DE4202822C2 - Optische Spektralanalysevorrichtung - Google Patents
Optische SpektralanalysevorrichtungInfo
- Publication number
- DE4202822C2 DE4202822C2 DE4202822A DE4202822A DE4202822C2 DE 4202822 C2 DE4202822 C2 DE 4202822C2 DE 4202822 A DE4202822 A DE 4202822A DE 4202822 A DE4202822 A DE 4202822A DE 4202822 C2 DE4202822 C2 DE 4202822C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- energy
- coefficients
- sources
- electrical
- radiation energy
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 27
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims description 13
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 53
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 32
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 29
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 27
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 20
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 9
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 6
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims 1
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 20
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 19
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 19
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 12
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 11
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 7
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 7
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 6
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 6
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 5
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 4
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 238000004164 analytical calibration Methods 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000004737 colorimetric analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012417 linear regression Methods 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 230000008447 perception Effects 0.000 description 1
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000000411 transmission spectrum Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0218—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using optical fibers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
- G01J3/501—Colorimeters using spectrally-selective light sources, e.g. LEDs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/52—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using colour charts
- G01J3/524—Calibration of colorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J2003/467—Colour computing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/08—Optical fibres; light guides
- G01N2201/0826—Fibre array at source, distributing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/08—Optical fibres; light guides
- G01N2201/0833—Fibre array at detector, resolving
Description
Obwohl das menschliche Sehsystem sehr fähig ist zur Wahrnehmung
spektraler Energie, wie Helligkeit und Farbe oder Farbunter
schiede, ist es weniger fähig, wenn es um Quantifizierung oder
Erinnerung geht.
Eine Reihe von Instrumenten, im allgemeinen Densitometer,
Kolorimeter, Spektrophotometer, Radiometer und
Chromameter genannt, sind entwickelt worden, um diese Funktionen
durchzuführen. Diese Erfindung bezieht sich auf Meßinstrumente,
die hochwertige Messungen dieser Art bei niedrigen Kosten lie
fern können, und insbesondere auf eine optische Spektralanalyse
vorrichtung, die eine Vielzahl von Festkörperstrahlungsquellen,
wie zum Beispiel Leuchtdioden, und eine Vielzahl von Festkörper
strahlungsdetektoren aufweist.
Densitometer, Kolorimeter, Spektrophotometer, Radiometer und
Chromameter führen alle die gleiche Art von physikalicher
Messung durch. Sie berechnen jeweils eine oder mehrere gewich
tete Integrationen von optischer Energie über Wellenlänge. Im
Fall von Densitometern, Kolorimetern, einigen Radiometern und
Chromametern wird eine kleine Anzahl von gewichteten Inte
grationen normal durchgeführt. Die Gewichtungsfunktion für
Densitometer und Kolorimeter ist üblicherweise das Produkt aus
der spektralen Intensität einer Lichtquelle, einem Filter, einem
Empfindlichkeitsprofil eines Detektors und der Reflexion oder
dem Durchlaß einer Probe.
Für Chromameter und Radiometer ist die Probe eine strahlende
Quelle, und die Gewichtungsfunktion ist das Produkt aus der
spektralen Intensität der Quelle, einem Filterparameter und der
spektralen Empfindlichkeit eines Detektors. In der üblichen
Praxis dient zur Messung des Reflexionsgrades oder Durchlasses
der Lichtquelle ein Breitbandstrahler, wie zum Beispiel eine
Wolframlampe, und der Detektor hat einen weiten Empfindlich
keitsbereich. Im allgemeinen werden die gleichen Lichtquellen- und
Detektorprofile für jede gewichtete Integration benutzt und
nur das Filterprofil ändert sich. Diese Instrumente werden
üblicherweise zum Gebrauch kalibriert unter Verwendung einer
Probe mit bekanntem Durchlaß- oder Reflexionsgrad. Spektro
photometer und spektrale Radiometer können im allgemeinen zig- bis
tausende von gewichteten Integrationen auswerten. Für
Spektrophotometer und spektrale Radiometer haben die
Gewichtungsfunktionen üblicherweise jeweils eine gemeinsame
Form, die idealer Weise ein schmales Dreieck ist. Mehrfach
gewichtete Integrationen werden erhalten durch Auswahl mehrerer
Positionen für die Mitte der Gewichtungsfunktion entlang der
Wellenlängenachse. Spektrophotometer benutzen im allgemeinen
Breitbandlichtquellen und -detektoren, aber weil sie einen
größeren Wellenlängenbereich umfassen können, können sie eine
Vielzahl von Quellen oder Detektoren haben. Die Gewichtungs
funktion ist durch kontinuierliche Filter, mehrfache Filter,
Monochromatoren, Spektrographen oder durch Interferenztechniken
gegeben. Densitometer, Kolorimeter und Chromameter sind so
konstruiert, daß sie spezifisch gewichtete Integrationen
durchführen können. Für Densitometer im graphischen Bereich soll
die Gewichtung der Integrationen die Reaktion auf den
Reflexionsgrad von beim Drucken benutzten Standardfarben
optimieren. Für Kolorimeter und Chromameter soll die Gewichtung
der Integrationen Chromatizitätskoordinaten (Farbtonkoordinaten)
erzeugen, wie durch CIE oder ASTM definiert. Spektrophotometer
und spektrale Radiometer sollen es gestatten, den Reflexions
grad, den Durchlaßgrad oder das Intensitätsspektrum bezüglich
der Wellenlänge des Musters oder Probe als eine Reihe von
Punkten oder eine Kurve oder ein Spektrum darzustellen. Da alle
dieser gewichteten Integrationen lineare Summen über die
Wellenlänge sind, kann jede Integration als ein Vektor in einem
gemeinsamen Vektorraum angesehen werden. Ein bestimmter Satz
oder Menge von gewichteten Integrationen wird einer Gruppe von
Vektoren aus diesem Raum entsprechen, die einen Unterraum
bilden. Solche Unterräume sollen aufgespannt sein durch die
Menge der gewichteten Integrationen, aus der ihre Komponenten
(Vektoren) berechnet werden können. In diesem Zusammenhang kann
man von jeder Art von Instrument sagen, daß es die Untermenge
des Raums mißt, der durch die Vektoren aufgespannt ist, welche
durch die gewichteten Integrationen dargestellt sind. Im
allgemeinen spannen die in den Densitometern, Kolorimetern und
Chromametern gebildeten, gewichteten Integrationen eine
Untermenge des Raums auf, der durch die in Spektrophotometern
und spektralen Radiometern gebildeten Gewichtungsfunktionen
aufgespannt ist. Wenn Kolorimeter, Densitometer und Chromameter
nach veröffentlichten Standards konstruiert sind, werden die
bezeichneten Integrationen als Summen über Spektren angegeben,
und diese Instrumente werden üblicherweise kalibriert gegen die
Messungen eines hochwertigen Spektrophotometers oder spektralen
Radiometers oder gegen Proben, für die der Reflexions- oder der
Durchlaßgrad oder die spektrale Intensität als eine Funktion der
Wellenlänge unabhängig bestimmt worden ist. Angenommen, daß jede
Menge dieser gewichteten Integrationen ausgedrückt werden kann
als Untermengen desselben Vektorraums, dann folgt, daß jegliche
Menge von gewichteten Integrationen transformiert werden kann in
jegliche andere Menge innerhalb der Untermenge des Raums, der
durch beide Mengen aufgespannt ist, und des weiteren folgt, daß
diese Berechnung eine lineare Transformation sein wird, die als
eine Matrixmultiplikation durchgeführt werden kann. Dies
erfolgt, wenn Chromatizitäts-(oder Farbton-) Koordinaten oder
Dichten aus spektralen Daten berechnet werden, die von
Spektrophotometern oder spektralen Radiometern hergestellt
wurden. Daraus folgt auch, daß es eine Gruppe von anderen Mengen
von gewichteten Integrationen geben wird, die die Untermenge des
Raumes aufspannen, der durch die Chromatizitäts-Koordinaten und
durch Dichtebestimmungen aufgespannt ist. Jede solche Untermenge
kann gemessen werden und benutzt werden, um die Chromatizitäts-Koordinaten
oder Dichtefunktionen zu berechnen.
US-PS 4 505 583 zeigt eine spektroskopische Analyse-Vorrichtung,
bei der von einer Lichtquelle ausgesandtes
Licht durch eine Vielzahl von Interferenzfiltersätzen in
eine Reihe von Lichtstrahlen mit unterschiedlicher
Wellenlänge unterteilt wird, und zwar für Zwei-Wellen
längen-Photometrie, die geeignet ist, um zeitweise und
aufeinanderfolgend Licht von der Lichtquelle abzufangen
oder um durch das Licht durch einen drehbaren Schlitz
abgetastet zu werden. Ein Testobjekt wird aufeinander
folgend beleuchtet durch die Reihe von Lichtstrahlen,
welche durch ein Bündel optischer Fasern übertragen
werden. Reflektierte Lichtstrahlen, die Informationen
über das Objekt enthalten, werden aufeinanderfolgend an
einen photoelektrischen Wandler angelegt. So erzeugte
elektrische Signale werden digitalisiert und arithmetisch
verarbeitet, um eine Vielzahl von Daten zu erhalten, die
der Vielzahl von Interferenzfiltersätzen entsprechen.
US-PS 4 648 051 offenbart ein Verfahren zum Trennen der
Wirkung von Umgebungslicht von den Wirkungen des Ober
flächenreflexionsvermögens, um die Oberflächeneigen
schaften von Materialien besser analysieren zu können. Das
Verfahren verwenden die von N+1 Sensorklassen abgefühlten
Daten, um eine endlich dimensionale Annäherung einer
Oberflächenreflexionsvermögensfunktion an jedem Bildpunkt
sowie eine endlich dimensionale Annäherung des Umgebungs
lichts zu definieren.
US-PS 4 158 505 offenbart ein Spektralanalysesystem, das
die colorimetrischen Eigenschaften eines Testmusters bei
einer vorgewählten Wellenlänge oder einem Bereich von
Wellenlängen innerhalb des ultravioletten Bereichs, des
sichtbaren Bereichs und des nahen Infrarotbereichs mißt
oder analysiert. Das System umfaßt ein mit einer Breit
bandlichtquelle ausgestattetes Spektrophotometer,
optische Einrichtungen, die einen Musterlichtpfad und
einen Bezugs- oder Referenzlichtpfad vorsehen,
ein Zerhackerrad (chopper wheel), das gestattet, daß
Licht abwechselnd entlang des Musterlichtpfads und des
Bezugslichtpfads geleitet wird, und zwar unterbrochen
durch dunkle Zeitperioden, während derer entlang beider
Pfade kein Licht geleitet wird, ein Dispersionsgitter zum
Streuen des Lichts von beiden Pfaden, eine Reihe von
Neutraldichtefiltern um die entlang jedes Pfades ge
leitete Lichtmenge in unterschiedlichem Maße zu begren
zen, und eine lineare Anordnung von Photodioden zum
Detektieren des gestreuten Lichts bei unterschiedlichen
Wellenlängen. Das System umfaßt ferner einen elektro
nischen Steuerteil einschließlich einer programmierbaren
Leistungsversorgung zum Steuern der Lichtintensität von
der Lichtquelle, wodurch die Kombination der Verwendung
der Neutraldichtefilter in Verbindung mit der Steuerung
der Lichtintensität der Lichtquelle verwendet werden
kann, um die Photodiodenanordnung so zu betreiben, daß
deren Betrieb nahe des Sättigungsstrompegels und des
Dunkelstrompegels verhindert wird, und wobei das System
ferner Mittel zum Abtasten der Photodiodenanordnung mit
hoher Geschwindigkeit während einer Drehung des Zer
hackerrades umfaßt, um eine Hochgeschwindigkeits
spektralmessung vorzusehen.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe
zugrunde, die Nachteile des obengenannten Standes der
Technik zu vermeiden und eine optimierte Vorrichtung zur
kostengünstige Messung von Lichtenergie trotz
Veränderungen der Bauteileigenschaften oder der
Temperatur vorzusehen.
Diese Aufgabe wird gemäß der vorliegenden Erfindung durch
eine optische Spektralanalysevorrichtung gemäß Anspruch 1
bzw. eine Vorrichtung für die Bestimmung von mehrfachen
Messungen von Strahlungsenergie gemäß Anspruch 15 gelöst.
Bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus
den Unteransprüchen.
Es ist eine Vorrichtung vorgese
hen, die jede Art von linearer Transformation von einer kleinen
Anzahl von Eingaben durchführen kann. Die Vorrichtung ist so
konstruiert, daß sie jegliche Menge von gewichteten Integra
tionen messen kann, aus denen die gewünschten Ergebnisse
errechnet werden können. Genauer wurde gemäß dieser Erfindung
entdeckt, daß eine Menge von gewichteten Integrationen ausge
wählt werden kann auf Grund von Überlegungen bezüglich Kosten
und Vorrichtungsqualität anstatt auf Grund von Übereinstimmung
mit den Gewichtungsfunktionen, für die die Vorrichtung Messungen
anzeigen wird. Eine Menge von gewichteten Integrationen kann ge
schaffen werden, die eine so große Untermenge des Vektorraumes
aufspannt, wie es mit der kleinsten Anzahl von billigen
Bauteilen praktikabel ist. Zur Messung des Reflexionsgrades und
der Durchlässigkeit bei der optischen Spektralanalysevorrichtung
gemäß der Erfindung wird eine kleine Anzahl von Beleuchtungs
quellen, von denen jede optische Energie über eine Untermenge
des Wellenlängenbereichs, der von Interesse ist, vorsieht, und
eine kleine Anzahl von Detektoren benutzt, von denen jeder über
den gesamten Wellenlängenbereich empfindlich ist, aber jeweils
mit einer unterschiedlich gewichteten Empfindlichkeit als eine
Funktion der Wellenlänge. Jede Beleuchtungsquelle ist so
gemacht, daß sie nacheinander das Probenmaterial beleuchtet, und
Licht von dem Muster wird zu allen Detektoren geleitet und die
Detektorausgabe wird aufgezeichnet. Dann, nachdem alle
Beleuchtungsquellen durchlaufen sind, wird eine Menge von
gewichteten Integrationen abgeleitet, deren Anzahl gleich ist zu
dem Produkt der Anzahl der Beleuchtungsquellen mal der Anzahl
der Detektoren. Die Gewichtungsfunktionen dieser Integrationen
werden die Produkte der einzelnen Illuminationsgewichtungs
funktionen mit den einzelnen Detektorempfindlichkeitsfunktionen
sein. In bevorzugten Ausgestaltungen der Vorrichtung zum Messen
der Reflexion und des Durchlaßgrades sind die Beleuchtungs
quellen Leuchtdioden und die Detektoren sind Photodioden, die
behandelt oder gefiltert worden sind, um unterschiedliche
Empfindlichkeitskurven als eine Funktion der Wellenlänge
herzustellen.
Die folgende Tabelle listet eine Reihe von Zusammenstellungen
auf.
In der bevorzugten Ausgestaltung können die Leuchtdioden (LED′s)
und die Detektoren in der Form von unbefestigten Halbleiterchips
sein. Für Reflexionsgradanwendungen ist eine ausgewählte Gruppe
von Detektoren und LED′s auf einem gemeinsamen Substrat befe
stigt. Bei konstanter Temperatur und wenn sie vor Feuchtigkeit
geschützt werden, sind Leuchtdioden und Photodioden stabile
Bauteile. Daher werden ein Temperaturfühler und wahlweise
Temperatursteuerbauteile auf dem Substrat befestigt. Die gesamte
Anordnung wird dann gegen Feuchtigkeit abgedichtet, um dann zu
erreichen, daß die Fühlerausgabe benutzt wird, um Temperatur
veränderungen auszugleichen durch Anpassen der linearen
Transformation zwischen gewichteten Integrationen und be
richteten Ausgabeinheiten. Bei Reflexionsgradmeßanwendungen wird
ein körperlicher Schild oder Blende benutzt, um zu verhindern,
daß direktes Licht von den LED′s die Detektoren erreicht, und
die gesamte Anordnung kann auf die Probenoberfläche gerichtet
werden ohne andere optische Bauteilen außer einem Schutzsiegel
aus Epoxidharz. In der Praxis sind die LED′s für das rote Ende
des sichtbaren Wellenlängenbereichs wirksamer als die LED′s für
das blaue Ende. Obwohl eine elektronische Kompensation umfaßt
wäre, mag es wünschenswert sein, das System dadurch auszuglei
chen, daß mehr LED-Chips bei unteren Wellenlängen benutzt wer
den, um den Lichtausgabe in diesem spektralen Bereich zu erhö
hen. Somit kann die Erfindung, wenn sie mit sechs Beleuchtungs
quellen umgesetzt wird, mehr als sechs LED-Chips haben wegen der
Notwendigkeit der Verdopplung für einige Wellenlängen.
Für präzises Probenehmen von kleinen Gebieten kann eine
Faseranordnung benutzt werden. In diesem Fall wird eine kleine
Anzahl von kurzen optischen Fasern benutzt, um Licht von den
LED′s zu der Probe zu leiten und umgekehrt zu den Detektoren. Da
es das Ziel ist, ein kleines Probengebiet zu erreichen, werden
Fasern mit einer dünnen Mantelschicht und somit einem großen
Kerndurchmesser gegenüber dem Manteldurchmesser benutzt. Ein
Ende der Fasern wird in direktem Kontakt mit den Detektoren und
den LED′s angeordnet. Optisches Epoxidharz wird aufgebracht, um
optisches Koppeln sicherzustellen, und tragendes Epoxidharz wird
die Faseranordnung starrhalten. Fig. 2 und 3 zeigen die Enden
von Faseranordnungen für bevorzugte Ausgestaltungen. Fig. 4
zeigt eine Seitenansicht einer Anordnung. Spezielle
Kombinationen von Detektoren und Beleuchtungs-Gewichtungs-Funktionen
können auch benutzt werden, um Faktoren zu berechnen,
die nicht einfache gewichtete Integrationen des Reflexionsgrades
oder der Durchlässigkeit sind. Wenn einer der Detektoren so ein
gestellt ist, daß er nicht empfindlich auf Beleuchtung ist bei
Wellenlängen, die von einer der Beleuchtungsquellen ausgesandt
werden, dann kann das Ansprechen dieses Detektors (wenn nur
diese eine Beleuchtungsquelle aktiv ist) ein Maß für die
Fluoreszenz der Probe sein.
Fig. 1a und 1b sind eine Draufsicht bzw. ein Schnitt (entlang
1b-1b in Fig. 1a) der Strahler/Detektor-Anordnung einer opti
schen Spektralanalysevorrichtung für den Reflexionsgrad gemäß
der Erfindung. Fig. 1c zeigt den Computer, der die Vorrichtung
betätigt.
Fig. 2 und 3 sind Endansichten von optischen Faseranordnungen,
die benutzt werden können, um eine Strahler/Detektoranordnung
ähnlich der von Fig. 1 an eine Reflexionsgradprobe optisch zu
koppeln.
Fig. 4 ist eine Seitenansicht einer Faseranordnung ähnlich der
von Fig. 2 oder Fig. 3.
Fig. 5a und 5b sind logische Flußdiagramme des Programms für
Vorbereitungs- bzw. Meßvorgänge der Vorrichtung, das in dem
Computer, der von der Vorrichtung umfaßt ist, umgesetzt ist.
Fig. 1 zeigt eine Draufsicht und einen Schnitt durch die Mitte
der Anordnung von Detektoren und Strahlern für direkte
Beleuchtung und Lichtaufnahme. Gegenstand 1 ist eine schützende
äußere Schale 1. Diese Schale dient 1) zum Blockieren von exter
nem Licht, 2) zum Reflektieren von Licht, das von den Strahlern
2 nach außen divergiert, zur Mitte hin, und 3) zur Aufnahme des
optischen Epoxidharzes 5 über den Strahlern. Ein Satz von
Strahlern in der Form von LED-Würfeln 2 ist auf den Umfang der
Anordnung verteilt. Detektoren 3 mit optischen Filterlagen 4
sind in der Mitte der Anordnung angeordnet. Ein Zylinder von
lichtundurchlässigem Material 6 dient dazu, direktes Licht von
den Strahlern 2 daran zu hindern, die Detektoren 3 zu erreichen,
sowie zur Aufnahme von optischem Epoxidharz 5. Das optische
Epoxidharz 5 wird über die Strahler und Detektoren gebracht, so
daß es ein hermetisches Siegel bildet und so daß seine Oberseite
eben ist. Ein Substrat 7 trägt elektrische Verbindungen und lie
fert thermischen Kontakt zwischen den Strahlern 2, den
Detektoren 3 und einem wahlweise anzubringenden thermischen
Fühlelement 8.
Fig. 2 zeigt die Endansicht der Probe und Zuweisungen für eine
Faseranordnung mit acht Beleuchtungsfasern und drei
Detektorfasern. Diese sind vorzugsweise Fasern mit einem
Durchmesser von 1 mm, so daß die maximale Breite des Probenendes
der Faseranordnung 4 mm ist. Die Detektorfasern sind in der
Mitte und mit D1, D2 und D3 bezeichnet. Die Beleuchtungsfasern
befinden sich um den Umfang der Anordnung herum und sind be
zeichnet mit der mittleren Wellenlänge in Nanometern der ent
sprechenden Leuchtdiode. Die unteren Wellenlängen, 470 Nanometer
(nm) und 555 nm werden in diesem Muster wiederholt.
Fig. 3 zeigt die probenseitige Ansicht und Zuweisungen für eine
Faseranordnung mit sechs Beleuchtungsfasern und einer Detektor
faser. Die eine Detektorfaser, die mit D bezeichnet ist, ist
optisch an zwei Detektoren gekoppelt. Die Beleuchtungsfasern
umgeben die Detektorfaser. Diese sind durch die mittlere
Wellenlänge in Nanometern der beleuchtenden Leuchtdiode bezeich
net. Die niedrigste Wellenlänge, 470 nm, ist dreimal wiederholt
für eine Gesamtzahl von vier Beleuchtungsprofilen.
Fig. 4 zeigt eine Seitenansicht der Faseranordnung. Optische
Fasern 4 verlaufen von dem Substrat 7, welches die Strahler
(Emitter) 2 und die Detektoren 3 an der Probe 9 befestigt.
Optisches Epoxidharz 5 koppelt die Fasern 4 an die Strahler 2
und die Detektoren 3. Tragendes Epoxidharz wird benutzt, um die
Anordnung an dem Strahler/Detektorende 6 und an dem Probenende 8
zu kapseln. Äußere Schalen an dem Strahler/Detektorende 1 und an
dem Probenende 7 schützen die Anordnung und liefern die äußere
Begrenzung für das tragende Epoxidharz.
Kalibrieren oder Eichen unter Verwendung eines programmierbaren
Computers, der eingebaut oder ein getrenntes Element sein kann,
ist Teil der Vorrichtung der Erfindung. Es mag mehrere Klassen
der Instrumenten-Kalibrierung geben. Kalibrierung wird verstan
den als Teil einer durchzuführenden mathematischen Berechnung
unter Verwendung von gemessenen gewichteten Integrationen als
Eingabe und spezifische Benutzer-Koordinaten erzeugend.
