DE4134617A1 - Verbindungsvorrichtung mit in gleicher ebene liegenden kontakthoeckern und das verfahren zur herstellung einer derartigen vorrichtung - Google Patents
Verbindungsvorrichtung mit in gleicher ebene liegenden kontakthoeckern und das verfahren zur herstellung einer derartigen vorrichtungInfo
- Publication number
- DE4134617A1 DE4134617A1 DE4134617A DE4134617A DE4134617A1 DE 4134617 A1 DE4134617 A1 DE 4134617A1 DE 4134617 A DE4134617 A DE 4134617A DE 4134617 A DE4134617 A DE 4134617A DE 4134617 A1 DE4134617 A1 DE 4134617A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- bumps
- lines
- copper
- connecting device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49811—Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
- H01L23/49816—Spherical bumps on the substrate for external connection, e.g. ball grid arrays [BGA]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01K—ELECTRIC INCANDESCENT LAMPS
- H01K3/00—Apparatus or processes adapted to the manufacture, installing, removal, or maintenance of incandescent lamps or parts thereof
- H01K3/08—Manufacture of mounts or stems
- H01K3/10—Machines therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/50—Fixed connections
- H01R12/51—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
- H01R12/52—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures connecting to other rigid printed circuits or like structures
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/4007—Surface contacts, e.g. bumps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/50—Fixed connections
- H01R12/51—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
- H01R12/55—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures characterised by the terminals
- H01R12/57—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures characterised by the terminals surface mounting terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0332—Structure of the conductor
- H05K2201/0364—Conductor shape
- H05K2201/0367—Metallic bump or raised conductor not used as solder bump
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/01—Tools for processing; Objects used during processing
- H05K2203/0104—Tools for processing; Objects used during processing for patterning or coating
- H05K2203/0113—Female die used for patterning or transferring, e.g. temporary substrate having recessed pattern
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/03—Metal processing
- H05K2203/0338—Transferring metal or conductive material other than a circuit pattern, e.g. bump, solder, printed component
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/03—Metal processing
- H05K2203/0376—Etching temporary metallic carrier substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/03—Metal processing
- H05K2203/0384—Etch stop layer, i.e. a buried barrier layer for preventing etching of layers under the etch stop layer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/07—Treatments involving liquids, e.g. plating, rinsing
- H05K2203/0703—Plating
- H05K2203/0726—Electroforming, i.e. electroplating on a metallic carrier thereby forming a self-supporting structure
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/20—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern
- H05K3/205—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern using a pattern electroplated or electroformed on a metallic carrier
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/38—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
- H05K3/386—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by the use of an organic polymeric bonding layer, e.g. adhesive
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4644—Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits
- H05K3/4652—Adding a circuit layer by laminating a metal foil or a preformed metal foil pattern
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49155—Manufacturing circuit on or in base
- Y10T29/49165—Manufacturing circuit on or in base by forming conductive walled aperture in base
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49204—Contact or terminal manufacturing
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49204—Contact or terminal manufacturing
- Y10T29/49208—Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts
- Y10T29/4921—Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts with bonding
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49204—Contact or terminal manufacturing
- Y10T29/49208—Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts
- Y10T29/49222—Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts forming array of contacts or terminals
Description
Die Erfindung betrifft eine Verbindungs-oder
Schaltungsvorrichtung mit in gleicher Ebene liegenden
Kontakthöckern und das Verfahren zur Herstellung einer
derartigen Vorrichtung.
Es ist bekannt erhöhte Kontaktelemente (manchmal als
"Höcker" bezeichnet) zu gebrauchen, um Kontakte für
elektrische Verbindungen herzustellen. Solche Höcker
kontakte findet man oft in Verbindungsvorrichtungen oder in
Schaltungen welche einen Schaltkreis mit einem
elektronischen Bauteil oder einem anderen Schaltkreis
verbinden.
Es ist zum Beispiel bekannt Höckerkontakte zu
gebrauchen um ein Schaltkreisglied mit einem anderen zu
verbinden, oft durch den Gebrauch eines Druckverbindungs
systems wie z. B. in den US-Patenten 44 68 074; 46 10 495
und 47 68 971 aufgeführt. Zum Beispiel ist es bekannt
Höckerkontakte bei flexiblen Schaltungen anzuwenden, um sie
an Leiterplatten mittels einer Druckverbindung anzuschließen.
Die Gleichheit der Höckerhöhe ist in vielen
solcher Anwendungen nicht ausschlaggebend, weil die
Biegsamkeit der Schaltungen und die Distanz zwischen
Höckerstellen der Vorrichtung einen gewissen Überein
stimmungsspielraum gewährt, um die Kontakte herzustellen.
Dies ist jedoch nicht der Fall wenn die Dichte der Höcker
kontakte zunimmt und die Höcker näher aneinander liegen. In
solchen Fällen kann die Biegsamkeit des Verbindungs
materials nicht den nötigen Ausgleich gewähren um die
Höhenunterschiede der Höcker zu überwinden. Bedingt durch
das Versagen den Kontakt dort wo erforderlich herzustellen,
werden Funktionsstörungen auftreten.
Falls Kontakthöcker in Ausführungen mit hoher Kontakt
dichte gebraucht werden, wie z. B. Anschlußverbindungen vom
Multichip-Modul (MCM) an die Leiterplatte (z. B. Abstand,
gemessen zwischen den Mittelpunkten von angrenzenden
Kontaktstellen, kleiner als 1,27 mm), ist es sehr wichtig,
daß gewahrt bleibt, daß die Höckerkontaktflächen sich
genau in einer Ebene befinden.
Das heißt daß die Höhe der Höcker sorgfältig
kontrolliert werden muß so daß die Ober-oder Kontakt
flächen von allen Höckern sich in derselben Ebene befinden
um die Verbindung mit den Kontaktpunkten auf dem MCM oder
einer anderen, anzuschließenden Vorrichtung herzustellen.
Falls die Höckerhöhe von Höcker zu Höcker ändert, kann
eventuell die Verbindung an nicht allen Kontaktstellen
hergestellt werden. Falls z. B. ein niedriger Höcker sich
zwischen zwei höheren Höckern befindet, kann eventuell der
niedrigere Höcker mit seiner, auf dem MCM oder einer
anderen Vorrichtung, vorgesehenen Kontaktstelle keine
Verbindung herstellen, wodurch eine Funktionsstörung
entsteht.
Das Bedürfnis, daß die Höcker sich genau in einer
Ebene befinden und dies insbesondere in Ausführungen mit
hoher Verbindungsdichte, wird von den Fachleuten zwar
erkannt, aber bis jetzt ist es schwierig gewesen dieses
Objektiv zu erreichen. Die vorliegende Erfindung betrifft
einen wirksamen und verläßlichen Weg, Höckerkontakte zu
erzielen welche sich genau in einer Ebene befinden.
Die vorliegende Erfindung löst die oben aufgeworfene
Probleme in einer neuen und verbesserten Verbindungs
vorrichtung mit in gleicher Ebene liegenden Kontaktflächen
welche entsprechend dem Verfahren nach Anspruch 1 oder 2
der vorliegenden Erfindung hergestellt werden.
Wenn auch die vorliegende Erfindung besonders
interessant für Verbindungsvorrichtungen mit einer großen
Anzahl von Leitungen ist (wie z. B. für MC-Module), und in
diesem Zusammenhang auch beschrieben wird, sollte beachtet
werden, daß die Merkmale und Vorteile des Verfahrens als
auch des Endprodukts der vorliegenden Erfindung, generell
auch in anderen Verbindungsvorrichtungen von Nutzen sind,
welche sich nicht unbedingt durch eine große Kontaktdichte
auszeichnen.
In Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung,
werden die Kontakthöcker durch ein additives Verfahren
geformt, wobei die Höcker gegen eine ebene Bezugsfläche
gebildet werden. Die Höcker werden zuerst als isolierte
Körper gebildet, welche in einer dimensional stabilen,
provisorischen Formschicht auf der Bezugsfläche eingebettet
sind, d. h. die Höcker werden getrennt von den Schaltungs
leitungen und -bahnen gebildet. Danach erst werden die
Höcker in die Schaltungsleitungen und-bahnen, welche
vorzugsweise durch ein Additiv-Verfahren hergestellt
werden, integriert. Nach Bildung der Schaltungen wird die
ebene Bezugsfläche und die provisorische Stabilitäts
formschicht entfernt und es bleibt eine Verbindungs
vorrichtung mit Höckern gleicher Höhe und mit ebenen
Plankontaktflächen, welche sich in genau einer Ebene
befinden.
Zusätzlich dazu, daß die Höcker der vorliegenden
Erfindung gleicher Höhe sind und ebene Plankontaktflächen
haben, welche sich in genau einer Ebene befinden, kann die
Härte der Höcker bestimmt und kontrolliert werden, und zwar
durch die Auswahl der Materialien welche im additiven
Herstellungsverfahren gebraucht werden.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den
Zeichnungen dargestellt und werden im folgenden näher
beschrieben.
Es zeigen:
Fig. 1, eine Draufsicht einer biegsamen Schaltungs
verbindungsvorrichtung in Übereinstimmung mit der
vorliegenden Erfindung (betrachtet von der Unterseite im
Herstellungsverfahren);
Fig. 2 bis 11, Teilschnitte einer Seitenansicht
entsprechend der Schnittlinie A-A in Fig. 1, welche
jeweils den Zustand der Erfindung in verschiedenen
Herstellungsstadien zeigen;
Fig. 12, eine perspektivische Ansicht der ein
schichtigen Verbindungsvorrichtung von Fig. 1 mit Höckern
welche genau in einer Ebene liegen;
Fig. 13, einen vergrößerten Detailausschnitt der
Fig. 11 entlang der Linie 13-13;
Fig. 14, eine Draufsicht wie in Fig. 1 wobei eine
zweite Ausführung der vorliegenden Erfindung, in einer
mehrschichtigen (d. h. mehrere leitende Schichten), biegsamen
Verbindungsvorrichtung gezeigt wird;
Fig. 15 bis 24 sind Teilschnitte einer Seiten
ansicht entlang der Schnittlinie B-B in Fig. 14, welche
jeweils den Zustand der mehrschichtigen Vorrichtung in
verschiedenen Herstellungsstadien zeigen;
Fig. 25 ist ein Blockschema des Herstellungs
verfahrens der vorliegenden Erfindung.
Die Vorrichtung der vorliegenden Erfindung und das
Verfahren sie herzustellen, werden anhand der Figuren
erläutert. Um ein Verstehen der Erfindung zu erleichtern,
werden sowohl die Vorrichtung als auch das Verfahren die
Vorrichtung herzustellen, anhand der Fig. 1 bis 13 und
des Verfahrensschemas in Fig. 25 gleichzeitig beschrieben.
Fig. 2 und 3 zeigen eine Träger-oder Grundplatte 10
aus Edelstahl, welche die Tragstruktur bildet, und auf
welcher eine Mehrzahl von in einer Ebene liegenden Höcker
schaltungen oder Hökerverbindungsvorrichtungen in dem
Herstellungsverfahren gebildet werden. Grundplatte 10 kann
aus anderen Materialien bestehen. Es wurden dabei folgende
Anforderungen an das Material gestellt: es muß eben sein,
dimensional stabil und eine hochpolierte, leitende
Oberfläche aufweisen. Obschon eine Vielzahl von, in einer
Ebene liegenden, Höckerschaltungen oder Verbindungsvor
richtungen auf der Trägerplatte 10 gebildet werden, wird
nur eine solche Vorrichtung gezeigt und hier beschrieben
(wie durch die unregelmäßige Linie angedeutet welche die
Vorrichtung in Fig. 1 umschließt). Es ist jedoch
verständlich daß eine Vielzahl solcher Schaltungen oder
Verbindungsvorrichtungen alle gleichzeitig auf der
Oberfläche der Platte 10 gebildet werden. Es ist ebenfalls
verständlich, daß, obschon nur zwei Höckerstellen in den
Fig. 2 bis 11 gezeigt werden, so viele Höckerstellen wie
gewünscht (z. B. mehrere hundert oder sogar mehrere tausend,
für eine Verbindungsvorrichtung mit hoher Leitungsdichte)
simultan durch das Verfahren gebildet werden können.
Eine Abformungs-/Formschicht 12 wird durch galvanische
Beschichtung der Grundschicht 10 gebildet. Die Abformungs-/
Formschicht 12 besteht aus einer dünnen Schicht 12(A), von
galvanisch, auf Platte 10 aufgetragenem Nickel und einer
dickeren Schicht 12(B) von galvanisch oben auf den Nickel
aufgetragenem Kupfer. Da weder das Nickel, noch das Kupfer,
stark haftend auf der Edelstahlplatte sind (und so eine
Abformungsschicht relativ zur Edelstahlplatte bilden), sind
die Nickel-und Kupferschicht so ausgebildet, daß sie die
gesamte Fläche der Platte 10 bedecken (nur ein Teil davon
wird in der Zeichnung gezeigt), daß sie die Seitenkanten
der Platte 10 umlappen und sich eine kurze Distanz entlang
der Rückseite (d. h. der Unterseite) erstrecken.
Diese Ausführung dient dazu die Schichten 12(A) und
12(B) auf der Edelstahlplatte zu fixieren, damit die
dimensionale Stabilität Aufbaus der Edelstahlplatte-
Abformungs-/Formschicht für das Herstellungsverfahren
gewährleistet ist und zugleich jedoch eine einfache Frei
gabe der Edelstahlplatte 10 von der Abformungs-/
Formschicht 12 erreicht wird, wenn dies gegen Ende des
Herstellungsverfahrens erwünscht ist. Die Nickelent
bindungsschicht 12(A) ist vorzugsweise ungefähr 0,0127 mm
stark. Die Dicke der Kupferformschicht 12(B) entspricht der
gewünschten Dicke der in einer Ebene zu bildenden Höcker.
Typische Dicken für die Kupferschicht 12(B) reichen von
0,025 mm bis 0,25 mm. Die Bildung der Schichten 12(A) und
12(B) auf der Edelstahlplatte 10 wird in Teilschritt A der
Fig. 25 angedeutet. Das Konzept der Nickel/Kupfer-
Abformungsschicht wird in den US-Patenten 41 59 222 und
43 06 925 offenbart. Vor dem galvanischen Auftragen des
Nickels auf die Edelstahlplatte, wird die Platte hoch
poliert, ihre Ebenheit überprüft und die Oberfläche
chemisch gereinigt und aktiviert mit einer alkalischen
Elektroreinigungsbehandlung um jeden Oxydaufbau zu
entfernen.
Diese Behandlung der Platte 10 ergibt, in Kombination
mit der Umlappung der Seitenkanten, die gewünschte
Abformungsschicht, welche während des Verfahrens haftend
und am Ende des Verfahrens abformbar sein wird.
Für den nächsten Teilschnitt im Herstellungsverfahren
wird ein normales Fotoresist-Verfahren angewandt um jene
Stellen auf der Oberseite der Kupferschicht 12(B) zu
definieren, wo die Höcker gebildet werden sollen. Das
heißt daß Resistwerkstoff 13 auf die Oberfläche der
Kupferschicht 12(B) aufgetragen wird, dann durch ent
sprechende Masken beleuchtet wird um ein Muster von Höcker
stellen 102 zu definieren, daß der unbelichtete Resist
werkstoff weggewaschen wird und die restliche Oberfläche
der Kupferschicht 12(B) mit Fotoresistwerkstoff bedeckt
bleibt. Als Abschlußschritt dieser Fotoresist-
Strukturierung wird ein Säuberungsschritt mit Plasma-Ätze
ausgeführt, um jene Freiräume zu säubern wo der Fotoresist
werkstoff ausgewaschen wurde und so eine scharfe, saubere
und feine Auflösung der Höckerstellen zu erreichen. Der
Fotoresistwerkstoff wird in Fig. 2 gezeigt; jene Teile die
die Höckerstellen 102 definieren sind schon entfernt.
Dieser Schritt zur Strukturierung der Höckerstellen nach
der Fotoresisttechnik ist in Teilschritt B der Fig. 25
angedeutet.
Das Kupfer an Stelle 102 wird dann abgeätzt um eine
Vielzahl von Löchern 104 in der Kupferschicht 12(B) zu
bilden (siehe Fig. 3). Ein alkalisches Ätzmittel, welches
Kupfer aber kein Nickel abätzt, wird dazu gebraucht. Das
Kupfer in Schicht 12(B) an den Höckerstellen 102 wird
soweit abgeätzt bis eine ebene Teilfläche 106 auf der Ober
fläche der Nickelschicht 12(A) freigelegt wird. Die Löcher
104, mit den ebenen Teilflächen 106 auf dem Grund, bilden
jene Formen in welchen die in einer Ebene liegenden Höcker
kontakte dieser Erfindung gebildet werden. Die Löcher 104
werden mit konischen Seitenwänden 108 gebildet, welche sich
in Richtung der auf der Nickelschicht 12(A) freigelegten,
ebenen Teilflächen 106 erstrecken und diese seitlich
abgrenzen; Eine vergrößerte Ansicht eines Lochs 104 wird
in Fig. 4 gezeigt. Die Form des Lochs 104 und der
freigelegten ebenen Teilfläche 106 der Nickelschicht (und
des darin, in einem späteren Teilschritt, gebildeten
Höckerkontaktes) können kreisförmig oder andersförmig, z. B.
oval usw. Diese Form wird durch die Strukturierung des
Resistwerkstoffs 13 bestimmt. Typische Abmessungen für ein
kreisförmiges Loch d. h. die Abmessungen der Teile des
Höckerkontakte für ein Verbindungsprodukt können, abhängig
von der Breite der Schaltungen oder Bahnen und deren
Abstand, folgende Werte aufweisen: A=0,050 mm-0,250 mm;
B=0,025mm-0,200 mm; CO=0625 mm-0,500 mm; D=0,025 mm-0,250
mm. Es ist verständlich daß jene Abmessungen nur als
Beispiel angegeben sind und, daß sie in Übereinstimmung
mit der gewünschten Höhe des zu bildenden Höckers (welche
dem Lochmaß D entspricht) und der gewünschten Abmessung
der ebenen Oberfläche des zubildenden Höckers (welche dem
Lochmaß B entspricht) abgeändert werden können. Das Ätzen
der Höckerformlöcher 104 ist in Teilschritt C der Fig. 25
angedeutet.
Der nächste Teilschritt beginnt mit der Bildung der
Kontakthöcker, indem eine dünne Kontaktschicht aus Metall
110, vorzugsweise Gold, galvanisch auf die Wände 108 der
Löcher 104 und auf die freigelegten Teilflächen 106 der
Nickelschicht 12(A) aufgetragen wird. Anschließend wird
dann eine dünne Trennschicht 112, vorzugsweise Nickel, auf
die Goldkontaktschicht galvanisch aufgetragen. Die Gold
schicht 110 ist vorzugsweise 3,1 bis 4,4 Mikrometer stark,
und die Nickelschicht 112 ist vorzugsweise ungefähr 0,6 bis
1,8 Mikrometer stark. Die Ausführung der Schichten 110 und
112 ist weder auf Gold oder Nickel beschränkt, noch ist sie
auf die aufgeführten Dickenbereiche begrenzt. Die Schichten
können vielmehr aus jeglichen, dazu geeigneten, von
einander verschiedenartigen Metallen, mit Ausnahme von
Kupfer bestehen; die Dicke kann wunschgemäß abgeändert
werden. Dies ist ein wichtiges Merkmal, weil die Härte der
Höcker für bestimmte Anwendungen durch die Auswahl und die
relative Dicke samtlicher Materialien, welche für die
Bildung der Höcker gebraucht werden, bestimmt werden kann.
Wenn z. B. Gold gebraucht wird um einen Großteil des
Volumens des Höckers zu bilden, wird der Höcker relativ
weich; wenn der Großteil des verwendeten Werkstoffs Nickel
ist, wird der Höcker härter; wenn der Großteil des
verwendeten Werkstoffs Kupfer ist, wird die Härte sich
zwischen der von Gold oder Nickel befinden. Die Teil
schnitte zum galvanische Auftragen der Schichten 110 und
112 und das Auffüllen der Löcher mit Kupfer werden in den
Teilschritten D, E und F in Fig. 25 und in den Fig. 5
und 5a angedeutet.
Um zu gewährleisten, daß die Höcker sauber gebildet
werden und sich genau in einer Ebene im Endprodukt
befinden, ist es wichtig daß Kupfer 114 aufgetragen wird
um den restlichen Freiraum von jedem Loch 104 zu
überfüllen, d. h. daß es über die Oberfläche der Kupfer
formschicht 12(B) herausragt, wie in Fig. 5 und in der
vergrößerten Ansicht von Fig. 5A gezeigt ist, um so zu
gewährleisten daß die zentrale Einsenkung oder Depression
welche sich in dem Auftragverfahren bildet sich nicht unter
der Oberfläche der Schicht 12(B) befindet.
Der Fotoresistwerkstoff 13 wird anschließend entfernt,
und das überschüssige Kupfer welches über die Oberfläche
von Schicht 12(B) herausragt wird z. B. durch mechanischen
Abrieb entfernt, um die Höckerstruktur, relativ zur
freiliegenden Fläche der Formschicht 12B zu glätten. Das
Entfernen des Fotoresistwerkstoffs und das Glätten der
Oberfläche werden in den Teilschritten G und H der Fig. 25
und in Fig. 6 angedeutet.
Die Struktur der Höcker 116 ist jetzt in jedem der
Löcher 104 gebildet, und das Verfahren geht nun zur Bildung
der Leiterbahnen über (siehe Fig. 7 bis 11). Zu diesem
Zweck wird zuerst eine Schicht Fotoresistwerkstoff 17 auf
die Oberfläche der Kupferschicht 12(B) aufgetragen (inkl.
über die Höckerelemente welche darin gebildet wurden). Der
Fotoresistwerkstoff 17 wird dann durch entsprechende Masken
beleuchtet um ein Muster von Leiterbahnen oder Bahnspuren
14 auf die Kupferschicht 12(B) zu definieren, wobei der
unbeleuchtete Resistwerkstoff weggewaschen wird, und der
Rest der Oberfläche der Kupferschicht 12(B) mit Fotoresist
werkstoff bedeckt bleibt. Die Bahnspuren 14 erstrecken sich
über die Höckerelemente, welche nun in der Schicht 12(B)
ausgebildet sind, so daß jeder Höcker in einer zu
bildenden Leiterbahn oder in einer Anschlußfläche
enthalten ist. Eine typische Leiterbahn 14 wird rund um den
Höcker eine Anschlußfläche begreifen, welche, relativ zur
Höckerbasis, eine leicht vergrößerte Fläche aufweist. Als
Abschlußschritt dieser Strukturierung auf Basis der Foto
resisttechnik, kann eine Säuberung mit Plasma-Ätze
ausgeführt werden, um jene Freiräume zu säubern, wo der
Fotoresistwerkstoff 17 ausgewaschen wurde und so scharfe,
saubere, feine Leitungen über der Höckerstelle zu
erreichen. Der Fotoresistwerkstoff ist in Fig. 7 gezeigt;
jene Teile welche die Leitbahnen oder Anschlußflächen über
den Höckerstellen definieren, sind schon entfernt. Im
Verfahren erfolgen diese Schritte in Teilschritt l in Fig.
25. Nicht alle Höcker müssen notwendigerweise in Schalt
kreisen enthalten sein. Einige Höcker können auch als
mechanische Ausgleich-oder Abstandmittel verwendet werden.
Auf den Flächen 14 werden dann, durch galvanisches
Auftragen, Leitungen 16 gebildet. Ein galvanisches Auftrag
verfahren in drei Teilschritten (siehe Fig. 8) wird
angewandt, wobei jede Leitung 16 dadurch gebildet wird,
daß zuerst eine dünne Schicht 16A aus Gold auf die Fläche
14 aufgetragen wird (inkl. über die Höcker 116), daß dann
eine Hauptschicht aus Kupfer 16(B), und dann eine weitere
dünne Schicht 16(C) aus Gold aufgetragen wird. Andere
galvanisch auftragbare Metalle, wie z. B. Zinn oder Nickel,
können an Stelle oder zusätzlich zu den Goldschichten 16A,
16C aufgetragen werden. Das Gold der Schicht 16A verbindet
sich mit den Höckern 116, so daß die Höcker ein Bestand
teil der gebildeten Leitungen werden. Wenn die Abstands
verhältnisse es erlauben, kann an den Höckerstellen auch
eine vergrößerte Anschlußfläche in den Masken, in dem
Fotoresistmuster und in den Leitungen gebildet werden
(siehe Anschlußfläche 160 in den Fig. 1 und 12).
Falls erwünscht, kann die Gesamtdicke "T" von jeder
Leitung 16 ungefähr eine Feinheit von 0,025 mm haben, die
Breite "W" von jeder Leitung 16 (die Zone der Anschlußfläche
160 ausgeschlossen) sowie der Abstand zwischen den
Leitungen 16 kann eine Feinheit zwischen 0,025 mm und 0,050
mm haben. Es ist verständlich, daß Fig. 8 eine Teil
ansicht ist, und daß nur zwei der Leitungen 16 und Höcker
116 in Fig. 8 zur Illustration gezeigt werden. Der Schritt
betreffend das galvanische Auftragen der Leitungen 16 wird
in Teilschritt J in Fig. 25 angedeutet. Der übrigbleibende
Resistwerkstoff auf der Oberfläche der Kupferschicht 12(B)
wird dann entfernt um die Leitungen 16 auf der Oberseite
der Kupferschicht 12(B) freizulegen. Der Schritt betreffend
das Entfernen des Resistwerkstoffs ist in Teilschritt J
enthalten. Fig. 8 zeigt die galvanisch aufgetragenen
Leitungen 16, mit dem noch vorhandenen Resistwerkstoff 17;
Fig. 9 dagegen zeigt jenes Herstellungsstadium, wo der
Resistwerkstoff 17 bereits entfernt ist. Die Leitungen 16
und Anschlußflächen 160 sind mit den Höckern 116
verbunden. Die Leitungen 16 sind typische Signalleitungen,
welche Signale zu oder von elektrischen Bauteilen, wie z. B.
Chips auf einem MC-Modul, transportieren. Die Schicht in
welcher die Leitungen 16 liegen wird manchmal als Signal
ebene bezeichnet.
Falls erwünscht, wird während der als Fotoresist-
Strukturierung in Teilschritt B und während des Metall
auftrags in Teilschritten D, E oder F, auch eine Vielzahl
von Justierungsmerkmalen 15 (siehe Fig. 1) auf der
Abformungsschicht 12 gebildet, um als Markierung für eine
genaue Lokalisierung der Leitungen 16 in Bezug zu den
Höckern 116 zu dienen. Dieselben Markierungen können auch
zur genauen Lokalisierung von Durchgangslöchern, in einem
späteren Stadium des Herstellungsverfahrens dienen, wenn
z. B. eine Multilayer-Vorrichtung hergestellt werden soll.
Eine gewisse Anzahl solcher Justierungsmerkmale 15 wird auf
der Abformungsschicht 12 über die gesamte Platte 10
gebildet, um als Justierungsmarkierungen für sämtliche, zum
gleichen Zeitpunkt in dem Herstellungsverfahren gebildeten,
Verbindungsvorrichtungen zu dienen. Es werden jedoch nur
zwei solcher Markierungen in Fig. 1 gezeigt.
Nachdem der Resistwerkstoff 17 entfernt ist, wird ein
freier Klebefilm 18 auf die Oberfläche der Leitungen 16
gelegt. Der Klebefilm wird durch Hitze und Druck aktiviert.
Es kann sich bei dem Klebefilm z. B. um phenolischen
Butarylepoxyd handeln. Ursprünglich liegt dieser freie
Film oben auf der Oberfläche der Leitungen 16 auf und
umgibt diese Leitungen 16 nicht. Dieser Schritt ist in
Fig. 10 gezeigt und wird in Teilschritt K in Fig. 25
angedeutet.
Zu diesem Zeitpunkt hängen die restlichen Teilschritte
im Verfahren davon ab, ob eine einschichtige oder eine
mehrschichtige Verbindungsvorrichtung hergestellt werden
soll. Wenn eine einschichtige Vorrichtung hergestellt
werden soll, wird ein dünnes, blattformiges Dielektrikum
118, aus z. B. Polyimid, Polyamid, Polyäthylen usw., auf den
Klebefilm 18 gelegt. Hitze und Druck werden dann
appliziert, damit die Klebeschicht 18 um die Leitungen 16
fließt und so das Dielektrikum 118 mit den Leitungen 16
und der Kupferschicht 12(B) verbindet, wie dies in Fig. 11
und in Teilschritt L der Fig. 25 angedeutet wird. Anstelle
von separaten Schichten für den freien Klebefilm 18 und das
Dielektrikum 118, könnte ein vorgefertigter Abdeckfilm,
bestehend aus Klebemittel und nichtleitendem Material,
angewandt werden.
Nach Teilschritt L wird die Trägerplatte 10 entfernt
indem: (a) die Umlappung der Abformungs-/Formschicht 12
aufgebrochen wird und (b) die Trägerplatte 10 von der
Abformungs-/Formschicht 12 getrennt wird. Dies kann manuell
ausgeführt werden, da wie schon erwähnt, die Abformungs-
/Formschicht 12 nicht fest auf der Platte 10 haftet. Nach
Entfernen der Platte 10 bleibt die Abformungs-/Formschicht
12 mit den Leitungen 16 und dem Klebeband 18 verbunden, so
daß es noch notwendig ist die Abformungs-/Formschicht 12
zu entfernen. Dies geschieht indem: (a) die gesamte Nickel
schicht 12(A) abgeätzt wird und dann (b) die gesamte
Kupferschicht 12(B) abgeätzt wird, oder durch den Gebrauch
eines einzigen Ätzmittels, wie z. B. Chloreisenoxyd, das
Nickel und Kupfer aber kein Gold ätzt. So werden die mit
Gold plattierten Oberflächen 110, die Höcker 116 und die
Oberflächen 16(A) der Schaltbahnen und Anschlußflächen
freigelegt. Die Schritte betreffend das Entfernen der
Trägerplatte 10 und das Ätzen zum Freilegen der Höcker und
Schaltbahnen, werden in den Teilschritten M und N der Fig.
25 angedeutet. Für das einschichtige Produkt (d. h. eine
einzige Leitschicht) müssen die Leitungen 16 nicht aus
Gold/ Kupfer/ Gold, wie beschrieben bestehen. Die Leitungen
16 könnten vielmehr aus jedem anderen Metall sein, das: (a)
galvanisch aufgetragen werden kann und (b) nicht durch ein
kupferspezifisches Ätzmittel (welches zum Entfernen der
Kupferschicht 12(B) gebraucht wird) abgeätzt wird.
Nach Entfernen der Trägerschicht 10 und der Abformungs-
/Formschicht 12, besteht die resultierende Struktur aus
einer Vielzahl von einzelnen Verbindungsvorrichtungen.
Diese werden in einer blattförmigen Struktur, durch das
Dielektrikum 118 und das Klebemittel 18 zwischen den
einzelnen Teilen zusammengehalten. Die verschiedenen
Einzelteile werden dann vereinzelt, d. h. herausgetrennt aus
der blattförmigen Struktur. Dies kann durch jegliche
geeigneten Mittel wie z. B. Stanzen, Laser-Schneider usw.
erfolgen. Der Vereinzelungsschritt wird in Teilschritt O
der Fig. 25 angedeutet.
Das resultierende Produkt ist eine flexible Schaltung
oder Verbindung wie in den Fig. 1, 12 und 13 gezeigt,
welche Leitungen 16 und in einer Ebene liegende Höcker 116
aufweist. Es ist selbstverständlich daß die in den Fig.
1, 12 und 13 gezeigte Schalt-oder Verbindungsvorrichtung
nur zur Veranschaulichung der Erfindung dient. Die
tatsächliche Anzahl und Anordnung der Leitungen 16 wird,
von dem für die Schaltung vorgesehenen Gebrauch abhängen.
Von Wichtigkeit ist dabei, wie in Fig. 13 gezeigt, daß
jeder der Höcker 116 eine diskrete ebene Oberfläche oder
Planfläche 120 hat. Am wichtigsten ist, daß die Plan
flächen 120 präzis in einer Ebene liegen und dies innerhalb
der Genauigkeitsgrenzen der Ebenheit der Trägerfläche 10
und der Oberfläche der Nickelschicht 12(A), gegen die die
Höcker gebildet werden. Das heißt, da die Planflächen 120
gegen die Nickelschicht 12(A), welche nur eine sehr dünne
Schicht auf der Trägerplatte 10 ist, gebildet werden, ist
es mit dieser Erfindung möglich genau in einer Ebene
liegende Höckerkontakte herzustellen indem die Ebenheit der
Oberfläche des Trägers 10 kontrolliert und gewährleistet
wird. Ist dies geschehen, so ist garantiert daß die Höcker
in dem Endprodukt in genau einer Ebene liegen.
Ein anderer wichtiger Punkt ist, daß die Härte der
Höcker 116 beeinflußt werden kann, indem sowohl die
respektiven Anteile der Werkstoffe welche die Höcker 116
bilden, als auch die Werkstoffarten selbst, besonders
ausgewählt werden.
Obschon eine Vorrichtung mit einer einzigen Metall
schicht oben beschrieben wurde, wird die vorgezogene Aus
führung wenigstens eine zweischichtige Vorrichtung sein,
wobei die zweite Schicht eine Spannungsschicht
(normalerweise eine Erdungsschicht) ist. Die fertige
zweischichtige Vorrichtung wird in Fig. 14 gezeigt (diese
Fig. 14 entspricht Fig. 1). Die Herstellung ist in den
Fig. 15 bis 24 dargestellt. Die zweischichtige
Vorrichtung hat Höcker 116 und in der Signalebene liegende
Leitungen 16 wie oben beschrieben; und sie hat auch einige
Höcker 116′ an den Enden der Vorrichtung, welche durch
Durchgänge (welche später beschrieben werden) an eine
Erdungsebene angeschlossen sind. Die Höcker 116′ werden
während dem oben beschriebenen Verfahren, mit vergrößerten
Anschlußflächen 16′ gebildet. Letztere werden zur selben
Zeit und durch denselben Prozeß wie die Leitungen 16
gebildet (siehe Fig. 15). Die vergrößerten Anschlußflächen
16′ können als Leitungsstutzen, entsprechend den
Leitungen 16 angesehen werden.
Um ein Multilayer-Verbindungsprodukt herzustellen
zweigt das Verfahren nach Teilschritt J, nach Teilschritt P
ab anstatt mit Teilschritt K weiterzufahren. Hier wird eine
mehrschichtige Folie 20, bestehend aus Kupfer welcher mit
einer isolierenden Substratfläche verbunden ist, welche den
Klebefilm 18 enthält, mittels Hitze und Druck, mit den
Anschlußflächen 16′, den Leitungen 16 und der Abformungs
schicht 12 verbunden, wie dies in Fig. 15 gezeigt wird.
Folie 20 kann z. B. aus einer Lage Kupfer 20(A) (ca. 2,2
g/cm2 oder 1/2 Unze) verbunden durch eine Lage Klebemittel
20(B), mit einer Lage Polyimid 20(C) (wobei das Klebemittel
18 sich auf der anderen Seite des Polyimids befindet).
Andere, mit dem Laser gravierbare, Isolierlagen, wie z. B.
fluorierte Polymere, Fluoro-Imide, Polyamid-Imide, usw. und
andere Klebemittel können anstelle des beschriebenen
Isoliersystems gebraucht werden. Es ist wichtig die Folie
20 so aufzulegen, daß die Kupferschicht 20(A) von den
Höckern 116′ und den Anschlußflächen 16′ abgewandt ist.
Unter Anwendung von Hitze und Druck fließt die Klebe
schicht 18 rundum die Anschlußflächen 16′, wie dies in
Fig. 15 dargestellt ist, und ebenfalls rundum die
Leitungen 16 wie in Fig. 11 gezeigt wird. So wird die
Folie 20 mit den Leitungen 16, den Anschlußflächen 16′ und
der Formschicht 12(B) abgebunden. Der Teilschritt
betreffend die Auflage und Abbindung der Folie 20 ist in
Teilschritt D in Fig. 25 angedeutet. Folie 20 (inkl.
Klebemittel 18) ist vorgelocht um mit Hilfe der
Justierungsmerkmale 15 ausgerichtet zu werden. So bleiben
die Justierungsmerkmale auch von oben sichtbar, für eine
genaue Lokalisierung der Durchgänge in einem nächsten
Schritt in dem Herstellungsverfahren.
Nachdem die Folie 20 mit dem bestehenden Aufbau
abgebunden wurde, wird eine Serie von Durchgangslöchern 22
(siehe Fig. 18) in dem Aufbau gebildet, um den
elektrischen Kontakt mit den Anschlußflächen 16′ zu
ermöglichen. In den Fig. 16-19 wird die Bildung von nur
einem Durchgangsloch gezeigt, aber es ist verständlich daß
pro Anschlußfläche 16′ ein Durchgangsloch gebildet wird.
Um die Durchgänge zu bilden wird eine Fotoresistschicht 118
auf die Kupferschicht 20(A) aufgetragen, und der
Fotoresistwerkstoff wird beleuchtet und entwickelt, um den
unbeleuchteten Fotoresistwerkstoff nur jenen Stellen 120 zu
entfernen, wo die Durchgangslöcher gebildet werden (siehe
Fig. 16). Die Lage der Flächen, wo der Fotoresistwerkstoff
entfernt werden soll, ist genau bestimmt in Bezug auf die
vorhin gebildeten Justierungsmerkmale 15. Nachdem der
Fotoresistwerkstoff an den Durchgangsstellen 120 entfernt
wurde, wird das Kupfer in Schicht 20(A) an den Durchgangs
stellen durch Ätzen entfernt, um die Klebeschicht 20(B)
freizulegen (siehe Fig. 17). Der verbleibende Fotoresist
werkstoff wird dann abgestreift, um die verbleibende
Kupferoberfläche 20(A) freizulegen. In dem Durchgang werden
dann die Klebeschicht 20(B), die Isolierschicht 20(C) und
die Klebeschicht 18, alle durch einen geeigneten Laser
strahl (wie z. B. ein CO2- oder ein UV-Laser), welcher als
Bohrer benutzt wird, entfernt. Die freigelegte Kupfer
schicht 20(A) bildet eine Maske für den Laserbohrer. Der
Laser tastet die Oberfläche 20(A) ab und zeigt dabei keine
Auswirkung auf die Kupferflächen. An jenen Stellen, wo das
Kupfer in Schicht 20(A) weggeätzt wurde um die Klebeschicht
20(B) freizulegen, bohrt der Laserstrahl (eigentlich
handelt es sich um ein Abschmelzen) durch die isolierenden
Werkstoffe der Schichten 20(B), 20(C) und 18 um die
platinierte Oberfläche 16(C), auf Anschlußfläche 16′
freizulegen, und so die Durchgangslöcher 22 zu bilden. Die
Durchgangslöcher 22 werden dann mittels einer, normalen
Technik gereinigt (z. B. Plasmasäuberung, Dampfhohnen, usw.)
um scharfe und saubere Wände in den Durchgangslöchern, und
eine saubere freigelegte Oberfläche auf Schicht 16(C) der
Anschlußfläche 16′ zu erreichen. Der Teilschritt
betreffend die Bildung der Durchgangslöcher ist in Teil
schritt Q in Fig. 25 angedeutet; die Durchgangslöcher
selbst werden in Fig. 18 dargestellt.
Fig. 19 wird Kupfer 24 auf die freigelegte Oberfläche
der Anschlußfläche 16′, auf die Wände der Durchgangslöcher
22 und auf die freigelegte Oberfläche der Kupferschicht
20(A) aufgetragen, um die Durchgänge abzuschließen, und
eine elektrische Verbindung von Anschlußfläche 16′ zur
Kupferschicht 20(A) zu bilden. Die Kupferschichten 24/20(A)
dienen als Spannungsebene (Stromversorgung oder Erde) in
dem Endprodukt. Die Kupferschicht 24 wird in einem
Verfahren in 2 Teilschritten gebildet, wobei zuerst eine
sehr dünne Schicht Kupfer durch eine fremdstromfreie
Abscheidung gebildet wird. Die restliche Schicht 24 wird
dann anschließend durch Galvanisation gebildet. Die
Gesamtdicke der Schicht 24 ist ungefähr 0,0125 mm. Die
Bildung der Schicht 24 um die Anschlußfläche 16′ an die
Strom-oder Erdungsebene anzuschließen, wird in Teilschritt
R in Fig. 25 angedeutet.
In den Fig. 20 und 21 wird dann eine andere Schicht
Fotoresistwerkstoff 120 auf die Kupferschicht 24
aufgebracht. Der Fotoresistwerkstoff 120 wird dann
beleuchtet und entwickelt, um die äußeren Dimensionen und
Form der Erdungsebene, welche in der Vorrichtung gebildet
werden soll, zu definieren. Der Fotoresistwerkstoff 120
wird dann entfernt um die Kupferschicht 24 in jenen
Bereichen freizulegen, welche sich außerhalb der
Abgrenzung B, von jeder zu bildenden Verbindungsvorrichtung
zu befinden haben. Das freigelegte Kupfer in Schicht 24 und
Schicht 20(A) wird dann geätzt um das Kupfer außerhalb der
Abgrenzung B in den Ebenen 24 und 20(A) zu entfernen. In
Fig. 20 und 21 wird der beleuchtete Resistwerkstoff vor
dem Ätzen der freigelegten Kupferschichten 24 und 20(A)
gezeigt. Nachdem der Kupfer geätzt wurde wird der
Fotoresistwerkstoff abgestreift (siehe Fig. 22 und 23
welche den Fig. 20 und 21 entsprechen). Die Bildung der
Abgrenzung B, einschließlich des Ätzens der Schichten
24/20(A), wird in Teilschritt S der Fig. 25 angedeutet.
Wahlweise kann eine Schutzschicht 122 aus Gold oder Gold
auf Nickel, Zinn, oder anderen Werkstoffen auf die Kupfer
schicht 24 aufgebracht werden (siehe Fig. 24). Die
Schutzschicht 122 schützt die Erdungsebene gegen Oxydation,
sowie gegen ein Angreifen durch Chemikalien während dem
folgenden Ätzschritt welcher erforderlich ist um die
Vorrichtung von der Abformungs-/Formschicht 12 abzutrennen.
Das fakultative Aufbringen der Schutzschicht 122 wird in
Teilschritt T der Fig. 25 angedeutet.
Als Alternative kann der Fotoresistwerkstoff 120 auf
der Vorrichtung belassen werden, um einen solchen Schutz zu
gewähren. Er kann dann entfernt werden, nachdem die
Vorrichtung aus der Abformung-/Formschicht herausgetrennt
wurde. Nach Teilschritt T wird die Trägerplatte 10
entfernt, wie in den Teilschritten M und N (die vorher
schon beschrieben wurden) erklärt ist. Das heißt daß die
Trägerplatte entfernt wird, indem: (a) die Umlappung der
Abformungsschicht-/Formschicht 12 aufgebrochen wird und (b)
die Trägerplatte 10 von der Abformungs-/Formschicht 12
getrennt wird. Dies kann manuell ausgeführt werden, da wie
schon erwähnt die Abformungs-/Formschicht 12 nicht fest auf
der Platte 10 haftet.
Beim Entfernen der Platte 10, bleibt die Abformungs-
/Formschicht 12 mit den Höckern 116 und 116′ den Leitungen
16 und dem Klebefilm 18 verbunden, so daß es noch
notwendig ist die Abformungs-/Formschicht 12 zu entfernen.
Dies geschieht indem: (a) die gesamte Nickelschicht 12(A)
abgeätzt wird und dann (b) die gesamte Kupferschicht 12(B)
abgeätzt wird; oder auch durch den Gebrauch eines einzigen
Ätzmittels, wie z. B. Chloreisenoxyd, das Nickel und Kupfer
aber kein Gold ätzt. So wird die untere Fläche (die
goldplatinierte Oberfläche 16(A)) der Leitungen 16, und er
sich in einer Ebene befindenden Höcker 116 und 116′
freigelegt. Wird der Ätzvorgang in zwei Schritten
durchgeführt, so können zwei normale Standardätzmittel
gebraucht werden, das erste Ätzmittel sollte dabei
spezifisch für Nickel und das zweite spezifisch für Kupfer
geeignet sein. Das Entfernen der Trägerplatte 10 und das
Ätzen der Abformungs-/Formschicht 12 wird in den Teil
schritten M und N in Fig. 20 angedeutet. Es ist
einleuchtend daß die Höcker 116′ sich sowohl
untereinander, als auch mit den Höckern 116 in einer Ebene
befinden.
Durch das Entfernen der Trägerplatte 10 und der
Abformungs-/Formschicht 12 besteht die resultierende
Struktur aus einer Vielzahl von einzelnen Verbindungsvor
richtungen, zusammengehalten in einer blattformigen
Struktur durch das Klebemittel 20(B), das Dielektrikum
20(C) und das Klebemittel 18 zwischen den einzelnen Teilen.
Die verschiedenen Einzelteile werden dann vereinzelt, das
heißt ausgetrennt aus der blattförmigen Struktur. Dabei
können jegliche geeigneten Mittel, wie z. B. Stanzen, Laser
schneiden, usw. gebraucht werden. Dieser Vereinzelungs
schritt wird in Teilschritt O der Fig. 25 angedeutet. Die
definitiven Teile werden dann wie in den Fig. 14 und 23
gezeigt aussehen, jedoch ohne die Trägerplatte C und die
Abformungsschicht 12.
Indem man weiß, daß die Kupferschicht 12(B) durch
galvanisches Auftragen zustande kommt und, daß die Kupfer
schicht 12(B) eine Dicke haben muß die der Höhe der
Kontakthöcker in dem Endprodukt entspricht, ist es normal,
daß es zeitaufwendig ist, die Höcker 12(B) galvanisch
aufzubauen wenn hohe Höcker erwünscht sind (z. B. eine
Höckerhöhe zwischen 0,125 mm bis 0,250 mm). Die Herstellung
dieser hohen Höcker kann jedoch galvanisch erfolgen, dies
ist jedoch, wie besagt, sehr zeitaufwendig. Als Alternative
kann die Edelstahlplatte 10 und der galvanische Aufbau der
Kupferschicht 12(B) durch den Gebrauch einer relativ dicken
(z. B. 0,125 mm bis 0,250 mm) Kupferfolie, die auf einer
Seite mit einer dünnen Nickelschicht beschichtet wurde
(z. B. durch Galvanisieren) ersetzt werden. Diese mit Nickel
beschichtete Kupferfolie entspricht der Schicht 12(B),
respektiv 12(A). Das Verfahren verzweigt sich dann von
Teilschritt C an, um entweder eine einschichtige oder eine
vielschichtige Verbindungsvorrichtung zu bilden. Bei dem
alternativen Gebrauch einer dicken Kupferfolie welche auf
einer Seite mit Nickel beschichtet ist, werden genau in
einer Ebene liegenden Höckerplanflächen 120, durch den
Parallelismus der sich gegenüberliegenden Seiten der dicken
Kupferfolie gewährleistet.
Als weitere Abänderung, könnte die Kupferschicht 12(B)
durch einen harten, biegsamen polymerischen Werkstoff (wie
z. B. Polyimid) ersetzt werden, welcher in Teilschritt N
durch ein Lösungsmittel aufgelöst oder durch einen Laser
weggeätzt werden könnte. Falls ein Polyimid gebraucht
würde, würde er mit einem Resistwerkstoff beschichtet
welcher beleuchtet und entwickelt würde, um die Höcker
stellen zu definieren. Diese Höckerstellen würden dann
durch ein geeignetes Lösungsmittel herausgelöst. Die Ober
fläche des Polyimidwerkstoffes und die Höckerlöcher würden
anschließend (nach Entfernen des Resistwerkstoffes) mit
einer dünnen Schicht Metall beschichtet (wie z. B. durch
fremdstromlose Abscheidung, Zerstäubung, usw.), so daß sie
als Grundlage für weitere galvanische Verfahrungsschritte
dienen könnten. Das Herstellungsverfahren würde dann von
Teilschritt D an normal weitergehen.
Vorzugsweise werden ein oder mehrere Öhren 130 mit
einem durchgehenden Verbindungsloch 132, an jeder
Verbindungsvorrichtung gebildet (siege Fig. 1 und 14).
Diese Öhren 130 dienen als Justierungsmerkmale zum
Alignieren der Höcker 116 und 116′ wenn diese mit
irgendeiner Vorrichtung (z. B. ein MC-Modul) oder einer
Schaltung verbunden werden, welche dann auch mit
entsprechenden Justierungsmerkmalen versehen ist.
Verbindungsvorrichtungen, welche mit Höckern
entsprechend der vorliegenden Erfindung gebildet werden,
werden besonders in Druckverbindungen für MC-Modul
verbindungen, in gedruckten Schallkartenverbindungen, in
Testschaltungen für integrierte Schaltungen oder in Chip
an-Chip-Verbindungen und in TAB-Testschaltungen eingesetzt.
Die Erfindung könnte auch in anderen Verbindungen als
Druckkontakte eingesetzt werden. So z. B. um ein TAB
anzuschließen, wobei die Höcker sich auf den inneren
Leitungsteilen des TAB für eine direkte Verbindung an den
IC befinden würden.
Claims (13)
1. Ein Verfahren zum Erstellen von elektrischen
Verbindungsvorrichtungen mit Kontakthöckern, dadurch
gekennzeichnet, daß
- - eine Form (12) erstellt wird, in welcher eine Viel zahl von Kontakthöckern (116) gebildet wird, daß die besagte Form aus einer relativ dünnen und flachen Schicht aus einem ersten Material (12A) und einer relativ dicken Schicht aus einem zweiten Material (12B) besteht, daß die besagte zweite Schicht (12B) selektiv entfernbar ist;
- - jene Stellen (102), an welchen die Kontakthöcker (116) gebildet werden sollen, in dem besagten zweiten Material (12B) definiert werden;
- - das besagte zweite Material (12B) an den besagten Stellen (102) selektiv entfernt wird, um eine flache Flächenzone (106) des besagten ersten Materials (12A) an jeder Stelle (102) freizulegen, um ein Loch (104) von vorbestimmter Größe und Form in dem besagten zweiten Material (12B) zu bilden, welches auf dem besagten ersten Material (12A) die besagten flachen Flächenzone (106) abgrenzt;
- - ein elektrisch leitendes Kontaktelement (116) in jedem der besagten Löcher (104) entsprechend der Form des besagten Lochs (104) gebildet wird, wobei jedes dieser elektrisch leitender Kontaktelemente (116) eine flache Fläche aufweist, welche in einer Ebene mit den flachen Flächen jedes anderen besagten Kontaktelements (116) liegt;
- - eine Vielzahl von elektrischen Leitungen (16) auf dem besagten Material (12B) gebildet werden, wobei jede der besagten Leitungen (16) mindestens eines der besagten Kontaktelemente (116A) enthält;
- - die besagten Leitungen (16) mit einem elektrischen Isoliermaterial (118) zusammengehalten werden;
- - und daß die besagten Kontaktelemente (116) aus der besagten Form entfernt werden und eine Verbindungs vorrichtung darstellen, welche eine Vielzahl von Leitungen (16) mit mindestens einem Kontakthöcker (116) in jeder Leitung (16) hat, wobei die Kontakthöcker (116) alle in einer Ebene liegen.
2. Das Verfahren nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß nach der Bildung einer Vielzahl von
elektrischen Leitungen (16, 16′) auf dem besagten Material
(12B),
- - die besagten Leitungen (16, 16′) durch eine mehr schichtige Folie (20) zusammengehalten werden, daß diese mehrschichtige Folie (20) aus einer Schicht aus nicht leitendem Material (20C) und einer Schicht aus leitendem Material (20A) besteht, daß das besagte nichtleitende Material (20C) mit den Leitungen (16) abgebunden ist und so die besagten Leitungen (16) von dem besagten leitenden Material (20A) isoliert;
- - mindestens ein Durchgangsloch (22) zu mindestens einer der besagten Leitungen (16′) durch die besagte mehr schichtige Folie (20) gebildet wird;
- - eine Durchgangsverbindung (24) der besagten Schicht aus leitendem Material (20A) zu mindestens einer Leitung (16′) durch das besagte Durchgangsloch (22) gebildet wird;
- - und die besagten Kontaktelemente (116, 116′) von der besagten Form entfernt werden und eine Verbindungs vorrichtung darstellen, welche eine Vielzahl von Leitungen (16, 16′) mit wenigstens einem Kontakthöcker (116, 116′) in jeder Leitung (16, 16′) hat, wobei die Kontakthöcker (116, 116′) alle in einer Ebene liegen, und eine leitende Schicht (24, 20A) mindestens durch einen besagten Durchgang (22) mit mindestens einer besagten Leitung (16′) verbunden ist, wobei die besagte leitende Schicht (24, 20A) eine Spannungsebene darstellt.
3. Das Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die besagte Form (12) auf einer
flachen Trägerplatte (10) erstellt wird.
4. Das Verfahren nach Anspruch 1,2 oder 3, dadurch
gekennzeichnet, daß das besagte zweite Material (12B) der
besagten Form Kupfer ist; daß das besagte erste Material
(12A) der besagten Form ein anderes Material als Kupfer
ist; und daß jeder der besagten Kontakthöcker (116, 116′)
durch mindestens ein drittes Material gebildet wird,
welches weder Kupfer noch das besagte erste Material (12A)
ist, wobei das besagte dritte Material (110) in die
besagten Formen in Kontakt mit dem besagten ersten Material
und besagten zweiten Material eingebracht wird, und wobei
Kupfer in Kontakt mit dem dritten Material in die Formen
eingebracht wird.
5. Das Verfahren nach Anspruch 1, 2, 3 oder 4, dadurch
gekennzeichnet, daß jede Leitung (16, 16′) additiv auf dem
besagtem zweitem Material (12B) der besagten Form gebildet
wird, in dem eine erste Schicht (16A), aus einem anderen
Metall als Kupfer, und eine zweite Schicht (16B) aus Kupfer
aufgetragen werden, um jede Leitung (16, 16′) zu
definieren.
6. Das Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Härte der besagten Kontakthöcker
(116, 116′) durch die Werkstoffart und die Menge des
besagten dritten Materials (110) und des Kupfers (12B),
welche bei der Bildung der Kontakthöcker gebraucht werden,
bestimmt ist.
7. Eine elektrische Verbindungsvorrichtung, zur
elektrischen Verbindung von elektronischen Bauteilen oder
Schaltungen durch das Verfahren nach einem der Ansprüche 1
bis 6 hergestellt, gekennzeichnet durch eine Folie aus
isolierendem Material (118);
- - eine Vielzahl Leitungen (16), welche durch die besagte Folie (118) zusammengehalten werden, wobei jede der besagten Leitungen (16) eine erste Fläche (160) aufweist, welche einen Kontakthöcker trägt;
- - wenigstens einen Kontakthöcker (116), welcher durch die besagte erste Fläche (160) getragen wird, wobei jeder der besagten Kontakthöcker (116) eine ebene Planfläche (120) aufweist, welche von der entsprechenden Leitung (16) abgehoben ist, und wobei in einem Feld Kontakthöcker jede dieser Planflächen (120) in einer Ebene mit allen anderen Planflächen (120) liegt.
8. Die Verbindungsvorrichtung nach Anspruch 7,
gekennzeichnet durch mindestens eine Spannungsebene (24),
wobei die besagte Spannungsebene aus einer metallischen
Schicht (24, 20A) besteht, welche von den besagten
Leitungen (16) abgehoben ist; und durch eine Vielzahl von
Durchgängen (22), welche die besagte Spannungsebene (24) an
ausgewählte Leitungen (16′) anschließen.
9. Die Verbindungsvorrichtung, nach Anspruch 7 oder 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die besagten Höcker (116) in
einer Form aus vorbestimmtem Form-Werkstoff gebildet
werden, wobei jeder der besagten Höcker (116) eine Außenschicht
aus einem ersten metallischen Material (110),
welches nicht identisch mit dem Form-Werkstoff ist, und
eine Innenschicht aus einem zweiten metallischen Material
(114) hat.
10. Die Verbindungsvorrichtung, nach in Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die Härte der besagten Höcker
(116) durch die Werkstoffart und die Menge der besagten
ersten und zweiten Materialien (110) und (114) in jedem
Höcker (116) bestimmt wird.
11. Die Verbindungsvorrichtung, nach Anspruch 9′
dadurch gekennzeichnet, daß sich zwischen dem ersten (110)
und dem zweiten (114) metallischen Material der besagten
Höcker eine Zwischenschicht (112) aus einem dritten
metallischen Material befindet.
12. Die Verbindungsvorrichtung, nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die Härte der besagten Höcker
durch dir Werkstoffart und die Menge des besagten ersten
(110), zweiten (114) und dritten (112) metallischen
Materials in jedem Höcker bestimmt wird.
13. Die Verbindungsvorrichtung, nach einem der
Ansprüche 7 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die
besagten Kontakthöcker (116) in einer Form durch ein
additives Verfahren gebildet werden; und daß die besagten
Leitungen (16) in einem additiven Verfahren über eine Ober
fläche von jedem der besagten Höcker (116) gebildet werden,
so daß sie von den besagten Planflächen (120) abgehoben
sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/601,904 US5072520A (en) | 1990-10-23 | 1990-10-23 | Method of manufacturing an interconnect device having coplanar contact bumps |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4134617A1 true DE4134617A1 (de) | 1992-04-30 |
Family
ID=24409221
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4134617A Withdrawn DE4134617A1 (de) | 1990-10-23 | 1991-10-19 | Verbindungsvorrichtung mit in gleicher ebene liegenden kontakthoeckern und das verfahren zur herstellung einer derartigen vorrichtung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5072520A (de) |
JP (1) | JPH04313247A (de) |
DE (1) | DE4134617A1 (de) |
FR (1) | FR2668310A1 (de) |
GB (1) | GB2250381A (de) |
IT (1) | IT1252525B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000026963A1 (en) * | 1998-10-29 | 2000-05-11 | Honeywell Inc. | Dimpled contacts for metal-to-semiconductor connections, and methods for fabricating same |
Families Citing this family (144)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5917707A (en) | 1993-11-16 | 1999-06-29 | Formfactor, Inc. | Flexible contact structure with an electrically conductive shell |
CA2139314A1 (en) * | 1992-07-30 | 1994-02-17 | Stanley F. Tead | Planarizing bumps for interconnecting matching arrays of electrodes |
US5242534A (en) * | 1992-09-18 | 1993-09-07 | Radiant Technologies | Platinum lift-off process |
US5296651A (en) * | 1993-02-09 | 1994-03-22 | Hewlett-Packard Company | Flexible circuit with ground plane |
US7084656B1 (en) | 1993-11-16 | 2006-08-01 | Formfactor, Inc. | Probe for semiconductor devices |
US6624648B2 (en) | 1993-11-16 | 2003-09-23 | Formfactor, Inc. | Probe card assembly |
US7200930B2 (en) | 1994-11-15 | 2007-04-10 | Formfactor, Inc. | Probe for semiconductor devices |
US6246247B1 (en) | 1994-11-15 | 2001-06-12 | Formfactor, Inc. | Probe card assembly and kit, and methods of using same |
US20020053734A1 (en) | 1993-11-16 | 2002-05-09 | Formfactor, Inc. | Probe card assembly and kit, and methods of making same |
US5482897A (en) * | 1994-07-19 | 1996-01-09 | Lsi Logic Corporation | Integrated circuit with on-chip ground plane |
JP3348528B2 (ja) * | 1994-07-20 | 2002-11-20 | 富士通株式会社 | 半導体装置の製造方法と半導体装置及び電子回路装置の製造方法と電子回路装置 |
US6870272B2 (en) * | 1994-09-20 | 2005-03-22 | Tessera, Inc. | Methods of making microelectronic assemblies including compliant interfaces |
US6826827B1 (en) * | 1994-12-29 | 2004-12-07 | Tessera, Inc. | Forming conductive posts by selective removal of conductive material |
US5971253A (en) * | 1995-07-31 | 1999-10-26 | Tessera, Inc. | Microelectronic component mounting with deformable shell terminals |
US6284563B1 (en) | 1995-10-31 | 2001-09-04 | Tessera, Inc. | Method of making compliant microelectronic assemblies |
US6211572B1 (en) | 1995-10-31 | 2001-04-03 | Tessera, Inc. | Semiconductor chip package with fan-in leads |
US6483328B1 (en) * | 1995-11-09 | 2002-11-19 | Formfactor, Inc. | Probe card for probing wafers with raised contact elements |
US6007349A (en) * | 1996-01-04 | 1999-12-28 | Tessera, Inc. | Flexible contact post and post socket and associated methods therefor |
WO1997046062A1 (en) * | 1996-05-29 | 1997-12-04 | W.L. Gore & Associates, Inc. | Method of forming raised metallic contacts on electrical circuits for permanent bonding |
US5747358A (en) * | 1996-05-29 | 1998-05-05 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Method of forming raised metallic contacts on electrical circuits |
US6635514B1 (en) | 1996-12-12 | 2003-10-21 | Tessera, Inc. | Compliant package with conductive elastomeric posts |
JP3080047B2 (ja) * | 1997-11-07 | 2000-08-21 | 日本電気株式会社 | バンプ構造体及びバンプ構造体形成方法 |
KR20020011440A (ko) * | 1999-06-17 | 2002-02-08 | 마이클 골위저, 호레스트 쉐퍼 | 가요성 접점을 구비한 전자 소자 및 그 전자 소자의 제조방법 |
DE10016132A1 (de) * | 2000-03-31 | 2001-10-18 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauelement mit flexiblen Kontaktierungsstellen und Verfahren zu dessen Herstellung |
DE10116069C2 (de) * | 2001-04-02 | 2003-02-20 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung |
US6930256B1 (en) | 2002-05-01 | 2005-08-16 | Amkor Technology, Inc. | Integrated circuit substrate having laser-embedded conductive patterns and method therefor |
US6856007B2 (en) | 2001-08-28 | 2005-02-15 | Tessera, Inc. | High-frequency chip packages |
US7548430B1 (en) | 2002-05-01 | 2009-06-16 | Amkor Technology, Inc. | Buildup dielectric and metallization process and semiconductor package |
US7633765B1 (en) | 2004-03-23 | 2009-12-15 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package including a top-surface metal layer for implementing circuit features |
US9691635B1 (en) | 2002-05-01 | 2017-06-27 | Amkor Technology, Inc. | Buildup dielectric layer having metallization pattern semiconductor package fabrication method |
WO2004014114A1 (ja) * | 2002-07-31 | 2004-02-12 | Sony Corporation | 素子内蔵基板の製造方法および素子内蔵基板、ならびに、プリント配線板の製造方法およびプリント配線板 |
JP3990962B2 (ja) * | 2002-09-17 | 2007-10-17 | 新光電気工業株式会社 | 配線基板の製造方法 |
US6972480B2 (en) | 2003-06-16 | 2005-12-06 | Shellcase Ltd. | Methods and apparatus for packaging integrated circuit devices |
KR101078621B1 (ko) | 2003-07-03 | 2011-11-01 | 테쎄라 테크놀로지스 아일랜드 리미티드 | 집적회로 디바이스를 패키징하기 위한 방법 및 장치 |
WO2005031861A1 (en) * | 2003-09-26 | 2005-04-07 | Tessera, Inc. | Structure and method of making capped chips including a flowable conductive medium |
US20050116344A1 (en) * | 2003-10-29 | 2005-06-02 | Tessera, Inc. | Microelectronic element having trace formed after bond layer |
US11081370B2 (en) | 2004-03-23 | 2021-08-03 | Amkor Technology Singapore Holding Pte. Ltd. | Methods of manufacturing an encapsulated semiconductor device |
US10811277B2 (en) | 2004-03-23 | 2020-10-20 | Amkor Technology, Inc. | Encapsulated semiconductor package |
US7453157B2 (en) | 2004-06-25 | 2008-11-18 | Tessera, Inc. | Microelectronic packages and methods therefor |
US7475964B2 (en) * | 2004-08-06 | 2009-01-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Electrical contact encapsulation |
US20060183270A1 (en) * | 2005-02-14 | 2006-08-17 | Tessera, Inc. | Tools and methods for forming conductive bumps on microelectronic elements |
KR101267651B1 (ko) * | 2005-02-25 | 2013-05-23 | 테세라, 인코포레이티드 | 유연성을 갖는 마이크로 전자회로 조립체 |
US8143095B2 (en) | 2005-03-22 | 2012-03-27 | Tessera, Inc. | Sequential fabrication of vertical conductive interconnects in capped chips |
US7485956B2 (en) * | 2005-08-16 | 2009-02-03 | Tessera, Inc. | Microelectronic package optionally having differing cover and device thermal expansivities |
US20070138644A1 (en) * | 2005-12-15 | 2007-06-21 | Tessera, Inc. | Structure and method of making capped chip having discrete article assembled into vertical interconnect |
US7936062B2 (en) | 2006-01-23 | 2011-05-03 | Tessera Technologies Ireland Limited | Wafer level chip packaging |
US7550857B1 (en) | 2006-11-16 | 2009-06-23 | Amkor Technology, Inc. | Stacked redistribution layer (RDL) die assembly package |
US20080131996A1 (en) * | 2006-12-05 | 2008-06-05 | Gene Wu | Reverse build-up process for fine bump pitch approach |
US7678997B2 (en) * | 2006-12-19 | 2010-03-16 | The Boeing Company | Large area circuitry using appliqués |
US7749886B2 (en) | 2006-12-20 | 2010-07-06 | Tessera, Inc. | Microelectronic assemblies having compliancy and methods therefor |
US20080150101A1 (en) * | 2006-12-20 | 2008-06-26 | Tessera, Inc. | Microelectronic packages having improved input/output connections and methods therefor |
US7858521B2 (en) * | 2006-12-21 | 2010-12-28 | Palo Alto Research Center Incorporated | Fabrication for electroplating thick metal pads |
US8604605B2 (en) | 2007-01-05 | 2013-12-10 | Invensas Corp. | Microelectronic assembly with multi-layer support structure |
KR100992181B1 (ko) * | 2007-12-26 | 2010-11-04 | 삼성전기주식회사 | 패키지용 기판 및 그 제조방법 |
WO2009084300A1 (ja) * | 2007-12-28 | 2009-07-09 | Ibiden Co., Ltd. | インターポーザー及びインターポーザーの製造方法 |
US7960827B1 (en) | 2009-04-09 | 2011-06-14 | Amkor Technology, Inc. | Thermal via heat spreader package and method |
US8623753B1 (en) | 2009-05-28 | 2014-01-07 | Amkor Technology, Inc. | Stackable protruding via package and method |
WO2014011232A1 (en) | 2012-07-12 | 2014-01-16 | Hsio Technologies, Llc | Semiconductor socket with direct selective metalization |
US9276336B2 (en) | 2009-05-28 | 2016-03-01 | Hsio Technologies, Llc | Metalized pad to electrical contact interface |
WO2010147939A1 (en) | 2009-06-17 | 2010-12-23 | Hsio Technologies, Llc | Semiconductor socket |
WO2010138493A1 (en) | 2009-05-28 | 2010-12-02 | Hsio Technologies, Llc | High performance surface mount electrical interconnect |
WO2010141296A1 (en) | 2009-06-02 | 2010-12-09 | Hsio Technologies, Llc | Compliant printed circuit semiconductor package |
WO2011002709A1 (en) | 2009-06-29 | 2011-01-06 | Hsio Technologies, Llc | Compliant printed circuit semiconductor tester interface |
US8928344B2 (en) | 2009-06-02 | 2015-01-06 | Hsio Technologies, Llc | Compliant printed circuit socket diagnostic tool |
US9930775B2 (en) | 2009-06-02 | 2018-03-27 | Hsio Technologies, Llc | Copper pillar full metal via electrical circuit structure |
WO2012074963A1 (en) | 2010-12-01 | 2012-06-07 | Hsio Technologies, Llc | High performance surface mount electrical interconnect |
WO2012078493A1 (en) | 2010-12-06 | 2012-06-14 | Hsio Technologies, Llc | Electrical interconnect ic device socket |
WO2010141318A1 (en) * | 2009-06-02 | 2010-12-09 | Hsio Technologies, Llc | Compliant printed circuit peripheral lead semiconductor test socket |
WO2010141303A1 (en) | 2009-06-02 | 2010-12-09 | Hsio Technologies, Llc | Resilient conductive electrical interconnect |
US8970031B2 (en) | 2009-06-16 | 2015-03-03 | Hsio Technologies, Llc | Semiconductor die terminal |
US9184527B2 (en) | 2009-06-02 | 2015-11-10 | Hsio Technologies, Llc | Electrical connector insulator housing |
US8987886B2 (en) | 2009-06-02 | 2015-03-24 | Hsio Technologies, Llc | Copper pillar full metal via electrical circuit structure |
WO2010141297A1 (en) | 2009-06-02 | 2010-12-09 | Hsio Technologies, Llc | Compliant printed circuit wafer level semiconductor package |
US9276339B2 (en) | 2009-06-02 | 2016-03-01 | Hsio Technologies, Llc | Electrical interconnect IC device socket |
US8988093B2 (en) | 2009-06-02 | 2015-03-24 | Hsio Technologies, Llc | Bumped semiconductor wafer or die level electrical interconnect |
US8955216B2 (en) | 2009-06-02 | 2015-02-17 | Hsio Technologies, Llc | Method of making a compliant printed circuit peripheral lead semiconductor package |
US9232654B2 (en) | 2009-06-02 | 2016-01-05 | Hsio Technologies, Llc | High performance electrical circuit structure |
US8912812B2 (en) | 2009-06-02 | 2014-12-16 | Hsio Technologies, Llc | Compliant printed circuit wafer probe diagnostic tool |
US9699906B2 (en) | 2009-06-02 | 2017-07-04 | Hsio Technologies, Llc | Hybrid printed circuit assembly with low density main core and embedded high density circuit regions |
US9613841B2 (en) | 2009-06-02 | 2017-04-04 | Hsio Technologies, Llc | Area array semiconductor device package interconnect structure with optional package-to-package or flexible circuit to package connection |
WO2010141295A1 (en) | 2009-06-02 | 2010-12-09 | Hsio Technologies, Llc | Compliant printed flexible circuit |
WO2010141264A1 (en) | 2009-06-03 | 2010-12-09 | Hsio Technologies, Llc | Compliant wafer level probe assembly |
WO2010141311A1 (en) | 2009-06-02 | 2010-12-09 | Hsio Technologies, Llc | Compliant printed circuit area array semiconductor device package |
US9184145B2 (en) | 2009-06-02 | 2015-11-10 | Hsio Technologies, Llc | Semiconductor device package adapter |
WO2010141298A1 (en) | 2009-06-02 | 2010-12-09 | Hsio Technologies, Llc | Composite polymer-metal electrical contacts |
US9318862B2 (en) | 2009-06-02 | 2016-04-19 | Hsio Technologies, Llc | Method of making an electronic interconnect |
US8222538B1 (en) | 2009-06-12 | 2012-07-17 | Amkor Technology, Inc. | Stackable via package and method |
WO2010147782A1 (en) | 2009-06-16 | 2010-12-23 | Hsio Technologies, Llc | Simulated wirebond semiconductor package |
US8984748B2 (en) | 2009-06-29 | 2015-03-24 | Hsio Technologies, Llc | Singulated semiconductor device separable electrical interconnect |
US8471154B1 (en) | 2009-08-06 | 2013-06-25 | Amkor Technology, Inc. | Stackable variable height via package and method |
US8796561B1 (en) | 2009-10-05 | 2014-08-05 | Amkor Technology, Inc. | Fan out build up substrate stackable package and method |
US8937381B1 (en) | 2009-12-03 | 2015-01-20 | Amkor Technology, Inc. | Thin stackable package and method |
US9691734B1 (en) | 2009-12-07 | 2017-06-27 | Amkor Technology, Inc. | Method of forming a plurality of electronic component packages |
US8536462B1 (en) | 2010-01-22 | 2013-09-17 | Amkor Technology, Inc. | Flex circuit package and method |
US8300423B1 (en) | 2010-05-25 | 2012-10-30 | Amkor Technology, Inc. | Stackable treated via package and method |
US8294276B1 (en) | 2010-05-27 | 2012-10-23 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device and fabricating method thereof |
US9350093B2 (en) | 2010-06-03 | 2016-05-24 | Hsio Technologies, Llc | Selective metalization of electrical connector or socket housing |
US10159154B2 (en) | 2010-06-03 | 2018-12-18 | Hsio Technologies, Llc | Fusion bonded liquid crystal polymer circuit structure |
US9689897B2 (en) | 2010-06-03 | 2017-06-27 | Hsio Technologies, Llc | Performance enhanced semiconductor socket |
US8338229B1 (en) | 2010-07-30 | 2012-12-25 | Amkor Technology, Inc. | Stackable plasma cleaned via package and method |
US8717775B1 (en) | 2010-08-02 | 2014-05-06 | Amkor Technology, Inc. | Fingerprint sensor package and method |
US8337657B1 (en) | 2010-10-27 | 2012-12-25 | Amkor Technology, Inc. | Mechanical tape separation package and method |
US8482134B1 (en) | 2010-11-01 | 2013-07-09 | Amkor Technology, Inc. | Stackable package and method |
US9748154B1 (en) | 2010-11-04 | 2017-08-29 | Amkor Technology, Inc. | Wafer level fan out semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8525318B1 (en) | 2010-11-10 | 2013-09-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device and fabricating method thereof |
US8557629B1 (en) | 2010-12-03 | 2013-10-15 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device having overlapped via apertures |
US8535961B1 (en) | 2010-12-09 | 2013-09-17 | Amkor Technology, Inc. | Light emitting diode (LED) package and method |
US9137903B2 (en) | 2010-12-21 | 2015-09-15 | Tessera, Inc. | Semiconductor chip assembly and method for making same |
US9721872B1 (en) | 2011-02-18 | 2017-08-01 | Amkor Technology, Inc. | Methods and structures for increasing the allowable die size in TMV packages |
US9013011B1 (en) | 2011-03-11 | 2015-04-21 | Amkor Technology, Inc. | Stacked and staggered die MEMS package and method |
KR101140113B1 (ko) | 2011-04-26 | 2012-04-30 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 디바이스 |
US8735273B2 (en) * | 2011-07-08 | 2014-05-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Forming wafer-level chip scale package structures with reduced number of seed layers |
US8653674B1 (en) | 2011-09-15 | 2014-02-18 | Amkor Technology, Inc. | Electronic component package fabrication method and structure |
US8633598B1 (en) | 2011-09-20 | 2014-01-21 | Amkor Technology, Inc. | Underfill contacting stacking balls package fabrication method and structure |
US9029962B1 (en) | 2011-10-12 | 2015-05-12 | Amkor Technology, Inc. | Molded cavity substrate MEMS package fabrication method and structure |
US20150216051A1 (en) * | 2011-12-21 | 2015-07-30 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Method of fabricating electrical feedthroughs using extruded metal vias |
TWI557855B (zh) * | 2011-12-30 | 2016-11-11 | 旭德科技股份有限公司 | 封裝載板及其製作方法 |
US9437564B2 (en) | 2013-07-09 | 2016-09-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Interconnect structure and method of fabricating same |
US9263839B2 (en) | 2012-12-28 | 2016-02-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | System and method for an improved fine pitch joint |
US10015888B2 (en) | 2013-02-15 | 2018-07-03 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Interconnect joint protective layer apparatus and method |
US9368398B2 (en) | 2012-01-12 | 2016-06-14 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Interconnect structure and method of fabricating same |
US9607921B2 (en) | 2012-01-12 | 2017-03-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Package on package interconnect structure |
US9589862B2 (en) | 2013-03-11 | 2017-03-07 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Interconnect structures and methods of forming same |
US9257333B2 (en) | 2013-03-11 | 2016-02-09 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Interconnect structures and methods of forming same |
US9401308B2 (en) | 2013-03-12 | 2016-07-26 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Packaging devices, methods of manufacture thereof, and packaging methods |
US9761520B2 (en) | 2012-07-10 | 2017-09-12 | Hsio Technologies, Llc | Method of making an electrical connector having electrodeposited terminals |
US9082776B2 (en) | 2012-08-24 | 2015-07-14 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Semiconductor package having protective layer with curved surface and method of manufacturing same |
KR101366461B1 (ko) | 2012-11-20 | 2014-02-26 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 디바이스 및 그 제조 방법 |
US9799592B2 (en) | 2013-11-19 | 2017-10-24 | Amkor Technology, Inc. | Semicondutor device with through-silicon via-less deep wells |
US9087777B2 (en) | 2013-03-14 | 2015-07-21 | United Test And Assembly Center Ltd. | Semiconductor packages and methods of packaging semiconductor devices |
US9165878B2 (en) | 2013-03-14 | 2015-10-20 | United Test And Assembly Center Ltd. | Semiconductor packages and methods of packaging semiconductor devices |
KR101488590B1 (ko) | 2013-03-29 | 2015-01-30 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 디바이스 및 그 제조 방법 |
US10667410B2 (en) | 2013-07-11 | 2020-05-26 | Hsio Technologies, Llc | Method of making a fusion bonded circuit structure |
US10506722B2 (en) | 2013-07-11 | 2019-12-10 | Hsio Technologies, Llc | Fusion bonded liquid crystal polymer electrical circuit structure |
KR101607981B1 (ko) | 2013-11-04 | 2016-03-31 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지용 인터포저 및 이의 제조 방법, 제조된 인터포저를 이용한 반도체 패키지 |
TWI616120B (zh) * | 2014-06-09 | 2018-02-21 | 結合載板的可撓性電路板結構及其製造方法 | |
US9755335B2 (en) | 2015-03-18 | 2017-09-05 | Hsio Technologies, Llc | Low profile electrical interconnect with fusion bonded contact retention and solder wick reduction |
US9892962B2 (en) | 2015-11-30 | 2018-02-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Wafer level chip scale package interconnects and methods of manufacture thereof |
US9960328B2 (en) | 2016-09-06 | 2018-05-01 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US10575408B2 (en) | 2017-03-10 | 2020-02-25 | University Of Masschusetts | Electrical connectors, circuit boards, and fabrication techniques |
CN113396309B (zh) * | 2019-11-26 | 2023-08-18 | 鹏鼎控股(深圳)股份有限公司 | 均温板及其制造方法 |
WO2022072338A1 (en) | 2020-10-02 | 2022-04-07 | Cellink Corporation | Methods and systems for connecting a flexible interconnect circuit |
CN116326219B (zh) * | 2020-10-02 | 2024-03-26 | 塞林克公司 | 与柔性互连电路形成连接 |
US11770906B2 (en) | 2021-08-27 | 2023-09-26 | Schlumberger Technology Corporation | 3D-printed ceramics with conductor infusion for ultra-high-speed electronics |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4159222A (en) * | 1977-01-11 | 1979-06-26 | Pactel Corporation | Method of manufacturing high density fine line printed circuitry |
US4306925A (en) * | 1977-01-11 | 1981-12-22 | Pactel Corporation | Method of manufacturing high density printed circuit |
US4236777A (en) * | 1979-07-27 | 1980-12-02 | Amp Incorporated | Integrated circuit package and manufacturing method |
EP0039160A3 (de) * | 1980-04-29 | 1982-08-25 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Verfahren zum Verbinden elektrisch leitender Höcker an elektronische Schaltkreise |
DE3322382A1 (de) * | 1983-06-22 | 1985-01-10 | Preh, Elektrofeinmechanische Werke Jakob Preh Nachf. Gmbh & Co, 8740 Bad Neustadt | Verfahren zur herstellung von gedruckten schaltungen |
US4566186A (en) * | 1984-06-29 | 1986-01-28 | Tektronix, Inc. | Multilayer interconnect circuitry using photoimageable dielectric |
-
1990
- 1990-10-23 US US07/601,904 patent/US5072520A/en not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-10-18 FR FR9112878A patent/FR2668310A1/fr active Pending
- 1991-10-19 DE DE4134617A patent/DE4134617A1/de not_active Withdrawn
- 1991-10-21 IT ITMI912784A patent/IT1252525B/it active IP Right Grant
- 1991-10-22 GB GB9122403A patent/GB2250381A/en not_active Withdrawn
- 1991-10-23 JP JP3275795A patent/JPH04313247A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000026963A1 (en) * | 1998-10-29 | 2000-05-11 | Honeywell Inc. | Dimpled contacts for metal-to-semiconductor connections, and methods for fabricating same |
US6078103A (en) * | 1998-10-29 | 2000-06-20 | Mcdonnell Douglas Corporation | Dimpled contacts for metal-to-semiconductor connections, and methods for fabricating same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB9122403D0 (en) | 1991-12-04 |
US5072520A (en) | 1991-12-17 |
IT1252525B (it) | 1995-06-19 |
FR2668310A1 (fr) | 1992-04-24 |
GB2250381A (en) | 1992-06-03 |
ITMI912784A1 (it) | 1993-04-21 |
ITMI912784A0 (it) | 1991-10-21 |
JPH04313247A (ja) | 1992-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4134617A1 (de) | Verbindungsvorrichtung mit in gleicher ebene liegenden kontakthoeckern und das verfahren zur herstellung einer derartigen vorrichtung | |
DE69728234T2 (de) | Verfahren zur herstellung von erhöhten metallischen kontakten auf elektrischen schaltungen | |
DE3125518C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer dünnen Verdrahtungsanordnung | |
DE102006050890B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Leiterplatte mit feinen Leiterstrukturen und lötaugenfreien Durchkontaktierungen | |
EP0175045B1 (de) | Verfahren zur Herstellung von durchkontaktierten flexiblen Leiterplatten für hohe Biegebeanspruchung | |
DE3822071C2 (de) | Verfahren zur Herstellung von mehrlagigen starr-flexiblen Leiterplatten | |
DE2911620C2 (de) | Verfahren zum Herstellen von leitenden durchgehenden Bohrungen in Schaltungsplatten | |
DE3812021A1 (de) | Flexible schaltung mit anschlussorganen und verfahren zu ihrer herstellung | |
DE10229182A1 (de) | Gestapelte Chip-Packung und Herstellungsverfahren hierfür | |
EP1620890A2 (de) | Elektronisches bauteil, sowie systemträger und nutzen zur herstellung desselben | |
DE2539925A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer mehrschichtigen gedruckten schaltungsplatte | |
DE19650296A1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements | |
DE69723801T2 (de) | Herstellungsverfahren einer Kontaktgitter-Halbleiterpackung | |
DE102009060480A1 (de) | Leiterstrukturelement und Verfahren zum Herstellen eines Leiterstrukturelements | |
DE4134172A1 (de) | Mehrschichtverbindungsvorrichtung und verfahren zu ihrer herstellung | |
DE10245688A1 (de) | Mehrschichtkeramikelektronikteil, Elektronikteilaggregat und Verfahren zum Herstellen eines Mehrschichtkeramikelektronikteils | |
DE102007060510A1 (de) | Leiterplatten-Herstellungsverfahren, Leiterplatte und elektronische Anordnung | |
DE112005000438B4 (de) | Eine Zwischenverbindungsstruktur und ein Verfahren zum Verbinden von vergrabenen Signalleitungen mit elektrischen Vorrichtungen | |
DE60216182T2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer gedruckten Leiterplatte | |
EP0968631B1 (de) | Verfahren zur bildung metallischer leitermuster auf elektrisch isolierenden unterlagen | |
DE112012002829T5 (de) | Mehrschichtige Leiterplatte und Verfahren zum Herstellen einer mehrschichtigen Leiterplatte | |
DE10105920A1 (de) | Halbleiterbaustein | |
DE3045280C2 (de) | Verfahren zur Bildung von elektrischen Leiterbahnen auf einem isolierenden Substrat | |
EP0710432B1 (de) | Verfahren zur herstellung von folienleiterplatten oder halbzeugen für folienleiterplatten sowie nach dem verfahren hergestellte folienleiterplatten und halbzeuge | |
WO2000004750A1 (de) | Verfahren zur herstellung von leiterplatten mit groben leiterstrukturen und mindestens einem bereich mit feinen leiterstrukturen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |