DE50010098D1 - Chipkartenschaltung mit überwachtem Zugang zum Testmodus - Google Patents

Chipkartenschaltung mit überwachtem Zugang zum Testmodus

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Stefan Wallstab
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Infineon Technologies AG
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31701—Arrangements for setting the Unit Under Test [UUT] in a test mode

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7098721B2 (en) * 2004-09-01 2006-08-29 International Business Machines Corporation Low voltage programmable eFuse with differential sensing scheme
US8742830B2 (en) * 2012-07-19 2014-06-03 Globalfoundries Singapore Pte. Ltd. Fuse sensing circuits
US9165163B2 (en) * 2012-11-30 2015-10-20 Broadcom Corporation Secure delivery of processing code

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0612878A (ja) * 1992-06-25 1994-01-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体メモリ装置
US5315177A (en) * 1993-03-12 1994-05-24 Micron Semiconductor, Inc. One time programmable fully-testable programmable logic device with zero power and anti-fuse cell architecture
KR0144711B1 (ko) * 1994-12-13 1998-08-17 김광호 반도체 메모리장치의 테스트 제어회로 및 방법
JP3274364B2 (ja) * 1996-08-14 2002-04-15 株式会社東芝 半導体装置及びヒューズチェック方法
US6023431A (en) * 1996-10-03 2000-02-08 Micron Technology, Inc. Low current redundancy anti-fuse method and apparatus
US6114878A (en) * 1998-02-13 2000-09-05 Micron Technology, Inc. Circuit for contact pad isolation
JP3401522B2 (ja) * 1998-07-06 2003-04-28 日本電気株式会社 ヒューズ回路及び冗長デコーダ回路
US6353336B1 (en) * 2000-03-24 2002-03-05 Cypress Semiconductor Corp. Electrical ID method for output driver

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