DE4443016A1 - Gasanalytisches Meßgerät - Google Patents
Gasanalytisches MeßgerätInfo
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- G01N2021/8578—Gaseous flow
Description
Die Erfindung betrifft ein gasanalytisches Meßgerät nach dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Derartige Gasmeßgeräte werden z. B. an Abgaskanälen
angeordnet, um die im Abgasstrom enthaltenen schädlichen
Gase, insbesondere SO₂, NO, NH₃, CO und dergleichen
hinsichtlich ihrer Konzentration zu ermitteln.
Zur Realisierung dieser Meßaufgabe sind dazu heute im
wesentlichen zwei Prinzipien bekannt:
Bei der in situ-Messung wird die Konzentration der
Gasbeladung direkt durch spektralanalytische Messung im
Hauptabgasstrom ausgeführt.
Bei der extraktiven Messung wird aus dem Hauptgasstrom
eine Teilgasmenge abgeleitet, aufbereitet und einem
außerhalb liegenden Meßort/Meßgerät zugeführt. Aus der
Bestimmung der Konzentration des Teilgasstromes wird
dann die Gesamtkonzentration des Hauptgasstromes
hochgerechnet. Nach der Messung wird der Teilgasstrom
wieder dem Abgasstrom zugeführt.
Beide Meßprinzipien haben Vor- und Nachteile und zählen in
den verschiedensten Ausführungen heute zum Stand der
Technik.
Die hier vorliegende Erfindung gehört zur Gruppe der in
situ-Systeme und beschreibt ein spezielles Meßrohr, das in
den Abgaskanal hineinragt, vom Abgas durchströmt wird und
damit, zusammen mit einem an der Außenwand des Abgaskanals
angebrachten Meßkopfes, die kontinuierliche Messung des
Gasstromes ermöglicht wird, ohne diesen zu verändern. Dabei
wird, ausgehend von einer elektromagnetischen
Strahlungsquelle, deren Spektrum zumindest die für die
Messung erforderlichen Spektralbereiche der zu bestimmenden
Gase aussendet, eine Meßstrecke durchstrahlt, am Ende der
Meßstrecke von einem dafür vorgesehenen Reflektor die
Strahlung im wesentlichen in sich zurückgeworfen, in einem
Analysator spektral zerlegt, und dann einer
Photoempfangsanordnung zugeführt. Damit werden elektrische
Signale erzeugt, die jeweils einer bestimmten Wellenlänge
bzw. einem engen Wellenlängenbereich zugeordnet sind, welche
einer Auswerteelektronik zugeführt werden, und damit in
Abhängigkeit von den empfangenen Signalen die Bestimmung der
Gaskonzentration ermöglichen.
Problematisch ist jedoch bei diesen spektralanalytischen
Gasmeßgeräten, daß das in den Abgaskanal hineinragende
Meßrohr direkt einer zum Teil extremen Umfeldbelastung
(Schmutz, Temperatur, aggressive Medien) ausgesetzt ist und
deshalb oft nur mit erheblichem Aufwand die
Funktionsfähigkeit des Meßrohres über vertretbare
Standzeiten erzielbar ist.
Bekannt in diesem Zusammenhang ist, den Meßgasbereich
innerhalb des Meßrohres mit einer porösen, gasdurchlässigen,
aber Staubpartikel abscheidenden Keramikhülle zu umschließen
und diese durch zyklische Überdruckphasen frei zu blasen,
d. h. zu reinigen.
Zum anderen ist es erforderlich, in regelmäßigen Abständen
die langzeitige Meßwertstabilität zu überprüfen (oftmals
eine Forderung der Zulassungsbehörden dieser Meßsysteme), um
die erforderliche Meßsicherheit erreichen zu können.
Es gehört ebenfalls zum Stand der Technik, diese
Referenzzyklen durch Einschalten einer mit einem
Referenz-Kalibriergas gefüllten Zelle (Küvette) in den
Strahlengang auszuführen.
Ein Nachteil dieses Standes der Technik ist darin zu sehen,
daß diese Referenzzelle außerhalb des Abgasstromes
angeordnet ist und damit ein anderes Temperaturverhalten als
der eigentliche Abgasstrom aufweist. Wenn sich jedoch
Referenzzelle und Abgasstrom, d. h. Referenzgastemperatur und
Abgastemperatur nicht auf gleicher Temperatur befinden,
führt dies zu Meßfehlern und muß durch aufwendige
Korrekturmaßnahmen korrigiert oder ausgeglichen werden.
