DE3020729C2 - Verfahren zum Erfassen der Positionen von Proben auf einem Träger - Google Patents

Description

a)

b)

Es wird die Faser ausgewählt, für die der Unterschied zwischen dem photoelektrischen Signal für einen Bereich des Trägers (1) ohne Probe (2) und dem photoelektrischen Signal für einen Bereich des Trägers (1) mit Probe (2) am größten ist:

für die ausgewählte Faser wird ein Standardlevel festgelegt, der zwischen dem Signal für einen Bereich mit Probe (2) und dem Signal für einen Bereich ohne Probe (2) liegt:
bei bewegtem Träger (1) wird das von der ausgewählten Faser kommende Signal beobachtet und der Zeitpunkt erfaßt, zu dem dieses den Standardlevel über- oder unterschreitet;
der erfaßte Zeitpunkt als kennzeichnender Wert einer Kante der Probe (2) wird zur Steuerung der Bewegung des Trägers (1) in die Meßposition des Probenflecks (2) verwendet.

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erfassen der Positionen von Proben nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs.

Ein solches Verfahren findet insbesondere Anwendung zur quantitativen Analyse fraktionierter Muster von Seren bei der Elektrophorese. Dabei werden Proben, im allgemeinen von Seren, auf einen Träger oder auf ein Trägerband aufgebracht, das aus Zelluloseacetat oder ähnlichem Material besteht. Durch elektrisches Beaufschlagen des Trägers werden fraktionierte Muster dieser Proben gebildet. Sodann wird der Träger gefärbt, entfärbt und transparent gemacht, worauf die fraktionierten Muster der quantitativen Analyse mittels eines Kolorimeter unterworfen werden. Dabei wird der Träger zwischen einer Lichtquelle und einem Photodetektor hindurch bewegt und wird jedesmal dann angehalten, wenn eine Probe auf dem Träger gerade zwischen Lichtquelle und Photodetektor liegt. Die Lichtquelle und der Photodetektor werden zusammen in Richtung senkrecht zur Bewegungsrichtung des Trägers verschoben, um die Probe abzutasten und damit die Photometric auszuführen. Ein derartiges photometrisches Gerät erfordert einen Probendetektor, der ganz genau die Position einer Probe auf dem Träger dann erfaßt, wenn sich diese Probe gerade zwischen der Lichtquelle und dem Photodetektor befindet.

Es ist ein elektrophoretisches Gerät bekannt, das die vorstehend beschriebenen Auswerteschritte automatisch ausführt, beginnend bei dem Auftragen von Proben auf den Träger bis zur quantitativen Analyse. Bei diesem Gerät werden die Proben in konstanten Abständen auf den Träger aufgebracht. Die Abstände zwischen den Proben sind jedoch bei dem späteren Verfahrensschritt der Analyse nicht mehr gleich, und zwar aufgrund der Bedingungen in den Zwischenstufen, beispielsweise Unterschiede der elektrophoretischen Bedingungen, sowie Kontraktiop des Trägers während des Trocknens. Obgleich Schwankungen der Probenabstände in der Größenordnung von zwei Millimetern liegen, ist es

i, notwendig, diese Schwankungen zum genauen Durch-

" führen der Analyse im Mittelpunkt der fraktionierten Muster zu kompensieren. Die auf Positionsabweichungen zurückgehenden Einflüsse sind insbesondere bei jenen Proben stark, die auf Bereiche des Trägers aufgebracht werden, welche zeitlich später in Auswertestellung gelangen.

Um die beschriebenen Anforderungen zu erfüllen, wurde vor '.urzem eine Vorrichtung zum Erfassen der Positionen von Proben auf einem Träger vorgeschlagen, die in der nicht vorveröffentlichten DE-OS 3019 486 beschrieben und dargestellt ist. Diese Vorrichtung und ihre Wirkungsweise wird später anhand der F i g. 1 bis 9 näher beschrieben.

Es hat sich gezeigt, daß die Breite der Probenflcckc auf dem Träger stark von der Probenkonzentraiion abhängt. Dies kann unter Umständen dazu führen, daß sich aufeinanderfolgende Probenflecke von Proben hoher Konzentration sogar überlappen. Mil der in der DE-OS 30 19 486 beschriebenen Vorrichtung ist es bei solchen Proben hoher Konzentration nicht möglich, die Positionen der Probenflecke immer mit der zur exakten Auswertung notwendigen Genauigkeit zu erfassen.

^ Es ist deshalb die Aufgabe de^r vorliegenden

Erfindung, ein Verfahren zum Erfassen der Positionen von Proben aus einem Träger zu schaffen, das es ermöglicht, die Probenpositionen mit hoher Genauigkeit zu erfassen, und zwar unabhängig von der Proben konzentration und davon abhängenden Breite der einzelnen Probenflecke.

Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gelöst, dessen einzelne Schritte im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs angeführt sind
Die Erfindung wird im folgenden anhand der F i g. 1 bis 11 der beigefügten Zeichnungen näher erläutert, fm einzelnen zeigt

Fig. 1 ein Ausführungsbeispiel eines Probendetektors, wie er im Zusammenhang mit der Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung verwendet wird;

Fig.2 eine Zeittafel, die den zeitlichen Ablauf des Aufleuchtens der lichtemittierenden Dioden bei dem Probendetektor der F i g. 1 veranschaulicht;

Fig.3 eine Zeittafel, die den zeitlichen Ablauf der Ausgangssignale des Probendetektors der F i g. 1 bei Ansteuerung der lichtemittierenden Dioden gemäß F i g. 2 veranschaulicht;

F i g. 4den zeitlichen Verlauf des aus den Einzclsignalen der F i g. 3 resultierenden Ausgangssignals:

Y ι g. 5A diis Ausgangssignal des Probendeiekiofs der Fig. 1. welches einem Bereich des Trügers entspricht, der frei von Proben ist:

Fi g. 5B das Ausgangssignal des Probendetektors der Fig. 1, welches einem mit einer Probe bedeckten Bereich des Trägers entspricht;

F i g. b das Blockschaltbild eines Ausf'ihrungsbeispiels eines Datenverarbeitungssystems, dem das Ausgangssignal des Probendetektors der F i g. 1 zugeführt wird:

Fig.7 eine Zeittafel, die Ausgangssignale an verschiedenen Stationen des Datenverarbeitungssystems der F i g. 6 veranschaulicht;

F i g. 8 ein Diagramm, das das analoge Ausgangssignal zweier benachbarter Probenflecke von Proben hoher Kon/.en'ration zeigt;

Fig.9 ein Diagramm, das verschiedenen Ausgangssignale zeigt, die Probenflecken unterschiedlicher Konzentration zugeordnet sind;

F i g. 1OA und 1OB Üisgramme. die das Verfahren zum ,.Auswählen der Faser höchster Empfindlichkeit und das \Verfahren zum Voreinstellen des zugeordneten Stan-%?*dardlevels verdeutlichen;

'f-1 F i g. 11 ein Diagramm, das das Verfahren zum ' erfassen der Endkante eines Probenflecks veranschaulicht.

Im folgenden wird das Verfahren zum Erfassen von

, Proben unter Bezugnahme auf eine Ausführungsform naher beschrieben. Ein Träger (eine Trägerbahn oder

V ein Trägerband) wird in einem Probendctcktor bewegt.

'f dessen Aufbau in F i g. 1 gezeigt ist.

In dieser Figur ist der Träger mit 1 bezeichnet. Auf ihn ,sind in gleichen Abständen 1 Probenflecke 2, 2', 2" aufgetragen. Der Träger 1 wird in Richtung des Pfeils von links nach rechts bewegt. Unterhalb des Trägers ist eine erste optische Fasergruppe 10 angeordnet, die aus , optischen Fasern 11 bis 18 mit den Enden 11a bis 18a besteht. Die Fasern sind derart angeordnet, daß das aus ,ihren Enden 11a bis 18a austretende Licht senkrecht zur Fläche des Trägers 1 einfällt; ferner sind sie in einer Reihe quer zur Laufrichtung des Trägers 1 angeordnet ,(^-Richtung). An den anderen Enden Wb bis Mb der optischen Fasern sind lichtemittierende Dioden 31 bis 38 so angeordnet, daß jeweils jeder Faser eine Diode zugeordnet ist. Eine zweite optische Fasergruppe 20 ist oberhalb des Trägers 1 angeordnet und umfaßt optische Fasern 21 bis 28 der gleichen Anzahl wie jene der ersten optischen Fasergruppe 10. Die einzelnen Fasern der zweiten optischen Fasergruppe 20 haben Enden 21a bis 28a. die in einer Reihe angeordnet sind, und zwar gegenüberliegend den Enden 1 la bis 18a der Fasern der ersten optischen Fasergruppe 10, so daß sie das von jenen austretende Licht auffangen. Die anderen Enden 2\b bis 286 der einzelnen Fasern der zweiten optischen Fasergruppe 20 sind zu einem Bündel zusammengefaßt μnd einem Photodetektorelement 40 zugeordnet Dieses ist elektrisch mit einem Vorverstärker 41 verbunden.

Ein Strahlerzeugungssystem 3 umfaßt eine Lampe 4, ein Linsensystem 5, einen Filter 6 und eine geschlitzte Platte 7. Auf der gegenüberliegenden Seite des Trägers 1 ist ein Photodetektor 8 angeordnet. Das System 3 und der Detektor 8 stellen ein protometrisches System dar, wobei die Proben 2, die auf dem Träger 1 senkrecht zu seiner Verschieberichtung aufgebracht sind, in Richtung χ abgetastet werden.

Die Enden 11a bis 18a und 21a bis 28a bis 28a, die in einander gegenüberliegenden Reihen der beiden optischen Fasergruppen 10, 20 gebildet sind, sind im Abstand 1 vom protometrischen System 3, 8 angeo.-d-

net. Wird eine Probe 2 auf dem Träger 1 in der Position des photometrischen Sysicnes 3,8 plaziert, so befindet sich die nächste Probe 2' demgemäß /wischen den Enden Uabis 18aund 21abis28uder optischen Fasern. Fortsetzung Zielke

Bei der Bewegung des Trägers I in de r durch den Pfeil veranschaulichten Richtung leuchten «lie lichtemittierenden Dioden 31 bis 38 aufeinanderfolgend mit hoher Geschwindigkeit und periodisch gernäli dem in Fig.2 veranschaulichten Zeitablauf auf. Das von den lichtemittierenden Dioden ausgesandte Licht tritt durch die optischen Fasern 11 bis 18 hindurch, tritt aus den Enden Ua bis 18a aus. durchdringt den Träger 1 und tritt dann in die entsprechenden optischen Fasern 21 bis 28 der zweiten optischen Fasergruppe 20 ein. Das aus deren Enden 2\b bis 2Sb austretende Licht gelangt direkt zum Photodetektorelement 40. Die Intensity des aufgefan genen Lichtes entspricht der Konzentration der Probe auf dem Trager; das Photodetektorelement 40 erzeugt deshalb Ausgangssignale entsprechend dem Zeitablauf der Γ i g. 3. Diese Signale werden vom Vorverstärker 41 zusammengefaßt, der ein Ausgangssignal gemäß F i g. 4 erzeugt. Der Vorverstärker 41 erzeugt ein hohes Ausgangssignal dann, wenn Licht durcri einen transparenten Bereich des Trägers hindurchtritt. der also frei von Proben ist. Das Ausgangssignal ist demgemäß dann gering, wenn die Probenkonzentratiora jener Probe, durch welche Licht hindurchtriu, hoch is ι.

Das Ausgangssignal des Vorverstärkers 41, das dem transparenten, von Proben freien Bereich des Trägers 1 entspricht, ist in F i g. 5A veranschaulichrl; ein Ausgangssignal bei Vorliegen einer Probe ist in Fig. 5B gezeigt. Nun läßt sich ein Probenerfassungslevel gemäß der gestrichelten Linie a in Fig. 5A und Fig. 5B jeweils einstellen. Konkret gesprochen ist es möglich, einen Level a einzustellen, der niedriger als alas Ausgangssignal dann ist. wenn eine Probe nicht erfaßt wird, und der höher ist als wenigstens eines der Teilsi^nale. wenn eine Probe erfaßt wird. Level a ist deshalb normalerweise ein Kriterium für die Anwesenheit einer ffrobe. Die Zeit, während der die Ausgangssignale von den durch alle optischen Fasern hindurchgetreteiieiii Lichtstrahlen höher als Level a sind, bis zum Zeitpunkt, bei welchem ein Ausgangssignal von allen Lichtsirahlen, weiche durch irgendeine der optischen Fasern hindurchgetreten ist, geringer ist als Level a, entspricht gerade der Zeit, während der sich eine Probe zwischen den Enden der in Reihe angeordneten optischem Fasern befindet. Darauf folgt ein Zustand, bei dem alle Signale, die von durch alle optischen Fasern hindurchgetretene Lichtstrahlen erzeugt werden, höher als Level a sind; dies entspricht dem Augenblick, in welchen! die Probe den Bereich der Enden der optischen Fasern verläßt. Deshalb ist es möglich, sowohl die Voider als auch die rückwärtigen Kanten der Probe auf diese Weise zu bestimmen. Wird die Probe wie oben beschrieben, erfaßt, so ist es möglich, den Träger ί anzuhalten, um die Probe genau in der Position des jphotometrischen Systems während einer definierten MeEzeit zu lokalisieren.

in den F i g. 5 und 5B sind die Ausgangssignale unter der Annahme dargestellt, daß sie dann konstant sind, v/enn ein transparenter, von Proben freier Bereich des Trägers 1 zwischen den Enden der !beiden optischen Fasergruppen 10,20 liegt. In der Praxis schwanken diese Signale jedoch mehr oder weniger, urxä zwar aufgrund der Tatsache, daß die Intensität der von den einzelnen

lichtemittierenden Dioden austretenden Lichtstrahlen unterschiedlich ist, und daß die Durchlässigkeit der einzelnen optischen Fasern mehr oder weniger verschieden ist. Deshalb läßt sich eine genauere Beurteilung dann gewinnen, wenn die Ausgangssignale, die den einzelnen lichtemittierenden Dioden entsprechen, durch deren Aufleuchtenlassen vor dem Erfassen der Proben gemessen werden. Die so ermittelten genauen Ausgangslevel der einzelnen optischen Fasern werden auf der Basis der gemessenen Werte gespeichert, und diese Level werden als Standardlevel für die Beurteilung verwendet (entsprechend dem Level a gemäß der F i g. 5A und 5B). Derartige Messungen der Ausgangslevel für die einzelnen optischen Fasern erlauben eine Probenerfassung mit höherer Genauigkeit, da sie nicht nur Schv, ankungen der Intensitäten des von den einzelnen lichtemittierenden Dioden ausgesandten Lichtes sowie des Übertragungsgrades (Transmittanz) der einzelnen optischen Fasern korrigieren, sondern auch Schwankungen des gesamten Detektorsystems eingeschlossen, die Drift der elektrischen Auswerteeinheit.

Das Verarbeiten der mittels des oben beschriebenen Probendetektors gewonnenen Daten geschieht mit einem Computerprogramm.

F i g. 6 zeigt ein Blockschaltbild eines Datenverarbeitungssystemes für einen solchen Zweck, wobei Bildsignale, die der photoelektrischen Umwandlung durch Phctodetektorelement 40 unterworfen werden, durch Vorverstärker 41 verstärkt werden. Der Ausgang dieses Vorverstärkers 41 wird 'iurch einen A/D-Wandler 42 in Digitalsignale umgewandelt, die in einen Computer 43 eingespeist und gespeichert werden. Ein Oszillator 44 wird mit einem Bilderfassungskommando aus Computer 43 beschrieben; seine Ausgänge werden vom Konverter 45 in Signale zum aufeinanderfolgenden Aufleuchtenlassen der einzelnen lichtemiitierenden Dioden 31—38 umgewandelt und einem Treibkreis 46 eingespeist, der das aufeinanderfolgende Aufleuchten der einzelnen lichtemittierenden Dioden 31, 32 ... zu definierten Zeitpunkten bewirkt. Andererseits werden die Ausgänge aus dem Oszillator auch in einen Multivibrator 47 eingespeist, der seinerseits einen Ausgang als A/D-Umwandlungskommando dem A/D-Konverter 42 zur Verfügung stellt. A/D-Konverter 42 erzeugt ein A/D-Umw.indlungs-Endsignal. das Computer 43 eingespeist wird, um die hierin enthaltenen Daten zu jenem Zeitpunkt festzuhalten. Da die lichtemittierenden Dioden aufeinanderfolgend aufleuchten, ist es möglich, die einzelne lichtemittierende Diode den Daten im Verhältnis I : 1 entsprechen zu lassen, um jeden Datenposten entsprechend jeder der lichtemittierenden Dioden zu identifizieren.

Fig.7 erläutert die Signale an den entsprechenden Stationen des Datenverarbeitungssystems gemäß Fig.6. Man erkennt dort ein Signal (A), das vom Oszillator 44 erzeugt wird, ferner die Signale (B) aus dem Multivibrator 47, der an den fallenden Enden des Signals (A) betätigt wird. Ferner erkennt man Signale (Ci), (Ci) bis (Ci), welche Antriebssignale für die lichtemittierenden Dioden darstellen und die von dem Konverter 45 unter Verwendung der Signale (A) erzeugt wurden, um die lichtemittierenden Dioden aufleuchten zu lassen. Nach dem Aufleuchten der lichtemittierenden Dioden werden die Lichtstrahlen von dem Photodetektorelement 40 aufgenommen, um Bildsignale zu erzeugen, welche dann wieder von dem Vorverstärker 41 verstärkt werden und das Ausgangssignal (D) erzeugen. Die Ausgangssignale werden während der Aufleuchtzeitdauer der lichtetnittierenden Dioden dem Computer 43 eingespeist; die Eingabe erfolgt zu den Zeitpunkten, die auf der Basis des Umwandlungs-Endsignales ^ermittelt wurden,welche ihrerseits von dem A/D-Konverter 42 erzeugt wurde.

Proben 2 hoher Konzentration erzeugen ein breites fraktioniertes Muster. Dieses ist derart erweitert in Verschieberichtung des Trägers 1, daß es sich mit jenem der benachbarten Probe auf dem Träger 1 überlappt. Zur Erläuterung dienen die Fig.8 und 9, welche Analog-Kurven der Durchlässigkeit des Probenträgers 1 im Bereich von Proben 2, gemessen in der Verschieberichtung des Trägers 1, zeigen. Die Proben 2'a, 2" a und 2'"a in F i g. 9 weisen höhere Konzentrationen als Probe 2a auf und haben nach und nach sich erweiternde Breiten. Demgemäß sind die Probenpositionen 2b, 2'b, 2"b und 2"'b, die dem Standardlevel a zum Bestimmen der Prefoenposition entsprechen, voneinander verschieden. Anders ausgedrückt sind die erfaßten Probenpositionen unterschiedlich, und zwar je nach den Probenkonzentrationen, was zu einem unerwünschten Effekt führt. Im Falle einer Probe sehr hoher Konzentration, wie der Probe 2"'a, wird die.

Probe breit genug, um mit der benachbarten Probe 2""a zu überlappen — siehe F i g. 8. Dabei wird eine Konzentration der überlappten Zone 2c hervorgerufen, die höher als der Standardlevel (auf der Seite des dunklen Levels) ist, wodurch es unmöglich wird, die Position der Probe zu ermitteln. Im Falle einer Probe geringer Konzentration, so wie in Fig.9 bei 2a veranschaulicht, befindet sich demgegenüber der Bereich höchster Konzentration dicht beim unteren Standardlevel, wodurch die Probcnerfassung instabil wird.

Eine stabile Probenerfassung wird durch das nachfolgend beschriebene Verfahren erzielt.

Die Auswertung des Trägers 1 und der. darauf aufgebrachten Proben 2 beginnt damit, daß der Träger 1 in Pfeilrichtung so lange nach rechts bewegt wird, bis die erste Probe 2 die Position des photometrischen Systems 3, 8 erreicht. Dazu wird der Träger 1 eine bestimmte, vorbekannte Strecke aus seiner Startposition heraus bewegt, die dem Abstand zwischen Träger-Vorderkante und Probe 2 entspricht, und wird dann gestoppt. Da dieser Abstand mit hinreichender Genauigkeit bekannt ist, hat der mittlere Bereich der ersten Probe 2 fast die Position des photometrischen Systems 3, 8 erreicht, wenn der Träger 1 angehalten wird. In dieser Position befindet sich das Zentrum y\ der zweiten Probe 2' in einem Abstand des Probenintervalls 1 vom pnoiometrischen System 3, 8 zwischen den Enden 11a. 12a ... und 21a, 22a ... der jeweiligen optischen Fasergruppe 10 bzw. 20. Bevor die erste Probe 2 die Position des photometrischen Systems 3, 8 erreicht, läßt man die lichtemittierenden Dioden 31, 32 aufeinanderfolgend, wie bereits beschrieben, aufleuchten, so daß sie Licht, welches durch einen probenfreien Bereich des Trägers 1 hindurchgetreten ist, auffangen, wobei die Ausgangssi-

gna'e, die den Lichtstärken entsprechen, gespeichert werden.

Es sollen im folgenden die Ausgangsspannungen V„\, Kö, ... K;B angenommen werden. Diese Spannungen sind verschieden voneinander, abhängig von dem Unterschied der Transmittanz der einzelnen optischen Fasern usw., wie dies in Fig. 10A veranschaulicht ist.

Als nächster Schritt wird eine bestimmte, zum Erfassen von Proben zu benutzende lichtemittierende

Diode ausgewählt. Dazu läßt man, sobald sich die erste Probe 2 in der'Position des photometrischen Systems 3, 8'iind die zweite Probe 2' über den optischen Fasern 10, 20 befindet/die lichtemittierenden Dioden aufeinanderfolgend aufleuchten. Im betrachteten Beispiel sind das die erhaltenen Ausgangsspannungen zu dies.erZeit Vb ι, Vb2 ■ > ■' 14«. wie in F i g. 10B dargestellt. Die Spannungen

V₁₁ gemäß F i g. 1OA und die höheren Spannungen

H,i,...gemäß Fig. 1OB entsprechen einem probenfreien Bereich des Trägers, und die niedrigeren Ausgangsspannungen V_b,,... gemäß Fig. 1OB entsprechen einer Probe, die auf dem Träger 1 aufgebracht ist. Die Abschwächungsverhältnisse der Ausgangsspannungen und damit der Lichtintensitäten (V„„- Vb_n)IV_11n (n=1, 2, ... 8) werden jetzt berechnet, um diejenige lichtemittierende Diode auszuwählen, die das höchste Verhältnis aufweist. Diese wird dann im folgenden zur Probenerfassung verwendet. Bei dem in Fig. 1OB veranschaulichten Beispiel hat die Ausgangsspannung, die der fünften Diode entspricht, das höchste Reduktionsverhältnis; diese lichtemittierende Diode wird deshalb als jene ausgewählt, die für die Probenerfassung verwendet wird.

• Sodann wird ein Probenerfassungslevel ausgewählt. Da im Beispiel die lichtemittierende Diode 5 für die Probenerfassung ausgewählt ist, so bestimmt sich der Erfassungslevel V_r wie folgt:

Vr= Vö5 + (K,5- V₆₅)XA

Hierin bedeutet A einen Wert, der wahlweise auswählbar ist innerhalb eines Bereiches von 0 < A < 1, beispielsweise kann A = 0,5 gewählt werden.

Dies bedeutet, daß 4 dem somit in Fig. 10B bestimmten Detektionslevel entspricht.

Nachdem die lichtemittierende Diode 5 ausgewählt und ein Standardlevel irr oben beschriebener Weise voreingestellt wurde, wird die Position der Probe ermittelt.

Zunächst stehen die Reihen der beiden optischen Faseigruppen 10, 20 wie in Fig. 1 veranschaulicht, in Position y_u Wird der Träger 1 aus dieser Position in die durch Pfeil veranschaulichte Richtung nach rechts bewegt und leuchten die lichtemittierenden Dioden 31—38 aufeinanderfolgend auf, so ändert sich die Ausgangsspannung der für die Probenerfassung ausgewählten Diode 5 aufeinanderfolgend gemäß der Darstellung von Fig. 11. Während der Träger 1 in dieser Weise bewegt wird, verläßt die Probe 2' ab dem in F i g. 11 mit y₂ bezeichneten Wert den Bereich der Fasergruppen 10, 20. Dieser Wert entspricht der in Fig. 1 ebenfalls mit yj bezeichneten Endkante der Probe 2'. Die Beobachtung der Ausgangsspannung der ausgewählten Diode 5 ermöglicht also das exakte Erfassen der Endkante einer Probe 2'. Hält man den Träger 1 dann an, wenn dieser in Pfeilrichtung um eine Strecke bewegt ist, die gleich dem Abstand 1 ist, von welchem die Entfernung zwischen dem Zentrum y\ der Probe zur Position y% subtrahiert wird, so befindet sich das Zentrum der Probe an der Position des photometrischen Systems 3,8.

Jetzt läßt sich das Photometrieren der Probe durch deren Abtasten in x-Richtung durchführen, in dieser Haltepositicn befindet sich die nächste Probe zwischen den Enden der optischen Fasergruppen 10, 20. Die Endkante der nächsten Probe 2" läßt sich dadurch ermitteln, daß die Messungen zum Erfassen ihrerPosition durchgeführt werden, um die Werte Vn. V_h2,... Vb,,

mittels des oben beschriebenen Probenerfassungsverfahrens zu bestimmen. Die Positionen aller Proben lassen sich durch Wiederholen dieses Verfahrens ermitteln.
In der obigen Beschreibung sind zwar bei dem gegebenen Ausführungsbeispiel der F i g. 1 acht optische Fasern für jede optische Fasergruppe und acht lichtemittierende Dioden wiedergegeben, die den ausgewählten Probendetektor bilden; das Verfahren ist jedoch nicht auf diese Ausführungsform beschränkt, vielmehr sind jeweils so viel Einzelelemente vorzusehen, wie notwendig, um eine Probe in *-Richtung zu überstreichen.

Das Probenerfassungsverfahren erlaubt das aufeinanderfolgende Aufleuchtenlassen aller lichtemittierenden Dioden, und zwar auch nach dem Auswählen nur einer lichtemittierenden Diode zum Erfassen der Probenposition, oder das Aufleuchtenlassen der einzigen ausgewählten lichtemittierenden Diode in konstanten Zeitintervallen.

Aus dem Vorausgesagten ergibt sich, daß mit dem ■Probenerfassungsverfahren eine stabile Erfassung auch bei kleinen Konzentrationsdifferenzen der Proben möglich ist, da dieses Verfahren einen Probendetektor auswählt, der die größte Konzenifationsdifferenz zwischen dem hellen Level und dem dunklen Level aus einer Vielzahl von Probendetektoren hat, die in einer Richtung senkrecht zur Bewegungsrichtung des Trägers 1 angeordnet sind.

Hierzu 5 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

1. Patentanspruch:

   Verfahren zum Erfassen der Positionen von Proben, die auf einem Träger angebracht sind,
   mittels einer Vorrichtung, bei der auf einer Seite des Trägers eine erste Gruppe optischer Fasern, deren Eingangsenden jeweils ein lichtemittierendes Element zugeordnet ist und deren Ausgangsenden in einer Reihe senkrecht zur Verschieberichtung des Trägers angeordnet sind, und auf der anderen Seite des Trägers wine zweite Gruppe optischer Fasern, deren Eingangsenden einzeln den Ausgangsenden der ersten Fasergruppe und deren Ausgangsenden gemeinsam einem Photodetektor zugeordnet sind, angeordnet sind,

   bei dem die lichtemittierenden Elemente in rascher Reihenfolge nacheinander aufleuchten und zunächst das Ausgangssignal des Photodetektors für einen Bereich des Trägers erfaßt wird, der frei von Proben 'ist, ,und danach für einen Bereich, der eine Probe enthält, und der Träger im Schwerpunkt des Probensignals angehallen wird,
   gekennzeichnet durch die folgenden zusätzlichen Verfahrensschritte: