DE69428328T2 - Verfahren zur Elementaranalyse durch optische Emissionspektroskopie in einem durch Laser in Anwesenheit von Argon erweckten Plasma - Google Patents

Verfahren zur Elementaranalyse durch optische Emissionspektroskopie in einem durch Laser in Anwesenheit von Argon erweckten Plasma

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    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/718—Laser microanalysis, i.e. with formation of sample plasma
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