Benutzer-Koordinaten sind die gewichteten Integrationen, die das
Instrument dem Benutzer berichten wird. Chromatizitäts-Koordinaten
sind ein Beispiel von Benutzer-Koordinaten. Mehreren
Kalibrierungsklassen wird beim Umsetzen der Kalibrierung
Beachtung geschenkt.
- 1) Das Instrument (d. h. die Vorrichtung) kann ohne Kalibrierung und ohne Stabilisierung funktionieren. In diesem Fall würde die Umformung (Transformation) von gemessenen Integrationen in Benutzer-Koordinaten bestimmt werden als ein Teil der Konstruktion des Instruments und würde die gleiche sein für alle Instrumente, die die gleiche Art von Teilen verwenden, um die gleichen Benutzer-Koordinaten zu ergeben.
- 2) Das Instrument kann ohne Kalibrierung funktionieren, aber mit einer bordeignen (insbesondere auf der Leiterplatte) Temperaturstabilisierung mit geschlossenem Regelkreis (Closed Loop Temperatur-Stabilisierung). In diesem Fall würden die Strahler und Detektoren auf einer konstanten Temperatur gehalten werden durch einen Closed Loop-Thermodetektor und Heiz- und/oder Kühlsystem, was in Fig. 1b bei 9 schematisch gezeigt ist.
- 3) Das Instrument kann mit instrumentenspezifischer Kalibrierung funktionieren, aber ohne Stabilisierung. In diesem Fall würde jedes einzelne Instrument benutzt werden, um eine Reihe von Referenzmaterialien zu messen, wobei das Instrument und das Material auf einer konstanten Nominaltemperatur gehalten würde. Die Messungen würden benutzt werden, um eine instrumentenspezi fische Umformung von der Messung zu Benutzer-Koordinaten zu er rechnen. Diese Umformung würde in jedes spezifische Instrument kodiert werden.
- 4) Das Instrument kann funktionieren mit instrumenten-spezifi scher Kalibrierung und mit Temperaturkorrektur. In diesem Fall würde ein Thermofühler in Kontakt mit dem Substrat, das die Strahler und Detektoren trägt, die Temperatur am Substrat an den Prozessor berichten, der für die Umformung benutzt wird. Umformungen würden dann bei mehreren Temperaturen wie oben in der Klasse 3 bestimmt werden und ein Temperaturausgleich würde angewendet werden durch Auswahl der richtigen Umformung für die Verwendung.
- 5) Schließlich kann das Instrument funktionieren mit einer in strumentenspezifischen Kalibrierung und einer Stabilisierung mit geschlossenem Regelkreis (Closed Loop-Stabilisierung). Dies ist das gleiche wie Fall 3) für ein Instrument mit einem geschlosse nen Temperaturregelkreis an den Detektoren und Strahlern. Für einige Detektorarten, Anordnungen und Schaltungen kann es sein, daß das beobachtete elektrische Signal nicht streng proportional zu der Lichtenergie ist, die den Detektor erreicht. Wenn dies der Fall ist, ist eine Umformung von dem beobachteten Signal in einen Wert erforderlich, der proportional zu der Lichtenergie ist, vor der Umformung in Benutzer-Koordinaten. Allgemein ist zumindest eine Abgleichkorrektur erforderlich. Der Wert solcher Abgleiche (off set) kann während des Meßvorgangs berechnet wer den durch Beobachtung des elektrischen Signals, das von jedem Detektor erzeugt wird, wenn keine Beleuchtungsquellen aktiviert sind. Falls eine weitere Korrektur erforderlich ist, würde sie bestimmt werden auf der Basis von Detektor zu Detektor.
Fig. 5a und 5b zeigen ein Flußdiagramm für das Computerprogramm.
Der Computer ist Teil der Mittel für die Bedienung der Vor
richtung siehe Fig. 1c. Fig. 5a ist ein Meßkreis-Flußdiagramm.
Ein Start-Unterprogramm 1 wird zuerst aufgerufen. Nach der
Startroutine wird eine Schleife 2 durchlaufen, in der jeder
Detektor abgelesen wird, wobei alle Quellen abgeschaltet sind.
Die Ableseergebnisse der Detektoren bei ausgeschalteten Quellen
werden in Vektor D(d) gespeichert. Wenn diese Schleife fertig
ist, wird eine Doppelschleife über die Quellen und Detektoren
durchgeführt. Innerhalb der Quellenschleife wird jede Quelle vor
der inneren Schleife über die Detektoren angeschaltet (Schritt
3a), und nach der inneren Schleife über die Detektoren
abgeschaltet (Schritt 3b). Innerhalb der inneren Schleife über
die Detektoren wird jeder Detektor in einen Vektor I(d,s)
gelesen (Schritt 4). Wenn die Doppelschleife über Quellen und
Detektoren beendet ist, wird eine Dreifachschleife über
Ausgabevektor-Komponenten (Schritt 5), Quellen und Detektoren
durchgeführt. Innerhalb dieser Schleife wird der Ausgabevektor
O(j) auf Null gesetzt (Schritt 6) und dann wird jeder Term der
linearen Transformation in den Ausgabevektor addiert (Schritt
7). Diese Terme werden berechnet als ein Koeffizient, C(s, d, j),
mal der Eingabe mit eingeschalteten Quellen, I(s, d), minus dem
Ableseergebnis der Detektoren bei abgeschalteten Quellen, D(d).
Nachdem die Dreifachschleife durchlaufen ist, wird der
Ausgabevektor O(j) an den Benutzer ausgegeben (Schritt 8).
In dem Start-Unterprogramm Fig. 5b werden alle Quellen abge
schaltet 1 und die Existenz eines thermischen Fühlers wird abge
fragt. Falls kein thermischer Fühler vorhanden ist, sind die
Koeffizienten der linearen Transformation Konstanten und werden
nicht durch die Start-Routine modifiziert. Falls ein
Temperaturfühler vorhanden ist, wird die Temperatur von dem
Fühler 3 abgelesen und eine Dreifachschleife kopiert eine Menge
von Konstanten T(s, d, j, t), die durch die Temperatur bezeichnet
(indexted) sind und in die Reihe von Koeffizienten C(s, d, j) 4
eingelesen werden.
Die Überlegungen, die die Programme bestimmen, werden im folgen
den beschrieben. Chromameter sind konstruiert, um Chroma
tizitäts-Koordinaten für Quellen von Lichtenergie zu liefern.
Die zu messenden Quellen sind im allgemeinen für menschliche
Beobachtung gedacht, wie zum Beispiel farbige Lichter und
Zeichen, Farbfernsehanzeigen und Farbcomputer-Anzeigevor
richtungen. Da die Probe die Lichtenergie liefert, ist die
Beschreibung bezüglich des Erreichens niedrigerer Kosten durch
Multiplexen mehrfacher Quellen und mehrfacher Detektoren nicht
zutreffend. Jedoch können die Beschreibungen bezüglich der Wahl
der Gewichtungsfunktionen, der Anordnung und Temperatursteuerung
von Detektoren und Kalibrierung von Meßvorrichtungen auf eine
Vorrichtung zur Messung von Strahlungsquellen angewendet werden.
Für die Messung von Strahlungsquellen ist das benutzte Bezugs- oder
Referenzmaterial eine Reihe oder Satz von Vorrichtungen,
deren ausgesandte Lichtenergie von bekannter spektraler
Intensität ist, oder eine Vorrichtung zum Erzeugen mehrfacher
bekannter Spektren, wie zum Beispiel eine stabile Lichtquelle
und ein Monochromator.
Obwohl eine Vielzahl von Techniken der linearen Algebra und nu
merischen Analysis benutzt werden kann für die Umsetzung dieser
Erfindung, bezieht sich das Folgende auf eine bevorzugte
Umsetzung. OVECT sei ein Vector, dessen Komponenten die spek
trale Energie in jeweils einer Reihe von Wellenlängenbändern
sind. Zum Beispiel können diese Bänder einen Nanometer breit
sein, beginnend bei 380 nm und endend bei 780 nm. In diesem Fall
hätte OVECT 401 Komponenten. Dieser Wellenlängenbereich und
diese Auflösung würden ausreichend sein für die mathematische
Beschreibung jeglichen Instruments, das Messungen durchgeführt
hat, die menschlichen Sichtbeurteilungen entsprechen sollen.
UVECT sei ein Vektor von Benutzer-Koordinaten. Insbesondere sei
UVECT eine Menge(Satz) von drei Chromatizität-Koordinaten wie
durch das CIE definiert. In diesem Falle hätte UVECT drei
Komponenten. Dann kann die Definition von UVECT durch die CIE
ausgedrückt werden als die Matrix-Multiplikation von OVECT mit
einer Matrix der Dimension 3 auf 401, die aus veröffentlichten
Tabellen bestimmt wird, und die wir CHROM.MAT nennen werden.
UVECT = [CROM.MAT]*OVECT (1)
DVECT sei ein Vektor, dessen Komponenten gewichtete
Integrationen sind, die durch eine gegebene Vorrichtung gelie
fert worden sind. APP.MAT sei die Matrix der Gewichtungen, die
OVECT in DVECT transformiert.
DVECT = [APP.MAT]*OVECT (2)
Wenn der durch DVECT aufgespannte Vektorraum eine Teilmenge des
von UVECT aufgespannten Vektorraums ist, gibt es eine Matrix,
die DVECT mit einer Matrix-Multiplikation in UVECT transfor
miert. Wir nennen diese Matrix UAPP.MAT und schreiben
UVECT = [UAPP.MAT]*DVECT (3)
Zum Zwecke des Aufbaus können wir UAPP.MAT wie folgt berechnen:
1) Multiplizieren von Gleichung 2 mit der Transponierten von
APP.MAT, was folgendes ergibt:
Tr[APP.MAT]*DVECT = Tr[APP.MAT]*[APP.MAT]*OVECT (4)
2) Multiplizieren von Gleichung 4 mit der Inversen des Produkts
von APP.MAT mit seiner Transponierten, was die folgende
Gleichung für OVECT ergibt:
OVECT = Inv(Tr[APP.MAT]*[APP.MAT]*Tr[APP.MAT]*DVECT (5)
3) Einsetzen dieses Ausdrucks in Gleichung 1, um eine äquiva
lente Gleichung zur Gleichung 3 zu erhalten.
UVECT = [CHROM.MAT]*Inv(Tr[APP.MAT]*[APP.MAT]*Tr[APP.MAT]DVECT (6)
Obwohl die Gleichung 6 kompliziert zu sein scheint, reduziert
sich UAPP.MAT in der Praxis auf eine Reihe (oder Sammlung) von
Konstanten. Wenn OVECT und DVECT jeweils drei Komponenten hät
ten, dann wäre UAPP.MAT eine 3×3 Matrix und es gäbe neun
Konstanten für seine Komponenten.
Kolorimeter der laufenden Produktion sind so konstruiert, daß
DVECT gleich UVECT ist und UAPP.MAT eine Einheitsmatrix. Dies
ist weder nötig noch optimal. Die Anzahl und Formen der gewich
teten Integrationen, die die Komponenten von DVECT aufweisen,
können gewählt werden, um den besten Gebrauch zu machen von den
gegenwärtig erhältlichen, qualitativ hochwertigen und kostengün
stigen physikalischen Bauteilen. Die Auswahl dieser Bauteile
könnte mittels einer mathematischen Auswertung der Vorrichtung,
die konstruiert wird, durchgeführt werden unter Verwendung der
UAPP.MAT Matrix, die sich aus jeder möglichen Auswahl ergeben
würde. In bevorzugten Ausgestaltungen dieser Erfindung wird
DVECT im allgemeinen mehr Komponenten haben als UVECT. Dies
führt im allgemeinen zu einer überlegenen Auflösungs- und
Rauschleistung in dem von UVECT aufgespannten Raum. Diese
Verbesserungen können im allgemeinen erreicht werden bei einem
minimalen Anstieg der Produktionskosten. Auflösungs- und
Rauschleistung im UVECT-Raum werden aus Annahmen in dem von
DVECT aufgespannten Raum vorausgesagt unter Verwendung von
UAPP.MAT.
Als ein Teil des Herstellungsvorgangs können die Komponenten von
UAPP-MAT durch Kalibrierung eingestellt werden, wie oben be
schrieben, um die Genauigkeit der Abbildung von DVECT auf UVECT
zu verbessern für jedes in die Praxis umgesetzte Beispiel der
hergestellten Vorrichtung. Tatsächlich wird dies erreicht durch
Anwendung von mehrfachen Regressionstechniken auf eine Reihe von
Materialien, für die OVECT und/oder UVECT bekannt sind. Die
Einflüsse thermischer Variation und Komponentenvariation auf die
Benutzer-Koordinaten können vorhergesagt werden, wenn diese
Einflüsse bekannte OVECT-Koordinaten sind oder in DVECT-
Koordinaten.
Zusammenfassend sieht die Erfindung folgendes vor: Eine
Vorrichtung für kostengünstige Messung von Lichtenergie mittels
mehrfacher spektraler Integrationen mit unterschiedlichen, wei
lenlängenabhängigen Gewichtungen für eine Gleichmäßigkeit der
Messungen trotz Veränderungen bei Bauteileigenschaften oder in
der Temperatur.
Zusammenfassend kann noch folgendes ausgeführt werden.
Die Erfindung sieht ein Spektrometer vor, welches durch die
Verwendung von Mehrfachstrahlern oder -emittern und -detektoren
verbessert ist, die den interessierenden spektralen Bereich
überdecken, wobei ferner ein Computer eingesetzt wird, der durch
sein Programm definiert ist. Ein wichtiger Aspekt der Erfindung
ist die Art und Weise, wie die durch die Vorrichtungen erzeugten
Signale durch den Computer verarbeitet werden. Der Computer er
möglicht die Verwendung einer Vielzahl von Vorrichtungen, die
mehrfache spektrale Integrationen mit von unterschiedlichen
Wellenlängen abhängigen Gewichtungen ermöglichen. Im einzelnen
sei noch auf folgendes eingegangen: Was die fünf in Anspruch 1
genannten Funktionen sowie die ersten, zweiten und dritten
Mittel des Anspruchs 15 anlangt, so wird bemerkt, daß die
Verwendung eines Computers speziell bei der Diskussion der
Kalibrierung oder Eichung auf Seite 9 erläutert wird und die
Verwendung des Computers ergibt sich im einzelnen aus der
Diskussion der Fig. 5. Die Arbeitsweise, speziell die sequenti
elle Beleuchtung des Probenmaterials durch jede Quelle, die
Aufzeichnung der Ausgangsgröße der Detektoren während jede Quelle
aktiv ist und die darauffolgende Transformation der Detektor
ausgangsgröße in Benutzerkoordinaten ist im einzelnen auf den
Seiten 4 und 5 anhand der Fig. 5 erläutert. Der Aufbau dieser
Mittel bei der Umsetzung in die Praxis zur Erreichung dieser
Wirkung ist nicht kritisch.
Betreffend die Vorrichtung zur Erzeugung oder Entfernung von
Wärmeenergie gemäß den Ansprüchen 6 und 18 wird folgendes ausge
führt. Detektoren und andere elektronische Bauelemente, die in
tegral mit thermischen Steuervorrichtungen ausgebildet sind,
werden allgemein verwendet und sind im Handel verfügbar.
Vorrichtungen zur Erzeugung und Entfernung von Wärme sind aus
nicht elektrischen Arbeitsgebieten bekannt. Die Diskussion der
thermischen Stabilität, der Closed Loop-Temperaturstabilisation
(d. h. mit geschlossenem Regelkreis) auf den Seiten 6, 7, 10 und
11 setzt die Verwendung solcher Vorrichtungen voraus, schränkt
sie aber nicht ein.
Hinsichtlich der Eichung der Vorrichtung, wie dies auf den
Seiten 9, 10 und 11 diskutiert wird, sei bemerkt, daß dies die
Verwendung von Rechenmitteln erforderlich macht, um die
Transformationskoeffizienten zu berechnen. Anspruch 8 bezieht
sich auf die Typen 3, 4 und 5 der Eichung. Die Erfindung hängt
nicht von der körperlichen Natur der zum Rechnen verwendeten
Mittel ab, sondern nur von der Ausführung der Rechnung durch ir
gendein bekanntes Verfahren, beispielsweise das der mehrfachen
Regression.
Hinsichtlich der Ansprüche 9 und 10 wie auch 21 und 22 sei fol
gendes bemerkt: der Ausfall eines Satzes von Transformations
koeffizienten, also einer Funktion der Temperatur wird auf den
Seiten 6, 7 und 11 diskutiert und die Diskussion der Fig. 5 auf
Seiten 12 und 13 liefert einen weiteren Beitrag. Die Fig. 5
sieht ein spezielles Beispiel vor, bei dem die Auswahl durch
"Indexen" in einer Anordung von Koeffizienten erreicht wird. Die
Natur der Mittel zur Auswahl hängt von der Natur der Mittel ab,
die ausgewählt wurde zum Betrieb und zur Berechnung. Die
Erfindung macht lediglich erforderlich, daß die Auswahl der
Koeffizienten als Funktion der Temperatur ausgeführt wird, was
nicht in der Art der Mittel zur Ausführung der Selektion
abhängt.
Die im Anspruch 20 angesprochene Bestimmungs- und Berechnungs
mittel sind im Computer enthalten. Gleiches gilt für den
Anspruch 21.
Im folgenden seien noch weitere Ausführungen hinsichtlich der
Ansprüche gemacht. Ein wichtiger Punkt der Erfindung sind die
Ausführungen im Anspruch 1, daß nämlich eine Vielzahl von
Quellen vorgesehen ist, jede mit unterschiedlicher Spektral
energie, und daß ferner eine Vielzahl von Detektoren vorhanden
ist, jeder mit unterschiedlichem Ansprechverhalten. Die
Verwendung von Mehrfachemittern und Mehrfachdetektoren in
Kombination ist neu und erfinderisch. Ein Hauptziel der Lehre
besteht in der Erläuterung, warum die Verwendung von
Mehrfachemittern und Mehrfachdetektoren den Aufbau wertvoller
Instrumente gestattet und welche Verfahren verwendet werden kön
nen, um Instrumente mit Mehrfachemittoren und Mehrfachdetektoren
aufzubauen. Die Beschreibung erläutert dies für den Ingenieur,
der solche Instrumente bauen soll.
In der Beschreibungseinleitung wurden bereits die verfügbaren
Instrumente hinsichtlich gewichteter Integrationen optischer
Energie über die Wellenlänge beschrieben. Diese Diskussion bil
det den Hintergrund dafür, warum die Verwendung von
Mehrfachquellen und Mehrfachemittern Ergebnisse erzeugen kann,
die äquivalent zu den derzeit verfügbaren Instrumenten sind. Zu
Beginn der Zusammenfassung der Erfindung wird die Verwendung ei
ner kleinen Zahl von Beleuchtungsquellen beschrieben, von denen
eine jede über einen Teilbereich (Subset) des interessierenden
Wellenlängenbereichs optische Energie liefert. Ferner ist eine
kleine Zahl von Detektoren vorgesehen, deren jeder empfindlich
für den gesamten Wellenlängenbereich ist, aber mit
unterschiedlich gewichteter Empfindlichkeit. Die Tabelle
erläutert eine Anzahl möglicher Konfigurationen, die sich aus
einer unterschiedlichen Zahl von Emittern und Detektoren mit
möglichen Anwendungsfällen ergibt. Schließlich wird die
Anordnung von Mehrfachemittern in der Form von
lichtemittierenden Diodenchips erläutert und von
Mehrfachdetektoren auf einem gemeinsamen Substrat. Daraufhin
wird die Bedeutung der Beleuchtungsquelle als ein Mittel zum
Emittieren von Licht von gemeinsamen Wellenlängenprofil erläu
tert, und zwar entgegengesetzt zu der Strahlungsquelle. In Fig.
1 ist eine mögliche Anordnung der Mehrfachemitter und der
Mehrfachdetektoren gezeigt. Die Fig. 2 und 3 zeigen mögliche
Zuweisungen von Mehrfachfasern zu Mehrfachemittern und
Mehrfachdetektoren. Fig. 5 ist schließlich ein Flußdiagramm,
welches einen Überblick für ein mögliches Betriebsprogramm eines
Instruments mit Mehrfachemittern und Mehrfachdetektoren
vorsieht.
Im Anspruch 1 wird ausgeführt, daß Mittel vorgesehen sind, zum
Betrieb durch Vorsehen von elektrischer Energie für jede Quelle
für jede bestimmte Zeitperiode. Dies ist ein Aspekt der
Erfindung, der für das Sammeln einer Anzahl gewichteter
Integrationen erforderlich ist, und zwar gleich dem Produkt der
Zahl der Detektoren mal der Zahl der Emitter. Mittel zum
Sequentieren über ein diskreten Satz von Zuständen sind bekannt.
Solche Mittel sind in Spektrophotometern erforderlich, welche
diskrete Spektren vorsehen und zwar durch Verwendung eines abta
stenden Monochromators. Auf dem Gebiet der Farbmessung sind der
artige Mittel bekannt seit des Koppelns der GE Hardy und der
Diano Hardy mit einem Digitalcomputer. Die Diskussion der
Erfindung bezieht sich wiederholt auf die Berechnung der ge
wünschten Ausgangsgröße aus mehrfachgewichteten Integrationen.
Die Beschreibung eines möglichen Programms zur Ausführung dieser
Mittel ist in Fig. 5 dargestellt. Obwohl die Verwendung eines
Mikroprozessors nicht der einzige Weg ist, um diese Mittel vor
zusehen, wird die Verwendung eines Computers der beschriebenen
Art bevorzugt zur Steuerung und zur Berechnung bei der Anordnung
und Beschreibung von Fig. 5.
Im Anspruch 1 wird auf Mittel Bezug genommen, um eine
Wechselwirkung von Strahlungsenergie mit dem Objekt oder
Material einer solchen Art und Weise zu gestatten, daß ein ge
wisser Teils Strahlungsenergie zurückgeleitet wird. Dies wird
durch die Beschreibung des Teil 1 in Fig. 1 erläutert und ferner
durch die Beschreibung der Verwendung von Faseroptik für diesen
Zweck auf der Seite 7 sowie in den Fig. 2, 3 und 4; ferner durch
die Tatsache, daß ein Instrument zur Messung optischer
Materialeigenschaften optisch mit dem Material gekoppelt sein
muß.
Wie im Anspruch 1 gesagt wird, daß die elektrischen Signale wäh
rend jeder Zeitperiode aufgezeigt werden, so ist dies eine übli
che Ingenieurmaßnahme in jedem Instrument, welches rohe Daten
bewahrt und zwar zur Durchschnittbildung, zur Filterung und zur
darauffolgenden Berechnung oder zum Wiederaufrufen. Dies gilt
für auf Mikroprozessor- oder Computerbasis arbeitende
Instrumente, insbesondere für die meisten Spektrophotometer,
Colorimeter, Densitometer, Radiometer, Chromameter, die in den
letzten 10 Jahren hergestellt wurden. Es ist ferner allgemeine
Praxis Analog-zu-Digital-Umwandler zu verwenden, um elektrische
Signale aus den Detektoren umzuwandeln, und zwar in digitale
Bitmuster, die in einem RAM eines Digitalprozessors gespeichert
werden. Ferner sei in diesem Zusammenhang auf das spezielle
Beispiel der Fig. 5 verwiesen, wo diese Signale als die
Komponenten einer Anordnung I(d, s) im Speicher des Prozessors
gespeichert werden. In diesem Beispiel bezeichnet die
Indexvariable d eine spezielle Vorrichtung zum Vorsehen eines
Ansprechens auf Strahlungsenergie aus der Vielzahl der
Vorrichtungen, und die Indexvariable s bezeichnet eine bestimmte
Strahlungsenergiequelle aus der Vielzahl von Quellen.
Wenn der Anspruch 1 beschreibt, daß aus jedem der aufgezeichne
ten elektrischen Signale ein Wert berechnet wird, der eine ge
wichtete Integration der Strahlungsenergie über die Wellenlänge
ist, so findet sich die Grundlage dafür in folgendem:
- 1. Gemäß üblicher Ingenieurpraxis ist bei jedem Instrument, wel ches Chromatizitätskoordinaten liefert, die Normen von CIE- "Colorimetrie" zu berücksichtigen. Jedes Instrument, welches Dichtekoordinaten liefert, berücksichtigt die Normen von ANSI, wobei gleiches für Instrumente gilt, welche prozentuale Übertragungsspektra, prozentuale Reflektionsspektra oder radio metrische Energiespektra liefern. Die Komponenten einer gege benen Konstruktion können derart gewählt oder konstruiert sein, daß sie linear sind, was die Berechnung auf eine Einheitstransformation reduziert. In anderen Fällen kann die "Berechnung" in anderer Weise erfolgen. In jedem Falle, wenn eine Integration über die Wellenlänge erforderlich ist, macht die ordnungsgemäße Konstruktion erforderlich, daß jede Nicht- Linearität in der Dedektionsvorrichtung ordnungsgemäß gehandhabt wird. Im allgemeinen ist die Linearität von Detektoren ein un tersuchter Parameter, der in Lehrbüchern und Handbüchern der Hersteller von Detektoren diskutiert wird.
- 2. Sei auf die Diskussion auf Seite 11 in Punkt 5 hingewiesen, und zwar insbesondere den "Für einige Detektorarten . . ." begin nenden Satz.
- 3. Schließlich sei noch auf das spezielle Beispiel der Fig. 5 hingewiesen, in dem die Berechnung ausgeführt wird durch Subtraktion von D(d) von I(d, s).
Die Ausführungen im Anspruch 1, daß nämlich ein Satz von gewich
teten Integrationswerten erzeugt wird, dessen Zahl gleich dem
Produkt der Zahl der unterschiedenen Zeitperioden ist mit der
Zahl der Vorrichtungen zur Umwandlung der Strahlungsenergie in
elektrische Signale wird speziell gestützt durch die Seiten 4, 5
und 6 der Beschreibung, die Tabelle auf Seite 6 der Beschreibung
und die Fig. 5 sowie die Beschreibung der Fig. 5 auf den Seiten
11, 12, 13.
Wenn im Anspruch 1 gesagt wird, daß die Berechnung aus dem Satz
von gewichteten Integrationswerten des Satzes von mehrfachen
Messungen durch Lineartransformation geschieht und zwar des
Satzes von gewichteten Integrationswerten unter Verwendung vor
bestimmter Transformationskoeffizienten, so ist dies im einzel
nen an folgenden Stellen erläutert.
- 1. In der Diskussion auf den Seiten 3 und 4, wo ausgeführt ist, daß die Berechnung des Instruments dieser Klasse in der Sprache der linearen Algebra erfolgt. Auf dem Gebiet der linearen Algebra haben die Ausdrücke Vektorraum, Unterraum, Komponenten vektorenspanne, Lineartransformation und Transformations koeffizienten bestimmte Bedeutungen.
- 2. Die Diskussion auf den Seiten 10 und 11, welche fünf unter schiedliche allgemeine Bedingungen für die Bestimmung der Transformationskoeffizienten beschreibt. Die Fig. 5 und die Diskussion der Fig. 5 auf den Seiten 12 und 13, wo ein Überblick über ein spezielles Programm zur Durchführung der Lineartransformation gegeben wird.
- 3. Die Diskussion auf den Seiten 13, 14 und 15 welche eine Berechnung der Transformationskoeffizienten in der Sprache der Matrixalgebra liefert.
Was den Anspruch 2 anlangt, so beruht dieser unter anderem auf
der Verfügbarbarkeit von lichtemittierenden Dioden als nicht an
gebrachte Halbleiterchips, wie dies auf Seite 6 ausgeführt wird,
wobei ferner auf die Identifikation von lichtemittierenden
Dioden als bevorzugte Quellen hingewiesen sei. Die
Identifikation der Stabilität von lichtemittierenden Dioden ist
auf Seite 6, 7 beschrieben. Ferner sei auf das lichtemittieren
den Element 2 in Fig. 1 hingewiesen. Die Diskussion auf den
Seiten 4 und 5 besagt, daß die gewichteten Integrationen auf der
Basis von Kosten und Vorrichtungsqualität ausgewählt werden kön
nen.
Die Lehre des Anspruchs 4 beruht auf der Beschreibung des bevor
zugten Ausführungsbeispiels, beginnend auf Seite 6. Der Anspruch
5 stützt sich insbesondere auf die Ausführungen auf den Seiten 6
und 7 sowie das Element 8 in Fig. 1, ferner auf die Diskussion
der Typ 4-Eichung auf Seite 11, die Diskussion der Verwendung
von thermischen Daten in Fig. 5 auf Seiten 12 und 13 sowie auf
die Diskussion auf Seite 16. Anspruch 6 stützt sich auf die
Diskussion auf den Seiten 6 und 7, die Diskussion der Typ 2-
Eichung auf Seite 10, die Diskussion der Typ 5-Eichung auf Seite
11 und die Diskussion auf Seite 16. Anspruch 7 stützt sich auf
die Diskussion auf Seite 6 und 7 und das Element 5 in Fig. 1.
Anspruch 8 stützt sich auf die Diskussion solcher Instrumente in
der Sprache der linearen Algebra auf den Seiten 3 und 4, was
einen Zusammenhang mit den zu bestimmenden Koeffizienten vor
sieht. Ferner sei auf die Diskussion der Typen 3, 4 und 5 der
Eichung auf den Seiten 10 und 11 hingewiesen. Ferner auf die
Beschreibung der Bestimmung der Koeffizienten auf den Seiten 13
bis 15, auf die Diskussion der Seite 16 und auf die allgemeine
Verwendung der linearen Regression als ein Verfahren zur
Bestimmung von Koeffizienten von Mehrfachlineargleichungen.
Anspruch 9 stützt sich auf die Diskussion auf Seite 6, 7, auf
Element 8 in Fig. 1, die Diskussion der Verwendung von
Koeffizienten die durch die Temperatur indiziert in Fig. 5 und
auf Seite 16, die Diskussion der Typ 4-Eichung auf Seite 11 und
die Diskussion auf Seite 16. Anspruch 10 stützt sich allgemein
auf Verfahren der linearen Interpolation. Anspruch 11 stützt
sich auf die Diskussion auf Seite 7, die Fig. 2, 3 und 4 sowie
die Diskussion auf den Seiten 8 und 9. Anspruch 12 stützt sich
auf die Diskussion auf Seite 7, die Fig. 2, 3 und 4 sowie die
Diskussion auf den Seiten 8 und 9. Anspruch 13 stützt sich auf
die Diskussion auf Seite 7, die Fig. 4 sowie die Diskussion auf
Seite 9. Anspruch 14 stützt sich auf die Diskussion auf Seite 7,
Fig. 4 und die Diskussion auf Seite 9. Anspruch 15 sieht vor,
daß Mehrfachvorrichtungen vorgesehen sind für die Umwandlung von
Strahlungsenergie in elektrisches Signal, so daß jede
Vorrichtung ein Ansprechen besitzt auf die optische Energie als
eine Funktion der Wellenlänge, die sich unterscheidet vom
Ansprechen auf optische Energie der anderen. Dies ergibt sich
aus der Diskussion der Instrumente dieser Klasse als Generatoren
von mehrfach gewichteten Integrationen über die Wellenlänge in
der Sprache der linearen Algebra auf den Seiten 1 bis 4, die
Diskussion der Auswahl der gewichteten Indikationen auf Seite 4
und 5, die Diskussion der Stabilität von Detektoren auf Seite 6,
7 sowie die Diskussion von Chromametern auf Seiten 12 und 13. Zu
den Mitteln zum optischen Koppeln der Einrichtungen mit den
Proben in Anspruch 15 sei bemerkt, daß ein Instrument zur
Messung optischer Eigenschaften von Material optisch mit dem
Material gekoppelt sein muß, ferner sei auf die Beschreibung von
Element 1 in Fig. 1 hingewiesen sowie auf die Beschreibung der
Verwendung von Faseroptik für diesen Zweck auf Seite 7 sowie die
Fig. 2 und 3.
Hinsichtlich der Aufzeichnungen der elektrischen Signale sei auf
das spezielle Beispiel der Fig. 5 verwiesen, in dem diese
Signale als die Komponenten einer Anordnung im Speicher des
Prozessors gespeichert sind.
Was die Berechnung eines Wertes aus dem eben aufgezeichneten
elektrischen Signal anlangt, und zwar eines Wertes der eine ge
wichtete Integration der Strahlungsenergie über die Wellenlänge
ist, so sei auf die obigen Ausführungen verwiesen, ferner auf
die Ausführungen auf Seite 11, und zwar speziell Punkt 5. Ferner
sei auf das Beispiel der Fig. 5 hingewiesen, wo diese Berechnung
ausgeführt wird durch Subtraktion von D(d) von I(s, d). Im übri
gen sei hinsichtlich des Merkmals der Berechnung aus dem Satz
von gewichteten Integrationswerten im Anspruch 15 auf die obigen
Ausführungen im Zusammenhang mit Anspruch 1 hingewiesen. Was
Anspruch 17 anlangt, so sei auf obige Kommentare zum Anspruch 5
hingewiesen, und was Anspruch 18 anlangt, so sei auf die obigen
Kommentare zum Anspruch 6 hingewiesen. Was Anspruch 19 anlangt,
so sei auf obige Kommentare zum Anspruch 7 hingewiesen und was
Anspruch 20 anlangt, so sei auf obige Kommentare zum Anspruch 8
hingewiesen, was Anspruch 21 anlangt, so sei auf obige
Kommentare zum Anspruch 9 hingewiesen, was Anspruch 22, 23 und
24 anlangt, sei auf die obigen Ansprüche 10, 11 und 13 hingewie
sen.
Claims (24)
1. Optische Spektralanalysevorrichtung für Messungen von opti
schen Eigenschaften einer Probe, wobei die Vorrichtung folgendes
aufweist:
eine Vielzahl von Strahlungsenergiequellen, eine Vielzahl von Einrichtungen für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elek trische Signale, Mittel in jeder der Quellen zum Liefern eines Energiespektrums bezüglich der Wellenlänge, wobei das Spektrum unterschiedlich ist von dem Spektrum der anderen der Quellen, Mittel in jeder der Einrichtungen zum Vorsehen eines Ansprechverhaltens auf Strahlungsenergie als eine Funktion der Wellenlänge, das sich von dem Ansprechverhalten auf Strahlungsenergie von jeder der anderen Einrichtungen unter scheidet, und Mittel zum Betätigen der Vorrichtung
erstens durch Liefern von elektrischer Energie an jede der Strahlungsenergiequellen über jeweils bestimmte Zeiträume, während derer zumindest eine der anderen Strahlungsenergiequellen nicht mit elektrischer Energie versorgt wird, und
zweitens durch Leiten von durch die Quellen erzeugter Strahlungsenergie auf die Probe oder Gestatten, daß solche Strahlungsenergie mit der Probe zusammenzuwirkt, daß etwas Strahlungsenergie, die von der Probe reflektiert und/oder übertragen und/oder ausgesandt wird, zu den Einrichtungen zurückgeschickt wird, und
drittens durch Aufnehmen oder Aufzeichnen der elektrischen Signale von jeder Einrichtung für die Umwandlung von Strahlungsenergie in ein elektrisches Ausgangssignal während jedem derartigen Zeitraum, und
viertens durch Berechnen eines Wertes aus jedem aufgenommenen oder aufgezeichneten elektrischen Ausgangssignal, der eine gewichtete Integration von Strahlungsenergie über Wellenlänge ist, und somit Erzeugen eines Satzes von gewichteten Integrationswerten, deren Anzahl gleich dem Produkt aus der Anzahl der einzelnen Zeiträume und der Anzahl der Einrichtungen für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale ist und
fünftens durch Errechnen aus dem Satz von gewichteten Integrationswerten den Satz von Mehrfachmessungen durch Lineartransformation des Satzes von gewichteten Integrationswerten unter Verwendung vorbestimmter Koeffizienten für die Transformation.
eine Vielzahl von Strahlungsenergiequellen, eine Vielzahl von Einrichtungen für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elek trische Signale, Mittel in jeder der Quellen zum Liefern eines Energiespektrums bezüglich der Wellenlänge, wobei das Spektrum unterschiedlich ist von dem Spektrum der anderen der Quellen, Mittel in jeder der Einrichtungen zum Vorsehen eines Ansprechverhaltens auf Strahlungsenergie als eine Funktion der Wellenlänge, das sich von dem Ansprechverhalten auf Strahlungsenergie von jeder der anderen Einrichtungen unter scheidet, und Mittel zum Betätigen der Vorrichtung
erstens durch Liefern von elektrischer Energie an jede der Strahlungsenergiequellen über jeweils bestimmte Zeiträume, während derer zumindest eine der anderen Strahlungsenergiequellen nicht mit elektrischer Energie versorgt wird, und
zweitens durch Leiten von durch die Quellen erzeugter Strahlungsenergie auf die Probe oder Gestatten, daß solche Strahlungsenergie mit der Probe zusammenzuwirkt, daß etwas Strahlungsenergie, die von der Probe reflektiert und/oder übertragen und/oder ausgesandt wird, zu den Einrichtungen zurückgeschickt wird, und
drittens durch Aufnehmen oder Aufzeichnen der elektrischen Signale von jeder Einrichtung für die Umwandlung von Strahlungsenergie in ein elektrisches Ausgangssignal während jedem derartigen Zeitraum, und
viertens durch Berechnen eines Wertes aus jedem aufgenommenen oder aufgezeichneten elektrischen Ausgangssignal, der eine gewichtete Integration von Strahlungsenergie über Wellenlänge ist, und somit Erzeugen eines Satzes von gewichteten Integrationswerten, deren Anzahl gleich dem Produkt aus der Anzahl der einzelnen Zeiträume und der Anzahl der Einrichtungen für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale ist und
fünftens durch Errechnen aus dem Satz von gewichteten Integrationswerten den Satz von Mehrfachmessungen durch Lineartransformation des Satzes von gewichteten Integrationswerten unter Verwendung vorbestimmter Koeffizienten für die Transformation.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Quellen Umwandlungs
einrichtungen sind von elektrischer in Strahlungsenergie.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, wobei zumindest zwei der
Umwandlungseinrichtungen Leuchtdioden sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Strahlungs
energiequellen und die Einrichtungen für die Umwandlung von
Strahlungsenergie in elektrische Signale auf einem gemeinsamen
Substrat angeordnet sind, das die mechanische Anordnung,
elektrische Verbindungen und einen gemeinsamen thermischen
Kontakt liefert.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, wobei eine temperaturempfindli
che elektrische Einrichtung auch in thermischem Kontakt mit dem
Substrat angeordnet ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, wobei eine Vorrichtung zum
Erzeugen oder Entfernen von Wärmeenergie in thermischem Kontakt
mit dem Substrat ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 4, wobei die Strahlungsenergie
quellen sowie die Einrichtungen und das gemeinsame Substrat mit
einem Material abgedichtet sind, das für Lichtenergie der
Wellenlängen, die für die durchgeführten Messungen von Interesse
sind, durchlässig ist, das jedoch undurchlässig für Feuchtigkeit
ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Betätigungsmittel
Mittel haben zum Berechnen der Koeffizienten der linearen
Transformation zur Zeit der Herstellung der Vorrichtung durch
Auf zeichnen eines Satzes von beobachteten gewichteten
Integrationen für jede aus einer Anzahl von Objekten oder
Materialien mit bekannten optischen Eigenschaften, und Berechnen
der Koeffizienten der linearen Transformation mittels Techniken
der vielfachen Regression.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, wobei eine Vielzahl von Sätzen
von Koeffizienten berechnet wird, wobei jeder Satz bestimmt
wird, während die Vorrichtung auf einer unterschiedlichen
Temperatur gehalten wird gegenüber der Temperatur, die
eingehalten wurde während der Bestimmung jeden anderen Satzes,
und wobei die Betätigungsmittel Mittel haben zur Auswahl eines
bestimmten Satzes von Koeffizienten aus einer Vielzahl von
Sätzen als eine Funktion der Temperatur.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, wobei die Betätigungsmittel
Mittel aufweisen für die Auswahl der Koeffizienten der linearen
Transformation als eine Funktion der Temperatur durch
Interpolation zwischen den Sätzen von Koeffizienten.
11. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei Strahlung durch mehrfache
optische Fasern von den Quellen zu der Probe geleitet wird, wo
bei die Fasern einen Kerndurchmesser haben, der zumindest 90%
ihres Manteldurchmessers beträgt.
12. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei Strahlung mittels opti
scher Fasern von der Probe zu den Einrichtungen für die
Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale geleitet
wird.
13. Vorrichtung nach Anspruch 11, wobei die optischen Fasern
starr angeordnet sind.
14. Vorrichtung nach Anspruch 11, wobei eine Vielzahl von
Halbleiterchips die Strahlungsenergiequellen und die
Einrichtungen liefern, wobei die Chips in körperlichem Kontakt
mit den optischen Fasern sind.
15. Vorrichtung für die Bestimmung von mehrfachen Messungen von
Strahlungsenergie, die von einer Probe ausgesandt wird, welche
folgendes aufweist:
mehrfache Einrichtungen für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale, Mittel zum optischen Koppeln der Einrichtungen an die Probe, Mittel in den mehrfachen Einrichtungen für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elek trische Signale, die bewirken, daß jede Einrichtung für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale ein Ansprechverhalten auf optische Energie als eine Funktion der Wellenlänge hat, das sich von dem Ansprechverhalten auf Strahlungsenergie der anderen Einrichtungen unterscheidet, und:
erste Mittel zum Beobachten und Aufzeichnen der elektrischen Ausgangsgröße jeder Einrichtung für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale,
zweite Mittel zum Berechnen eines Wertes aus jedem aufgezeichneten elektrischen Signal, der eine gewichtete Integration von Strahlungsenergie über Wellenlänge ist, um einen Satz von gewichteten Integrationswerten zu erstellen, und
dritte Mittel zum Berechnen des Satzes von mehrfachen Messungen aus dem Satz der gewichteten Integrationswerte durch lineare Transformation mit vorbestimmten Koeffizienten des Satzes von gewichteten Integrationswerten.
mehrfache Einrichtungen für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale, Mittel zum optischen Koppeln der Einrichtungen an die Probe, Mittel in den mehrfachen Einrichtungen für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elek trische Signale, die bewirken, daß jede Einrichtung für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale ein Ansprechverhalten auf optische Energie als eine Funktion der Wellenlänge hat, das sich von dem Ansprechverhalten auf Strahlungsenergie der anderen Einrichtungen unterscheidet, und:
erste Mittel zum Beobachten und Aufzeichnen der elektrischen Ausgangsgröße jeder Einrichtung für die Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale,
zweite Mittel zum Berechnen eines Wertes aus jedem aufgezeichneten elektrischen Signal, der eine gewichtete Integration von Strahlungsenergie über Wellenlänge ist, um einen Satz von gewichteten Integrationswerten zu erstellen, und
dritte Mittel zum Berechnen des Satzes von mehrfachen Messungen aus dem Satz der gewichteten Integrationswerte durch lineare Transformation mit vorbestimmten Koeffizienten des Satzes von gewichteten Integrationswerten.
16. Vorrichtung nach Anspruch 15, wobei die Einrichtungen für
die Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Signale auf
einem gemeinsamen Substrat angeordnet sind, das eine mechanische
Anordnung, elektrische Verbindungen und einen gemeinsamen ther
mischen Kontakt vorsieht.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, wobei eine temperaturempfind
liche elektrische Einrichtung ebenfalls in thermischem Kontakt
mit dem Substrat angeordnet ist.
18. Vorrichtung nach Anspruch 17, wobei eine Einrichtung zum
Bilden oder Entfernen von Wärmeenergie in thermischem Kontakt
mit dem Substrat steht.
19. Vorrichtung nach Anspruch 16, wobei die Einrichtungen und
das gemeinsame Substrat mit einem Material abgedichtet sind, das
gegenüber Lichtenergie der Wellenlängen, die für die durchge
führten Messungen von Interesse sind, durchlässig ist, das
jedoch undurchlässig für Feuchtigkeit ist.
20. Vorrichtung nach Anspruch 15, wobei die Betätigungsmittel
Mittel umfassen zum Berechnen der Koeffizienten des linearen
Transformationsvorgangs zur Zeit der Herstellung der Vorrichtung
durch Aufnehmen oder Aufzeichnen eines Satzes von beobachteten
gewichteten Integrationen für jede aus einer Anzahl von Quellen
mit bekannten optischen Eigenschaften, und Berechnen der
Koeffizienten der linearen Transformation mittels Techniken der
mehrfachen Regression.
21. Vorrichtung nach Anspruch 20, wobei die Berechnungsmittel
folgendes aufweisen:
Mittel zum Berechnen einer Vielzahl von Sätzen der Koeffizienten, wobei die Sätze jeweils berechnet werden, während die Vorrichtung auf einer Temperatur gehalten wird, die unter schiedlich ist zu der Temperatur, die während der Berechnung je des anderen Satzes gehalten wurde, und
Mittel zum Einbeziehen eines bestimmten Satzes von Koeffizienten aus der Vielzahl von Sätzen in die dritten Mittel als eine Funktion der Temperatur, bei der die Vorrichtung arbeitet.
Mittel zum Berechnen einer Vielzahl von Sätzen der Koeffizienten, wobei die Sätze jeweils berechnet werden, während die Vorrichtung auf einer Temperatur gehalten wird, die unter schiedlich ist zu der Temperatur, die während der Berechnung je des anderen Satzes gehalten wurde, und
Mittel zum Einbeziehen eines bestimmten Satzes von Koeffizienten aus der Vielzahl von Sätzen in die dritten Mittel als eine Funktion der Temperatur, bei der die Vorrichtung arbeitet.
22. Vorrichtung nach Anspruch 21, wobei die Betätigungsmittel
Mittel umfassen für die Auswahl der Koeffizienten der linearen
Transformation als eine Funktion der Temperatur durch
Interpolation zwischen den Sätzen der Koeffizienten.
23. Vorrichtung nach Anspruch 15, wobei Strahlung durch mehrfache
optische Fasern von der Probe zu den Einrichtungen geleitet
wird, wobei die Fasern einen Kerndurchmesser aufweisen, der zu
mindest 90% ihres Manteldurchmessers beträgt.
24. Vorrichtung nach Anspruch 23, wobei die optischen Fasern
starr angeordnet sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/648,798 US5137364A (en) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | Optical spectral analysis apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4202822A1 DE4202822A1 (de) | 1992-08-06 |
DE4202822C2 true DE4202822C2 (de) | 1997-12-11 |
Family
ID=24602289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4202822A Expired - Fee Related DE4202822C2 (de) | 1991-01-31 | 1992-01-31 | Optische Spektralanalysevorrichtung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5137364A (de) |
JP (1) | JPH07103827A (de) |
DE (1) | DE4202822C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19833793A1 (de) * | 1998-07-21 | 2000-01-27 | Inst Chemo Biosensorik | Verfahren zur Überprüfung der Funktionsfähigkeit eines Spektrometers und Spektrometer mit Fehlererkennungsvorrichtung |
Families Citing this family (103)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5532848A (en) * | 1992-11-25 | 1996-07-02 | Canon Information Systems, Inc. | Method and apparatus for adjusting correlated color temperature |
US5521708A (en) * | 1992-11-25 | 1996-05-28 | Canon Information & Systems, Inc. | Correlated color temperature detector |
US5900932A (en) * | 1993-07-02 | 1999-05-04 | Canon Information Systems, Inc. | Tristimulus template-type colorimeter |
US5579206A (en) * | 1993-07-16 | 1996-11-26 | Dallas Semiconductor Corporation | Enhanced low profile sockets and module systems |
DE4434266B4 (de) * | 1994-09-24 | 2005-05-25 | Byk Gardner Gmbh | Verfahren zur Berücksichtigung der Temperaturabhängigkeit von optoelektronischen Dioden |
DE4434168B4 (de) * | 1994-09-24 | 2004-12-30 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Messung und Auswertung von spektralen Strahlungen und insbesondere zur Messung und Auswertung von Farbeigenschaften |
DE19514199A1 (de) * | 1995-04-15 | 1996-10-17 | Jenoptik Technologie Gmbh | Anordnung zur Messung von Farben nicht selbstleuchtender Objekte |
US5671059A (en) * | 1995-09-21 | 1997-09-23 | Hewlett-Packard Company | Electroluminescent color device |
US5838451A (en) * | 1995-12-22 | 1998-11-17 | Accuracy Microsensors, Inc. | Optoelectronic spectral analysis system |
US5963333A (en) * | 1996-09-12 | 1999-10-05 | Color Savvy Systems Limited | Color sensor |
US6271920B1 (en) | 1997-12-19 | 2001-08-07 | Chromatics Color Sciences International, Inc. | Methods and apparatus for color calibration and verification |
US5929999A (en) * | 1998-09-01 | 1999-07-27 | Hewlett-Packard Company | Light source for tristimulus colorimetry |
US6403947B1 (en) | 1999-03-18 | 2002-06-11 | Cambridge Research & Instrumentation Inc. | High-efficiency multiple probe imaging system |
US6750964B2 (en) * | 1999-08-06 | 2004-06-15 | Cambridge Research And Instrumentation, Inc. | Spectral imaging methods and systems |
US6373568B1 (en) | 1999-08-06 | 2002-04-16 | Cambridge Research & Instrumentation, Inc. | Spectral imaging system |
US6384918B1 (en) | 1999-11-24 | 2002-05-07 | Xerox Corporation | Spectrophotometer for color printer color control with displacement insensitive optics |
US6351308B1 (en) | 1999-11-24 | 2002-02-26 | Xerox Corporation | Color printer color control system with automatic spectrophotometer calibration system |
US6538770B1 (en) | 1999-11-24 | 2003-03-25 | Xerox Corporation | Color printer color control system using dual mode banner color test sheets |
US6369895B1 (en) | 2000-02-16 | 2002-04-09 | Electronics For Imaging, Inc. | Color measurement instrument with asymmetric tapered sample area optical enclosure |
DE10043038A1 (de) | 2000-09-01 | 2002-03-14 | Kronos Titan Gmbh & Co Ohg | Charakterisierung der Verteilungsgüte von Weißpigmenten in einer Matrix |
US6674530B2 (en) * | 2001-04-27 | 2004-01-06 | International Business Machines Corporation | Portable colorimeter |
US6567170B2 (en) | 2001-06-25 | 2003-05-20 | Xerox Corporation | Simultaneous plural colors analysis spectrophotometer |
US6556300B2 (en) | 2001-05-22 | 2003-04-29 | Xerox Corporation | Color imager bar based spectrophotometer photodetector optical orientation |
US6633382B2 (en) | 2001-05-22 | 2003-10-14 | Xerox Corporation | Angular, azimuthal and displacement insensitive spectrophotometer for color printer color control systems |
US6621576B2 (en) | 2001-05-22 | 2003-09-16 | Xerox Corporation | Color imager bar based spectrophotometer for color printer color control system |
US6930773B2 (en) * | 2001-08-23 | 2005-08-16 | Cambridge Research And Instrumentation, Inc. | Spectral imaging |
US6721692B2 (en) | 2001-08-30 | 2004-04-13 | Xerox Corporation | Systems and methods for determining spectra using dynamic least squares algorithms with measurements from LED color sensor |
US6584435B2 (en) | 2001-08-30 | 2003-06-24 | Xerox Corporation | Systems and methods for determining spectra using dynamic karhunen-loeve algorithms with measurements from led color sensor |
US6639669B2 (en) | 2001-09-10 | 2003-10-28 | Xerox Corporation | Diagnostics for color printer on-line spectrophotometer control system |
US6587793B2 (en) | 2001-09-17 | 2003-07-01 | Xerox Corporation | Systems and methods for determining spectra using fuzzy inference algorithms with measurements from LED color sensor |
US6836332B2 (en) * | 2001-09-25 | 2004-12-28 | Tennessee Scientific, Inc. | Instrument and method for testing fluid characteristics |
US6750442B2 (en) | 2002-03-06 | 2004-06-15 | Xerox Corporation | Use of spectral sensors for automatic media identification and improved scanner correction |
US20030207441A1 (en) * | 2002-05-01 | 2003-11-06 | Eyster Curt R. | Devices and methods for analyte concentration determination |
US6847451B2 (en) * | 2002-05-01 | 2005-01-25 | Lifescan, Inc. | Apparatuses and methods for analyte concentration determination |
US6825930B2 (en) * | 2002-06-04 | 2004-11-30 | Cambridge Research And Instrumentation, Inc. | Multispectral imaging system |
US7312257B2 (en) * | 2003-01-23 | 2007-12-25 | General Electric Company | Polymer encapsulation of high aspect ratio materials and methods of making same |
AU2003209880A1 (en) * | 2003-03-05 | 2004-09-28 | Brytech Inc. | Colorimeter, colorimeter sensor unit and colour determination process |
US7502116B2 (en) * | 2003-09-09 | 2009-03-10 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Densitometers and methods for measuring optical density |
US8634607B2 (en) * | 2003-09-23 | 2014-01-21 | Cambridge Research & Instrumentation, Inc. | Spectral imaging of biological samples |
US7321791B2 (en) | 2003-09-23 | 2008-01-22 | Cambridge Research And Instrumentation, Inc. | Spectral imaging of deep tissue |
US7262853B2 (en) * | 2003-09-23 | 2007-08-28 | X-Rite, Inc. | Color measurement instrument |
US7175086B2 (en) * | 2004-04-21 | 2007-02-13 | General Electric Company | Authentication system, data device, and methods for using the same |
US7496938B2 (en) * | 2003-11-24 | 2009-02-24 | Sabic Innovative Plastics Ip B.V. | Media drive with a luminescence detector and methods of detecting an authentic article |
US20090266991A1 (en) * | 2003-11-26 | 2009-10-29 | Sabic Innovative Plastics Ip B.V. | Method of authenticating tagged polymers |
US7169615B2 (en) * | 2003-11-26 | 2007-01-30 | General Electric Company | Method of authenticating polymers, authenticatable polymers, methods of making authenticatable polymers and authenticatable articles, and articles made there from |
US20050110978A1 (en) * | 2003-11-26 | 2005-05-26 | Radislav Potyrailo | Method of authenticating articles, authenticatable polymers, and authenticatable articles |
US7094364B2 (en) * | 2003-11-26 | 2006-08-22 | General Electric Company | Method of authenticating polymers, authenticatable polymers, methods of making authenticatable polymers and authenticatable articles, and articles made there from |
JP2007523321A (ja) * | 2003-12-31 | 2007-08-16 | ユニヴァーシティー オブ サウスカロライナ | 気体及び他の流体のための薄層多孔光センサ |
US7383261B2 (en) * | 2004-01-16 | 2008-06-03 | Xerox Corporation | Reference database and method for determining spectra using measurements from an LED color sensor, and method of generating a reference database |
WO2005069991A2 (en) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Iguana Robotics, Inc. | Colorstick |
US20050277710A1 (en) * | 2004-06-14 | 2005-12-15 | Joyce Richard P | Tagged resin, method of making a tagged resin, and articles made therefrom |
US7597961B2 (en) * | 2004-07-13 | 2009-10-06 | Sabic Innovative Plastics Ip B.V. | Authenticatable article and method of authenticating |
US20070201136A1 (en) * | 2004-09-13 | 2007-08-30 | University Of South Carolina | Thin Film Interference Filter and Bootstrap Method for Interference Filter Thin Film Deposition Process Control |
US7355944B2 (en) * | 2004-11-12 | 2008-04-08 | General Electric Company | Authenticatable media and method of authenticating |
US7502112B2 (en) * | 2004-12-23 | 2009-03-10 | Brytech Inc. | Colorimetric device and colour determination process |
US7471385B2 (en) * | 2005-01-13 | 2008-12-30 | Xerox Corporation | Systems and methods for selecting a reference database for determining a spectrum of an object based on fluorescence of the object |
CN101916359B (zh) | 2005-01-27 | 2012-06-20 | 剑桥研究和仪器设备股份有限公司 | 把样本的不同区域分类到相应类别的方法和设备 |
EP1872102A4 (de) * | 2005-04-05 | 2013-05-01 | X Rite Inc | Systeme und verfahren zur überwachung einer prozessausgabe mit einem stark verkürzten spektrophotometer |
WO2006110842A2 (en) * | 2005-04-12 | 2006-10-19 | X-Rite, Incorporated | Systems and methods for measuring a like-color region of an object |
US8345252B2 (en) | 2005-04-25 | 2013-01-01 | X-Rite, Inc. | Method and system for enhanced formulation and visualization rendering |
JP4846787B2 (ja) * | 2005-04-25 | 2011-12-28 | エックス−ライト、インコーポレイテッド | 空間的にアンダーサンプリングされた双方向反射率分布関数を用いた表面の外観特性の測定 |
US7944561B2 (en) * | 2005-04-25 | 2011-05-17 | X-Rite, Inc. | Measuring an appearance property of a surface using a bidirectional reflectance distribution function |
DE102005024271B4 (de) * | 2005-05-27 | 2014-03-27 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Gitterspektrometersystem und Verfahren zur Messwerterfassung |
WO2007022213A2 (en) * | 2005-08-15 | 2007-02-22 | X-Rite, Incorporated | Spectrophotometer with light guiding element |
