DE2014288A1 - Lichtquellen mit selektiv reflektie renden Spiegeln - Google Patents
Lichtquellen mit selektiv reflektie renden SpiegelnInfo
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
- G01N17/004—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light to light
Description
PATENTANWALT DlPL-INQ. JOACHIM STRASSE 2014288
64b HANAU · ROMERSTR. 1» · POSTFACH 7V5 ■ TEL.20803 · TELEC/KAMME: HANAUPATENT · TELEX: 41Ι47ΜρΒΙ
ORIGINAL HAI:AU- 2Λ. März 197o
-Quarzlampen GmbH Zo/Kie - 12ö6
6^15 Hanau (Hain)
Lichtquellen mit selektiv reflektierenden Spiegeln
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Licht- und Wetterechtheitsprüfgerät
mit in einem Probenraum angeordneten feststehenden
Lichtquellen zuui Bestrahlen von Materialproben.
Ea sind verschiedene Prüfgeräte mit zentral im Probenrauui angeordneter
Lichtquelle bekannt, bei denen Probentrnger auf
einer Kreisbahn relativ zu der zentral angeordneten, feststehenden
Lichtquelle bewogt werden. Für die Schnellprüfung der Lichtbeständigkeit von Materialien ist es erforderlich, die
dem natürlichen Tageslicht entsprechende UV-Strahlung mit
großer Intensität auf die zur Verfügung stellende verhältnismäßig kleine Probenflächo einwirken zu lassen. Mit steigender
intensität der UV-Strahlung wächst auch die Intensität' der gleichzeitig erzeugten und als Wärme auftretenden IR-Strahlung,
wodurch erhebliche Kühlproblenie im Prüfgerät, auftreten.
Die IR-Strahlung kann die Abbaureaktioiien in der Probe beeinflussen,
so daß die Veränderungen der Probe nicht eindeu-
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BADORIQiNAL
20U288
tig der Einwirkung der UV-Strahlung zugeschrieben werden können. Die in verschiedenen Normen über die Wetter— und
Lichtechtheit von Materialien festgelegten PrüfVorschriften
machen es erforderlich, die IR-Strahlung klein zu halten bzw.
nach Möglichkeit zu eliminieren.
Bei bekannten Prüfgeräten mit einer einzigen zentralen Lichtquelle
ergeben sich groiie Schu'ierigkeiten bei der Abführung
-der al.s Wärme auftretenden Hi-S trahlung« Uw den Infrarotanteil
im Probenraum möglichst klein zu halten, ist hei bekannten
Geräten ein die zentrale Lichtquelle umgehendeη Filtersystem
aus Iiif rarot-Absorptionsfiltern vorgesehen.
Dabei erueist es sich als ein wesentlicher ' achteil, ditZ e»
zur Zeit keine genügend strahlenbeständigen Absorptionsfiltor
gibt, die im kurzwelligen Infrarotbereich von iioo bis l.ooo
nm gut absorbieren und gleichzeitig im langwelligen Ultraviolettbereich
von 3oo bis 4oo mti weitgehend durchlässig sind.
Wegen dor zu hohen Ultraviolottabsorption bekannter Iiifrarot-Absorptionsfilter
uurde auch schon die Verwendung Zylindersymmetrisch
angeordneter Reflexionsfilter, die die Infrarotstrahlung
ins Innere reflektieren und nur die sichtbare und UV-Strahlung durchlassen, versucht. Dei der zylindersymmetrischen
Anordnung ist die Wirkung von reflektierenden Schichten
aber gering, und es ergeben sich Schwierigkeiten bei der Kühlung im Zentrum der lief lexionsf ilter. Für Licht quellen außerhalb
des Probenraumes wurde auch vorgeschlagen, einen Infrarot-Strahlung
reflektierenden und einen dazu parallelen, sichtbare und UV-Strahlung reflektierenden Planspiegel vorzusehen.
Durch die Kombination zweier, die Lichtquelle begrenzender Planspiegel wird in die eine lialbebene Infrarot
und in die andere sichtbares Licht und Ultraviolett reflektiert. Diese Anordnung ist für direkt im Probenraum befindliche
Lichtquellen nicht geeignet, da sich durch die in die
eine lialbebene abgegebene Infrarot-Strahlung eine zu starke
thermische Belastung des Probenraumes ergibt.
1 0 9 8 A 1 / Π 9 7 6
'20.14.2
Es int die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die aufgezeigton
TJ-ieliteil« nnd ScJiwierigkeiteii zu i'ermeiden uxid die in
Form voii Wanne auftretende kurzwellige Infrarot-Strahlung
me'trerer im Z<-ntruiii eines Probenrauines angeordneter Lichtquellen
zu eliminieren. Zur Lösung dieser Aufgabe sind bei der vorliegenden Erfindung: zwei oder mehr · zentral', iin Proben-raun
dey rritfgeriites vorgesehene Lichtquellen von sichtbare
Sti-ählung, UV- und IR-Strahlung selektiv durchlassenden und
rtiflektierenden Spiegeln umgeben, durch die eine Trennung
il:r Πί-Strahltuzg vom sichtbaren Li cht und dor (JV-S trnh.Umg
erfolgt.
Vo-rteilhaf terwe i se umschließt ein für die sichtbare und UV-Strahlung
durchlässiger, die -IR-St roh Iu ng ins Innere reflektierender
Zylinderspiegel die Lichtquellen.
Für jede Lichtquelle im Inneren des ZyI inder.'spiegels ist er-
außen reflektierender, für die I!?-S tr ah lung durchläs.si.gex-Planspiegel
vorgesehen♦
Jede Lichtquelle ist vorte: lhaf terwe i se zwisclnni dei.-i Zyliiiderspiegel
und den zugehörigen Planspiegel angcordnßt. Hierdurch wird erreicht, daß die auftretende Ι'ί-Strnhlung der
Lichtquellen ins Zentrum des Zylinderspiegols, in dem sich
ein IP--\bsorber befindet, und die .sichtbare sowie die UV-Strahlung
nach aulien reflektiert «erden.
Die Planspiogel liilden erfiiidungsgeuuil» ein der Anzahl der
Lichtquellen entsprechendes, dem Zylinderspiegel eingeschriebenes Vieleck. .
Ueitere üerlunale, Vorteile und Anvendujigsiiiögliclikei ten der
vorliegenden Iirfindung werden anhand eines zeichnerisch dargestellten Ausführungsbeispiels näher beschrieben.
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Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines Probenraumes mit drei Lichtquellen und
Fig. 2 eine Draufsicht auf den Probenraum mit den Lichtquellen.
In einem Probenraum Io eines Prüfgerätes ist zentral ein
Zylinderspiegel 12 angeordnet, der zwei oder mehr Lichtquellen 2o umschließt. Bei der zeichnerisch dargestellten Ausführungsform sind drei Lichtquellen im Probenraum Io vorhanden. Im
Zentrum des Zylinderspiegels 12 ist ein Metallrohr l8 vorgesehen, dessen Inneres mit Wasser gekühlt wird. Von dem Metallrohr l8 erstrecken sich radial angeordnete Metallplatten 16
zu der Mantelfläche des Zylinderspiegels 12. Übereinstimmend mit der Anzahl der Lichtquellen 2o sind Planspiegel Ik vorgesehen, die ein dein Zylinderspiegel 12 eingeschriebenes
Dreieck bzw. Vieleck bilden. In jedem von einem Planspiegel Ik und einem Kreisbogenstück des Zylinderspiegels 12 abgegrenzten Raum ist eine der Lichtquellen 2o angeordnet.
Der Zylinderspiegel 12 reflektiert die IR-Strahlung der Lichtquellen 2o in sein Inneres und läßt die UV-Strahlung und das
sichtbare Licht L in den Probenraum Io austreten. Die Planspiegel Ik sind für Infrarot-Strahlung durchlässig, während
sie sichtbares Licht L und UV-Strahlung in den Probenraum Io reflektieren. Durch die Kombination des Zylinderspiegela 12
mit den Planspiegeln Ik wird ein· weitgehende Reflexion der
auftretenden IR-Strahlung ins Zentrum des Zylinderspiegela 12 erzielt. Das sichtbare Licht L und die UV-Strahlung andererseits werden in den Probenraum Io abgestrahlt. Der Anteil
an infraroter Strahlung IR in der in den Probenraum Io reflektierten Strahlung ist daher sehr gering· Der von den
Metallplatten 16, die beispielsweise aus schwarz gefärbten
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BADORiGfNAt
Kupferblechen bestehen, und den Planspiegeln 14 eingeschlossene
Raum bildet für die in Form von Wärme auftretende IR-Strahlung
einen schwarzen Körper mit hohem Absorptionsvermögen. Durch die Kühlung des Metallrohres 18 vfird die Wärmeabfuhr
der Metallplatten 16 erheblich gesteigert, so daß keine Schwierigkeiten bei der Kühlung des Probenraumes to des Prüfgerätes
auftreten.
Durch die Kombination der zentral im Probenraum Io angeordneten
Lichtquellen mit selektiv reflektierenden und durchlässigen Spiegeln wird die kurzwellige Infrarot-Strahlung IR im
Probenraum weitgehend eliminiert, ohne daß eine zu starke
Schwächung der UV-Strahlung eintritt. Gleichzeitig wird das Problem der Wärmeabfuhr aus dem Zentrum des Zylinderspiegels
12 durch das wassergekühlte Metallrohr 13 gelöst.'.
Ansprüche;
Claims (6)
1.J Licht- und Wetterechtheitsprüfgerät mit in einem Probenraum
angeordneten feststehenden Lichtquellen zum Bestrahlen von Materialproben, dadurch gekennzeichne
t , daß zwei oder mehr zentral im Probenraum (Io) des Prüfgerätes vorgesehene Lichtquellen (2o)
von sichtbare Strahlung, UV- und IR-Strahlung selektiv
durchlassenden und reflektierenden Spiegeln (12, lh)
umgeben sind, durch die eine Trennung der IR-Strahlung vom sichtbaren Licht und der UV-Strahlung erfolgt.
2. Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß ein für die sichtbare und UV-Strahlung
durchlässiger, die IR-Strahlung ins Innere reflektierender Zylinderspiegel (12) die Lichtquellen (2o)
umschließt.
3» Prüfgerät nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet
, daß für jede Lichtquelle (2o) im Inneren des Zylinderspiegels (12) ein die sichtbare
und die UV-Strahlung nach außen reflektierender, für die
IR-Strahlung durchlässiger Planspiegel (lh) vorgesehen ist.
k. Prüfgerät nach den Ansprüchen 1 bis 3« dadurch
gekennzeichnet, daß jede Lichtquelle (2o) zwischen dem Zylinderspiegel (12) und dem zugehörigen
Planspiegel (l'l) angeordnet ist.
5· Prüfgerät nach den Ansprüchen 1 bis h, dadurch
gekennze ichne t , daß die Planspiegel (lh) ein der Anzahl der Lichtquollen (2o) entsprechendes, dem
Zylinderspiegel (12) eingeschriebenes Vieleck bilden.
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■ . ■ - 7 - . - . ■■■■-....
6. Prüfgerät nach den Ansprüchen 1 bis 5, dadurch
ge kennzeichne t , daß jeder Planspiegel
(l*t) mit zwei in Richtung zum Zentrum des Zylinderepiegele
(12) verlaufenden, IR-Strahlung absorbierenden
Metallplatten (16) einen für die IR-Strahlung schwarzen
Körper begrenzt.
7· Prüfgerät nach den Ansprüchen 1 bis 6, dadurch
g e k β η η ζ ei c h η e t , daß im Zentrum des Zylin*
derspiegels (12) ein im Inneren gekühltes Metallrohr
(lO) für die Absorption und Abfuhr der in Form, von Wärme
auftretenden, von den Spiegeln (12, 14) reflektierten jj
bzw. durchgelassenen IR-Strahlung vorgesehen ist.
109841/0976 BAfc
Leerseite
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19702014288 DE2014288C (de) | 1970-03-25 | Licht- und Wetterechtheitsprüfgerät | |
CH184771A CH516155A (de) | 1970-03-25 | 1971-02-08 | Licht- und Wetterechtheitsprüfgerät |
JP843471A JPS541199B1 (de) | 1970-03-25 | 1971-02-23 | |
US126780A US3686940A (en) | 1970-03-25 | 1971-03-22 | Ultraviolet testing apparatus with selective mirrors for removing infrared radiation |
GB25278/71A GB1280280A (en) | 1970-03-25 | 1971-04-19 | Testing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19702014288 DE2014288C (de) | 1970-03-25 | Licht- und Wetterechtheitsprüfgerät |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2014288A1 true DE2014288A1 (de) | 1971-10-07 |
DE2014288B2 DE2014288B2 (de) | 1972-08-17 |
DE2014288C DE2014288C (de) | 1973-03-15 |
Family
ID=
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3529800A1 (de) * | 1984-08-31 | 1986-03-06 | Bernhard St. Gallen Glaus | Verfahren und vorrichtung zur uv-polymerisation von beschichtungsmassen |
DE19526368A1 (de) * | 1995-07-20 | 1997-01-23 | Xenotest Ges Fuer Die Herstell | Verfahren zur Behandlung von Werkstoffproben und Licht- und Bewitterungsprüfgerät |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3529800A1 (de) * | 1984-08-31 | 1986-03-06 | Bernhard St. Gallen Glaus | Verfahren und vorrichtung zur uv-polymerisation von beschichtungsmassen |
DE19526368A1 (de) * | 1995-07-20 | 1997-01-23 | Xenotest Ges Fuer Die Herstell | Verfahren zur Behandlung von Werkstoffproben und Licht- und Bewitterungsprüfgerät |
US5898816A (en) * | 1995-07-20 | 1999-04-27 | Xenotest Gesellschaft fur die Herstellung von Materialprufgeraten mbH | Method for treating material samples and apparatus for testing exposure to light and weathering |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2014288B2 (de) | 1972-08-17 |
GB1280280A (en) | 1972-07-05 |
JPS541199B1 (de) | 1979-01-22 |
US3686940A (en) | 1972-08-29 |
CH516155A (de) | 1972-01-14 |
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E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
EGA | New person/name/address of the applicant | ||
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