheint daher keine gangbare Lösung.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, die in Wire- Bond-Technologie hergestellten Chipkartenmodule durch neuarti- 20 ge Chipkartenmodule zu ersetzen, die gegenüber diesen in ihrer Bauhöhe stark reduziert sind.
Des Weiteren ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, auch ein brauchbares großtechnisches Verfahren anzugeben, um diese 5 Chipkartenmodule zu effizient herzustellen.
Erfindungsgemäß wird die obige Aufgabe durch ein Chipkartenmodul gelöst mit: - einem Halbleiterchip mit einer Rückseite, mit einer akti- 0 ven Oberseite und mit Seitenflächen; - einer den Halbleiterchip umhüllenden Kunststoffgehäusemasse, die zumindest eine Oberfläche aufweist, die koplanar zu der aktiven Oberseite des Halbleiterchips ist; - einer ersten dielektrischen Schicht, die auch diese Ober- fläche und auf der aktiven Oberseite des Halbleiterchips angeordnet ist; - einer oder mehrerer über weitere dielektrische Schichten getrennte Umverdrahtungsmetallisierungsebenen, die mit der aktiven Oberseite des Halbleiterchips verbunden sind; und - Außenkontaktflächen, die auf der äußersten Umverdrahtung- sebene ausgebildet sind, auf die eine Kontaktmetallisierung für eine kontaktbehaftete Datenübertragung aufgebracht ist.
Dieses Chipkartenmodul zeichnet sich durch eine sehr geringe Bauhöhe aus und weist nicht die Problematik des Chipscale Pa- ckages auf, da bei einem solchen Chipkartenmodul Umverdrah- tungsebenen vorgesehen sind.
Mit diesem Chipkartenmodul lassen sich gemäß der vorliegenden Erfindung Chipkarten zur kontaktbehafteten Datenübertragung herstellen, die aus einem Kartenkörper und einem in dem Kartenkörper eingebauten obigen Chipkartenmodul bestehen.
Nach der vorliegenden Erfindung ist es besonders günstig die oben erwähnten Chipkartenmodule mit einem Verfahren herzustellen, bei dem zunächst ein Halbleiterwafer mit in Zeilen und Spalten angeordneten Halbleiterchips bereitgestellt wird. Die Halbleiterchips weisen Rückseiten und aktive Oberseiten auf, wobei die aktiven Oberseiten mit inneren Kontaktflächen verse- hen sind. Diese inneren Kontaktflächen werden auch Kontaktpads genannt .
Danach wird der Halbleiterwafer in einzelne Halbleiterchips getrennt. Die Halbleiterchips werden dann auf einer Trägervorrichtung aufgebracht, wobei die einzelnen Halbleiterchips mit ihren aktiven Oberseiten auf die Oberseite der Trägervorrichtung gebracht werden. Danach wird eine Kunststoffgehäusemasse auf die Trägervorrichtung aufgebracht, so dass ein gemeinsamer Träger aus Kunststoffgehäusemasse entsteht, wobei die Halbleiterchips in die Kunststoffgehäusemasse eingebettet werden. Die Trägervorrichtung wird danach entfernt und auf die nun freiliegenden aktiven Oberseiten der Halbleiterchips, die in eine Matrix von Kunststoff eingebettet sind, wird eine erste die- lektrische Schicht aufgebracht, die nun die aktiven Oberseiten der Halbleiterchips und die freiliegenden Oberflächen der vergossenen Kunststoffgehäusemasse bedeckt.
Auf diese abgeschiedene erste dielektrische Schicht werden nun zumindest eine oder mehrere über weitere dielektrische Schichten getrennte Umverdrahtungsmetallisierungsebenen abgeschieden. Die äußerste Umverdrahtungsmetallisierungsebene weist dann Außenkontaktflachen auf, auf die dann die Kontaktmetallisierung aufgebracht wird, die für den kontaktbehafteten Daten- austausch der Chipkarte mit ihrer Peripherie dient. Als letzter Schritt wird der gemeinsame Träger aus Kunststoffgehäusemasse in einzelne Chipkartenmodule zertrennt.
In einer typischen Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung wird der gemeinsame Träger aus Kunststoffgehäusemasse auf der Trägervorrichtung mittels Spritzgussverfahren unter zu Hilfe- nahme eines Formwerkzeuges vorgenommen. Das Herstellen des gemeinsamen Trägers aus Kunststoffgehäusemasse kann auch im Schleudergussverfahren erfolgen.
Das Aufbringen der Umverdrahtungsmetallisierungsebenen auf den gemeinsamen Träger aus Kunststoffgehäusemasse kann durch Aufbringen einer geschlossenen Metallschicht und anschließende Strukturierung der Metallschicht mittels Fotolacktechnik erfolgen.