Die Aufgabe der Erfindung besteht nun darin, ein Gerät zur
spektralanalytischen Gasmessung zu schaffen, das mit
möglichst geringem Aufwand gleichzeitig aber bei hoher
Zuverlässigkeit und Standzeit stabile Meßergebnisse liefert.
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des
kennzeichnenden Teils des Patentanspruchs 1 vorgesehen.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind durch die
Unteransprüche gekennzeichnet.
Gemäß der Erfindung ist also innerhalb des Meßrohres eine
offene, für das Meßgas frei durchströmbare Spaltöffnung
vorgesehen. Die optisch wirksame Begrenzung der Spaltöffnung
beidseitig in Meßrohrachse wird durch einen Luftüberdruck im
Meßrohrinneren sichergestellt. Dieses Luftpolster am Rande
der Spaltöffnung wird aufgebaut durch externe, spektral
neutrale Spülluft, die über zwei Ringflansche im Inneren des
Meßrohres austritt. Durch diese Maßnahme wird erreicht, daß
außerhalb des Meßspaltes die Lanze im Inneren abgasfreie und
saubere Räume aufweist, in denen weitere für die Funktion
notwendige optische Komponenten, wie z. B. der
Retroreflektor, angeordnet werden können. Der Druck in den
Spülgasräumen darf jedoch nur so viel höher als im
umgebenden Raumbereich sein, daß zwar kein im Raumbereich
befindliches Abgas in die Spülgaskanäle eindringt,
andererseits aber das Spülgas nicht eine merkliche Menge von
Abgas aus der Querdurchströmöffnung verdrängt.
Weiterhin ist zur Erfüllung der geforderten Langzeit
stabilität der Meßergebnisse vorgesehen, in das Meßrohr,
zwischen dem spektralanalytischen Meßkopf und dem Meßrohr,
ein Referenzrohr mit einer gegen den Abgasstrom
abgedichteten Auditzelle einzusetzen. Damit diese Auditzelle
möglichst optimal mit dem Abgasstrom im thermischen
Gleichgewicht steht, sind weitere Öffnungen in dem
Referenzrohr vorgesehen, so daß die Zelle direkt vom
Abgasstrom umspült wird und damit thermisch angeglichen ist.
Durch diese (in optischer Strahlrichtung betrachtet)
serielle Anordnung von Auditzelle und Meßspalt ist es
möglich, einen einfachen und vom Prinzip sicheren
Funktionsablauf sowohl in der Meß- als auch Referenzphase
sicherzustellen.
Die sich aus der erfindungsgemäßen Ausführung des Meßrohres
ergebenden Vorteile sind darin zu sehen, daß der zu messende
Abgasstrom nahezu ungehindert und unbeeinflußt durch den
Meßspalt durchgeführt wird und damit unverfälscht zur
Messung zur Verfügung steht. Ebenfalls kann über die
wirksame Meßspaltlänge zumindest in Grenzen eine
Empfindlichkeitsanpassung an den anlagenbedingten Zustand
des Abgasstromes durchgeführt werden. Darüber hinaus
ermöglicht die im Referenzrohr befindliche Auditzelle,
welche extern mit verschiedenen Referenzgasen in
unterschiedlicher Konzentration gefüllt werden kann, dem
spektralanalytischen Meßkopf, auf gleichem optischen Wege
wie bei der eigentlichen Abgasmessung, die Referenzwerte zu
ermitteln.
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise anhand der
Zeichnung beschrieben; in dieser zeigt:
Fig. 1 eine teilweise geschnittene Seitenansicht
eines an einem Abgaskanal angebrachten
erfindungsgemäßen Gasmeßgerätes,
Fig. 2 eine Ansicht des Gegenstandes der Fig. 1 von
unten ohne den Meßkopf und ohne die Wand des
Abgaskanals, und
Fig. 3 einen Schnitt des Gegenstandes der Fig. 2
nach Linie III-III.
