DE4134546A1 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der absolut-koordinaten eines objektes - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der absolut-koordinaten eines objektes

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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/254—Projection of a pattern, viewing through a pattern, e.g. moiré

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Abso­ lut-Koordinaten eines Objektes, bei dem das Objekt durch ein Projektionsgitter mit Licht bestrahlt wird, bei dem das von dem Objekt reflektierte Licht von einem Sensor aufgenommen wird und bei dem die Aufnahme des Sensors ausgewertet wird. Ferner be­ trifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Durchführung eines derartigen Verfahrens, also eine Vorrichtung zur Bestimmung der Absolut-Koordinaten eines Objekts, bestehend aus einer Licht­ quelle, einer Projektionsoptik, insbesondere einem Projek­ tionsobjektiv, einem Projektionsgitter, das durch die Projek­ tionsoptik auf das Objekt abgebildet wird, einem Sensor zum Aufnehmen des von dem Objekt reflektierten Lichts und einem Objektiv, das das von dem Objekt reflektierte Licht auf den Sensor abbildet.
Mit der Moir´-Technik und mit projizierten Linien kann die dreidimensionale Geometrie der Oberfläche eines Objekts bestimmt werden. Dies wird in der Literaturstelle Takasaki, H.: Moire Topography, Applied Optics, Vol. 9, No. 8, 1970, p. 1457-1472, auf die Bezug genommen wird, beschrieben.
Die Auswertung der Konturlinienbilder erfolgt durch einen Rechner, beispielsweise mit dem sogenannten Phasenshift- Verfahren, das in den Literaturstellen Dändliker R., Tahlmann R., Willemin J.F.: Fringe Interpretation by Two-Referenz-Beam Holographic Interferography: Reducing Sensitivity to Hologram Misaglignment, Oct. Comm. 41.301 (1982), und B. Breuckmann, "Ein Gerätesystem für die rechnergestützte optische Meß­ technik", VDI-Berichte 617, Lasermeßtechnik, S. 245-254, auf die Bezug genommen wird, beschrieben wird. Bei diesem Phasenshift-Verfahren werden nacheinander phasenverschobene Bilder (Sensor-Aufnahmen) in den Rechner über eine Video­ kamera eingelesen. Es ist auch möglich, die Konturlinien­ bilder über eine Fourier-Auswertung zu verarbeiten. Diese Fourier-Auswertung wird in der Literaturstelle Th. Kreis, K. Roesener, W. Jüptner/D, Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Fourier-Transformations-Verfahren, Laser 87, Optoelektronik in der Technik, Springer Verlag, auf die Bezug genommen wird, beschrieben. Ferner kann die Auswer­ tung auch über andere Techniken, bei denen nur ein Kontur­ linienbild (Sensor-Aufnahme bzw. Videobild) notwendig ist, erfolgen. Dies wird beschrieben in der DE-PS 39 07 430 und in der DE-PS 38 43 396, auf die ebenfalls Bezug genommen wird.
Die Moire-Technik liefert zwar die relative Form der Objekt- Oberfläche. Mit ihr kann im allgemeinen jedoch nicht der absolute Abstand zwischen Sensor (Kamera) und Objekt aus einem Konturlinienbild bestimmt werden. Es ist also nicht möglich, die absoluten Koordinaten (Absolut-Koordinaten) der Objekt-Oberfläche mit den erwähnten, an sich bekannten Tech­ niken und Verfahren zu bestimmen.
Die Absolut-Koordinaten des Objekts werden jedoch benötigt, um die absolute Größe des Objekts zu bestimmen oder die Tiefe des Objekts bei stufenförmigen Querschnitten. Da im Kontur­ linienbild keine Information über den Abbildungsmaßstab ent­ halten ist, werden für die Bestimmung der Absolut-Koordinaten zusätzliche, über das Konturlinienbild hinausgehende Infor­ mationen benötigt. Diese werden bei bekannten Verfahren durch Abstandsensoren gewonnen oder durch Ändern des Konturlinien­ abstandes oder durch Verschieben des Objekts oder der Kamera. Hierfür müssen allerdings Massen bewegt werden, was einen stabilen Aufbau der Versuchsanlage erfordert und verhältnis­ mäßig viel Zeit in Anspruch nimmt. Der mechanische Aufwand ist sehr hoch, wenn eine gewisse Präzision erreicht werden soll. Ein Verfahren und eine Vorrichtung zur quantitativen Absolutvermessung der dreidimensionalen Koordinaten eines Prüfobjekts mittels Moire-Technik ist aus der älteren, noch nicht veröffentlichten deutschen Patentanmeldung P 40 11 406.6 bekannt. Bei dem dort beschriebenen Verfahren ist eine Verschiebeeinrichtung zum Verschieben und Messen des Ver­ schiebeweges eines Eichkörpers und/oder des Prüfobjekts senkrecht zur Ebene der Gitter (Projektionsgitter und Referenzgitter) vorhanden. Auf diese Patentanmeldung P 40 11 406.6 wird Bezug genommen.
Hiervon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, bei einem Verfahren der eingangs angegebenen Art die Absolut- Koordinaten des Objekts auf einfache Weise bestimmen zu können. Ferner besteht die Aufgabe der Erfindung darin, eine Vorrichtung der eingangs angegebenen Art zu schaffen, mit der die Absolut-Koordinaten des Objekts auf einfache Weise be­ stimmt werden können.
Bei einem Verfahren der eingangs angegebenen Art wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß bei einer ersten Stellung des Projektionsgitters und des Sensors eine erste Aufnahme und Auswertung vorgenommen werden, daß anschließend das Projek­ tionsgitter und/oder der Sensor um einen bestimmten Winkel gedreht werden und eine zweite Aufnahme und Auswertung des Sensors vorgenommen werden und daß aus den Auswertungen die Absolut-Koordinaten des Objekts bestimmt werden.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren werden die Absolut- Koordinaten des Objekts aus einer Messung und Berechnung bestimmt. Es werden die Absolut-Koordinaten derjenigen Punkte des Objekts bestimmt, die das auf das Objekt geworfene Licht reflektieren. Dies sind im allgemeinen Punkte an der Ober­ fläche des Objekts, es können aber auch bei einem zumindest teilweise transparenten Objekt Punkte im Inneren des Objekts sein. Das Objekt kann mit beliebigem Licht bestrahlt werden, vorzugsweise mit weißem Licht. Es ist aber auch möglich, kohärentes Licht, beispielsweise Laserlicht, zu verwenden. Das Projektionsgitter kann sinusförmig, rampenförmig oder rechteckig oder von sonstiger Beschaffenheit sein. Das Pro­ jektionsgitter kann durch eine Projektionsoptik auf das Objekt bzw. dessen Oberfläche abgebildet werden. Als Pro­ jektionsoptik ist jede Optik geeignet, die das Projektions­ gitter auf das Objekt projiziert, vorzugsweise ein Projek­ tionsobjektiv, beispielsweise aber auch ein Michelson- Interferometer.
Der Sensor, der das von dem Objekt bzw. dessen Oberfläche reflektierte Licht aufnimmt, ist ein Flächensensor (flächen­ hafter Sensor), beispielsweise ein CCD-Sensor. Er kann das von dem Objekt bzw. von dessen Oberfläche reflektierte Licht durch ein Objektiv empfangen. Die Aufnahme des Sensors wird mit einer an sich bekannten Methode ausgewertet, beispiels­ weise mit einer Phasenshiftmethode, einer Fourier-Transfor­ mation oder mit der Methode der DE-PS 38 43 396.
Die Bestimmung der Absolut-Koordinaten des Objekts erfolgt nach dem Prinzip der Triangulation (Dreiecksberechnung). Um die Absolut-Koordinaten eines Objektpunkts zu bestimmen, wird das Dreieck, bestehend aus Projektionsgitter-Punkt, Sensor­ punkt und Objektpunkt, bestimmt. Der Sensorpunkt ist aus dem einzelnen beleuchteten Pixel (picture element) des Sensors bekannt. Aus dem geometrischen Aufbau der Optik ist auch der Winkel von dem Sensorpunkt zum Objektpunkt bekannt. Bestimmt werden müssen demnach noch der zugehörige Gitterpunkt (Punkt auf dem Projektionsgitter) sowie der zu diesem Gitterpunkt gehörende Winkel zum Objektpunkt.
Zu diesem Zweck werden zwei Sensoraufnahmen bei verschiedenen Gitterwinkeln ausgewertet. Dies ermöglicht die Bestimmung des Gitterpunkts und des Winkels vom Gitterpunkt zum Objektpunkt. Damit können wiederum die Absolut-Koordinaten des Objekt­ punkts bestimmt werden.
Vorzugsweise wird das Gitter (und nicht der Sensor) um einen bestimmten Winkel gedreht. Dies ist deshalb von Vorteil, weil eine Drehung des Gitters mit einem geringeren Aufwand, ins­ besondere mit einem geringeren mechanischen Aufwand, durch­ geführt werden kann als eine Drehung des Sensors.
Bei einem Verfahren der eingangs angegebenen Art wird die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe nach einem weiteren Vor­ schlag, für den selbständig Schutz beansprucht wird, dadurch gelöst, daß das Objekt durch ein erstes Projektionsgitter mit Licht einer ersten Farbe und durch ein zweites Projektions­ gitter, das zum ersten Projektionsgitter um einen bestimmten Winkel gedreht ist, mit Licht einer zweiten Farbe bestrahlt, das von dem Objekt reflektierte Licht von zwei Sensoren oder von einem für die beiden Farben empfindlichen Sensor (Farb­ sensor) aufgenommen, die Aufnahmen des oder der Sensoren aus­ gewertet und aus den Auswertungen die Absolut-Koordinaten des Objekts bestimmt werden. Eine Drehung des Gitters (bzw. des Sensors) ist nicht erforderlich, weil zwei verschiedenfarbige Gitter, die einen bestimmten Winkel zueinander aufweisen, auf das Objekt aufprojiziert werden. Die Drehung des Gitters wird also ersetzt durch zwei gesondert auswertbare Gitter. Die aufprojizierten Gitter werden auf einen farbempfindlichen Sensor, beispielsweise eine Farbvideokamera, abgebildet. Sie können dort getrennt ausgewertet werden. Die Farben der Gitter können dabei den Empfindlichkeiten des Farbsensors (rot, grün, blau) entsprechen.
Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen be­ schrieben.
Die Auswertung erfolgt vorzugsweise nach der Formel
Hierin bedeuten:
I = Intensität (Leuchtdichte) auf einem Punkt (Pixel) des Sensors,
r = Radius, also Abstand des Punkts auf dem Projektionsgitter (Gitterpunkt) von einem Bezugspunkt des Projektionsgitters, wobei dieser Bezugspunkt vorzugsweise der Drehpunkt des Projektionsgitters ist,
phi = Drehwinkel des Projektionsgitters zwischen der ersten und der zweiten Auswertung bzw. Winkel zwischen den beiden (farbigen) Gittern;
phio = Winkel des Punktes auf dem Projektionsgitter (Gitterpunkt) zu einer Bezugsgeraden
a = Untergrundhelligkeit,
b = Kontrast,
g = Gitterkonstante des Projektionsgitters,
α) = Phasenkonstante.
Der gesuchte Punkt in dem Projektionsgitter (Gitterpunkt) wird in Polarkoordinaten (r, phio) angegeben. Man erhält dann die Intensitätsverteilung (Leuchtdichteverteilung) I eines linearen, vorzugsweise sinusförmigen Gitters mit der Gitter­ periode g durch die oben angegebene Formel. Die Intensität I wird vom Sensor gemessen. Sie ist in der durch die oben ange­ gebene Formel bestimmten Weise vom Gitterpunkt mit den Polar­ koordinaten r, phio abhängig. Die vom Sensor gemessene Inten­ sität entspricht der Leuchtdichte des zugehörigen Objekt­ punkts. Da zwei Aufnahmen bei verschiedenen Gitterwinkeln gemacht werden, stehen zur Auswertung zwei Gleichungen nach der oben angegebenen Formel zur Verfügung. Daraus können die beiden Unkekannten r und phio bestimmt werden. Hieraus wiederum ergibt sich nach der Methode der Triangulation die Absolut-Koordinate des zugehörigen Objektpunkts.
Die Größe b/a wird auch als Modulation des Gitters bezeich­ net.
Die Leuchtdichte I wird auf das Objekt und von dort auf den Sensor abgebildet. Wenn phi durch die Drehung des Projektions­ gitters geändert wird, ändert sich auch die Intensität am zugehörigen Pixel des Sensors. Diese Intensitätsänderung erlaubt es durch Einlesen mehrerer, mindestens zweier, Bilder, die sich durch die Winkellage phi des Gitters unter­ scheiden, r und sin (phi - phio) und damit auch phio zu be­ stimmen. Hiermit wiederum kann die Triangulation zur Be­ stimmung des Objektpunkts durchgeführt werden.
Es ist auch möglich, das Projektionsgitter mehrmals zu drehen, also Sensoraufnahmen bei mehr als zwei Winkeln durchzuführen. Bei der Verwendung einer Farbkamera werden vorzugsweise drei Aufnahmen entsprechend den Empfindlich­ keiten rot, grün, blau des Farbsensors ausgewertet. Bei der Messung können also mehrere Winkel phii eingestellt werden, um die Genauigkeit zu erhöhen, und eine Phasenshift-Aus­ wertung (oder eine andere der oben beschriebenen Auswer­ tungen) durchgeführt werden. Grundsätzlich reichen zwei Messungen (i=2) für zwei verschiedene Gitterwinkel, da nur zwei Größen, nämlich r und phio für die Bestimmung der Absolut-Koordinaten des Objektpunkts benötigt werden. Zur Erhöhung der Genauigkeit können jedoch mehrere Messungen durchgeführt werden. Im Endergebnis werden für jeden Objektpunkt, der von dem Sensor erfaßt wird, für jeden Sensorpunkt (Pixel) unabhängig die Absolut-Koordinaten des Objektpunkts angegeben.
Vorzugsweise erfolgen die Auswertungen nach der Phasen­ shiftmethode. Es ist aber auch möglich, die Auswertungen nach einer Fourier-Transformation vorzunehmen. Die Auswertungen können auch mit phasenverschobenen Bildern erfolgen, die gleichzeitig eingelesen werden (dies ist aus der DE-PS 38 43 396, auf die Bezug genommen wird, an sich bekannt).
Bei einer Vorrichtung der eingangs angegebenen Art wird die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe dadurch gelöst, daß das Projektionsgitter und/oder der Sensor drehbar, also in verschiedene Winkellagen bringbar, ist und daß eine Aus­ werteeinheit vorhanden ist, die die Aufnahmen des Sensors bei mindestens zwei verschiedenen Winkellagen des Projektions­ gitters bzw. des Sensors auswertet und daraus die Absolut- Koordinaten des Objekts bestimmt.
Vorzugsweise ist das Projektionsgitter (und nicht der Sensor) drehbar. Eine Drehbarkeit des Projektionsgitters kann nämlich mit weniger Aufwand, insbesondere mit weniger mechanischem Aufwand, realisiert werden als eine Drehbarkeit des Sensors.
Nach einem weiteren Vorschlag, für den selbständig Schutz beansprucht wird, wird bei einer Vorrichtung der eingangs angegebenen Art die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe gelöst durch ein erstes Projektionsgitter für Licht einer ersten Farbe, ein zweites Projektionsgitter, das zum ersten Projektionsgitter um einen bestimmten Winkel gedreht ist, für Licht einer zweiten Farbe, zwei Sensoren oder einen für die beiden Farben empfindlichen Sensor und eine Auswerteeinheit, die die Aufnahmen des oder der Sensoren auswertet und daraus die Absolut-Koordinaten des Objekts bestimmt. Anstelle eines einzigen Gitters, für das eine Drehmöglichkeit vorgesehen werden muß, werden also (mindestens) zwei Projektionsgitter verwendet, die in einem bestimmten Winkel zueinander stehen und die vom Sensor getrennt auswertbar sind.
Vorteilhafte Weiterbildungen sind Gegenstand der weiteren Unteransprüche.
Vorzugsweise erfolgen die Auswertungen nach der oben erläu­ terten Formel.
Die Auswertungen können nach einer Phasenshiftmethode er­ folgen. Sie können aber auch nach einer Fourier-Transfor­ mation erfolgen. Ferner können die Auswertungen mit phasen­ verschobenen Bildern erfolgen, die gleichzeitig eingelesen werden (dies wird in der DE-PS 38 43 398, auf die Bezug ge­ nommen wird, beschrieben).
Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung ist gekennzeichnet durch ein Referenzgitter, durch das das von dem Objekt reflektierte Licht auf den Sensor abgebildet wird. Dieses Referenzgitter erhöht die erreichbare Auflösung. Vorzugsweise wird das Referenzgitter von dem Sensor selbst gebildet. Wenn der Sensor - wie beispielsweise ein CCD-Sensor - zeilenweise aufgebaut ist, bildet er durch diesen zeilenweisen Aufbau gleichzeitig ein Referenzgitter. Das Referenzgitter und der Sensor werden damit auf besonders einfache Weise durch ein und dasselbe Bauteil realisiert.
Vorzugsweise liegen die Hauptebenen der Objektive (Pro­ jektionsobjektiv und Objektiv für den Sensor) in derselben Ebene; die Hauptebenen der Objektive sind also vorzugsweise miteinander fluchtend angeordnet. Daraus ergibt sich der Vorteil, daß die Moire-Flächen Ebenen darstellen. Dies erleichtert die Bestimmung (Berechnung) der Absolut-Koordi­ naten. Der visuelle Eindruck der entstehenden Bilder ent­ spricht demjenigen von (topographischen) Höhenlinien und ist eindeutig.
Vorteilhaft ist es, wenn die Brennweiten der Objektive gleich groß sind. Dies ist insbesondere dann von Vorteil, wenn die Hauptebenen der Objektive in derselben Ebene liegen. Die Bestimmung (Berechnung) der Absolut-Koordinaten wird durch gleich große Brennweiten weiter vereinfacht.
Das Projektionsgitter kann eine sinusförmige oder rampenför­ mige Transparenz aufweisen. Auch andere Projektionsgitter- Transparenzen sind allerdings möglich, beispielsweise recht­ eckige oder dreieckige oder sonstige Transparenzen.
Nach einer weiteren vorteilhaften Weiterbildung ist die Gitterkonstante und/oder die Transparenz des Projektions­ gitters einstellbar und/oder drehbar. Die Drehung des Pro­ jektionsgitters erfolgt dann nicht durch mechanisches Drehen des Gitters, sondern über einstellbare Masken, beispielsweise rechnergesteuerte LCD (liquid cristal display = Flüssig­ kristall-Display)-Masken, deren Gitterkonstante, Intensitäts­ verlauf und Gitterorientierung beliebig und auf einfache Weise eingestellt werden kann. Dementsprechend wird das Projektionsgitter vorzugsweise von einem LCD-Display ge­ bildet.
Durch die Erfindung wird ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung der Absolut-Koordinaten (Absolutmessung) der dreidimensionalen Gestalt von Objekten (Körpern) mit der Moire-Technik oder mit aufprojizierten Linien geschaffen. Zur Bestimmung der Absolut-Koordinaten wird das Prinzip der Triangulation verwendet. Es ergibt sich der Vorteil, daß nur das Projektionsgitter mechanisch bewegt werden muß, was mit einem sehr geringen mechanischen Aufwand und sehr präzise realisiert werden kann, nicht aber (wie bisher) das Objekt oder die Aufnahmeoptik. Das Projektionsgitter hat eine ver­ hältnismäßig geringe Masse, im Gegensatz zur Aufnahmeoptik und zum aufzunehmenden Objekt. Bei einer Bewegung der Optik oder des Objekts entstehen aufgrund der verhältnismäßig großen Massen Durchbiegungen, was nach der Erfindung ver­ mieden wird. Wenn mit einem Farbsensor gearbeitet wird, sind überhaupt keine mechanisch bewegten Teile vorhanden. Auch dann, wenn mit einem Projektionsgitter gearbeitet wird, dessen Gitterkonstante bzw. Transparenz einstellbar ist, beispielsweise mit einem LCD-Display, sind keine mechanisch bewegten Teile vorhanden.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachstehend anhand der beigefügten Zeichnung im einzelnen erläutert. In der Zeichnung zeigt die einzige Figur eine Vorrichtung zur Bestimmung der Absolut-Koordinaten eines Objekts in einer schematischen Darstellung.
Die Lichtquelle 6 sendet weißes Licht aus, das von dem Konden­ sor 11 gebündelt wird und durch das Projektionsgitter 2 hin­ durchtritt. Das Projektionsgitter 2 wird durch das Projek­ tionsobjektiv 7 auf das Objekt 1 bzw. auf dessen Oberfläche abgebildet. Die Hauptebene 10 des Projektionsobjektivs 7 verläuft parallel zur Ebene des Gitters 2, und zwar im Ab­ stand d2.
Das vom Objekt 1 reflektierte Licht 4 gelangt durch das Objektiv 8 und das Referenzgitter 9 hindurch auf den Sensor 5. Die Hauptebene 10′ des Objektivs 8 liegt in derselben Ebene wie die Hauptebene 10 des Projektionsobjektivs 7. Das Referenzgitter 9 verläuft parallel zur Hauptebene 10′ des Objektivs 8, und zwar im Abstand d1, der genauso groß ist wie der Abstand d2. In Strahlungsrichtung unmittelbar hinter dem Referenzgitter 9 befindet sich der Sensor 5. Aus Gründen der vereinfachten zeichnerischen Darstellung ist in der einzigen Figur ein Abstand zwischen dem Sensor 5 und dem Referenz­ gitter 9 gezeigt, der bei der praktischen Realisierung aller­ dings nicht vorhanden ist. Ferner wird beim tatsächlichen Aufbau ein CCD-Sensor verwendet, dessen Pixel zeilenweise angeordnet sind, so daß dieser CCD-Sensor 5 gleichzeitig das Referenzgitter 9 bildet. Die Gitterlinien des Referenzgitters 9 verlaufen senkrecht zur Zeichenebene der einzigen Figur. In der Ausgangslage, also in der unverdrehten Stellung, verlau­ fen auch die Gitterlinien des Projektionsgitters 2 senkrecht zur Zeichenebene. In dieser Ausgangslage sind also die Gitter­ linien des Projektionsgitters 2 zu den Gitterlinien des Referenzgitters 9 parallel.
Die optischen Achsen des Projektionsobjektivs 7 und des Objektivs 8 verlaufen parallel zueinander und im Abstand b voneinander. Die Brennweiten der Objektive 7, 8 sind gleich groß. Die Gitter 2, 9 liegen im Tiefenschärfebereich der Objektive 7, 8.
Das Projektionsgitter 2 ist um die optische Achse 12 des Projektionsobjektivs drehbar.
Von jedem Punkt des Projektionsgitters 2 verläuft ein Strahl 3 durch den Mittelpunkt K2 des Projektionsobjektivs 7 zum Objektpunkt 0. Von diesem Objektpunkt 0 verläuft der Strahl 4 durch den Mittelpunkt K1 des Objektivs 8 auf einen bestimmten Punkt (Pixel) des Sensors 5. Zur Auswertung nach dem Prinzip der Triangulation wird das Dreieck K1, K2, 0 betrachtet. Die Basis b dieses Dreiecks ist aus dem vorgegebenen geometri­ schen Aufbau der Optik bekannt. Die Mittelpunkte K1, K2 der Objektive 8, 7 sind im Abstand b voneinander angeordnet. Für alle Punkte im Tiefenschärfenbereich der beiden Objektive 7, 8 definieren die einzelnen Pixel (picture element) des Sen­ sors (CCD-Sensor) 5 zusammen mit ihren Abständen d1 (die bei der in der einzigen Figur dargestellten Anordnung für alle Pixel gleich groß sind, da das Referenzgitter 9 und der CCD- Sensor 5 parallel zur Hauptebene 10′ des Objektivs 8 ver­ laufen) einen Satz von (räumlichen) Winkeln zur optischen Achse 13 des Objektivs 8, unter denen die Oberflächenelemente des Objekts 1 auf dem Sensor 5 abgebildet werden. Damit ist dann auch der Winkel, unter dem ein Flächenelement der Ober­ fläche des Objekts 1 von dem Mittelpunkt K1 des Objektivs 8 aus erscheint, gegeben bzw. bekannt.
Zur vollständigen Bestimmung des Dreiecks K1, K2, 0 muß folg­ lich noch der zugehörige Punkt auf dem Projektionsgitter 2 und der zugehörige Winkel für diesen Punkt (Gitterpunkt) auf dem Projektionsgitter 2 bestimmt werden. Damit ist dann die Bestimmung der Absolut-Koordinaten des Punktes 0 auf der Oberfläche des Objekts 1 möglich.
Jedes Oberflächenelement des Objekts 1 wird durch das Pro­ jektionsobjektiv 7 von einem Punkt des Projektionsgitters 2 beleuchtet. Wenn man diesen zu dem Oberflächenpunkt 0 gehö­ renden Ort auf dem Projektionsgitter 2 kennt, ergibt sich mit dem Abstand d2 des Projektionsgitters 2 von der Hauptebene 10 des Projektionsobjektivs 7 der Winkel des Strahls 3 zur opti­ schen Achse 12 des Projektionsobjektivs 7. Damit ist die Triangulationsrechnung zur Bestimmung des Dreiecks K1, K2, 0 durchführbar.
Zur Bestimmung dieses Ortes auf dem Projektionsgitter 2 wird dieses Projektionsgitter 2 um die Achse 12 gedreht, die mit der optischen Achse des Projektionsobjektivs 7 übereinstimmt. Die Drehung des Projektionsgitters 2 kann durch mechanisches Drehen des Projektionsgitters 2 oder über einstellbare Masken, z. B. rechnergesteuerte LCD-Masken (Flüssigkristall- Displays), deren Gitterkonstante, Intensitätsverlauf und Gitterorientierung beliebig eingestellt werden kann, erfol­ gen.
Gibt man den Ort in der Projektionsgitterebene (Ebene des Projektionsgitters 2) in Polarkoordinaten r, phio an, dann erhält man die Leuchtdichteverteilung (Intensitätsverteilung) I eines linearen, vorzugsweise sinusförmigen Projektions­ gitters 2 der Periode g nach der oben erwähnten Formel:
Die Bedeutung der einzelnen Formelbuchstaben wurde oben be­ reits erläutert; hierauf wird verwiesen.
Diese Leuchtdichte I wird auf das Objekt 1 und von dort auf den Sensor 5 abgebildet. Ändert man phi (Winkel des Pro­ jektionsgitters 2 zu dessen Drehachse 12), so ändert sich auch die Intensität I am zugehörigen Pixel des Sensors 5. Diese Intensitätsänderung erlaubt durch Einlesen mehrerer (mindestens zwei) Bilder, die sich durch die Winkellage phi des Projektionsgitters 2 unterscheiden, r und sin (phi - phio) und damit phio zu bestimmen. Hieraus wiederum kann die Triangulation durchgeführt werden, also die vollständige Bestimmung des Dreiecks K1, K2, 0.
Bei der Messung können mehrere Winkel phii eingestellt wer­ den. Es müssen mindestens zwei Winkel eingestellt werden, um die Triangulation durchführen zu können. Es ist aber auch möglich, mehr als zwei Winkel einzustellen, um die Genauig­ keit zu erhöhen. Für jeden Winkel phi wird eine Auswertung durchgeführt, beispielsweise nach der Phasenshift-Methode oder nach einer Fourier-Transformation oder mit phasenver­ schobenen Bildern, die gleichzeitig eingelesen werden (nach der DE-PS 38 43 396). Im Endergebnis werden für jeden Objekt­ ort 0, der von der Kamera erfaßt wird, für jedes Pixel unab­ hängig die Absolut-Koordinaten der Objektpunkte 0 ermittelt.
Eine Drehung des Projektionsgitters 2 ist nicht erforderlich, wenn mindestens zwei verschiedenfarbige Projektionsgitter auf das Objekt 1 aufprojiziert werden, diese Gitter einen Winkel zueinander aufweisen und die aufprojizierten Gitter auf einen farbempfindlichen Sensor, beispielsweise eine Farbvideo­ kamera, abgebildet werden. Die Farben der Gitter können dabei den Empfindlichkeiten des Farbsensors (rot, grün, blau) ent­ sprechen.

Claims (21)

1. Verfahren zur Bestimmung der Absolut-Koordinaten eines Objekts (1), bei dem das Objekt (1) durch ein Projektions­ gitter (2) mit Licht (3) bestrahlt wird,
bei dem das von dem Objekt (1) reflektierte Licht (4) von einem Sensor (5) aufgenommen wird
und bei dem die Aufnahme des Sensors (5) ausgewertet wird, dadurch gekennzeichnet,
daß bei einer ersten Stellung des Projektionsgitters (2) und des Sensors (5) eine erste Aufnahme und Auswertung vorge­ nommen werden,
daß anschließend das Projektionsgitter (2) und/oder der Sensor (5) um einen bestimmten Winkel gedreht werden und eine zweite Aufnahme und Auswertung des Sensors (5) vor­ genommen werden,
und daß aus den Auswertungen die Absolut-Koordinaten des Objekts (1) bestimmt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Projektionsgitter um einen bestimmten Winkel gedreht wird.
3. Verfahren zur Bestimmung der Absolut-Koordinaten eines Objekts (1),
bei dem das Objekt (1) durch ein Projektionsgitter (2) mit Licht (3) bestrahlt wird,
bei dem das von dem Objekt (1) reflektierte Licht (4) von einem Sensor (5) aufgenommen wird,
und bei dem die Aufnahme des Sensors (5) ausgewertet wird, dadurch gekennzeichnet,
daß das Objekt (1) durch ein erstes Projektionsgitter (2) mit Licht (3) einer ersten Farbe und durch ein zweites Projektionsgitter, das zum ersten Projektionsgitter um einen bestimmten Winkel gedreht ist, mit Licht einer zweiten Farbe bestrahlt wird,
daß das von dem Objekt (1) reflektierte Licht von zwei Sensoren oder von einem für die beiden Farben empfind­ lichen Sensor (5) aufgenommen wird,
daß die Aufnahmen des oder der Sensoren (5) ausgewertet werden,
und daß aus den Auswertungen die Absolut-Koordinaten des Objekts (1) bestimmt werden.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertungen nach der Formel erfolgen, worin bedeuten:
I = Intensität auf einem Punkt des Sensors (5),
r = Radius = Abstand des Punktes auf dem Projek­ tionsgitter (2) von einem Bezugspunkt des Projektionsgitters (2), vorzugsweise des Dreh­ punkts des Projektionsgitters (2)
phi = Drehwinkel des Projektionsgitters (2) zwischen der ersten und der zweiten Auswertung,
phio = Winkel des Punktes auf dem Projektionsgitter (2) zu einer Bezugsgeraden;
a = Untergrundhelligkeit,
b = Kontrast,
g = Gitterkonstante des Projektionsgitters (2)
α) = Phasenkonstante.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertungen nach einer Phasenshiftmethode erfolgen.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertungen nach einer Fourier-Transformation erfolgen.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertungen mit phasen­ verschobenen Bildern erfolgen die gleichzeitig einge­ lesen werden.
8. Vorrichtung zur Bestimmung der Absolut-Koordinaten eines Objekts (1), bestehend aus
einer Lichtquelle (8),
einer Projektionsoptik, insbesondere einem Projektions­ objektiv (7),
einem Projektionsgitter (2), das durch die Projektions­ optik (7) auf das Objekt (1) abgebildet wird,
einem Sensor (5) zum Aufnehmen des von dem Objekt (1) reflektierten Lichts (4),
und einem Objektiv (8), das das von dem Objekt (1) reflektierte Licht (4) auf den Sensor (5) abbildet, dadurch gekennzeichnet,
daß das Projektionsgitter (2) und/oder der Sensor (5) drehbar ist,
und daß eine Auswerteeinheit vorhanden ist, die die Auf­ nahmen des Sensors (5) bei mindestens zwei verschiedenen Winkellagen des Projektionsgitters (2) bzw. des Sensors (5) auswertet und daraus die Absolutkoordinaten des Ob­ jekts (1) bestimmt.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Projektionsgitter (2) drehbar ist.
10. Vorrichtung zur Bestimmung der Absolut-Koordinaten eines Objekts (1), bestehend aus
einer Lichtquelle (6),
einer Projektionsoptik insbesondere einem Projektions­ objektiv (7),
einem Projektionsgitter (2), das durch die Projektions­ optik (7) auf das Objekt (1) abgebildet wird,
einem Sensor (5) zum Aufnehmen des von dem Objekt (1) reflektierten Lichts (4),
und einem Objektiv (8), das das von dem Objekt (1) reflek­ tierte Licht (4) auf den Sensor (5) abbildet, gekennzeichnet durch
ein erstes Projektionsgitter (2) für Licht (3) einer ersten Farbe,
ein zweites Projektionsgitter, das zum ersten Projek­ tionsgitter um einem bestimmten Winkel gedreht ist, für Licht einer zweiten Farbe,
zwei Sensoren oder einem für die beiden Farben empfind­ lichen Sensor (5),
und eine Auswerteeinheit, die die Aufnahmen des oder der Sensoren (5) auswertet und daraus die Absolut-Koordinaten des Objekts (1) bestimmt.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertungen nach der Formel erfolgen.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertungen nach einer Phasen­ shiftmethode erfolgen.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertungen nach einer Fourier- Transformation erfolgen.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertungen mit phasenverscho­ benen Bildern erfolgen, die gleichzeitig eingelesen werden.
15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 14, gekenn­ zeichnet durch ein Referenzgitter (9), durch das das von dem Objekt (1) reflektierte Licht (4) auf den Sensor (5) abgebildet wird.
16. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß das Referenzgitter (9) von dem Sensor (5), vorzugsweise einem CCD-Sensor, gebildet wird.
17. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Hauptebenen (10, 10′) der Objek­ tive (7, 8) in derselben Ebene liegen.
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Brennweiten der Objektive (7, 8) gleich groß sind.
19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß das Projektionsgitter (2) eine sinus­ förmige oder rampenförmige Transparenz aufweist.
20. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Gitterkonstante und/oder die Transparenz des Projektionsgitters (2) einstellbar und/oder drehbar ist.
21. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß das Projektionsgitter (2) von einem LCD-Display gebildet wird.
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