In einer weiteren Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung werden die Umverdrahtungsmetallisierungsebenen auf den gemeinsamen Träger aus Kunststoffgehäusemasse durch Drucktechnik, insbesondere durch Siebdrucktechnik aufgebracht.
Die Erfindung wird nun anhand von einem Ausführungsbeispiel mit Bezug auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Die Figur 1 zeigt ein Chipkartenmodul aus dem Stand der Technik. Die Figuren 2a bis 2e zeigen seitliche Querschnittansich- ten von einem Verfahrensablauf zur Ausbildung eines Chipkartenmoduls 1 mit einem Kunststoffgehäuse 2 nach der vorliegenden Erfindung.
Die Figur 1 zeigt ein Chipkartenmodul 1', das ein elektrisch isolierendes Substrat 2' aufweist, auf dem ein Halbleiterchip 3' angeordnet ist. Des Weiteren weist das Chipkartenmodul l1 metallische Anschlussflächen 4' auf, wobei der Halbleiterchip 3' über Bonddrähte 5' mit den Anschlussflächen 4' verbunden ist. Der Halbleiterchip 3' und die Bonddrähte 5' sind von ei- ner sie schützenden Kunststoff ergussmasse 6' umgeben. Auf der einen Seite des elektrisch isolierenden Substrats 2' sind der Halbleiterchip 3' und die metallischen Anschlussflächen 4' an- geordnet. Auf der anderen Seite des Substrats 2' sind die Kontaktflächen 8 ' für einen kontaktbehafteten Datenaustausch des Chipkartenmoduls 1" mit seiner Peripherie angeordnet. In dem elektrisch isolierenden Substrat 2' sind Zugangsöffnungen 7' zu den Kontaktflächen 8' ausgespart. Der Figur 1 ist unmittelbar zu entnehmen, dass die Bonddrähte 5' den das Bauvolumen begrenzenden Faktor ausmachen.
Die vorliegende Erfindung wird nun anhand der Figuren 2a bis 2e sowohl bezüglich des erfindungsgemäßen Chipkartenmoduls als auch des erfindungsgemäßen Verfahrens diskutiert.
Wie aus der Figur 2a ersichtlich ist, wird zunächst eine Trägervorrichtung 8 bereitgestellt, die im vorliegenden Fall aus einem Trägerrahmen 10 und einer Klebefolie 12 besteht.
Aus der Figur 2b ist zu entnehmen, dass anschließend die Trägervorrichtung 8 mit Halbleiterchips 3 bestückt wird. Die Halbleiterchips 3 werden dabei mit ihren aktiven Oberseiten 5 auf die Oberseite 9 der Klebefolie 12 aufgebracht. Dem geht voraus, dass ein fertig prozessierter Halbleiterwafer 4 bereitgestellt wird, der in Zeilen und Spalten angeordnete Halbleiterchips 3 aufweist. Die Halbleiterchips 3 weisen aktive Oberseiten 5 und Rückseiten 6 auf, wobei die aktiven Obersei- ten 5 mit Kontaktflächen 7 versehen sind.
Der Halbleiterwafer 4 wird anschließend in einzelne Halbleiterchips 3 getrennt, beispielsweise durch Sägen.
Danach werden die Halbleiterchips 3 mit einer Kunststoffgehäusemasse umhüllt, so dass ein gemeinsamer Träger 11 aus Kunststoffgehäusemasse auf der Trägervorrichtung 8 ausgebildet wird, in den die Halbleiterchips 3 eingebettet sind. Dies ist der Figur 2c zu entnehmen. Das Umhüllen der einzelnen Halbleiterchips 3 kann dabei im Wafermolding im Schablonendruckverfahren, in herkömmlichen Vergussverfahren, in Spin-On- Verfahren sowie in Coating-Verfahren erfolgen.
Als weiterer Schritt findet dann, was der Figur 2d zu entnehmen ist, das Abziehen der auflaminierten Klebefolie 12 statt, nachdem die Kunststoffgehäusemasse ausgehärtet ist. Dabei wird nun zunächst der Trägerrahmen 10 entfernt und die auf dem gemeinsamen Träger aus Kunststoffgehäusemasse 11 haftende Klebefolie 12 wird entweder abgezogen oder abgeschält.
Als weitere Schritte schließen sich dann, was in der Figur 2e angedeutet ist, die Ausbildung von Umverdrahtungsmetallisie- rungen 13, von Außenkontaktflachen 14 sowie das Aufbringen der als Kontaktmetallisierung 15, die für die kontaktbehaftete Datenübertragung der Chipkarte mit ihren Auslesegeräten dient.
Anschließend wird der gemeinsame Träger 11 zerteilt, was in der Figur 2e durch strichpunktierte Linien angedeutet ist, so daß einzelne Chipkartenmodule 1 mit einem Kunststoffgehäuse 2 vorliegen.