In Fig. 1 ist schematisch ein Ausschnitt aus einem
erfindungsgemäßen spektralanalytischen Gasmeßgerät
dargestellt. Darin ist zu sehen, daß ein sich in einem
Abgaskanal 3 quer zur durch Pfeile gekennzeichneten
Strömungsrichtung erstreckendes und kombiniertes
Meß-Referenz-Rohr 1, 23 an der Außenwand 2 des Abgaskanals 3
mit einer lösbaren Wandverbindung 4 befestigt ist. An dem
Rohrende außerhalb des Abgaskanals 3 ist über einen
Verbindungsflansch 5 ein spektralanalytischer Meßkopf 6
angeschraubt. Weiterhin zeigt Fig. 1 schematisch zwischen
dem Verbindungsflansch 5 und der Wandverbindung 4 ein
Spülluftzufuhrrohr 28 mit einem seitlichen Einströmstutzen 7
für extern zugeführte Spülluft. Neben den hier nicht weiter
dargestellten elektrischen Versorgungs-/und Signalausgangs
leistungen von und zum spektralanalytischen Meßkopf 6 sind
eine Prüfgas-Eingangsöffnung 8 sowie eine Prüfgas-Ausgangs
öffnung 9 angedeutet.
Aus Fig. 2 ist ersichtlich, daß in dem Meßrohr 1 eine
rechteckförmige Querdurchströmöffnung in Form eines
Meßspaltes 10 vorhanden ist, durch welche das Meßgas über
einen definierten Querschnitt hindurchströmt. Im dem dem
Meßrohr 1 vorgeschalteten Referenzrohr 23 ist eine weitere
Querdurchströmöffnung in Form eines Referenzspaltes 11
vorgesehen, welcher parallel zum Meßspalt 10 verläuft.
Innerhalb des Referenzspaltes 11 befindet sich eine weiter
unten im einzelnen beschriebene Auditzelle 12 in direktem
Kontakt mit dem das Meßrohr 1 und das Referenzrohr 23
umgebenden Abgaskanal 3.
Durch den Verbindungsflansch 5, der ringförmig eine Seite
des an den Eingang des Referenzrohres 23 anschließenden
Spülluftzufuhrrohres 28 abschließt, sind die Zuleitung 13
und Ableitung 14 des Referenzgases für die Auditzelle 12
sichtbar. Eine mechanische Schubstange 15 dient zur
Steuerung des Nullpunktreflektors 18, welcher im folgenden
im einzelnen anhand von Fig. 3 beschrieben wird.
Die relative Anordnung der einzelnen Bauelemente des
erfindungsgemäßen Gasmeßgerätes ergibt sich aus der
folgenden Funktionsbeschreibung anhand von Fig. 3.
Die elektromagnetische Strahlung tritt auf der
Verbindungsflanschseite in den Innenraum des Referenzrohres
23 ein und gelangt über das Zellfenster 16 in die Auditzelle
12. Über das Zellenfenster 17 erfolgt der Austritt der
Strahlung. Befindet sich das Meßsystem in der Meßgasphase,
ist die Auditzelle 12 mit spektral neutraler Atmosphäre
gefüllt, d. h. es befindet sich kein Referenzgas im Inneren.
Ebenfalls ist auch der Nullpunktreflektor 18, wie in Fig. 3
dargestellt, in der ausgeschwenkten Position geparkt. Die
elektromagnetische Strahlung kann deshalb ungehindert in das
Meßrohr 1 eintreten und dann durch den Ringflansch 19, den
Meßspalt 10 und einen weiteren Ringflansch 20 bis zu einem
Retroreflektor 21 gelangen. An diesem Retroreflektor 21 wird
die auftreffende Strahlung in Autokollimination
zurückreflektiert. In umgekehrter Reihenfolge wird das
Meßrohr 1 nun erneut durchstrahlt, so daß in Abhängigkeit
von der optischen Filterwirkung des Meßgases die Strahlung
spektral beeinflußt wieder in den Meßkopf 6 eintritt.
Mit Hilfe eines im Meßkopf vorhandenen Analysators wird
diese Strahlung spektral zerlegt und danach einer
Photoempfangsanordnung zugeführt. Damit werden elektrische
Signale erzeugt, die jeweils einer bestimmten Wellenlänge
bzw. einem engen Wellenlängenbereich zugeordnet sind. In
einer Auswerteelektronik werden dann diese Signale
verarbeitet und so die Bestimmung der Gaskonzentration im
Meßgasbereich ermöglicht. Über einen durch Kalibrierung zu
ermittelnden Umrechnungsfaktor kann somit auf die
Gesamtkonzentration im Abgaskanal 3 hochgerechnet werden.
Um die notwendige Langzeitstabilität des Meßsystems zu
erreichen, wird zyklisch (typischerweise 1 bis 3 mal
täglich) die Auditzelle 12 über die Zuleitung 13 mit Gasen
genau bekannter, jedoch unterschiedlicher Konzentration
(niedrig, mittel, hoch) gefüllt. Dazu wird der im Meßsystem
geparkte Nullpunktreflektor 18 programmgesteuert über eine
Schubstange 15, die z. B. elektrisch angetrieben wird,
eingeschwenkt. Die Strahlung wird somit bereits am Ausgang
der Auditzelle 12 zurückgeworfen und äquivalent dem zuvor
beschriebenen Verfahren spektral zerlegt und ausgewertet. Da
jedoch in diesen Fällen die Konzentration des Gases in der
Auditzelle 12 bekannt ist, kann die ermittelte Meßgröße als
Referenz verwendet werden. Durch die unterschiedlichen
Konzentrationszustände des Referenzgases ist es ferner
möglich, auch das gesamte dynamische Verhalten des
Meßsystems an mehreren Stützstellen zu erfassen und in der
Auswerteschaltung zu berücksichtigen.
Um den Innenraum des Meßrohres 1 auch im rauhen Betrieb über
längere Zeiten sauber zu halten, wird über die beiden
Ringflansche 19 und 20 saubere Spülluft in vom Meßspalt 10
abgewandte Endbereiche von Spülluftrohrbereichen 29, 30 in
Richtung des Meßspaltes 10 geblasen, um somit die
Spülluftrohrbereiche 29, 30 mit einem Luftpuffer zu
verschließen. Auf diese Weise entsteht im Inneren des
Meßrohres 1 außerhalb des Meßspaltes 10 ein geringer
Luftüberdruck, der das Eindringen von Verunreinigungen über
den Meßspalt verhindert. Alternativ kann zusätzlich vor dem
Ringflansch 19 bzw. nach dem Ringflansch 20 eine für den
verwendeten Spektralbereich transparente Abdeckscheibe 24,
25 eingebaut werden, um im Störfall (z. B. Ausfall des
Spülluftsystems) eine Verunreinigung der Räume 26, 27 im
Bereich des Nullpunktreflektors 18 bzw. des Retroreflektors
21 zu vermeiden.
Erfindungsgemäß ist die Außenwand des Meßrohres 1 und des
Referenzrohres 23 teilweise als geschlossenes Kreissegment
doppelwandig ausgeführt, so daß dadurch Luftkanäle 22, 22′
zur Zuleitung der Spülluft zu den Ringflanschen 19 und 20
gebildet werden. Diese konstruktive Gestaltung ist darüber
hinaus deshalb als positiv anzusehen, weil dadurch die
mechanische Stabilität des Meßrohres deutlich erhöht wird.
Bezugszeichenliste
1 Meßrohr
2 Außenwand
3 Raumbereich (Abgaskanal)
4 Wandverbindung
5 Verbindungsflansch
6 Spektralanalytischer Meßkopf
7 Einströmöffnung
8 Eingangsöffnung
9 Prüfgas-Ausgangsöffnung
10 Meßspaltöffnung
11 Durchbruch
12 Auditzelle
13 Zuleitung
14 Ableitung
15 Schubstange
16 Zellenfenster
17 Zellenfenster
18 Nullpunktreflektor
19 Ringflansch
20 Ringflansch
21 Meßreflektor (Retroreflektor)
22 Innenraum
22′ Innenraum
23 Referenzrohr
24 Abdeckscheibe
25 Abdeckscheibe
26 Raum
27 Raum
28 Spülgaszufuhrrohr
29 Spülluftrohrbereich
30 Spülluftrohrbereich
2 Außenwand
3 Raumbereich (Abgaskanal)
4 Wandverbindung
5 Verbindungsflansch
6 Spektralanalytischer Meßkopf
7 Einströmöffnung
8 Eingangsöffnung
9 Prüfgas-Ausgangsöffnung
10 Meßspaltöffnung
11 Durchbruch
12 Auditzelle
13 Zuleitung
14 Ableitung
15 Schubstange
16 Zellenfenster
17 Zellenfenster
18 Nullpunktreflektor
19 Ringflansch
20 Ringflansch
21 Meßreflektor (Retroreflektor)
22 Innenraum
22′ Innenraum
23 Referenzrohr
24 Abdeckscheibe
25 Abdeckscheibe
26 Raum
27 Raum
28 Spülgaszufuhrrohr
29 Spülluftrohrbereich
30 Spülluftrohrbereich
Claims (16)
1. Spektralanalytisches Gasmeßgerät zur Bestimmung der
Anwesenheit und/oder Konzentration von Gasen in einem
Raumbereich (3) mit einem in oder an dem Raumbereich (3)
anbringbaren spektralanalytischen Meßkopf (6), der zur
Bestimmung der Gase erforderliche Spektralbereiche
aufweisende Meßstrahlen in den Raumbereich (3)
aussendet, und mit einem Meßreflektor (21), vorzugsweise
einem Retroreflektor, im oder am Raumbereich (3), der
das zumindest durch einen Teil des Raumbereiches (3)
hindurchgetretene Licht zum Meßkopf (6) zurück
reflektiert, wo es in einem Analysator spektral zerlegt
und dann einer Photoempfangsanordnung zugeführt wird,
die elektrische Signale erzeugt, welche jeweils einer
bestimmten Wellenlänge oder einem bestimmten Wellen
längenbereich zugeordnet und an einer Auswerteelektrode
angelegt sind, die in Abhängigkeit von den empfangenen
Signalen die Anwesenheit und/oder Konzentration der Gase
bestimmt,
dadurch gekennzeichnet,
daß in dem von der Meßstrahlung durchlaufenden
Raumbereich ein sich in Lichtausbreitungsrichtung
erstreckendes Meßrohr (1) vorgesehen ist, welches eine
mit dem umgebenden Raumbereich (3) kommunizierende
Querdurchströmöffnung (10) aufweist, am vom Meßkopf (6)
abgewandten Ende verschlossen ist und den Meßreflektor
(21) aufnimmt und beidseits der Querdurchströmöffnung
(10) mit gegenüber dem Raumbereich (3) unter leichtem
Überdruck stehenden, bezüglich des Meßspektralbereiches
spektral neutralem Spülgas, insbesondere Spülluft,
beschickt ist.
2. Gasmeßgerät nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Querdurchströmöffnung (10) in Richtung der
Strömung des in dem Raumbereich (3) befindlichen Gases
verläuft.
3. Gasmeßgerät nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Spülgaszufuhr in den von der Querdurchström
öffnung (10) abgewandten Endbereichen des Meßrohres (1)
vorgesehen ist.
4. Gasmeßgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Querdurchströmöffnung (10) als ein Querspalt
(10) ausgebildet ist.
5. Gasmeßgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Meßrohr doppelwandig ausgebildet ist und der
Innenraum (22) der Doppelwand als Spülgaszuführung
dient.
6. Gasmeßgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem Meßrohr (1) ein Referenzrohr (23) vorgeschaltet
ist, welches ebenfalls von der Meßstrahlung durchquert
wird, daß in dem Referenzrohr (23) eine in definierter
Weise mit einem oder mehreren Referenzgasen füllbare
Referenzzelle (12) vorgesehen ist, die zumindest
gegenüber dem Meßrohr (1) und vorzugsweise auch
gegenüber dem Meßkopf (6) durch ein Fenster (16; 17)
abgeschlossen ist, und daß an dem dem Meßrohr (1)
zugewandten Ende des Referenzrohres (23) ein ein- und
ausschwenkbarer Nullpunktreflektor (18) vorgesehen ist.
7. Gasmeßgerät nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Nullpunktreflektor (18) in einem beidseits durch
Fenster (17, 24) abgeschlossenen Raum (26) angeordnet
ist.
8. Gasmeßgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Raum (27) vor dem Meßreflektor (21) durch ein
Fenster (25) abgeschlossen ist.
9. Gasmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß im Bereich der Referenzzelle (12) eine weitere
Querdurchströmöffnung (11) vorgesehen ist.
10. Gasmeßgerät nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß die weitere Querdurchströmöffnung (11) in Richtung
der Strömung des in dem Raumbereich (3) befindlichen
Gases verläuft.
11. Gasmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß auch das Referenzrohr (23) doppelwandig ausgebildet
ist, der Innenraum (22′) der Doppelwand als Spülgas
zuführung dient und die Innenräume (22, 22′) des Meß- und
des Referenzrohres (1, 23) in Strömungsverbindung
stehen.
12. Gasmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 11,
dadurch gekennzeichnet
daß die Referenzzelle eine Auditzelle (12) ist.
13. Gasmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem Meßrohr (1) bzw. dem Referenzrohr (23) ein
Spülgaszufuhrrohr (28) vorgeschaltet ist.
14. Gasmeßgerät nach eine-m der Ansprüche 6 bis 13,
dadurch gekennzeichnet,
daß am Eingang des Referenzrohres (23) eine
Spülgaszufuhr- und -abfuhrleitung (14) vorgesehen ist,
die sich gegebenenfalls durch den Meßkopf (6) und/oder
das Spülgaszufuhrrohr (28) erstreckt.
15. Gasmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 14,
dadurch gekennzeichnet,
daß sich zum Nullpunktreflektor (18) im Referenzrohr
(23) eine Schubstange (15) erstreckt, die vorzugsweise
durch den Eingang des Referenzrohres (23) und
gegebenenfalls durch das Spülgaszufuhrrohr (28) oder den
Meßkopf (6) verläuft.
16. Gasmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Meßrohr (1) und das Referenzrohr (23) als
einstückiges Rohrgebilde ausgebildet sind.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4443016A DE4443016A1 (de) | 1994-12-02 | 1994-12-02 | Gasanalytisches Meßgerät |
US08/565,396 US5781306A (en) | 1994-12-02 | 1995-11-30 | Measuring apparatus for gas analysis |
CA002164249A CA2164249A1 (en) | 1994-12-02 | 1995-12-01 | Measuring apparatus for gas analysis |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4443016A DE4443016A1 (de) | 1994-12-02 | 1994-12-02 | Gasanalytisches Meßgerät |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4443016A1 true DE4443016A1 (de) | 1996-06-05 |
Family
ID=6534793
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE4443016A Ceased DE4443016A1 (de) | 1994-12-02 | 1994-12-02 | Gasanalytisches Meßgerät |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5781306A (de) |
CA (1) | CA2164249A1 (de) |
DE (1) | DE4443016A1 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19843553A1 (de) * | 1998-09-23 | 2000-04-13 | Bayer Ag | Meßvorrichtung zur In-Prozeß-Kontrolle |
EP2604999A1 (de) * | 2011-12-15 | 2013-06-19 | Mettler-Toledo AG | Gasmessgerät |
WO2017082738A1 (en) * | 2015-11-09 | 2017-05-18 | Neo Monitors As | Gaz analyzer with protection for optical components |
CN107621459A (zh) * | 2016-07-13 | 2018-01-23 | 富士电机株式会社 | 气体分析装置 |
EP2944944B1 (de) | 2014-05-12 | 2021-10-20 | General Electric Company | Gasdetektor und verfahren zur detektion |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1299859B1 (it) * | 1998-02-23 | 2000-04-04 | Gd Spa | Unita' elettro-ottica di rilevamento dell'intera superficie lateale di articoli di forma sostanzialmente cilindrica. |
US7034304B2 (en) * | 2003-07-25 | 2006-04-25 | Honeywell International, Inc. | Chamber for gas detector |
GB0700677D0 (en) * | 2007-01-12 | 2007-02-21 | Servomex Group Ltd | Probe |
US20100302546A1 (en) * | 2009-05-27 | 2010-12-02 | Masud Azimi | Optical measurement of samples |
EP2416146B1 (de) | 2010-08-04 | 2018-12-26 | HORIBA, Ltd. | Sonde zur Gasanalyse |
DE102011101107B4 (de) * | 2011-05-10 | 2013-08-14 | Sartorius Stedim Biotech Gmbh | Einweg-Sensorkopf und Einwegbehälter |
JP6386607B2 (ja) * | 2011-08-12 | 2018-09-05 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
JP6416453B2 (ja) | 2011-08-12 | 2018-10-31 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
EP3644043B1 (de) | 2011-12-27 | 2023-10-18 | HORIBA, Ltd. | Gasanalysevorrichtung |
JP5992683B2 (ja) * | 2011-12-27 | 2016-09-14 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
JP6077743B2 (ja) * | 2011-12-27 | 2017-02-08 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
JP6271139B2 (ja) | 2013-03-21 | 2018-01-31 | 株式会社堀場製作所 | 温度計 |
WO2015193370A1 (en) * | 2014-06-19 | 2015-12-23 | Danfoss Ixa A/S | Probe for gas sensor having purge gas protection |
