DE19747061A1 - Laminar 3D optical measuring of objects with light pattern with light - Google Patents

Laminar 3D optical measuring of objects with light pattern with light

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Abstract

The method includes using two light grating sequences rotated against each other projected in projecting direction to produce unambiguously light intersecting planes taken with camera. The method uses an optical measuring system with a projection unit consisting of a light source (1), a projection grating (2) and an optic (8). With the vertical line pattern (3') and the horizontal line pattern (3) produced on the object (4) to be measured. A camera or a video camera with an optic (9) and an image sensor take the resulting image. An image processing system (7) computes the surface contour of the object to be measured from the imaging of the line patterns (3',3). Two grating line rotated against each other are projected in a projection direction, to produce differentiable light intersection planes, taken with a camera. The light intersection planes produce with a line grating sequence, are used to divide the light intersection planes, in to individually projection beams emanating from locally fixed points of the projection gratings producing the planes. Each projection beam produced by the combination of the coding of the light intersection, from the two line grating sequences, is allocated an unambiguous coding. A position vector and a direction vector are determined indirectly or directly by a calibration. The triangulation for all image points of the image sensor to be evaluated is executed respectively by computing the intersection point of the observation beam established on the image sensor, with the projection beam identified by the unambiguous coding at the image point.

Description

Die Erfindung betrifft Verfahren und Einrichtung zur flächenhaften, dreidimensionalen, optischen Vermessung von Objekten. Es gibt mittlerweile eine Reihe von optischen Meßverfahren, die durch Projektion von Streifenmustern, welche in der Regel mit einer Videokamera aufgezeichnet werden, die flächenhafte Berechnung von dreidimensionalen Konturdaten ermöglichen. Zur Berechnung der dreidimensionalen Gestalt eines Objektes wird hierbei ein digitales Bildverarbeitungssystem verwendet, das aus einem oder meh­ reren Kamerabildern die gewünschten Ergebnisdaten berechnet. Die bekanntesten Ver­ fahren sind das Verfahren des codierten Lichtansatzes. (T.G. Stahs, F.M. Wahl, "Close Range Photogrammetry Meets Machine Vision", SPIE Vol. 1395 (1990) S. 496-503) und ein mittels Phasenshift und rotierendem Liniengitter arbeitendes Projektionsverfahren (Patentschrift US 5289264).The invention relates to methods and devices for flat, three-dimensional, optical measurement of objects. There are now a number of optical ones Measuring method by projecting stripe patterns, which are usually with a Video camera are recorded, the areal calculation of three-dimensional Enable contour data. To calculate the three-dimensional shape of an object a digital image processing system is used that consists of one or more The desired result data is calculated for other camera images. The most famous ver Driving is the coded light approach. (T.G. Stahs, F.M. Wahl, "Close Range Photogrammetry Meets Machine Vision ", SPIE Vol. 1395 (1990) pp. 496-503) and a projection method using phase shift and rotating line grid (Patent US 5289264).

Die Berechnung der Oberflächenpunkte erfolgt bei diesen Verfahren durch Berechnung des Schnittpunktes der Lichtschnittebenen mit Beobachtungsstrahlen, da die Verschnei­ dung einer Ebene mit einer hierzu nicht parallelen Geraden einen Punkt ergibt. Durch Abbildungsfehler des Projektorobjektivs sind die Lichtschnittebenen mehr oder weniger stark gekrümmt. Geometrische Fehler der Lichtschnittebenen, d. h. Abweichun­ gen der realen Lichtschnittebenen von mathematisch exakten Ebenen, werden bisher ent­ weder als systematische Fehler in Kauf genommen oder durch eine Kalibrierung derart kompensiert, daß die theoretischen bzw. rechnerischen Ergebnisse durch Vergleich mit Istkoordinaten korrigiert werden. Hierbei wird ein Kalibrierkörper durch das Meßvolu­ men geschoben und in bestimmten Abständen vermessen. Zwischen den Meßpositionen des Kalibrierkörpers bzw. den Kalibriermarken werden die Korrekturwerte durch Inter­ polation berechnet.With these methods, the surface points are calculated by calculation the intersection of the light section planes with observation beams, since the intersection of a plane with a straight line that is not parallel to this results in a point. Due to aberrations of the projector lens, the light section planes are more or less curved. Geometric errors of the light section planes, i.e. H. Deviation against the real light section planes of mathematically exact planes are so far neither accepted as a systematic error nor through a calibration like this compensates that the theoretical or arithmetical results by comparison with Actual coordinates are corrected. Here, a calibration body through the measuring volume pushed and measured at certain intervals. Between the measuring positions of the calibration body or the calibration marks, the correction values are determined by Inter polation calculated.

Der in Patentanspruch 1 angegebenen Erfindung liegt das Problem zugrunde, daß die tatsächliche Geometrie der Lichtschnittebenen nicht bestimmbar ist, weil innerhalb einer Lichtschnittebene nicht zwischen einzelnen Teilflächen unterschieden werden kann.The invention specified in claim 1 is based on the problem that the actual geometry of the light section planes cannot be determined because within one  Light section plane cannot be differentiated between individual partial areas.

Durch den mit der Kamera aufgezeichneten Lichtcode wird nämlich, unabhängig von der verwendeten Codierung, lediglich die Lichtschnittebene als solche identifiziert. Es müs­ sen folglich bezüglich der Lichtschnittebene Annahmen gemacht werden, nämlich daß es sich um exakte Ebenen handelt und diese senkrecht auf der durch die optischen Achsen von Projektor und Kamera aufgespannten Triangulationsebene stehen.Because of the light code recorded with the camera, it is independent of the coding used, only the light section plane identified as such. It has to Consequently, assumptions are made regarding the light section plane, namely that it are exact planes and these are perpendicular to those through the optical axes of the triangulation plane spanned by the projector and camera.

Bei der Verwendung von Lichtschnittebenen kann außerhalb des kalibrierten Meßvolu­ mens keine exakte Triangulation mehr durchgeführt werden, weil die Korrekturdaten aufgrund fehlender Kalibriermessungen nicht berechnet werden können.When using light section planes outside of the calibrated measurement volume exact triangulation can no longer be carried out because the correction data cannot be calculated due to missing calibration measurements.

Werden Objektive mit kurzen Brennweiten verwendet, so sind die hierdurch verursach­ ten geometrischen Verzerrungen der Lichtschnittebenen so komplex, daß häufig die In­ terpolation über längere Strecken zwischen den Stützpunkten der Kalibrierung nicht mehr ausreicht, um die Fehler exakt genug zu beschreiben bzw. zu kompensieren. Es muß dann der Kalibrierkörper in engen Abständen durch das Meßvolumen geschoben und vermessen werden. Der rechnerische und zeitliche Aufwand für die Systemkalibrie­ rung ist hierbei erheblich.If lenses with short focal lengths are used, this is the cause geometrical distortions of the light section planes so complex that the In terpolation over longer distances between the calibration bases more is enough to describe or compensate for the errors precisely enough. It the calibration body must then be pushed through the measuring volume at close intervals and be measured. The computational and time expenditure for the system calibration tion is significant here.

Die Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren und eine Einrichtung zur dreidimensio­ nalen, optischen Vermessung von Objekten mittels projizierter Liniengitter und einer Kamera anzugeben, die eine exakte Bestimmung der vorliegenden projektionsseitigen Strahlengeometrie ermöglichen und somit Annahmen über die Ebenheit und die Ausrich­ tung der Lichtschnittebenen erübrigen.The object of the invention is to provide a method and a device for three dimensions nalen, optical measurement of objects by means of projected line grids and one Specify camera that an exact determination of the present projection-side Allow beam geometry and thus assumptions about flatness and alignment the light section planes are unnecessary.

Diese Aufgabe wird durch das in Patentanspruch 1 aufgeführte Verfahren und die in An­ spruch 7 angegebene Einrichtung gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den jewei­ ligen Unteransprüchen angegeben.This object is achieved by the method listed in claim 1 and in An claim 7 specified device solved. Advantageous further training courses are in each case indicated subclaims.

Erfindungsgemäß werden zwei Liniengittersequenzen projiziert und aufgenommen, de­ ren Gitterlinien in Projektionsrichtung gegeneinander verdreht sind. Erfindungsgemäß unterteilen die Lichtschnittebenen der einen Liniengittersequenz die Lichtschnittebenen der anderen Liniengittersequenz in eine große Anzahl eindeutig unterscheidbarer Pro­ jektionsstrahlen, welche von ortsfesten Punkten des diese Lichtschnittebenen erzeugen­ den Projektionsgitters ausgehen. Die erzeugten Projektionsstrahlen sind also die Schnitt­ linien von jeweils zwei Lichtschnittebenen. According to the invention, two line grid sequences are projected and recorded, de Ren grid lines are rotated against each other in the direction of projection. According to the invention subdivide the light section planes of the one line grid sequence the light section planes the other line grid sequence into a large number of clearly distinguishable pro jection rays, which generate these light section planes from fixed points run out of the projection grid. The generated projection rays are the cut lines of two light section planes each.  

Man erhält so eine Matrix aus n × m eindeutig identifizierbaren Projektionsstrahlen, wo­ bei n die Anzahl der mit der einen Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnittebenen und m die Anzahl der mit der anderen Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnittebenen ist. Zur eindeutigen Codierung der Projektionsstrahlen kombiniert man vorteilhafterweise die aus beiden Liniengittersequenzen erzeugten Lichtcodes zu 2-Tupeln oder hängt die Stellen der beiden Codewörter zu einem neuen, längeren Codewort aneinander. Damit das erzeugte Bündel von Projektionsstrahlen für eine Triangulation, d. h. Berechnung von dreidimensionalen Punktkoordinaten verwendet werden kann, wird erfindungsgemäß jedem Projektionsstrahl durch eine Kalibrierung ein Ortsvektor und ein Richtungsvektor zugewiesen. Erfindungsgemäß wird die Triangulation durch Berechnung des Schnitt­ punktes des durch die Position des betrachteten Bildpunktes auf dem Bildsensor festge­ legten Beobachtungsstrahls mit dem durch den eindeutigen Code an diesem Bildpunkt indentifizierten Projektionsstrahl durchgeführt.This gives a matrix of n × m clearly identifiable projection rays, where at n the number of light section planes generated with the one line grid sequence and m is the number of light section planes created with the other line grid sequence. To uniquely code the projection beams, one advantageously combines the light codes generated from both line grid sequences to 2-tuples or depends Put the two code words together to form a new, longer code word. In order to the generated beam of projection rays for triangulation, d. H. Calculation of three-dimensional point coordinates can be used according to the invention each projection beam by calibration a location vector and a direction vector assigned. According to the invention, the triangulation is performed by calculating the cut point of the image by the position of the viewed pixel on the image sensor placed observation beam with the through the unique code at this pixel carried out identified projection beam.

Die Unterscheidbarkeit einzelner Projektionsstrahlen innerhalb des Projektionskegels vereinfacht Kalibrierung und Triangulation gegenüber der Verwendung von Lichtschnitt­ ebenen ganz erheblich, da nun lediglich eine geradlinige Ausbreitung der Projektions­ strahlen außerhalb des Projektorobjektivs vorausgesetzt werden muß. Diese ist unab­ hängig von den optischen Qualitäten des Projektionsgitters und der Abbildungsoptik immer gegeben, da die Projektionsstrahlen von ortsfesten Punkten des Projektionsgitters ausgehen und sich damit, unabhängig von den geometrischen Fehlern der Lichtschnitt­ ebenen, innerhalb des Projektionskegels exakt geradlinig ausbreiten. Vorteilhafterweise werden die Linien der einen Liniengittersequenz senkrecht und die Linien der anderen Liniengittersequenz waagerecht zu der von den optischen Achsen von Projektor und Kamera aufgespannten Triangulationsebene ausgerichtet. Hierdurch wird die größtmögliche Auflösung bzw. Meßempfindlichkeit erzielt.The distinguishability of individual projection rays within the projection cone simplifies calibration and triangulation compared to the use of light section planes quite considerably, since now only a linear expansion of the projection rays outside the projector lens must be assumed. This is independent depending on the optical qualities of the projection grid and the imaging optics always given, because the projection beams from fixed points of the projection grid going out and looking at it, regardless of the geometric errors of the light section planes, spread out in a straight line within the projection cone. Advantageously, the lines of one line grid sequence become vertical and the Lines of the other line grid sequence horizontal to that of the optical axes of Projector and camera aligned triangulation plane. This will achieved the highest possible resolution or measurement sensitivity.

Als Liniengittersequenz wird vorteilhafterweise eine solche Folge von Linienmustern verwendet, die den Projektionskegel in eine möglichst hohe Anzahl eindeutig unter­ scheidbarer Sektoren bzw. Lichtschnittebenen unterteilt. Hierzu kann beispielsweise die Liniengittersequenz nach dem Verfahren des Codierten Lichtansatzes verwendet werden oder ein Phasenshiftverfahren, bei dem durch Projektion von sinusförmigen Streifenmu­ stern unterschiedlicher Wellenlänge absolute Phasenwinkel berechnet werden können. Eine weitere Alternative bieten ferner die in der Patentanmeldung AZ 197 38 179.0-52 offengelegten Verfahren.Such a sequence of line patterns is advantageously used as the line grid sequence used that clearly below the projection cone in as large a number as possible separable sectors or light section planes divided. For example, the Line grating sequence can be used according to the coded light approach or a phase shift method in which by projection of sinusoidal stripes must star of different wavelength absolute phase angle can be calculated. A further alternative is also offered by those in patent application AZ 197 38 179.0-52  disclosed procedures.

Es ist somit ein Verfahren geschaffen, das nicht mehr auf Lichtschnittebenen aufsetzt, sondern auf einem Bündel eindeutig unterscheidbarer Projektionsstrahlen. Die Annahme über das Vorliegen ebener Lichtschnittebenen entfällt also.This creates a process that is no longer based on light section planes, but on a bundle of clearly distinguishable projection beams. The assumption the presence of flat light section planes is therefore eliminated.

Die Abbildungsfehler des Projektorobjektivs können praktisch beliebig groß sein, da nun lediglich eine geradlinige Ausbreitung der Projektionsstrahlen außerhalb des Projektor­ objektivs vorausgesetzt wird. Die Verwendung kurzbrennweitiger Objektive ist damit möglich, ohne daß darunter die Genauigkeit des Meßsystems leidet. Hierdurch läßt sich in vielen Anwendungsfällen, z. B. bei der Vermessung großer Objekte, der Meßabstand erheblich verkürzen. Ferner muß das Projektionsgitter weder sehr genau gefertigt sein noch exakt auf die Triangulationsebene ausgerichtet werden. Dadurch lassen sich Kosten einsparen.The aberrations of the projector lens can be practically arbitrarily large, because now just a linear spread of the projection rays outside the projector objectively. The use of short focal length lenses is therefore possible without affecting the accuracy of the measuring system. This allows in many applications, e.g. B. when measuring large objects, the measuring distance shorten considerably. Furthermore, the projection grating does not have to be manufactured very precisely still be precisely aligned to the triangulation level. This can reduce costs save on.

Die aufwendige Kalibrierung, bei der der Kalibrierkörper in engen Abständen innerhalb des Meßvolumens zur Bestimmung der Korrekturwerte vermessen werden muß, entfällt. Die Kalibrierung der Projektionsstrahlen ist auch außerhalb der Meßpositionen des Kali­ brierkörpers uneingeschränkt gültig.The elaborate calibration, in which the calibration body within narrow distances of the measurement volume to determine the correction values must be omitted. The calibration of the projection beams is also outside the measuring positions of the Kali body is valid without restrictions.

Im Folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand von Zeichnungen erläutert.The following is an embodiment of the invention with reference to drawings explained.

In den Zeichnungen zeigen:The drawings show:

Fig. 1 die Gesamtdarstellung eines System zur optischen Vermessung von Objekten mittels Projektion zweier gekreuzter Liniengittersequenzen Fig. 1 shows the overall diagram of a system for optical measuring of objects by means of projection two crossed line mesh sequences

Fig. 2 die Darstellung des Triangulationsvorganges durch Erzeugung von Projektions­ strahlen mittels Verschneidung von Lichtschnittebenen Fig. 2 shows the triangulation process by generating projection rays by intersection of light section planes

Fig. 3 die Darstellung der Kalibrierung der Projektionseinrichtung bzw. der Projektions­ strahlen. Fig. 3 show the representation of the calibration of the projection device or the projection rays.

Die Fig. 1 zeigt eine vereinfachte schematische Darstellung einer Einrichtung zur opti­ schen Vermessung von Objekten gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Eine Einrichtung zur optischen Vermessung eines Objektes 4 enthält eine Projektionseinrich­ tung, bestehend aus Lichtquelle 1, Projektionsgitter 2 und Optik 8, mit der vertikale Li­ nienmuster 3' und horizontale Linienmuster 3'' auf dem zu vermessenden Objekt 4 er­ zeugt werden. Mittels einer Optik 9 wird eine Abb. 5 der auf das Objekt projizier­ ten Linienmuster 3' und 3'' auf einem Bildsensor 6 erzeugt. Optik 9 und Bildsensor 6 können Bestandteile einer Kamera bzw. Videokamera sein. Mittels eines Bildverarbei­ tungssystems 7 wird aus der Abbildung des projizierten Linienmusters 3' und 3'' die Oberflächenkontur des zu vermessenden Objekts 4 berechnet. Das Bildverarbeitungs­ system 7 kann aus einem Mikrocomputer mit eingebauter Bildeinzugskarte (Framegrabber) bestehen. Mittels des Projektionsgitters 2 werden die zwei Liniengittersequenzen 2' und 2'' nach­ einander erzeugt und auf das Objekt 4 projiziert. Die dargestellten Gittersequenzen ent­ sprechen in der gezeigten Ausführung denen des CLA-Verfahrens, wobei die Liniengit­ tersequenz 2'' gegenüber der Liniengittersequenz 2' um 90° gedreht ist. Die einzelnen Liniengitter der Liniengittersequenzen 2' und 2'' sind in ihrer zeitlichen Abfolge entlang der Zeitachse t dargestellt. Sie werden zweckmäßigerweise mit nur einem Projektions­ gitter, z. B. der Punktematrix eines LCD-Panels erzeugt. Alle projizierten Liniengitter werden mit dem Bildsensors 6 aufgenommen und dem Bildverarbeitungssystem 7 zur Weiterverarbeitung zugeführt. Das Bildverarbeitungssystem berechnet aus den Bilddaten über eine Triangulationsrechnung die dreidimensionale Gestalt des Objektes 4. Fig. 1 shows a simplified schematic representation of a device for optical measurement of objects rule according to an embodiment of the invention. A device for the optical measurement of an object 4 contains a Projektionseinrich tung, consisting of light source 1, the projection grid 2 and optics 8, with the vertical Li nienmuster 3 'and horizontal line patterns 3' on which it be generated object to be measured. 4 Using an optical system 9 , an image 5 of the line patterns 3 ′ and 3 ″ projected onto the object is generated on an image sensor 6 . Optics 9 and image sensor 6 can be components of a camera or video camera. Using an image processing system 7 , the surface contour of the object 4 to be measured is calculated from the image of the projected line pattern 3 'and 3 ''. The image processing system 7 can consist of a microcomputer with a built-in image acquisition card (frame grabber). By means of the projection grid 2 , the two line grid sequences 2 ′ and 2 ″ are generated one after the other and projected onto the object 4 . The grid sequences shown correspond in the embodiment shown to those of the CLA method, the line grid sequence 2 ″ being rotated 90 ° with respect to the line grid sequence 2 ′. The individual line grids of the line grid sequences 2 'and 2 ''are shown in their chronological order along the time axis t. You are conveniently grid with only one projection, z. B. the dot matrix of an LCD panel. All projected line gratings are recorded with the image sensor 6 and fed to the image processing system 7 for further processing. The image processing system calculates the three-dimensional shape of the object 4 from the image data using a triangulation calculation.

Die Erzeugung von Projektionsstrahlen durch Verschneidung von Lichtschnittebenen ist in Fig. 2 dargestellt. Sind beide Liniengittersequenzen projiziert, so identifiziert die eine Liniengittersequenz die Lichtschnittebene E' und die andere Liniengittersequenz die Lichtschnittebene E''. Die vertikale Lichtschnittebene E' geht dabei von der vertikalen Linie L' des Projektionsgitters 2 aus, die horizontale Lichtschnittebene E'' von der hori­ zontalen Linie L''. Die Verschneidung der beiden Lichtschnittebenen E' und E'' ergibt den Projektionsstrahl p mit Richtungsvektor der, ausgehend vom Schnittpunkt G der Gitterlinie L' mit Git­ terlinie L'', am Punkt O des Objektes 4 auftrifft. Der Punkt O wird entlang des Beob­ achtungsstrahls b mit Richtungsvektor der Bildkoordinate auf dem Bildsensor 6 abgebildet. Die Raumkoordinate des Punktes O ergibt sich also als Schnittpunkt des Projektionsstrahls p mit Beobachtungsstrahl b.The generation of projection beams by intersection of light section planes is shown in FIG. 2. If both line grating sequences are projected, one line grating sequence identifies the light section plane E 'and the other line grating sequence the light section plane E''. The vertical light section plane E 'starts from the vertical line L' of the projection screen 2 , the horizontal light section plane E '' from the horizontal line L ''. The intersection of the two light section planes E 'and E''results in the projection beam p with the direction vector which, starting from the intersection point G of the grid line L' with the grid line L '', strikes the point O of the object 4 . The point O is imaged along the observation beam b with the direction vector of the image coordinate on the image sensor 6 . The spatial coordinate of point O thus results as the point of intersection of the projection beam p with the observation beam b.

Für die Kalibrierung der Kamera sind zahlreiche Verfahren bekannt. Sie muß deshalb hier nicht weiter erläutert werden. Die Kalibrierung der Projektionseinrichtung mit Un­ terscheidung einzelner Projektionsstrahlen ist in Fig. 3 dargestellt. Hierbei wird eine Kalibrierplatte 10 mit Kalibriermarken entlang des Vektors verschoben. Die Abbil­ dung zeigt exemplarisch die Kalibrierung des vom Punkt des Projektionsgitters 2 aus­ gehenden Projektionsstrahls p. Der Durchstoßpunkt des Projektionsstrahls p durch die Kalibrierplatte 10 liefert den Ortsvektor des Projektionsstrahles p, die Richtung des Projektionsstrahles p ergibt sich als die Summe der Vektoren und ( = + ). Die Verschiebung des Durchstoßpunktes von Projektionsstrahl p und Kalibrierplatte 10 kann auf dem Bildsensor 6 als Verschiebung beobachtet werden. Zur Verschie­ bung der Kalibrierplatte wird zweckmäßigerweise ein präzis arbeitender Linearversteller verwendet, so daß mit großer Genauigkeit bekannt ist. Besteht der Bildsensor aus einer diskreten Anzahl von Bildpunkten, so wird die Verschiebung u. U. keinem ganzzahligen Vielfachen des Bildpunktabstandes entsprechen. Der genaue Durchstoß­ punkt des Beobachtungsstrahls durch den Bildsensor wird dann zweckmäßigerweise durch Interpolation aus den ihn umgebenden Bildpunkten berechnet.Numerous methods are known for calibrating the camera. Therefore, it need not be explained further here. The calibration of the projection device with a distinction between individual projection beams is shown in FIG. 3. Here, a calibration plate 10 with calibration marks is moved along the vector. The figure shows an example of the calibration of the projection beam p starting from the point of the projection grating 2 . The point of penetration of the projection beam p through the calibration plate 10 provides the location vector of the projection beam p, the direction of the projection beam p is the sum of the vectors and (= +). The displacement of the penetration point of the projection beam p and the calibration plate 10 can be observed on the image sensor 6 as a displacement. To move the calibration plate, a precisely working linear adjuster is advantageously used, so that it is known with great accuracy. If the image sensor consists of a discrete number of pixels, the shift u. U. do not correspond to an integer multiple of the pixel spacing. The exact point of penetration of the observation beam through the image sensor is then expediently calculated by interpolation from the pixels surrounding it.

Claims (13)

1. Verfahren zur flächenhaften, dreidimensionalen, optischen Vermessung von Objekten, bei dem mittels eines Projektors Lichtmuster auf das zu vermessende Objekt projiziert, Abbildungen von den auf das zu vermessende Objekt projizierten Lichtmustern auf dem Bildsensor einer Kamera erzeugt, und aus den erzeugten Abbildungen über Entschlüsse­ lung des Lichtcodes und die Position der Bildpunkte auf dem Bildsensor der Kamera eine Triangulationsrechnung zur Berechnung der Oberflächenkontur des Objektes durchgeführt wird, dadurch gekennzeichnet,
daß zwei in Projektionsrichtung gegeneinander verdrehte Liniengittersequenzen zur Er­ zeugung eindeutig unterscheidbarer Lichtschnittebenen projiziert und mit der Kamera aufgenommen werden, wobei die mit einer Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnitt­ ebenen dazu verwendet werden, um die mit der anderen Liniengittersequenz erzeugten Lichtschnittebenen in einzelne, eindeutig unterscheidbare und von ortsfesten Punkten des diese Lichtschnittebenen erzeugenden Projektionsgitters ausgehende Projektions­ strahlen aufzuteilen,
daß jedem Projektionsstrahl durch Kombination der aus den beiden Liniengittersequen­ zen erzeugten eindeutigen Codierungen der Lichtschnittebenen eine eindeutige Codie­ rung zugewiesen wird,
daß für jeden Projektionsstrahl innerhalb des dem zu vermessenden Objektes zugewand­ ten Projektionskegels durch eine Kalibrierung unmittelbar oder mittelbar ein Ortsvektor und ein Richtungsvektor bestimmt werden,
daß die Triangulation für alle auszuwertenden Bildpunkte des Bildsensors jeweils durch Berechnung des Schnittpunktes des durch die Position des Bildpunktes auf dem Bildsensor festgelegten Beobachtungsstrahls mit dem durch die eindeutige Codierung an diesem Bildpunkt identifizierten Projektionsstrahl durchgeführt wird.
1. Method for areal, three-dimensional, optical measurement of objects, in which light patterns are projected onto the object to be measured by means of a projector, images of the light patterns projected onto the object to be measured are generated on the image sensor of a camera, and from the generated images via decisions the light code and the position of the pixels on the image sensor of the camera, a triangulation calculation is carried out to calculate the surface contour of the object, characterized in that
that two line grid sequences rotated against each other in the direction of projection for the production of clearly distinguishable light section planes are projected and recorded with the camera, the light section planes generated with a line grid sequence being used to convert the light section planes generated with the other line grid sequence into individual, clearly distinguishable and fixed points splitting out the projection beams of the projection grating producing these light section planes,
that each projection beam is assigned a unique coding by combining the unique codes of the light section planes generated from the two line grating sequences,
that a location vector and a direction vector are determined directly or indirectly for each projection beam within the projection cone facing the object to be measured,
that the triangulation for all pixels of the image sensor to be evaluated is in each case carried out by calculating the intersection of the observation beam determined by the position of the pixel on the image sensor with the projection beam identified by the unique coding at this pixel.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Linien der einen Liniengittersequenz senkrecht und die Linien der anderen Li­ niengittersequenz waagerecht zu der durch die optischen Achsen von Projektor und Ka­ mera aufgespannten Triangulationsebene ausgerichtet sind. 2. The method according to claim 1, characterized in that that the lines of one line grid sequence perpendicular and the lines of the other Li grid sequence horizontally to that through the optical axes of the projector and Ka mera spanned triangulation plane are aligned.   3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Kalibrierung der Projektionsstrahlen ein Kalibrierkörper geradlinig verschoben wird und Ort und Richtung der Projektionsstrahlen aus den Schnittpunkten der Pro­ jektionsstrahlen mit dem Kalibrierkörper bzw. aus der Verschiebung des Kalibrierkör­ pers und aus den hierdurch erzeugten Lageänderungen der Schnittpunkte der Pro­ jektionsstrahlen mit dem Kalibrierkörper berechnet werden.3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that a calibration body displaced in a straight line for the calibration of the projection beams and the location and direction of the projection beams from the intersections of the Pro jection beams with the calibration body or from the displacement of the calibration body pers and from the resulting changes in position of the intersection of the Pro injection beams can be calculated with the calibration body. 4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Liniengittersequenz eine solche verwendet wird, die einer der in der Patentan­ meldung AZ 197 38 179.0752 offengelegten Verfahren zur Ermittlung absoluter, nicht 2π modulierter Phasenwinkel entspricht.4. The method according to claim 1 to 3, characterized in that as a line grid sequence one is used which is one of those described in the patent report AZ 197 38 179.0752 disclosed methods for determining absolute, not 2π modulated phase angle corresponds. 5. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Liniengittersequenz die des Codierten Lichtansatzes verwendet wird.5. The method according to claim 1 to 3, characterized in that that of the coded light approach is used as the line grid sequence. 6. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Liniengittersequenz die eines Phasenshiftverfahrens zur Berechnung absoluter, nicht 2π modulierter Phasenwinkel verwendet wird.6. The method according to claim 1 to 3, characterized in that as a line grid sequence that of a phase shift method for calculating absolute, not 2π modulated phase angle is used. 7. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 6 mit einer Projektionseinrichtung bestehend aus Lichtquelle (1), Projektionsgitter (2) und Optik (8) zur Erzeugung von Linienmustern auf dem zu vermessenden Objekt (4), einer Optik (9) zur Erzeugung von Abbildungen (5) der auf das Objekt projizierten Linienmu­ ster auf einem Bildsensor (6), und einem Bildverarbeitungssystem (7) zur Berechnung der Oberflächenkontur aus den erzeugten Abbildungen (5), dadurch gekennzeichnet, daß ein Projektionsgitter (2) zwei in Projektionsrichtung gegeneinander verdrehte Li­ niengittersequenzen (2') und (2'') erzeugt, wobei die mit einer Liniengittersequenz (2'') erzeugten Lichtschnittebenen die mit der anderen Liniengittersequenz (2') erzeugten Lichtschnittebenen in einzelne, eindeutig unterscheidbare und von ortsfesten Punkten des Projektionsgitters (2) ausgehende Projektionsstrahlen aufteilen. 7. Device for performing the method according to one of claims 1 to 6 with a projection device consisting of light source ( 1 ), projection grating ( 2 ) and optics ( 8 ) for generating line patterns on the object to be measured ( 4 ), an optics ( 9 ) for generating images ( 5 ) of the line pattern projected onto the object on an image sensor ( 6 ), and an image processing system ( 7 ) for calculating the surface contour from the generated images ( 5 ), characterized in that a projection screen ( 2 ) has two Line grid sequences ( 2 ') and ( 2 '') rotated against each other in the direction of projection, the light section planes generated with a line grid sequence ( 2 '') converting the light section planes generated with the other line grid sequence ( 2 ') into individual, clearly distinguishable and fixed points of the projection grating ( 2 ) divide outgoing projection beams. 8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein als Punktematrix ausgebildetes Projektionsgitter die beiden Liniengittersequen­ zen (2') und (2'') erzeugt, wobei die Linien der einen Liniengittersequenz durch die Zei­ len der Punktematrix gebildet werden und die Linien der anderen Liniengittersequenz durch die Spalten der Punktematrix gebildet werden.8. Device according to claim 7, characterized in that a projection grid designed as a dot matrix generates the two line grid sequences zen ( 2 ') and ( 2 ''), the lines of a line grid sequence being formed by the lines of the dot matrix and the lines of the other line grid sequence are formed by the columns of the dot matrix. 9. Einrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Punktematrix aus einem LCD-Panel besteht.9. Device according to claim 8, characterized in that the dot matrix consists of an LCD panel. 10. Einrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Punktematrix aus einem Mikro-Spiegel-Modulator (MMD = micro mirror device) besteht.10. Device according to claim 8, characterized in that the dot matrix from a micro mirror modulator (MMD = micro mirror device) exists. 11. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Projektionsgitter (2) aus zwei auf der optischen Achse der Optik (8) unmittelbar hintereinander angeordneten Liniengittern besteht.11. The device according to claim 7, characterized in that the projection grating ( 2 ) consists of two line gratings arranged one behind the other on the optical axis of the optics ( 8 ). 12. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein in der Gitterebene drehbares Liniengitter die beiden Liniengittersequenzen er­ zeugt.12. The device according to claim 7, characterized in that that a line grid rotatable in the grid plane he the two line grid sequences testifies. 13. Einrichtung nach Anspruch 7 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß zur Kalibrierung der Projektionsstrahlen eine Verschiebevorrichtung einen Kali­ brierkörper (10) geradlinig verschiebt, ein Bildsensor (6) die Schnittpunkte der Projek­ tionsstrahlen mit dem Kalibrierkörper (10) und die durch die Verschiebung des Kali­ brierkörpers (10) erzeugten Lageänderungen der Schnittpunkte der Projektionsstrahlen mit dem Kalibrierkörper (10) beobachtet und ein an den Bildsensor (6) angeschlossenes Bildverarbeitungssystem daraus Ort und Richtung der Projektionsstrahlen berechnet (Fig. 3).13. The device according to claim 7 to 12, characterized in that for the calibration of the projection beams a displacement device a Kali brier body ( 10 ) moves in a straight line, an image sensor ( 6 ), the intersection of the projection beams with the calibration body ( 10 ) and by the displacement of Kali brierkörpers ( 10 ) generated changes in position of the intersection of the projection beams with the calibration body ( 10 ) observed and an image processing system connected to the image sensor ( 6 ) calculated from this location and direction of the projection beams ( Fig. 3).
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