Claims

Patentansprüche
1. Chipkarte zur kontaktbehafteten Datenübertragung bestehend aus einem Kartenkörper und einem in den Kartenkörper eingebauten Chipkartenmodul mit : - einem Halbleiterchip mit einer Rückseite, mit einer aktiven Oberseite und mit Seitenflächen; - einer den Halbleiterchip umhüllenden Kunststoffgehäuse- masse, die zumindest eine Oberfläche aufweist, die koplanar zu der aktiven Oberseite des Halbleiterchips ist; - einer ersten dielektrischen Schicht, die auf diese Oberfläche und auf der aktiven Oberseite des Halbleiterchips angeordnet ist; - einer oder mehrerer über weitere dielektrische Schichten getrennte Umverdrahtungsmetallisierungsebenen, die mit der aktiven Oberseite des Halbleiterchips verbunden sind; und - Außenkontaktflächen, die auf der äußersten Umverdrah- tungsebene ausgebildet sind, auf die eine Kontaktmetallisierung für eine kontaktbehaftete Datenübertragung aufgebracht ist.
2. Chipkartenmodul mit: - einem Halbleiterchip mit einer Rückseite, mit einer aktiven Oberseite und mit Seitenflächen; - einer den Halbleiterchip umhüllenden Kunststoffgehäusemasse, die zumindest eine Oberfläche aufweist, die koplanar zu der aktiven Oberseite des Halbleiterchips ist; - einer ersten dielektrischen Schicht, die auf diese Oberfläche und auf der aktiven Oberseite des Halbleiterchips angeordnet ist; - einer oder mehrerer über weitere dielektrische Schichten getrennte Umverdrahtungsmetallisierungsebenen, die mit der aktiven Oberseite des Halbleiterchips verbunden sind; und - Außenkontaktflächen, die auf der äußersten Umverdrah- tungsebene ausgebildet sind, auf die eine Kontaktmetallisierung für eine kontaktbehaftete Datenübertragung aufgebracht ist.
Verfahren zum Herstellen eines Chipkartenmoduls mit einem Kunststoffgehäuse, in dem zumindest ein Halbleiterchip angeordnet ist mit folgenden Schritten:
- Bereitstellen eines Halbleiterwafers mit in Zeilen und Spalten angeordneten Halbleiterchips, die Rückseiten und aktive Oberseiten aufweisen, wobei die aktiven Oberseiten mit inneren Kontaktflächen versehen sind;
- Trennen des Halbleiterwafers in einzelne Halbleiterchips;
- Bestücken einer Trägervorrichtung mit den einzelnen Halbleiterchips, wobei die einzelnen Halbleiterchips mit ihren aktiven Oberseiten auf die Oberseite der Trägervorrichtung gebracht werden;
- Herstellen eines gemeinsamen Trägers aus Kunststoffgehäusemasse auf der Trägervorrichtung, wobei die Halblei- terchips in die Kunststoffgehäusemasse eingebettet werden;
- Entfernen der Trägervorrichtung;
- Abscheiden einer ersten dielektrischen Schicht auf die die aktiven Oberseiten der Halbleiterchips beinhaltenden Oberfläche des gemeinsamen Trägers; - Abscheiden einer oder mehrerer über weitere dielektrischen Schichten getrennte Umverdrahtungsmetallisierung- sebenen auf der ersten dielektrischen Schicht; - Aufbringen einer Kontaktmetallisierung für eine kontakt- behaftete Datenübertragung auf die Außenkontaktflächen der äußersten Umverdrahtungsmetallisierungsebene; - Trennen des gemeinsamen Trägers in einzelne Chipkartenmodule.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Herstellen eines gemeinsamen Trägers aus Kunststoffgehäusemasse für die Halbleiterchips auf der Trägervorrichtung durch Spritzgusstechnik mit Hilfe eines Formwerkzeugs erfolgt .
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Herstellen eines gemeinsamen Trägers aus Kunststoffgehäusemasse für die Halbleiterchips auf der Trägervorrichtung durch Schleudergusstechnik er- folgt.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Aufbringen von Umverdrahtungsmetal- lisierungsebenen auf den gemeinsamen Träger aus Kunst- stoffgehäusemasse durch Aufbringen einer geschlossenen Metallschicht und anschließende Strukturierung der Metallschicht mittels Fotolacktechnik erfolgt.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch ge- kennzeichnet, dass das Aufbringen von Umverdrahtungsmetal- lisierungsebenen auf den gemeinsamen Träger aus Kunst- stoffgehäusemasse durch Drucktechnik, insbesondere durch Siebdrucktechnik, erfolgt.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007007233A2 (en) * 2005-07-07 2007-01-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. Package, method of manufacturing the same and use thereof
WO2007087660A1 (de) * 2006-02-02 2007-08-09 At & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft Leiterplattenelement mit wenigstens einem eingebetteten bauelement sowie verfahren zum einbetten zumindest eines bauelements in einem leiterplattenelement

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2895547B1 (fr) * 2005-12-26 2008-06-06 Oberthur Card Syst Sa Procede de fabrication d'une carte a microcircuit
DE102007034949A1 (de) * 2007-07-26 2009-02-05 Siemens Ag Einheitlich normierte Leistungspackages
TWI360207B (en) 2007-10-22 2012-03-11 Advanced Semiconductor Eng Chip package structure and method of manufacturing
TWI456715B (zh) * 2009-06-19 2014-10-11 Advanced Semiconductor Eng 晶片封裝結構及其製造方法
TWI466259B (zh) * 2009-07-21 2014-12-21 Advanced Semiconductor Eng 半導體封裝件、其製造方法及重佈晶片封膠體的製造方法
TWI405306B (zh) * 2009-07-23 2013-08-11 Advanced Semiconductor Eng 半導體封裝件、其製造方法及重佈晶片封膠體
US20110084372A1 (en) 2009-10-14 2011-04-14 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Package carrier, semiconductor package, and process for fabricating same
US8378466B2 (en) 2009-11-19 2013-02-19 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Wafer-level semiconductor device packages with electromagnetic interference shielding
US8569894B2 (en) 2010-01-13 2013-10-29 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor package with single sided substrate design and manufacturing methods thereof
US8372689B2 (en) 2010-01-21 2013-02-12 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Wafer-level semiconductor device packages with three-dimensional fan-out and manufacturing methods thereof
US8320134B2 (en) 2010-02-05 2012-11-27 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Embedded component substrate and manufacturing methods thereof
TWI411075B (zh) 2010-03-22 2013-10-01 Advanced Semiconductor Eng 半導體封裝件及其製造方法
US8278746B2 (en) 2010-04-02 2012-10-02 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device packages including connecting elements
US8624374B2 (en) 2010-04-02 2014-01-07 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device packages with fan-out and with connecting elements for stacking and manufacturing methods thereof
US8941222B2 (en) 2010-11-11 2015-01-27 Advanced Semiconductor Engineering Inc. Wafer level semiconductor package and manufacturing methods thereof
US9406658B2 (en) 2010-12-17 2016-08-02 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Embedded component device and manufacturing methods thereof
US11907791B2 (en) * 2013-01-18 2024-02-20 Amatech Group Lijited Smart cards with metal layer(s) and methods of manufacture
ITUB20155233A1 (it) * 2015-10-30 2017-04-30 Automation 4 Industiral Solutions S R L Metodo di impianto per la realizzazione di dispositivi rfid

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4424396A1 (de) * 1994-07-11 1996-01-18 Ibm Trägerelement zum Einbau in Chipkarten oder anderen Datenträgerkarten
US6013945A (en) * 1993-08-10 2000-01-11 Giesecke & Devrient Gmbh Electronic module for data cards
DE19845665A1 (de) * 1998-10-05 2000-04-20 Orga Kartensysteme Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Trägerelements für einen IC-Baustein zum Einbau in Chipkarten

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4421607A1 (de) * 1994-06-21 1996-01-04 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren zur Herstellung von Datenträgern
DE19500925C2 (de) * 1995-01-16 1999-04-08 Orga Kartensysteme Gmbh Verfahren zur Herstellung einer kontaktlosen Chipkarte
US6607135B1 (en) * 1997-06-23 2003-08-19 Rohm Co., Ltd. Module for IC card, IC card, and method for manufacturing module for IC card
FR2796183B1 (fr) * 1999-07-07 2001-09-28 A S K Ticket d'acces sans contact et son procede de fabrication
DE10004410A1 (de) * 2000-02-02 2001-08-16 Infineon Technologies Ag Halbleiterbauelement mit an der Unterseite befindlichen Kontakten und Verfahren zur Herstellung
WO2001062517A1 (fr) * 2000-02-22 2001-08-30 Toray Engineering Company,Limited Carte d'identification sans contact ou analogue et procede de fabrication correspondant
DE10126734B4 (de) * 2001-05-31 2009-02-26 Qimonda Ag Umverdrahtungsverfahren und damit hergestelltes Bauelement

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6013945A (en) * 1993-08-10 2000-01-11 Giesecke & Devrient Gmbh Electronic module for data cards
DE4424396A1 (de) * 1994-07-11 1996-01-18 Ibm Trägerelement zum Einbau in Chipkarten oder anderen Datenträgerkarten
DE19845665A1 (de) * 1998-10-05 2000-04-20 Orga Kartensysteme Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Trägerelements für einen IC-Baustein zum Einbau in Chipkarten

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007007233A2 (en) * 2005-07-07 2007-01-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. Package, method of manufacturing the same and use thereof
WO2007007233A3 (en) * 2005-07-07 2007-07-05 Koninkl Philips Electronics Nv Package, method of manufacturing the same and use thereof
WO2007087660A1 (de) * 2006-02-02 2007-08-09 At & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft Leiterplattenelement mit wenigstens einem eingebetteten bauelement sowie verfahren zum einbetten zumindest eines bauelements in einem leiterplattenelement
EP2259311A2 (de) 2006-02-02 2010-12-08 AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft Verfahren zum Einbetten zumindest eines Bauelements in einem Leiterplattenelement
EP2259311A3 (de) * 2006-02-02 2014-01-15 AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft Verfahren zum Einbetten zumindest eines Bauelements in einem Leiterplattenelement

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Publication number Publication date
US7575173B2 (en) 2009-08-18
US20060175419A1 (en) 2006-08-10
DE10334578A1 (de) 2005-03-10
EP1649412B1 (de) 2008-10-29
EP1649412A1 (de) 2006-04-26
DE502004008355D1 (de) 2008-12-11

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