DE112015004710T5 (de) * | 2014-10-17 | 2017-07-06 | Horiba Ltd. | Gasanalysevorrichtung |
CN107328715A (zh) * | 2017-08-15 | 2017-11-07 | 杭州泽天科技有限公司 | 原位单端反射式激光分析仪及其标定方法 |
US10788420B2 (en) * | 2018-04-25 | 2020-09-29 | Yokogawa Electric Corporation | Gas analyzer |
CN116519890B (zh) * | 2023-06-30 | 2023-08-25 | 北京燕山时代仪表有限公司 | 矿用气体报警器检测装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3503720A1 (de) * | 1985-02-05 | 1986-08-07 | MSR Gesellschaft für Meß-, Steuerungs- und Regeltechnik mbH, 3302 Cremlingen | Geraet zur kontinuierlichen fotometrischen bestimmung von schadstoff-komponenten in abgasen und/oder zur beeinflussung von abgastemperaturen |
DE4133701A1 (de) * | 1991-10-11 | 1993-04-15 | Geesthacht Gkss Forschung | Verfahren und vorrichtung zur spurenanalytischen konzentrationsbestimmung von sich in einem traegergas befindenden molekuelen |
DE4135843A1 (de) * | 1991-10-31 | 1993-05-06 | Rosemount Gmbh & Co, 6450 Hanau, De | Analysator fuer absorptionsspektralanalysen, insbesondere von gasen |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3861809A (en) * | 1973-04-06 | 1975-01-21 | Perkin Elmer Corp | Confocal cavity optical gas sensor |
DE2521934C3 (de) * | 1975-05-16 | 1978-11-02 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentrationen von Komponenten eines Abgasgemisches |
US4560873A (en) * | 1983-06-17 | 1985-12-24 | Lear Siegler, Inc. | Situ multi-channel combustion gas analyzer |
US5241368A (en) * | 1991-01-07 | 1993-08-31 | Custom Sample Systems, Inc. | Fiber-optic probe for absorbance and turbidity measurement |
-
1994
- 1994-12-02 DE DE4443016A patent/DE4443016A1/de not_active Ceased
-
1995
- 1995-11-30 US US08/565,396 patent/US5781306A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-12-01 CA CA002164249A patent/CA2164249A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3503720A1 (de) * | 1985-02-05 | 1986-08-07 | MSR Gesellschaft für Meß-, Steuerungs- und Regeltechnik mbH, 3302 Cremlingen | Geraet zur kontinuierlichen fotometrischen bestimmung von schadstoff-komponenten in abgasen und/oder zur beeinflussung von abgastemperaturen |
DE4133701A1 (de) * | 1991-10-11 | 1993-04-15 | Geesthacht Gkss Forschung | Verfahren und vorrichtung zur spurenanalytischen konzentrationsbestimmung von sich in einem traegergas befindenden molekuelen |
DE4135843A1 (de) * | 1991-10-31 | 1993-05-06 | Rosemount Gmbh & Co, 6450 Hanau, De | Analysator fuer absorptionsspektralanalysen, insbesondere von gasen |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
STAAB,J.: Industrielle Gasanalyse. In: tm - Tech- nisches Messen 60, 1993, 12, S.490-494 * |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19843553A1 (de) * | 1998-09-23 | 2000-04-13 | Bayer Ag | Meßvorrichtung zur In-Prozeß-Kontrolle |
DE19843553C2 (de) * | 1998-09-23 | 2001-09-20 | Bayer Ag | Meßvorrichtung zur In-Prozeß-Kontrolle |
EP2604999A1 (de) * | 2011-12-15 | 2013-06-19 | Mettler-Toledo AG | Gasmessgerät |
WO2013087753A1 (de) * | 2011-12-15 | 2013-06-20 | Mettler-Toledo Ag | Gasmessgerät |
US9304079B2 (en) | 2011-12-15 | 2016-04-05 | Mettler-Toledo Gmbh | Gas analyser |
EP2944944B1 (de) | 2014-05-12 | 2021-10-20 | General Electric Company | Gasdetektor und verfahren zur detektion |
WO2017082738A1 (en) * | 2015-11-09 | 2017-05-18 | Neo Monitors As | Gaz analyzer with protection for optical components |
CN107621459A (zh) * | 2016-07-13 | 2018-01-23 | 富士电机株式会社 | 气体分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5781306A (en) | 1998-07-14 |
CA2164249A1 (en) | 1996-06-03 |
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