US7557924B2 (en) * | 2005-08-15 | 2009-07-07 | X-Rite, Inc. | Apparatus and methods for facilitating calibration of an optical instrument |
EP1760453A1 (de) * | 2005-08-31 | 2007-03-07 | GretagMacbeth AG | Fotoelektrisches Handmessgerät und optische Messeinheit dafür |
US8717647B2 (en) * | 2005-10-13 | 2014-05-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Imaging methods, imaging device calibration methods, imaging devices, and hard imaging device sensor assemblies |
WO2007064575A1 (en) | 2005-11-28 | 2007-06-07 | Ometric Corporation | Optical analysis system and method for real time multivariate optical computing |
EP1955046A1 (de) * | 2005-11-28 | 2008-08-13 | University of South Carolina | Verfahren zur beobachtung mit hoher geschwindigkeit aufgrund der verwendung multivariater optischer elemente |
WO2007061436A1 (en) | 2005-11-28 | 2007-05-31 | University Of South Carolina | Self calibration methods for optical analysis system |
US20070166245A1 (en) * | 2005-11-28 | 2007-07-19 | Leonard Mackles | Propellant free foamable toothpaste composition |
US7859668B2 (en) | 2005-12-15 | 2010-12-28 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for illuminator-independent color measurements |
US8017927B2 (en) * | 2005-12-16 | 2011-09-13 | Honeywell International Inc. | Apparatus, system, and method for print quality measurements using multiple adjustable sensors |
US7688447B2 (en) * | 2005-12-29 | 2010-03-30 | Honeywell International Inc. | Color sensor |
US7573575B2 (en) | 2005-12-29 | 2009-08-11 | Honeywell International Inc. | System and method for color measurements or other spectral measurements of a material |
US20070227447A1 (en) * | 2006-04-04 | 2007-10-04 | Honeywell International, Inc. | Control of a coating process |
US9170154B2 (en) | 2006-06-26 | 2015-10-27 | Halliburton Energy Services, Inc. | Data validation and classification in optical analysis systems |
US8081304B2 (en) * | 2006-07-31 | 2011-12-20 | Visualant, Inc. | Method, apparatus, and article to facilitate evaluation of objects using electromagnetic energy |
US7996173B2 (en) * | 2006-07-31 | 2011-08-09 | Visualant, Inc. | Method, apparatus, and article to facilitate distributed evaluation of objects using electromagnetic energy |
WO2008016590A2 (en) | 2006-07-31 | 2008-02-07 | Visualant, Inc. | System and method of evaluating an object using electromagnetic energy |
US7990538B2 (en) * | 2006-11-02 | 2011-08-02 | Halliburton Energy Services, Inc. | Signal processing for optical computing system |
EP2078187A2 (de) | 2006-11-02 | 2009-07-15 | University of South Carolina | Optisches multianalyt-datenverarbeitungssystem |
WO2008121715A1 (en) | 2007-03-30 | 2008-10-09 | Ometric Corporation | In-line process measurement systems and methods |
WO2008121692A1 (en) | 2007-03-30 | 2008-10-09 | University Of South Carolina | Tablet analysis and measurement system |
US8213006B2 (en) * | 2007-03-30 | 2012-07-03 | Halliburton Energy Services, Inc. | Multi-analyte optical computing system |
US8283633B2 (en) * | 2007-11-30 | 2012-10-09 | Halliburton Energy Services, Inc. | Tuning D* with modified thermal detectors |
US8049892B2 (en) * | 2008-01-22 | 2011-11-01 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for camera-based color measurements |
US7592608B2 (en) * | 2008-01-22 | 2009-09-22 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for measuring and/or controlling ultraviolet-activated materials in a paper-making process |
EP2105718A1 (de) * | 2008-03-28 | 2009-09-30 | Maroche S.r.l. | Hochgenaue Photosensorenanordnung |
US8212213B2 (en) | 2008-04-07 | 2012-07-03 | Halliburton Energy Services, Inc. | Chemically-selective detector and methods relating thereto |
US20100030040A1 (en) | 2008-08-04 | 2010-02-04 | Masimo Laboratories, Inc. | Multi-stream data collection system for noninvasive measurement of blood constituents |
US8577431B2 (en) | 2008-07-03 | 2013-11-05 | Cercacor Laboratories, Inc. | Noise shielding for a noninvasive device |
US8401809B2 (en) | 2010-07-12 | 2013-03-19 | Honeywell International Inc. | System and method for adjusting an on-line appearance sensor system |
CN102288566A (zh) * | 2011-07-29 | 2011-12-21 | 肖才斌 | 一种便携式多功能分析仪及其测试方法 |
WO2013119824A1 (en) | 2012-02-10 | 2013-08-15 | Visualant, Inc. | Systems, methods and articles related to machine-readable indicia and symbols |
FR2987118A1 (fr) * | 2012-02-17 | 2013-08-23 | Franck Hennebelle | Procede et dispositif de mesure de la couleur d'un objet |
US9316581B2 (en) | 2013-02-04 | 2016-04-19 | Visualant, Inc. | Method, apparatus, and article to facilitate evaluation of substances using electromagnetic energy |
US9041920B2 (en) | 2013-02-21 | 2015-05-26 | Visualant, Inc. | Device for evaluation of fluids using electromagnetic energy |
US9664610B2 (en) | 2013-03-12 | 2017-05-30 | Visualant, Inc. | Systems for fluid analysis using electromagnetic energy that is reflected a number of times through a fluid contained within a reflective chamber |
US10024833B2 (en) | 2014-08-08 | 2018-07-17 | Empire Technology Development Llc | Quality control of dairy products using chromatic profiles |
US10705015B2 (en) | 2017-08-11 | 2020-07-07 | Daniel O'Donnell | System, method and apparatus for continuous evaluation, detection and storage of colorimetric wavelength changes on a chemically impregnated media useful in the detection of gases |
RU178439U1 (ru) * | 2017-08-25 | 2018-04-04 | Общество С Ограниченной Ответственностью "Микросенсор Технолоджи" | Рабочая головка светодиодного мини-спектрометра |
US20190129108A1 (en) | 2017-10-31 | 2019-05-02 | Versalume LLC | Modular Laser Connector Packaging System and Method |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3910701A (en) * | 1973-07-30 | 1975-10-07 | George R Henderson | Method and apparatus for measuring light reflectance absorption and or transmission |
US3916168A (en) * | 1973-10-09 | 1975-10-28 | Mobil Oil Corp | Color matching surface coatings containing metallic pigments |
US4158505A (en) * | 1976-12-27 | 1979-06-19 | International Business Machines Corporation | Spectrum analyzing system with photodiode array |
US4458323A (en) * | 1980-04-18 | 1984-07-03 | Hewlett-Packard Company | Method of performing measurements and error analysis of the measurements |
EP0063431B1 (de) * | 1981-04-10 | 1987-10-28 | Masaaki Konomi | Spektroskopisches Analysensystem |
FR2506549A1 (fr) * | 1981-05-22 | 1982-11-26 | Thomson Csf | Dispositif de correction des informations couleur fournies par les tubes analyseurs d'une camera en vue d'ameliorer la perception des images |
US4654794A (en) * | 1984-02-18 | 1987-03-31 | Colorgen, Inc. | Methods for determining the proper coloring for a tooth replica |
US4648051A (en) * | 1984-10-15 | 1987-03-03 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Color imaging process |
JPH0616255B2 (ja) * | 1986-07-04 | 1994-03-02 | キヤノン株式会社 | 座標入力装置 |
JPS63180828A (ja) * | 1987-01-22 | 1988-07-25 | Agency Of Ind Science & Technol | 高速処理化カラ−センサ |
JP2642632B2 (ja) * | 1987-07-03 | 1997-08-20 | 株式会社日立製作所 | 微粒子計測装置および微粒子計測方法 |
US4881811A (en) * | 1988-02-16 | 1989-11-21 | Colorgen, Inc. | Remote color measurement device |
US4937637A (en) * | 1989-02-10 | 1990-06-26 | Kollmorgen Corporation | Dual reading head transmission/reflection densitometer |
-
1991
- 1991-01-31 US US07/648,798 patent/US5137364A/en not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-01-30 JP JP4040418A patent/JPH07103827A/ja active Pending
- 1992-01-31 DE DE4202822A patent/DE4202822C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19833793A1 (de) * | 1998-07-21 | 2000-01-27 | Inst Chemo Biosensorik | Verfahren zur Überprüfung der Funktionsfähigkeit eines Spektrometers und Spektrometer mit Fehlererkennungsvorrichtung |
DE19833793C2 (de) * | 1998-07-21 | 2000-12-07 | Inst Chemo Biosensorik | Verfahren zur Überprüfung der Funktionsfähigkeit eines Spektrometers und Spektrometer mit Fehlererkennungsvorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5137364A (en) | 1992-08-11 |
DE4202822A1 (de) | 1992-08-06 |
JPH07103827A (ja) | 1995-04-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4202822C2 (de) | Optische Spektralanalysevorrichtung | |
EP2270451B1 (de) | Farbmessgerät | |
DE2739585C2 (de) | Spektrophotometer | |
EP1314972B1 (de) | Spektralphotometer und Verwendung desselben | |
EP1775565B1 (de) | Verfahren zur Farbmessung von gedruckten Proben mit Aufhellern | |
DE19962779B4 (de) | Vorrichtung zur quantifizierten Bestimmung der Qualität von Oberflächen | |
WO1996009524A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur messung und auswertung von spektralen strahlungen und insbesondere zur messung und auswertung von farbeigenschaften | |
DE19983327C2 (de) | Verfahren zur Bilderfassungseinrichtungsfarbkalibrierung unter Verwendung von Lichtemittierenden Dioden oder anderen Spektrallichtquellen | |
DE2351339C3 (de) | Digital-Spektralfotometer | |
DD283691A5 (de) | Festkoerpermatrix-detektor fuer ein spektrometer | |
DE102007053574B4 (de) | Farbmessgerät | |
EP0174496B1 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Strahlungswellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Strahlungsleistung monochromatischer Lichtquellen, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE19950588B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle von insbesondere lackierten Oberflächen | |
EP1965193A1 (de) | Verfahren zur Ermittlung des Alkoholgehaltes von Flüssigkeiten | |
US20050182328A1 (en) | System enabling chromaticity measurement in the visible and invisible ranges | |
EP0420108B1 (de) | Mehrwellenlängen-Pyrometer | |
DE112011103545B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Diagnose von Pflanzenwachstumsbedingungen | |
DE102009014478B4 (de) | Vorrichtung zum Umsetzen eines optischen Eingangssignals in ein elektrisches Ausgangssignal und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung | |
DE3244286A1 (de) | Elektro-optische vorrichtung zum erkennen von farben | |
DE3217227C2 (de) | Farbfeststellungsvorrichtung | |
DE3631032A1 (de) | Spektrometer, verfahren zur kalibrierung eines spektrometers sowie verfahren zur messeung des remissionsspektrums eines analysegegenstandes mittels eines spektrometers | |
DE4407332A1 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Extinktion oder Transmission und Photometer | |
DE10019652B4 (de) | Verfahren zur farbmetrischen Auswertung von Multi- und Hyperspektraldaten abbildenden Fernerkundungssensoren | |
DE112019005521T5 (de) | Fotosensoren für die farbmessung | |
DE2904984C3 (de) | Meßanordnung zum Bestimmen der spektralen Empfindlichkeit von Photodetektoren |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |