DE2511570A1 - Spektrofluorometer - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Spektrofluorometer, insbesondere ein energiekompensiertes Spektrofluorometer mit zwei in Zeitteilung liegenden Strahlen.

Die bekannten Spektrofluorometer weisen verschiedene Nachteile auf, insbesondere sind sie sehr schlecht zu kompensieren.

Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Spektrofluorometer anzuschaffen, das in den verschiedensten Arbeitsweisen einschließlich der eigentlichen SpektrofluorometerArbeitsweise, der Spektralabsorptions-Arbeitsweise, der Differentialspektralfluorometrie-Arbeitsweise und in anderen Arbeitsweisen eingesetzt werden kann und inidera eine Kompensation der Unterschiede in der Energie der Anregungsquelle bei verschiedenen Wellenlängen möglich ist und bei dem auch eine Kompensation der Unterschiede in der Wellenlängenempfindlichkeit der verwendeten photoempfindlichen Detektoren möglich

ist.

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Es wird auch angestrebt, daß das Spektrofluorometer einfach Im Aufbau, stabil im Betrieb sein soll. Vorzugsweise wird auch, angestrebt, den Absorptionseffekt der in dem Frobenhalter enthaltenen Flüssigkeit zu kompensieren.

Bei einen Spektrofluorometer mit in Zeitteilung liegendem Doppelstrahl sollen auch verschiedene Arbeitsweisen ermöglicht werden. Dabei soll dafür Sorge getragen werden, daß die Probe mit Licht variabler Wellenlänge abgetastet wird und daß gewährleistet ist, daßjjgleiche Anregungsenergie bei jeder Wellenlänge zur Verfügung steht. Auch soll der pAo to empfindliche Detektor hinsichtlich seiner Empfindlichkeit bei Wellenlängenunterschieden kompensiert werden.

Die Aufgabe wird durch die im Kennzeichen des beigefügten Hauptanspruches aufgeführten Merkmale gelöst. Vorzugsweise kann die Probe nacheinander mit allen Spektralkomponenten einer polychromatischen Lichtquelle angeregt werden, um die charakterisehe Wellenlänge oder die charakterisehen Wellenlängen zu bestimmen, bei denen die Probe hauptsächlich fluoresziert. Damit ist auch eine quantitative Analyse dieser Hauptfluoreszenzen für jede dieser Anregungswellenlängen möglich.

Das Spektrofluorometer weist hochwirksame Mittel für die Erzeugung eines Bezugskanals von demselben photoempfindlichen Detektor auf, der auch für die Beaufschlagung des Meßkanals verwendet wird« Weiterhin weist das Spektrofluorometer Mittel

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für die automatische Berechnung und das Anlegen von Korrekturen für verschiedene Anregungsenergien bei den verschiedenen Anregungsvellenlängen auf und ist mit Mitteln für das Anbringen eines weiteren Korrekturfaktors vorgesehen, um Variationen in der Emissionsverhaltensempfindlichkeit der Vorrichtung bei verschiedenen Emissionswellenlängen berücksichtigen zu können. Auch sollen vorzugsweise Mittel für das Anbringen von Korrekturen zur Kompensation von Änderungen in der Quantenintensität mit der Wellenlänge für das Anregungsstrahlspektrun und von Änderungen in der Quantenemission der Probe als Funktion der Emissionswellenlänge vorgesehen sein, so daß eine vollständige und genaue quantitative Bestimmung der fluoreszierenden Eigenschaften der Probe erhalten werden kann und daß das zu untersuchende Material genau identifiziert werden kann· Das erfindungsgemäße Spektrofluorometer benötigt nur eine kleine Probenmengo des zu analysierenden Materials, ist hochempfindlich, kann für die Identifizierung und die quantitative Analyse eines weiten Bereichs von fluoreszierenden Materialien eingesetzt werden und macht eine stetige Aktivierung einer Probe und die Messung der resultierenden Fluoreszenz über ein breites Strahlungsenergiespektrum möglich.

Unteransprüche beziehen sich auf vorteilhafte Ausgestaltungen des Spektrofluorometers. Die Erfindung soll nun anhand der Figuren genauer beschrieben werden. Es zeigt:

Fig. 1 ein schematisch.es Diagramm eines mit Zeitteilung arbeitenden energiekompensierten Doppelstrahl-Spektrofluorometers,

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Fig. 2 eine horizontale Aufsicht auf eine drehbare Chopperspiegelscheibe längs der Linien 2-2 in der Fig. 1,

Fig. 3 eine schematische Darstellung der Art und Weise, wie das Spektrofluorometer gemäß Fig. 1 abgewandelt werden kann, um als Spektrofotometer für Absorptions- und Durchlässigkeitsmessungen einsetzbar zu sein, und

Fig. h eine schematische Darstellung des Spektrofluorometers gemäß Fig. 1, zur Darstellung der Abwandlung desselben, um als Differentialspektrofluorometer einsetzbar zu sein,

In der Fig. 1 ist ein Spektrofluorometer 10 vom 2-Strahl-Typ dargestellt, welcher als photoempfindliches Element ein."π Photomultiplier 11 verwendet. Der Photomultiplier weist eine Kathode 12, eine Anode 13 und weitere Elemente auf, die in der Fig. 1 nicht dargestellt sind, da der Aufbau und die Wirkungsweise eines solchen Photomultipliers hinreichend bekannt sind. An den Photomultiplier 11 wird eine Hochspannung von einer einstellbaren Hochspannungsquelle 14 her angelegt, deren Ausgang 15 typischerweise mit der Kathode 12 verbunden ist. Die negative Spannung am Ausgang 15 kann in üblicher Weise in Abhängigkeit von einem am Eingang 16 anliegenden Steuersignal gesteuert werden. Der Verstärkungsgrad des Photomultipliers 13 ändert sich in Abhängigkeit von der der Kathode 12 zugeführten Hochspannung.

Zu dem Spektrofluorometer 10 gehört weiterhin eine transparente Probenzelle 17» die derartig angeordnet ist, daß auf sie ein

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Anregungsstrahl 18 von einem ersten einstellbaren Monochromator 19 her auffällt. Die Eingangsstrahlung für diesen Monochromator

λ ο stammt von einer geeigneten breitbandigen Strahlungsquelle; Der Monochromator 19 strahlt einen Strahl 21 der ausgewählten Anregungswellenlänge oder von verschiedenen Wellenlängen nacheinander ab, wenn eine sogenannte Anregungsabtastung oder eine sequenzielle Anregung mit mehreren Anregungswellenlängen gewünscht wird. Ein zeitlich gesteuerter Teil des Strahls wird als Anregungsstrahl 18 von einer sich drehenden Chopperspiegelscheibe 22 reflektiert und auf diese Weise auf die Probenzelle 17 gelenkt. Die Chopperspiegelscheibe 22 wird noch genauer zu beschreiben sein. Die Chopperspiegelscheibe 22 läßt .zeitlich gesteuert einen Teil 23 des AnregungsStrahls 21 auf einen stationären Planspiegel 2k fallen, der so angeordnet ist, daß er den auf ihn auffallenden Strahlteil 23 durch eine Kompensierzelle 25 hindurch auf einen thermischen Detektor 26 fallenläßt. Dieser Detektor erzeugt eine Signalspannung E_TD, deren Höhe von dem Energiepegel des auffallenden Strahls abhängig ist. Der thermische Detektor kann eine die Ausbildung einer Oberflächenladung erfassende Einrichtung sein, bei dem die Ladungsdifferenz über die Einrichtung sich in Abhängigkeit von der Temperatur ändert. Als möglicher Detektor soll hier das Modell Nr. KT-2030 der Laser Precision Corp., Yorkville, New York genannt werden. Dieser Detektor zeigt ein im wesentlichenVon der Wellenlänge unabhängiges Energieansprechverhalten, d.h. ein im wesentlichen flach verlaufendes Spektralansprechverhalten O

Bei einer typischen Spektrofluorometer-Anordnung wird ein

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— O —

Fluoreszenzemissionsstrahl 27 von der fluoreszierenden Probe in Zelle 17 her auf die sich, drehende Chopperspiegelscheibe 22 gelenkt und im gleichen Zeitintervall wird der Strahl 18 von dort auf einen stationären gekrümmten toroidähnliohen Spiegel 28 reflektiert» Der Spiegel 28 reflektiert die auffallende Strahlung auf einen zweiten einstellbaren Monochromator 29· Ein Emissionsstrahl 30 von ausgewählter Wellenlänge, der aus dem Monochromator 29 austritt, wird auf die Kathode 12 des Photomultipliers 11 gelenkt. Das Ausgangssignal des Photomultipliers hängt dann von der Stärke (E * ) des Emissionsstrahls JO mit der ausgewählten Wellenlänge und von den von der Wellenlänge abhängigen Chrakteristika des optischen Weges und des Photomultipliers ab (T λ und PM χ)·

Ein mit dem Strahl 23 synchroner Bezugskanal wird von einer Bezugslichtquelle 31 abgeleitet· Als solche kann z.B. das

> Modell Nr. MLED 55 der Motorola Semiconductor Products, Xnc, Phoenix, Arizona, eingesetzt werden, das eine im wesentlichen im Rot liegende Emission aufweist (ungefähr 660 nm). Diese Art von Bezugslichtquelle wird bevorzugt, da der Photomultiplier gegenüber Rot nicht hochempfindlich ist und daher dadurch Streulichtinterferenz vermieden wird (scatter light interference)· Die Ausgangsstrahlung der Bezugslichtquelle 31 wird über einen ersten Lichtleiterabschnitt 32 und durch die Chopperspiegelscheibe 22 hindurch auf ein gegenüberstehendes Ende 3k eines zweiten Lichtleiterabschnittes 33 gelenkt, welcher mit dem ersten Lichtleiterabschnitt 32 ausgefluchtet ist. Der zweite Lichtleiterabschnitt 33 führt zu dem Photomultiplier 11 und weist einen abgewinkelten Ausgangeabschnitt 35 '

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auf, der In der Nähe der Kathode 12 angeordnet und auf diese zu gerichtet 1st· Das Bezugslicht von der Bezugslichtquelle 31 führt daher zu einem Ausgangssignal des Photomultipliers 11, das mil: dem Aus gangs signal E _D des thermischen Detektors Z6 synchronisiert ist· Dieses Ausgangssignal ist bereite zuvor beschrieben worden·

Ganz allgemein mit 36 bezeichnete synchronisierte Schaltmittel werden verwendet, um den Ausgang des Photomultipliers 11 abwechselnd auf einen Meßkanal 37 bzw. auf einen Bezugskanal zu schalten. Die Schaltmittel 36 können elektronischer oder mechanischer Art sein«, Sie sind in der Fig. 1 aus Vereinfachungsgründen rein schematisch dargestellt, wobei durch die gestrichtelte Linie eine mechanische Ankopplung an den Ausgang des Chopperantriebsmotors 39 gezeigt ist« Es ist klar, daß eine Vielzahl von äquivalenten,die Kopplung herstellen Synchronisiereinrichtungen zwischen den Schaltmitteln 36 und der Chopperspiegelscheibe 22 verwendet werden können.

Vie aus der Fig· 2 ersichtlich ist, besitzt die Chopperspiegelscheibe 22 zwei diametral gegenüberliegende Ausnehmungen kO_t kO_t die gleichzeitig eine Belichtung des thermischen Detektors

durch den Teilstrahl 23 des Strahls 21 und des Lichtleiterermöglichen. abschnitte« 33 durch das Licht der Bezugsquelle 31/ Zwischen

den beiden Ausnehmungen kO_t kO sind zugeordnete Paare von

vorgesehen, dunklen lichtabsorbierenden Flächen kl _t k^/d±β Jeweils auf gegenüberliegenden Seiten von reflektierenden Spiegelflächen kZ_f kZ angeordnet sind« Die Spiegelflächen kZ, kZ bauen gleichzeitig den reflektierten Anregungsstrahl 18 auf und

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sorgen für die Reflektion des Fluoreszenzemissionsstrahls 27 auf den festen gekrümmten eine Rientwirkung aufweisenden Spiegel 28.

Die Kompensierzelle 25 (oder auch i/2-Wegzelle), die vor dem thermischen Detektor 26 angeordnet ist, kompensiert die Abachwächung des AnregungsStrahls 18 in der Probenzelle 17 durch die Probenflüssigkeit· Der Anregungsstrahl 18 wird um einen Betrag geschwächt, der proportional zu i/2 der Weglänge in der Probenzelle 17 ist. Daher wird das Signal des thermischen Detektors im selben Ausmaß abgeschwächt, in.—dem eine transparente "1/2-Weg"-Zelle 25 benutzt wird, die zu derselben Absorption wie i/2 der Weglänge in der Probenzelle 17 führende Flüssigkeit enthält. Z₀B. kann bei einer Probenzelle 17 von 10 ram Dicke eine transparente Kompensierzelle 25 von 5 nun Dicke verwendet werden, die dieselbe Flüssigkeit oder Material mit derselben Absorption enthält, wie die eingesetzte Probe.

Das Meßausgangssignal im Kanal 37 wird in einem Strom-zu-Spannungsverstärker kj und in einem base line-Korrekturverstärker hh verarbeitet, der mit dem Wellenlängeneinstellelement des zweiten einstellbaren Monochromators (Emissionsmonoch.romator 29) in bekannter Weise verbunden ist und der so programmiert ist, daß er einen Wellenlängenkorrekturterra entsprechend % \ · PM \ erzeugt und das dem Korrekturverstärker kk zugeführte Signal durch diesen Term teilt. Ein entsprechender base line-Korrekturverstärker ist in der US-PS 3 ^33 952 beschrieben. Die Offenbarung dieser Patentschrift wird hiermit zum Inhalt der vorliegenden Anmeldung gemacht. Auf diese Weise bewirkt der

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Korrekturverstärker kk die notwendigen Korrekturen, um die Kompensation der vorstehend erwähnten von der Emissionswellenlänge abhängigen Faktoren zu erreichen* Dem Kompensierverstärker kh kann eine "Einheitskonversions"-Einrichtung hk (unit conversion device) zugeordnet werden, die eine Verstärkungsänderung proportional zur Wellenlänge oder zur in die dritte Potenz erhobenen Wellenlänge einführt, um das korrigierte Signal in die gewünschten Einheiten umzuwandeln, so z.B. in die Quantenzahl pro Nanometer Bandbreite, Quantenzahl pro CM** (Wellenzahl) der Bandbreite oder dergleichen·

Nach der vorstehend beschriebenen Verarbeitung wird das Meßsignal durch eine "Dunkelstrom" Korrektureinrichtung k6 geführt, die den verbleibenden Photomultiplier Dunkelstrom (die von den lichtabsorbierenden Flächen kl hervorgerufene Komponente E^ des Meßsignals) von dem Eingangsmeßsignal subtrahiert. Das dunkelstromkorrigierte Signal wird dann über einen Ausgangsverstärker h-7 einer nicht gezeigten Anzeigeeinrichtung zugeführt, die ein Aufzeichnungsgerät oder ein anderes Meßgerät sein kann.

Das Bezugslichtausgangssignal im Bezugskanal 38 wird über einen Strom-zu-Spannungsveretärker k8 und eine Quantenintensitätskorrektureinrichtung k9 geführt, die mit dem Wellenlängeneinstellelement des ersten einstellbaren Monochromator (Anregungsmonochromator) 19 verbunden ist und so programmiert ist, daß sie einen Korrekturterm für die Kompensation der wellenlängenabhängigen Quantenintensitätsänderungen in dem Strahl 21 hervorruft, indem sie eine Verstärkungsänderung

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proportional zur Anregungswellenlänge einführt.

Das quantenkorrigierte Signal wird dann in einer Dunkelstrom-Korrektur einrichtung 50 korrigiert, die der Dunkelstromeinrichtung 46 vergleichbar ist (die Dunkelstromsignalkomponente E_D wird subtrahiert). Das sich ergebende hinsichtlich des Dunkelstroms korrigierte Bezugslichtsignal E_n wird dann auf den einen Eingang eines Subtrahierers 51 gegeben.

Das Aus gangs signal E des thermischen Detektors 26 wird auf einen Negationskreis 52 geführt, der ausgangsseitig das

Signal
reziproke/1/E_t_ abgibt. Dieses reziproke Signal wird auf den anderen Eingang des Subtrahierers 51 geführte Das Ausgangssignal des Subtränierers, welches das energiekompensierte Restsignal E_n - l/E-- darstellt, wird über einen geeigneten Begrenzer auf den Steuereingang 16 der Hochspannungsquelle 14 geführte

Das vorstehenderweise verarbeitete Bezugslichtsignal wird auf diese Weise zur Änderung der von der einstellbaren Hochspannungsquelle ik abgegebenen Hochspannung und damit zur Änderung der Verstärkung des Photomultipliers 11 verwendet, um:

(1) Energieänderungen in dem für die Anregung benutzten Strahl 21 zu kompensieren und

(2) die wellenlängenabhängigen Quantenintensitätsänderungen in dem Anregungsstrahl zu kompensieren_o

In der Fig. 3 ist schematisch dargestellt, wie das Spektrofluorometer gemäß Fig. 1 abgeändert werden kann, um als Instrument für Absorptions- oder Durchlässigkeitsmessungen eingesetzt werden

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zu können· Bei dieser Anordnung durchläuft der Anregungsstrahl 18 die Probenzelle 17 und wird dann mit Hilfe eines stationären Planspiegels 6o, der parallel zur sich drehenden Chopperspiegelscheibe 2j£ liegt, zurück auf die Chopperspiegelscheibe 22 in einem reflektierten Strahl 27^f reflektiert, der einen Weg nimmt, der im wesentlichen mit dem des Emissionsstrahls 27 der vorstehend beschriebenen Ausführungsform vergleichbar ist. Der "Emissions"-Monochromator 29 kann entweder fortgelassen werden oder auf die Wellenlänge des ^MAnregungsstrahls^H 21 eingestellt werden· Mit der in der Figo 3 gezeigten Anordnung können Spektralabsorptions- oder Durchlässigkeitsmessungen durch eine Probe in der Probenzelle 17 hindurch vorgenommen werden.

In der Figo h ist schematisch dargestellt, wie das Spektrofluorometer gemäß Fig. 1 abgeändert werden kann, um als differentielles Doppelstrahlspektrofluororaeter benutzt zu werden. Eine erste fluoreszierende Probe in Zelle 17 wird durch einen durch den Chopper zeitgesteuerten Anxqgungsstrahl, welcher von der darunterliegenden Spiegelfläche kZ der Chopperspiegelscheibe 22 reflektiert wird, zur Fluoreszenz angeregt. Ein Emissionsstrahl 27 wird in vergleichbarer Weise von der gegenüberliegenden Spiegelfläche hz der Chopperspiegelscheib· 22 reflektiert (vgl. auch Figo 1). Dieser Strahl durchsetzt den Monochromator 29 und erzeugt ein Ausgangssignal des Photomultipliers, wodurch ein erster Meßkanal definiert ist· Ein zeitlich darauf folgender Teil des Anregungsstrahls 21 durchsetzt unmittelbar danach eine Ausnehmung kO der Chopper-

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spiegelscheibe 22 und wird von einem ersten stationär angeordneten Planspiegel 6i, der parallel zur Scheibe 22 ausgerichtet ist, durch die Ausnehmung zurückreflektiert und auf eine zweite transparente Probenzelle 6Z gerichtet, die eine zweite fluoreszierende Probe enthält· In der zweiten Probenzelle 62 wird ebenfalls Emissionsstrahlung erzeugt und verläßt diese als Emissionsstrahl 63. Die zweite Probenzelle 62 ist so ausgerichtet, daß der Emissionsstrahl 63 durch die gegenüberliegende Ausnehmung ko der Chopperspiegelscheibe 22 hindurch auf einen festen Planspiegel 6k _t der ebenfalls parallel zur Scheibe 22 ausgerichtet ist, gelenkt werden kann, so daß der Planspiegel 6k den Emissionsstrahl 63 zurück durch die letztgenannte Ausnehmung kO reflektiert, so daß diese längs desselben Weges geführt wird, wie der reflektierte Emissionsstrahl 27, d.h. in Richtung auf den festen Spiegel 28, um von dort eventuell über den Monochromator 29 auf die Kathode 12 des Photomultipliers 11 gelenkt zu werden. Die Emissionsstrahlen von beiden Probenzellen 17 und 6Z erreichen daher den Photomultiplier in Zeitteilung (time-shared) und erzeugen entsprechende Parallelsignale, die verglichen oder differentiell gemessen werden können· Bei der Anordnung gemäß Fig. k wird der Bezugslichtkompensierkanal, der zuvor im Zusammenhang mit der Fig. 1 beschrieben worden ist, nicht benötigt·

Es soll hier noch kurz einmal die Arbeitsweise der Anordnung gemäß Fig. 1 zusammengefaßt werden» Die Chopperspiegelscheibe 22 führt zum Aufbau zweier in Zeitteilung beaufschlagter optischer Kanäle zwischen der Strahlungsquelle 20 und der Probenzelle 17 einerseits und der Strahlungsquelle 20 und dem

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thermischen Detektor 26 andererseits· Ausgangsseitig werden der den Emissionskanal darstellende dritte optische Kanal und der von dem Lichtleiter aufgebaute vierte optische Kanal in Zeitteilung beaufschlagt. Die Beaufschlagung des Lichtleiters ist also gegenüber der Beaufschlagung des zweiten einstellbaren Monochromators 29 zeitlich verschoben, so daß am Ausgang des photoempfindlichen Detektors in Form des Photoraultipliers 11 ein Bezugssignal erscheint, das bezüglich dem Meßsignal zeitverschoben worden ist· Das Ansprechverhalten des photοempfindlichen Detektors wird in Abhängigkeit sowohl von dem Bezugssignal als auch dem Energiekorrektursignal gesteuert.

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Claims (1)

1. Patentansprüche :

   1· Spektrofluorometer, gekennzeichnet durch eine Strahlungsquelle (20, 19)» einen transparenten Probenhalter (17), einem photoempfindlichen Detektor (11), ein bewegliches Chopperelement (22), Mittel einschließlich des Chopperelements (22) zur Definition eines auf den Probenhalter (17) gerichteten optischen Anregungskanals (18) und eines zweiten optischen Kanals (23), Mittel (22, 28, 29) zur Definition eines optischen Emissionskanals (27, 30) zwischen dem Probenhalter (17) und dem photoempfindlichen Detektor (11), an dessen Ausgang (13) ein Meßsignalkanal (37) anschließt, eine Bezugsstrahlungsquelle (31), Mittel (22, 32, 34, 33, 35) einschließlich des beweglichen Chopperelements zur Definition eines optischen Pfads zwischen der Bezugsstrahlungsquelle (3I) und dem photoempfindlichen Detektor (11) in Zeitteilung mit dem optischen Emissionskanal (27, 30) und durch Mittel (48-53) für die Steuerung des Ansprechverhaltens des photoempfindlichen Detektors (11) in Abhängigkeit von dem in dem photοempfindlichen Detektor (11) durch die Bezugsstrahlungsquelle (31) auf einem Bezugskanal (38) erzeugten Ausgangssignal (^E _R) und von dem Energieinhalt (E_t_) des zweiten optischen Kanals (23)

   2ο Spektrofluorometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle (20, 19) Mittel (19) für die einstellbare Auswahl der Anregungswellenlänge und Mittel (49) für das Ausführen einer Quantenintensitätskorrektur im

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   Bezugsslgnalkanal (38) in Übereinstimmung mit der Vellenlängeneinsteilung an den Mitteln (19) aufweist, die für die einstellbare Auswahl der Anregungswellenlänge vorgesehen sind.

   3ο Spektrofluorometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß in dem optischen Emissionskanal(27, 3θ) Mittel (29) für die variable Auswahl der Emissionswellenlänge und Mittel (hk, k^) vorgesehen sind, die die Ausführung einer von der Emissionswellenlänge abhängigen Korrektur an dem Meßsignalkanal (3?) in Abhängigkeit von der Einstellung der Mittel (29) für die variable Auswahl der Emissionswellenlängen ermöglichen.

   h» Spektrofluorometer nach einem der Ansprüche 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet, daß der zweite optische Kanal (23) auf einen thermischen Detektor (26) geführt ist, der ausgangs sei tig ein dem Energiegehalt des zweiten optischen Kanals entsprechendes elektrisches Signal (Ε__Ώ) erzeugt, wobei der optische Kanal zwischen der Strahlungsquelle (20, 19) und dem Probenhalter (17) und der optische Pfad zwischen der Strahlungsquelle (20, 19) dem thermischen Detektor (26) in Zeitteilung mittels des Chopperelements (22) beaufschlagt werden.

   5· Spektrofluorometer nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel (48-53) für die Steuerung des Ansprechverhaltens des photοempfindlichen Detektors (11) Rechnerkreise (51, 52) für die Ableitung des reziproken

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   Wertes des Energiesignals (E _D\ und für den Vergleich des von der Bezugs strahlungsquelle (31 ) iⁿ dem phot ο empfindlichen Detektor (11) erzeugten Bezugssignal (E ) mit dem

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   reziproken Wert (1/E₀) aufweisen.

   6. Spektrofluorometer nach einem der Ansprüche 1 bis 5» dadurch gekennzeichnet, daß der photoempfindliche Detektor (11) ein Photomultiplier ist, der an eine einstellbare Hochspannungsquelle (i4) angeschlossen ist und daß die Mittel (48-53) für die Steuerung des Ansprechverhaltens des photoempfindlichen Detektors Mittel für die Einstellung der Ausgangsspannung der Hochspannungsquelle (i4) in Abhängigkeit von der Differenz zwischen dem Bezugssignal (E_r) und dem reziproken Wert (l/E _) des Energiesignals (E_TD) sind,

   7. Spektrofluorometer nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem beweglichen Chopperelement (22) synchronisierte Schaltmittel (36) vorgesehen sind, die abwechselnd den Ausgang (13) des photoempfindlichen Detektors (11) mit dem Meßsignalkanal (37) und mit dem Bezugssignalkanal (38) verbinden.

   Spektrofluorometer nach einem der Ansprüche 1 bis 7t dadurch gekennzeichnet, daß der Meßkanal Anzeigemittel aufweist und daß die Rechenkreise in dem Bezugskanal (38) vorgesehen und betriebsmäßig mit der einstellbaren Hochspannungsquelle (i4) verbunden sind.

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   9· Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß zu den Mitteln (22, 28, 29) zur Definition des optischen Emissionskanals zwischen dem Probenhalter (17) und dem photοempfindlichen Detektor auch das bewegliche Chopperelement (22) gehörte

   10. Spektrofluorometer nach einem der Ansprüche 1 bis 9_t dadurch gekennzeichnet, daß zu den Mitteln (22, 32, 3k_t 33, 35) einschließlich des beweglichen Chopperelements (22) zur Definition des optischen Pfades zwischen der Bezugsstrahlungsquelle (31) und dem photoempfindlichen Detektor (ii) ein Lichtleiter (32-35) gehört, dem eingangsseitig die Ausgangsstrahlung der Bezugslichtquelle (3I) zugeführt wird und dessen Ausgangsende nahe dem photoempfindlichen Detektor

   (11) angeordnet und wirkungsmäßig auf diesem ausgerichtet ist,

   11. Spektrofluorometer nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel (^9) für die Ausführung einer Quantenintensitätskorrektur an dem Bezugssignal (E_n) in dem Bezugskanal (38) den Rechnerkreisen (51, 52) vorgeschaltet sind.

   12. Spektrofluorometer nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß in dem zweiten optischen Kanal zwischen der Strahlungsquelle (20, 19) und dem ein elektrisches Ausgangssignal liefernden thermischen Detektors (26) eine transparente Absorptionskompensierzelle (25) zwischengeschaltet ist, dite im wesentlichen die halbe Dicke des Probenhalters (17) aufweist und ein Material aufnehmen kann, das in wesent-

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   lichen dasselbe Absorptionsverhalten zeigt, wie das in den Probenhalter (17) eingesetzte Material·

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