CN101473188B - 利用电磁感应来检测物体的物体检测装置 - Google Patents

利用电磁感应来检测物体的物体检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101473188B
CN101473188B CN2007800224636A CN200780022463A CN101473188B CN 101473188 B CN101473188 B CN 101473188B CN 2007800224636 A CN2007800224636 A CN 2007800224636A CN 200780022463 A CN200780022463 A CN 200780022463A CN 101473188 B CN101473188 B CN 101473188B
Authority
CN
China
Prior art keywords
loop wire
wire group
loop
electromagnetic coupled
group
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN2007800224636A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101473188A (zh
Inventor
小川保二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Newcom Inc
Original Assignee
Newcom Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Newcom Inc filed Critical Newcom Inc
Publication of CN101473188A publication Critical patent/CN101473188A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101473188B publication Critical patent/CN101473188B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/003—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring position, not involving coordinate determination
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/023—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring distance between sensor and object
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/20—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature
    • G01D5/204—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature by influencing the mutual induction between two or more coils
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2611—Measuring inductance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V3/00—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
    • G01V3/08—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices
    • G01V3/10—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils
    • G01V3/101—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils by measuring the impedance of the search coil; by measuring features of a resonant circuit comprising the search coil
    • G01V3/102—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils by measuring the impedance of the search coil; by measuring features of a resonant circuit comprising the search coil by measuring amplitude
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/046—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by electromagnetic means

Abstract

提供了一种物体检测装置，所述物体检测装置能够检测由导电或磁性材料制成的物体的形状或离该物体的距离，并且能够检测由非导电/非磁性材料制成的诸如手指的物体的指示位置。所述物体检测装置通过利用电磁感应来检测放置在检测表面上并由导电或磁性材料制成的待测物体的形状或离该待测物体的距离。所述物体检测装置包括在同一平面上平行地布置的多个第一环线(1)的第一环线组，在同一平面上平行地布置的多个第二环线(2)的第二环线组，以及用于使它们之间的距离保持不变的间隔物(3)。在垂直于所述第一环线(1)的方向上分别地设置所述第二环线(2)。所述物体检测装置进一步包括用于将所述第一环线和所述第二环线电磁耦合的多个电磁耦合单元。驱动单元(20)驱动所述第一环线组，以及检测单元(30)检测所述第二环线组的所述电磁耦合单元的耦合的变化。

Description

利用电磁感应来检测物体的物体检测装置 
技术领域
本发明涉及一种用于检测物体的物体检测装置，更具体地说，涉及一种利用电磁感应来检测由导电或磁性材料制成的待测物体的形状和距离该待测物体的距离的物体检测装置。 
背景技术
已经公知利用电磁感应来检测由导电或磁性材料制成的物体的传统的技术，例如，在专利文献1中公开了这种技术。这种技术在检测表面上二维地布置多个感应线圈，并根据在各感应线圈处的感应系数的变化来检测由导电或磁性材料制成的位置指示器的位置。此外，已知在专利文献2中公开了一种技术，该技术以矩阵形式布置多个传感器部，每个传感器部具有位于线圈之间的缓冲材料，并根据电磁耦合的程度的变化来检测在传感器部上的压力分布。 
专利文献1：日本专利特开平10-198494 
专利文献2：日本专利特开2005-156474 
发明内容
本发明所要解决的问题 
然而，用于检测由导电或磁性材料制成的物体的传统的物体检测装置具有以下问题。就是说，在专利文献1中公开的技术目的在于检测仅由导电或磁性材料制成的物体，因此不能检测由非导电/非磁性材料制成的诸如手指(finger)的物体指示的位置。此外，在这种技术中，需要具有与感应线圈相同数量的切换器，因此必须提供大量的感应线圈和切换器，以便检测物体的形状，因而增加了成本。
另外，在专利文献2中公开的技术中，当由导电或磁性材料制成的物体被放置在传感器上时，尽管感应电流或感应电压应通过压力增加，但由于导电或磁性材料的影响而导致感应电流或感应电压减小或增加。因此，能够利用该技术测量的物体局限于导电或磁性材料。 
由于以上情况，做出本发明，其目的是要提供一种物体检测装置，该物体检测装置能以低成本稳定地检测由导电或磁性材料制成的物体的形状，和离该物体的距离，并进一步能检测由非导电/非磁性材料制成的诸如手指的物体的指示位置。 
解决问题的手段 
为了实现以上目的，根据本发明的一个方面，提供一种物体检测装置，该物体检测装置利用电磁感应来检测放置在该装置的检测表面上由导电或磁性材料制成的待测物体的形状或离该物体的距离，所述物体检测装置包括：第一环线组，其中多个第一环线彼此平行地布置在同一平面上，多个第一环线中的每个都具有多个线圈形状的部分；第二环线组，其中多个第二环线彼此平行地布置在同一平面上，多个第一环线中的每个都具有多个线圈形状的部分；第二环线组与第一环线组平行地布置，并且多个第二环线分别垂直于多个第一环线布置；间隔物，其使第一环线组与第二环线组之间的距离保持不变；多个电磁耦合部，在所述电磁耦合部处第一环线和第二环线通过位于第一环线和第二环线之间的交叉处的线圈形状的部分彼此电磁耦合；驱动器，该驱动器连接到第一环线组和第二环线组中的一个，并驱动连接到该驱动器的环线组；以及检测器，该检测器连接到第一环线组和第二环线组中的另一个，并从连接到该检测器的环线组检测电磁耦合部的每个处的电磁耦合的程度的变化。 
第一环线的每个的线圈形状的部分在尺寸上可以不同于第二环线的每个的线圈形状的部分。
物体检测装置可以包括：第一环线组，其中多个第一环线彼此平行地布置在同一平面上，所诉多个第一环线每个都具有多个线圈形状的部分；第二环线组，其中多个直线形状的第二环线彼此平行地布置在同一平面上；第二环线组平行于第一环线组布置，并且多个第二环线分别垂直于多个第一环线布置；间隔物，其使第一环线组与第二环线组之间的距离保持不变；多个电磁耦合部，在所述电磁耦合部处第一环线和第二环线通过位于第一环线与第二环线之间的交叉处的线圈形状的部分彼此电磁耦合；驱动器，该驱动器连接到第一环线组和第二环线组的中的一个，并驱动连接到该驱动器的环线组；以及检测器，该检测器连接到第一环线组和第二环线组中的另一个，并从连接到该检测器的环线组检测所述电磁耦合部的每个处的电磁耦合的程度的变化。 
此外，物体检测装置可以包括：第一环线组，其中多个直线形状的第一环线彼此平行地布置在同一平面上；第二环线组，其中多个直线形状的第二环线彼此平行地布置在同一平面上；第二环线组平行于第一环线组布置，并且多个第二环线分别垂直于多个第一环线布置；间隔物，其使第一环线组与第二环线组之间的距离保持不变；多个电磁耦合部，在电磁耦合部处第一环线和第二环线通过位于第一环线与第二环线之间的交叉处附近的多个导电板彼此电磁耦合；驱动器，所述驱动器连接到第一环线组和第二环线组中的一个，并驱动连接到该驱动器的环线组；以及检测器，该检测器连接到第一环线组和第二环线组中的另一个，并从连接到该检测器的环线组检测电磁耦合部的每个处的电磁耦合的程度的变化。 
导电板可以设置在位于相邻的第一环线之间且位于相邻的第二环线之间的部分附近。 
导电板可以设置在位于第一环线附近且位于相邻的第二环线之间的部分处，以及设置在位于第二环线附近且位于相邻的第一环线之间 的部分处。 
导电板可以被固定以便导电板与第一环线组之间的距离以及导电板与第二环线组之间的距离分别都是不变的。 
导电板可以通过弹性材料设置在第一环线组及第二环线组附近。在这种情况中，导电板与第一环线组之间的距离以及导电板与第二环线组之间的距离被施加到该导电板上的压力改变。 
导电板可以形成为线圈形状。 
当待测物体和不同于该待测物体的位置指示器被放置在检测表面上时，在来自第一环线组和第二环线组中的一个的输出信号的电平减小的情况下，检测器检测该待测物体的形状，而在来自第一环线组和第二环线组中的一个的输出信号的电平增加的情况下，检测器检测由位置指示器指示的位置。 
位置指示器可以具有以特定频率同步的同步电路。在这种情况中，驱动器以特定频率来驱动第一环线组和第二环线组中的另一个。 
此时，当待测物体、具有同步电路的位置指示器、以及不具有同步电路的位置指示器被放置在检测表面上时，驱动器以第一频率和第二频率来驱动第一环线组和第二环线组中的另一个，并且同步电路以第二频率同步。当在以第一频率驱动第一环线组和第二环线组中的另一个的情况下，来自第一环线组和第二环线组中的一个的输出信号的电平减小时，检测器可以检测待测物体的形状。当在以第一频率驱动在第一环线组和第二环线组中的另一个的情况下，来自第一环线组和第二环线组中的一个的输出信号的电平增加时，检测器可以检测由不具有同步电路的位置指示器指示的位置。当在以第二频率驱动第一环线组和第二环线组中的另一个的情况下获得的输出信号的电平高于在以第一频率驱动第一环线组和第二环线组的另一个的情况下获得的输出信号的电平时，检测器可以检测由具有同步电路的位置指示器指示的位置。 
本发明的优点 
根据本发明的物体检测装置具有以下优点，即能以低成本结构稳定地检测由导电或磁性材料制成的物体的形状和离该物体的距离。此外，该物体检测装置能够被配置为检测诸如手指的非导电/非磁性材料，以及检测由含有同步电路的位置指示器指示的位置。 
具体实施方式
图1是用于解释根据本发明的物体检测装置的整体构造的示意图； 
图2是解释根据本发明的物体检测装置的电磁耦合部的构造的部分检测表面的俯视图；图2(a)示出以线圈形状形成的各布线的示例，图2(b)示出以线圈形状形成一组布线，并且以直线形状形成另一组布线的示例，以及图2(c)示出以矩形形状形成一组布线，并且以直线形状形成另一组布线的示例； 
图3是用于解释根据本发明的物体检测装置的电磁耦合部的另一构造的图；图3(a)是部分检测表面的俯视图，以及图3(b)是部分检测表面的透视剖面图； 
图4是用于解释在根据本发明的物体检测装置中的导电板的布置的变化的视图； 
图5是解释在根据本发明的物体检测装置中的导电板的另一构造示例的部分检测表面的透视剖面图； 
图6是用于解释测量各种待测物体的过程的流程图。 
附图标记说明： 
1：第一环线 
2：第二环线 
3：绝缘材料 
4：导电板 
5：弹性材料 
10：检测表面 
20：驱动部 
21：振荡器 
22：驱动器 
23：切换器 
30：检测部 
31：切换器 
32：放大器 
33：同步检测部 
34：A/D转换部 
40：微型计算机 
将参照附图来描述用于实施本发明的优选实施例。图1是用于解释根据本发明的物体检测装置的整体构造的示意图。如图所示，根据本发明的物体检测装置在其检测表面10上具有第一环线组和第二环线组，其中所述第一环线组具有多个第一环线1，所述第二环线组具有多个第二环线2。根据本发明的物体检测装置进一步包括驱动部20和检测部30，其中所述驱动部20连接到第一环线1以便驱动第一环线组，所述检测部30连接到第二环线1以便从第二环线组检测电磁耦合的程度的变化。虽然在图1中驱动部20连接到第一环线1，检测部30连接到第二环线2，但本发明不局限于这种构造，驱动部20可以连接到第二环线2，检测部30可以连接到第一环线1。 
附图说明
在本发明的物体检测装置中，第一环线1和第二环线2构成提供电磁耦合部的检测表面10，并且以高频驱动第一环线1。当由导电材料制成的待测物体被放置在检测表面上时，由于待测物体的影响(屏 蔽效应)而导致电磁耦合的程度减小，从而从第二环线2测到的感应电流或感应电压变小。另一方面，当由磁性材料制成的待测物体被放置在检测表面上时，电磁耦合的程度增加，从而从第二环线2测到的感应电流或感应电压变大。本发明的物体检测装置利用这个现象来检测出现变化的电磁耦合部分的位置，来由此检测待测物体的形状和离该物体的距离。在待测物体由具有非常数电导率的导电材料制成或由非常数磁导率的磁性材料制成的情况中，还能够检测电导率或磁导率的变化分布。 
在根据本发明的物体检测装置中，第一环线组由在同一平面中彼此平行地布置的多个第一环线1组成。第二环线组由在同一平面中彼此平行地布置的多个第二环线2组成。第二环线组平行于第一环线组布置，并且第二环线2垂直于第一环线1布置。在第一和第二环线组之间形成预定间距以便使其之间的距离保持不变。就是说，绝缘材料3被设置在第一和第二环线组之间以便它们不会彼此接触并且使其之间的距离保持不变。绝缘材料3可以与构成检测表面10的材料整合或分离。 
在根据本发明的物体检测装置中，第一环线1和第二环线2彼此电磁耦合。下面，将描述根据本发明的物体检测装置的电磁耦合部的更具体构造。 
图2是检测表面的一部分的俯视图，用以解释根据本发明的物体检测装置的电磁耦合部的构造。图2(a)示出以线圈形状形成各布线的示例，图2(b)示出以线圈形状形成一组布线并且以直线形状形成另一组布线的示例，以及图2(c)示出以矩形形状形成一组布线并且以直线形状形成另一组布线的示例。在根据本发明的物体检测装置中，能够形成如图2(a)所示的电磁耦合部从而第一和第二环线1和2彼此电磁耦合。在图2(a)的示例中，以弧形形状形成第一环线1来构成小直径线圈，并且以重叠的方式以弧形形状形成垂直于第一环线1 的第二环线2来构成大直径线圈。这种构造允许形成电磁耦合部。虽然在附图的示例中由第一环线1形成的线圈形状的弧的直径小于由第二环线2形成的线圈形状的弧的直径，但本发明不局限于这种构造。例如，由第一环线1形成的线圈形状的弧的直径可以等于由第二环线2形成的线圈形状的弧的直径。 
还能够形成如图2(b)中所示的电磁耦合部从而第一和第二环线1和2彼此电磁耦合。在图2(b)的示例中，以弧形形状形成第二环线2来构成线圈，并且以直线的形状形成垂直于第二环线2的第一环线1。这个构造也允许形成电磁耦合部。虽然在该示例中以弧形形状形成第二环线2，并且以直线形状形成第一环线1，但本发明不局限于这种构造，还可以采用以直线形状形成第二环线2并且以弧形形状形成第一环线1的构造。根据本发明的物体检测装置的环线可以具有诸如菱形或螺旋形的任何形状，只要它们形成能够电磁耦合的线圈。 
还能够形成如图2(c)中所示的电磁耦合部从而第一和第二环线彼此电磁耦合。在图2(c)的示例中，以矩形形状形成第二环线2来构成线圈，并且以直线形状形成垂直于第二环线2的第一环线1。该构造也允许形成电磁耦合部。虽然在该示例中以矩形形状形成第二环线2，并且以直线形状形成第一环线1，但本发明不局限于这种构造，而是可以采用以直线形状形成第二环线2，并且以矩形形状形成第一环线1的构造。此外，可以采用第一和第二环线都以矩形形状形成的构造。 
如上所述，第一和第二环线被形成为彼此电磁耦合。能够将电磁耦合部的每一个形成为诸如弧形形状、直线形状、和菱形形状的各种形状的线圈，以便允许第一和第二环线彼此电磁耦合。此外，在驱动侧的环线和检测侧上的环线之间的电磁耦合部处的线圈尺寸可以相同。然而，替代地，在第一和第二环线之间的线圈尺寸可以不同。本发明人进行的实验表明当第一和第二环线的线圈尺寸不同时，检测灵敏度增加。更具体地说，根据本发明人在给定的条件下进行的实验， 当待测物体被放置在检测表面上时，在第一和第二环线之间的线圈尺寸相同的情况下发生约20％的变化，而在第一和第二环线之间的线圈中的一个是另一线圈的尺寸一半的情况下发生约60％的变化。由此明显可见，为了增加检测灵敏度，优选改变第一和第二环线之间的线圈尺寸。注意即使当使用小或大线圈作为驱动线圈时，也获得如上相同的结果。 
另外，根据本发明的物体检测装置中，能够形成如图3中所示的电磁耦合部，从而第一和第二环线1和2以间接方式彼此电磁耦合。图3示出下述示例，即分别以直线形状形成第一和第二环线，同时导电板被设置在第一和第二环线之间的重叠部分附近以便允许第一和第二环线彼此电磁耦合。图3(a)是检测表面的一部分的俯视图，而图3(b)是检测表面的一部分的透视剖面图。如图所示，通过在直线地形成的第一和第二环线1和2彼此正交的每个部分附近形成导电板4来提供电磁耦合部中的每个。虽然在以直线形状地正交地形成的第一和第二环线1和2之间没有实现电磁耦合，但当这样设置导电板4时，发生涡电流以允许在第一和第二环线1和2之间实现间接电磁耦合。虽然在图中导电板4设置在第一和第二环线彼此正交的部分上方，但本发明不局限于此，而是只要实现电磁耦合，导电板可以设置在第一和第二环线彼此正交的部分下方。此外，虽然在图中导电板4被设置为覆盖第一和第二环线1和2彼此正交的部分，但本发明不局限于此，而是导电板4还可以设置在由彼此交叉的布线限定的四边形区域内，以便当从图的上方观察时导电板4不与这些线重叠。在这种情况中，导电板4可以不被设置在第一环线1或第二环线2上方，而是设置在与第一环线1或第二环线2的相同的平面上。 
除第一和第二环线1和2彼此正交的部分的附近外，导电板4可以以以下形式设置。图4是用于解释在根据本发明的物体检测装置中导电板的布置的变化的视图。图4(a)示出导电板4设置在位于第一环线组的相邻的第一环线1之间且位于第二环线组的相邻的第二环线2 之间的部分的附近的示例。图4(b)示出通过将图3和图4(a)中所示的构造进行组合而获得的布置示例，其中导电板4设置在位于第一和第二环线1和2彼此正交的部分的附近以及位于第一环线组的相邻的第一环线1之间且位于第二环线组的相邻的第二环线2之间的部分的附近。图4(c)示出导电板4设置在位于第一环线1的附近且位于相邻的第二环线2之间的部分以及位于第二环线2的附近且位于相邻的第一环线1之间的部分的示例。利用导电板的这种布置形式，能够形成电磁耦合部。虽然导电板4设置在由彼此正交的布线限定的四边形区域内，以便当从图的上方观察时，不会与这些布线重叠，本发明不局限于此，如图3中所示，可以以下述方式设置导电板4，即以当从图上方观察时与这些布线重叠。 
如果只需要检测将要放置在检测表面上的由导电或磁性材料制成的物体的形状和离该物体的距离，则可以将导电板4固定从而导电板4与第一环线组之间的距离以及导电板4与第二环线组之间的距离分别是不变的。导电板4可以被埋入构成检测表面10的绝缘材料3中或者可以利用护板等保护其不被暴露。此外，虽然在图中导电板4具有四边形形状，但本发明不局限于此，导电板4还可以以圆形形状形成或以在中心具有孔的线圈形状形成。 
将再次参照图1来描述根据本发明的物体检测装置的特定检测过程。首先，通过驱动部20驱动第一环线组。更具体地，驱动部20主要由高频振荡器21、驱动器22、和切换器23组成，并且驱动部20顺序地连接到各第一环线，以从而顺序地驱动第一环线1。替代地，可以采用对于每个第一环线改变驱动频率，并且一次驱动这些第一环线的构造。 
第二环线2连接到检测部30，检测部30检测第一和第二环线1和2之间的电磁耦合的程度的变化。检测部30主要由切换器31、放大器32、同步检测部33、和A/D(模拟/数字)转换部34组成。检测部 30顺序地连接到第二环线2，以从而顺序地检测来自这些第二环线的感应电流或感应电压。还连接到振荡器21的输出的同步检测部33，将振荡器21的输出与第二环线的每个的输出相乘，并且对结果进行时间积分。可以采用下述构造：即通过为各第二环线提供检测电路或者通过以组合的方式使用频率滤波器电路来一次检测来自所有检测线圈的感应电流或感应电压。 
驱动部20和检测部30通过诸如DSP(数字信号处理)等的微型计算机40来控制，并被配置为能够获得需要的输出。具体地，首先将驱动部20连接到第一环线中的第一个，并且将检测部30顺序地连接到第二环线以便在这个例程测量输出信号。之后，将驱动部20连接到第一环线中的第二个，并且将检测部30顺序地连接到第二环线以便在这个例程测量输出信号。通过重复以上过程，能够测量对应于第一和第二环线之间的交叉点的XY坐标的检测表面10上的所有位置处的输出信号。可以采用下述过程：即将检测部30连接到第二环线中的第一个，并且将驱动部20顺序地连接到第一环线以便在这个例程测量输出信号。驱动部和检测部的构造不局限于图1中所示的示例，而是只要驱动部能够驱动第一环线，并且检测部能够检测来自第二环线的感应电流或感应电压，驱动部和检测部可以具有任意构造。 
当导电材料被放置在检测表面上10时，在对应于由导电材料覆盖的第一和第二环线1和2之间的交叉处的每个部分处的电磁耦合的程度被减小，从而从第二环线2测得的感应电流或感应电压变小。然后，对输出已经减小所在的XY坐标进行绘制。结果是，能够检测放置在检测表面上的导电材料的形状。在接触检测表面的一侧上的导电材料的表面不是平整而是不规则等的情况中，从第二环线2测得的感应电流或感应电压的减小程度变化。这允许根据输出的大小来检测导电材料与检测表面之间的距离。结果是，能够根据输出的变化分布来检测导电材料的表面的状态。在具有非常数电导率的导电材料被放置在检测表面上的情况中，能够根据输出的变化分布来检测电导率的变化分布。 
当磁性材料被放置在检测表面10上时，在对应于由磁性材料覆盖的第一和第二环线1和2之间的交叉处的每个部分处的电磁耦合的程度增加，从而从第二环线2测得的感应电流或感应电压变大。然后，对输出已经增大所在的XY坐标进行绘图。结果是，能够检测放置在检测表面上的磁性材料的形状。在接触检测表面的一侧上的磁性材料的表面不是平整而是不规则等的情况中，从第二环线2测得的感应电流或感应电压的减小程度变化。这允许根据输出的大小来检测磁性材料与检测表面之间的距离。结果是，能够根据输出的变化分布来检测磁性材料的表面的状态。在具有非常数磁导率的磁性材料被放置在检测表面上的情况中，能够根据输出的变化分布来检测磁导率的变化分布。 
将参照图5来描述本发明的另一实施例。图3中所示的导电板被固定以便使导电板4与第一环线组之间的距离以及导电板4与第二环线组之间的距离分别保持不变。另一方面，图5中所示的实施例具有导电板4与第一环线组之间的距离和导电板4与第二环线组之间的距离变化的构造。如图5中所示，第一和第二环线1和2被设置在绝缘材料3中，同时弹性材料5被设置在绝缘材料3与导电板4之间。当对导电板4施加压力时，导电板4与第一环线组之间的距离以及导电板4与第二环线组之间的距离变化。当导电板4与第一环线组之间的距离以及导电板4与第二环线组之间的距离变化时，来自第二环线的输出信号也变化。更具体地说，当导电板4与第一环线组之间的距离以及导电板4与第二环线组之间的距离变小时，电磁耦合的程度增加，从而从第二环线测得的感应电压或感应电流增加。图5中所示的本发明的物体检测装置利用这个现象以从而不仅检测导电或磁性材料的形状以及离该材料的距离，还检测作为施加有压力的指示位置的电磁耦合部的程度变化的位置。 
将描述根据本发明的物体检测装置的特定检测过程。在由非导电/非磁性材料制成的诸如手指或绝缘体的物体作为位置指示器被放置在 检测表面10上的情况中，使导电板4靠近第一和第二环线1和2，从而在指示位置处的电磁耦合的程度增加，从而来自第二环线2的输出信号的电平增加。类似地，在导电材料被放置在检测表面10上的情况中，导电板4由于其重量导致靠近第一和第二环线1和2以增加电磁耦合的程度。然而，由导电材料引起的屏蔽效应更强，以致来自第二环线2的输出信号的电平减小。因此，当来自第二环线2的输出信号的电平减小时，检测部30确定放置在检测表面10上的物体是导电材料并检测该导电材料的形状和离该导电材料的距离。当来自第二环线2的输出信号的电平增加时，检测部30确定放置在检测表面10上的物体是位置指示器并检测由该位置指示器指示的位置。在磁性材料被放置在检测表面10上的情况中，与在非导电/非磁性材料的情况中一样，输出信号的电平增加。但是，因为由磁性材料引起的增加的程度大于由来自指示器的压力引起的增加的程度，或者在磁性材料的情况中输出信号的电平增加处的区域比在手指的情况中宽，因此能够区分位置指示器与磁性材料。 
在根据本发明的物体检测装置中，能够使用具有以特定频率同步的同步电路的位置指示器作为除手指外的位置指示器。在这种情况中，驱动部20以与同步电路同步的特定频率驱动第一环线。当具有同步电路的位置指示器被放置在检测电路10上时，在指示位置处的电磁耦合的程度增加，从而来自第二环线2的输出信号的电平增加。当来自第二环线2的输出信号的电平减小时，这允许检测部30确定放置在检测表面10上的物体是导电材料，并检测该导电材料的形状和离该导电材料的距离，此外，当来自第二环线2的输出信号的电平增加时，允许确定放置在检测表面10上的物体使位置指示器，并检测由位置指示器指示的位置。在这种情况中，只要位置指示器具有同步电路，就能够使用诸如卡片型、垫片型的各种类型的位置指示器。 
另外，当以同步频率和另一频率顺序地驱动第一环线1时，不仅能够检测导电或磁性材料的形状和离该材料的距离，还区别地检测具 有同步电路的位置指示器和不具有同步电路的位置指示器。参照图6，将描述一种用于区别地检测具有同步电路的待测物体、不具有同步电路的待测物体、和导电或磁性材料的技术。图6是解释用于测量各种待测物体的过程的流程图。作为前提假设根据本发明的物体检测装置能够以第一频率fA和第二频率fB驱动第一环线组。此外，假设具有同步电路的位置指示器以第二频率fB同步。 
首先，以第一频率fA驱动第一环线1，并且在那时从第二环线2获得输出信号Aij(步骤100)。“i”和“j”表示获得各信号处的XY坐标。然后，确定输出信号Aij是否相对于表示没有任何东西放置在检测表面上的状态的基准输出信号增加或减小(步骤101)。在输出信号Aij减小的情况中，确定导电材料被放置在检测表面上并且输出信号被屏蔽效应减小，并且检测导电材料的形状以及离该材料的距离(步骤102)。在步骤101中输出信号Aij增加的情况中，以第二频率fB驱动第一环线1以在那时获得输出信号Bij(步骤103)。然后，检测输出信号Bij的电平是否高于输出信号Aij的电平(步骤104)。在输出信号Bij的电平不高于(等于)输出信号Aij的电平时，确定由非导电/非磁性材料制成的诸如手指的位置指示器被放置在检测表面上并且导电板4受压力使得靠近第一和第二环线以增加输出信号，并且检测由非导电材料指示的位置(步骤105)。在输出信号Bij的电平高于输出信号Aij的电平的情况下，在步骤104，确定具有同步电路的位置指示器被放置在检测表面上，并且因此输出信号的电平增加，并且检测由具有同步电路的位置指示器指示的位置(步骤106)。通过对于全部环线重复上述步骤，能够区别地检测各种物体。 
另外，可以采用以下构造。就是说，以第一频率fA和第二频率fB先驱动第一环线组，并存储各输出结果。之后，在输出信号Bij的电平高于输出信号Aij的电平的情况中，检测具有同步电路的位置指示器；在输出信号Aij的电平增加的情况中，检测由非导电材料制成的诸如手指的位置指示器；而在输出信号Aij的电平减小的情况中，检测导电材 料的形状和离该材料的距离。 
此外，当具有另一同步电路的位置指示器被用于以与该另一同步电路同步的频率来驱动第一环线时，能够区别地来检测更多数量的位置指示器。当频率可变时，涡电流随着频率变高而增加，因此，严格来说，即使放置在检测表面上的物体没有任何变化，输出信号的电平也会出现变化。为了补偿由于频率变化而导致输出信号的电平的变化，可以设置补偿电路，或者可以忽略小于预定阈值的变化。 
根据本发明的物体检测装置的构造不局限于在上述图中所示的示例，并且在不偏离本发明的范围的条件下可以实施各种修改。 

Claims (12)

1.一种物体检测装置，所述物体检测装置利用电磁感应来检测放置在所述装置的检测表面上由导电或磁性材料制成的待测物体的形状或离所述物体的距离，所述装置包括：
第一环线组，其中多个第一环线彼此平行地布置在同一平面上，所述多个第一环线每个都具有线圈形状的部分；
第二环线组，其中多个第二环线彼此平行地布置在同一平面上，所述多个第二环线的每个都具有多个线圈形状的部分，所述第二环线组与所述第一环线组平行布置，并且所述多个第二环线分别垂直于所述多个第一环线布置；
间隔物，所述间隔物使所述第一环线组与所述第二环线组之间的距离保持不变；
多个电磁耦合部，在所述多个电磁耦合部处所述第一环线和所述第二环线通过位于所述第一环线和所述第二环线之间的交叉处的所述线圈形状的部分彼此电磁耦合；
驱动器，所述驱动器连接到所述第一环线组和所述第二环线组中的一个，并驱动连接到所述驱动器的所述环线组；以及
检测器，所述检测器连接到所述第一环线组和所述第二环线组中的另一个，并从连接到所述检测器的所述环线组检测所述电磁耦合部处的每个的电磁耦合的程度的变化。
2.根据权利要求1所述的物体检测装置，其中所述第一环线的每个的所述线圈形状的部分在尺寸上与所述第二环线的每个的所述线圈形状的部分不同。
3.一种物体检测装置，所述物体检测装置利用电磁感应来检测放置在所述装置的检测表面上由导电或磁性材料制成的待测物体的形状或离所述物体的距离，所述装置包括：
第一环线组，其中多个第一环线彼此平行地布置在同一平面上，所述多个第一环线的每个都具有多个线圈形状的部分；
第二环线组，其中多个直线形状的第二环线彼此平行地布置在同一平面上，所述第二环线组平行于所述第一环线组布置，并且所述多个第二环线分别垂直于所述多个第一环线布置；
间隔物，所述间隔物使所述第一环线组与所述第二环线组之间的距离保持不变；
多个电磁耦合部，在所述多个电磁耦合部处所述第一环线和所述第二环线通过位于所述第一环线与所述第二环线之间的交叉处的线圈形状的部分彼此电磁耦合；
驱动器，所述驱动器连接到所述第一环线组和所述第二环线组中的一个，并驱动连接到所述驱动器的所述环线组；以及
检测器，所述检测器连接到所述第一环线组和所述第二环线组中的另一个，并从连接到所述检测器的所述环线组检测所述电磁耦合部处的每个的电磁耦合的程度的变化。
4.一种物体检测装置，所述物体检测装置利用电磁感应来检测放置在所述装置的检测表面上由导电或磁性材料制成的待测物体的形状或离所述物体的距离，所述装置包括：
第一环线组，其中多个直线形状的第一环线彼此平行地布置在同一平面上；
第二环线组，其中多个直线形状的第二环线彼此平行地布置在同一平面上，所述第二环线组平行于所述第一环线组布置，并且所述多个第二环线分别垂直于所述多个第一环线布置；
间隔物，所述间隔物使所述第一环线组与所述第二环线组之间的距离保持不变；
多个电磁耦合部，在所述多个电磁耦合部处所述第一环线和所述第二环线通过位于所述第一环线与所述第二环线之间的交叉处附近的多个导电板彼此电磁耦合；
驱动器，所述驱动器连接到所述第一环线组和所述第二环线组中的一个，并驱动连接到所述驱动器的所述环线组；以及
检测器，所述检测器连接到所述第一环线组和所述第二环线组中的另一个，并从连接到所述检测器的所述环线组检测所述电磁耦合部的每个处的电磁耦合的程度的变化。
5.根据权利要求4所述的物体检测装置，其中所述导电板被设置在位于相邻的第一环线组之间且位于相邻的第二环线组之间的部分附近。
6.根据权利要求4所述的物体检测装置，其中所述导电板被设置在位于所述第一环线的附近且位于相邻的第二环线之间的部分处，以及设置在位于所述第二环线的附近且位于相邻的第一环线之间的部分处。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的物体检测装置，其中所述导电板被固定以便所述导电板与所述第一环线组之间的距离以及所述导电板与所述第二环线组之间的距离分别都是不变的。
8.根据权利要求4至6中任一项所述的物体检测装置，其中所述导电板通过弹性材料设置在所述第一环线组及所述第二环线组附近，并且所述导电板与所述第一环线组之间的距离以及所述导电板与所述第二环线组之间的距离被施加到所述导电板上的压力改变。
9.根据权利要求4至6中任一项所述的物体检测装置，其中所述导电板被形成为线圈形状。
10.根据权利要求1至6中任一项所述的物体检测装置，其中，当待测物体和不同于所述待测物体的位置指示器被放置在所述检测表面上时，在来自所述第一环线组和所述第二环线组中的一个的输出信号的电平减小的情况下，所述检测器检测所述待测物体的形状，而在来自所述第一环线组和所述第二环线组中的一个的输出信号的电平增加的情况下，所述检测器检测由所述位置指示器指示的位置。
11.根据权利要求10所述的物体检测装置，其中所述位置指示器具有以特定频率同步的同步电路，并且所述驱动器以所述特定频率来驱动所述第一环线组和所述第二环线组中的另一个。
12.根据权利要求11所述的物体检测装置，其中当待测物体、具有所述同步电路的位置指示器、和不具有所述同步电路的位置指示器被放置在所述检测表面上时，
所述驱动器以第一频率和第二频率来驱动所述第一环线组和所述第二环线组中的另一个，
所述同步电路以所述第二频率同步，
当在以所述第一频率驱动所述第一环线组和所述第二环线组中的另一个的情况下，来自所述第一环线组和所述第二环线组中的一个的输出信号的电平减小时，所述检测器检测所述待测物体的形状，
当在以所述第一频率驱动所述第一环线组和所述第二环线组中的另一个的情况下，来自所述第一环线组和所述第二环线组中的一个的输出信号的电平增加时，所述检测器检测由不具有所述同步电路的位置指示器指示的位置，以及
当在以所述第二频率驱动所述第一环线组和所述第二环线组的另一个的情况下获得的输出信号的电平高于在以所述第一频率驱动所述第一环线组和所述第二环线组的另一个的情况下获得的输出信号的电平时，所述检测器检测由具有所述同步电路的位置指示器指示的位置。
CN2007800224636A 2006-06-19 2007-06-04 利用电磁感应来检测物体的物体检测装置 Active CN101473188B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP169145/2006 2006-06-19
JP2006169145 2006-06-19
PCT/JP2007/000596 WO2007148429A1 (ja) 2006-06-19 2007-06-04 電磁誘導を用いて物体を検出する物体検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101473188A CN101473188A (zh) 2009-07-01
CN101473188B true CN101473188B (zh) 2011-01-19

Family

ID=38833176

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007800224636A Active CN101473188B (zh) 2006-06-19 2007-06-04 利用电磁感应来检测物体的物体检测装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8013598B2 (zh)
EP (1) EP2031346A4 (zh)
JP (1) JP5028552B2 (zh)
KR (1) KR101098200B1 (zh)
CN (1) CN101473188B (zh)
WO (1) WO2007148429A1 (zh)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008050468A1 (fr) 2006-10-24 2008-05-02 Newcom, Inc. Outil opérationnel avec pièce conductrice
JP2010169462A (ja) * 2009-01-21 2010-08-05 Newcom Inc 電磁結合度の変化を検出して入力体情報を検出する入力体情報検出装置
US8339372B2 (en) * 2009-04-20 2012-12-25 Broadcom Corporation Inductive touch screen with integrated antenna for use in a communication device and methods for use therewith
US8810523B2 (en) 2009-04-20 2014-08-19 Broadcom Corporation Inductive touch screen and methods for use therewith
US20130127736A1 (en) * 2011-11-18 2013-05-23 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Electromagnetic touchscreen
KR20130107886A (ko) * 2012-03-23 2013-10-02 삼성전기주식회사 디지타이저
KR102089607B1 (ko) * 2013-05-28 2020-03-17 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
KR102111032B1 (ko) * 2013-08-14 2020-05-15 삼성디스플레이 주식회사 터치 감지 표시 장치
CN104990494B (zh) * 2015-03-05 2016-09-07 三峡大学 一种快速测量轴孔参数的装置及测量方法
JP6698386B2 (ja) * 2016-03-10 2020-05-27 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置およびタッチ検出装置
JP6677587B2 (ja) * 2016-06-24 2020-04-08 株式会社ワコム 位置検出装置及び位置検出センサの制御方法
CN111727359A (zh) * 2018-02-15 2020-09-29 触觉实验室股份有限公司 用于感测压力的装置和方法
CN109188534B (zh) * 2018-09-11 2020-02-04 电子科技大学 一种基于主动电场原理的水下金属形状探测方法及装置
JP7091963B2 (ja) * 2018-09-14 2022-06-28 オムロン株式会社 物体検知センサおよび物体検知システム
CN110703959B (zh) * 2019-08-26 2021-01-29 华为技术有限公司 输入装置及方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005156474A (ja) * 2003-11-28 2005-06-16 Xiroku:Kk 電磁結合を用いる圧力検出装置

Family Cites Families (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3021711A (en) 1957-05-10 1962-02-20 Svenska Flygmotor Aktiebolaget Device for measuring pressure or difference of pressure in fluids
US3722288A (en) 1969-01-31 1973-03-27 Hughes Aircraft Co Electromagnetic coupled detector of dynamic gravitational force gradients
JPS5146714B2 (zh) * 1972-06-16 1976-12-10
JPS5057125A (zh) * 1973-09-18 1975-05-19
JPS5146714A (en) 1974-10-18 1976-04-21 Ig Gijutsu Kenkyusho Kk Zooryutaikazai oyobi zooryutaikazaio mochiitenaru taikapaneru
JPS5245823A (en) * 1975-10-09 1977-04-11 Kazunari Imahashi Chinese character input unit
US4353050A (en) 1980-06-13 1982-10-05 Ranco Incorporated Displacement measuring transducer
JPS5711331A (en) 1980-06-24 1982-01-21 Takeo Uchida Shouldering tool
JPS57100331A (en) 1980-12-15 1982-06-22 Agency Of Ind Science & Technol Measuring device for load distribution
JPS57165849A (en) 1981-04-07 1982-10-13 Ricoh Co Ltd Electrophotographic toner
JPS5971141U (ja) 1982-11-02 1984-05-15 株式会社東芝 ロ−ドセル
JPS60221820A (ja) 1983-08-05 1985-11-06 Wacom Co Ltd 位置検出装置
JPS61135240A (ja) 1984-12-05 1986-06-23 Fujitsu Ltd 信号選択受信回路
JPH0652206B2 (ja) 1986-03-28 1994-07-06 工業技術院長 静電容量型圧力分布測定装置
JPH0610269Y2 (ja) 1986-10-27 1994-03-16 池田物産株式会社 圧力分布測定装置
JPH0646171B2 (ja) 1987-09-19 1994-06-15 工業技術院長 圧覚センサ
JPH01212301A (ja) 1988-02-19 1989-08-25 Toshiba Corp ひずみセンサ
US4918418A (en) 1988-08-04 1990-04-17 Caterpillar Inc. Inductive coil structure with electrical return path
JPH0278925A (ja) 1988-09-16 1990-03-19 Yokohama Syst Kenkyusho:Kk 静電容量型圧力センサ
US4944187A (en) 1988-12-23 1990-07-31 Rosemount Inc. Multimodulus pressure sensor
JP2732145B2 (ja) * 1990-04-19 1998-03-25 株式会社エース電研 パチンコゲーム機におけるパチンコ玉検出装置
US5120908A (en) 1990-11-01 1992-06-09 Gazelle Graphic Systems Inc. Electromagnetic position transducer
JPH05231809A (ja) * 1992-02-24 1993-09-07 Nippon Denshi Kogyo Kk 起電力形渦電流変位計
US5564696A (en) * 1992-04-28 1996-10-15 Kabushiki Kaisha Ace Denken Metal object detection system for detecting the position of a metal object
US5543588A (en) 1992-06-08 1996-08-06 Synaptics, Incorporated Touch pad driven handheld computing device
US5861583A (en) 1992-06-08 1999-01-19 Synaptics, Incorporated Object position detector
JPH0755615A (ja) 1993-08-10 1995-03-03 Agency Of Ind Science & Technol 静電容量型力センサ
JPH09113203A (ja) 1995-10-16 1997-05-02 Toyoda Mach Works Ltd 差動トランスおよびそれを用いた測定装置
JPH10198494A (ja) 1997-01-01 1998-07-31 Wacom Co Ltd データタブレット
US6338199B1 (en) 1997-03-25 2002-01-15 Canon Kabushiki Kaisha Sensor
US6480187B1 (en) 1997-08-07 2002-11-12 Fujitsu Limited Optical scanning-type touch panel
JP3543695B2 (ja) 1999-03-17 2004-07-14 富士ゼロックス株式会社 駆動力発生装置
JP2000322201A (ja) 1999-05-06 2000-11-24 Ricoh Co Ltd 座標入力装置
JP3934846B2 (ja) 2000-03-06 2007-06-20 株式会社リコー 座標入力／検出装置、電子黒板システム、受光素子の位置ズレ補正方法及び記憶媒体
JP2001265517A (ja) 2000-03-17 2001-09-28 Ricoh Co Ltd 座標入力装置、センサヘッド取り付け方法、座標入力装置付き表示装置および記録媒体
US6690363B2 (en) 2000-06-19 2004-02-10 Next Holdings Limited Touch panel display system
US6803906B1 (en) 2000-07-05 2004-10-12 Smart Technologies, Inc. Passive touch system and method of detecting user input
ATE345525T1 (de) 2000-07-05 2006-12-15 Smart Technologies Inc Kamerabasiertes beruehrungssystem
US6471613B1 (en) 2000-08-23 2002-10-29 Daimlerchrysler Corporation Transmission with variable line pressure
JP3736440B2 (ja) 2001-02-02 2006-01-18 株式会社セガ カード及びカードゲーム装置
JP2002268807A (ja) 2001-03-14 2002-09-20 Ricoh Co Ltd 座標入力装置、座標入力機能を実行するプログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体
JP4768143B2 (ja) 2001-03-26 2011-09-07 株式会社リコー 情報入出力装置、情報入出力制御方法およびプログラム
US6960911B2 (en) 2002-01-29 2005-11-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Strain sensor
JP3645553B2 (ja) 2002-01-29 2005-05-11 株式会社東芝 歪みセンサ
JP2003337071A (ja) 2002-05-20 2003-11-28 Yokohama Tlo Co Ltd 触覚センサ
DE10252862B3 (de) * 2002-11-12 2004-07-15 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Einrichtung zum Messen einer Kraft
US7256772B2 (en) 2003-04-08 2007-08-14 Smart Technologies, Inc. Auto-aligning touch system and method
CN100458670C (zh) 2003-05-19 2009-02-04 株式会社伊特 使用了区域图像传感器的位置检测装置
GB0313808D0 (en) * 2003-06-14 2003-07-23 Binstead Ronald P Improvements in touch technology
JP2005275760A (ja) 2004-03-24 2005-10-06 Ntt Comware Corp パック装置およびセンステーブル管理装置、ならびに移動軌跡算出方法、移動軌跡算出プログラム、記録媒体
US7703342B2 (en) * 2005-03-30 2010-04-27 Xiroku, Inc. Pressure distribution detection device
US7602157B2 (en) 2005-12-28 2009-10-13 Flyback Energy, Inc. Supply architecture for inductive loads
JP3928976B1 (ja) * 2006-01-19 2007-06-13 株式会社シロク 電磁結合を利用する圧力分布検出装置
US7861605B2 (en) 2006-07-14 2011-01-04 Newcom, Inc. Pressure distribution sensor utilizing electromagnetic coupling
WO2008050468A1 (fr) 2006-10-24 2008-05-02 Newcom, Inc. Outil opérationnel avec pièce conductrice

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005156474A (ja) * 2003-11-28 2005-06-16 Xiroku:Kk 電磁結合を用いる圧力検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007148429A1 (ja) 2007-12-27
KR101098200B1 (ko) 2011-12-23
EP2031346A1 (en) 2009-03-04
US8013598B2 (en) 2011-09-06
CN101473188A (zh) 2009-07-01
US20090146654A1 (en) 2009-06-11
EP2031346A4 (en) 2014-07-02
KR20090020575A (ko) 2009-02-26
JP5028552B2 (ja) 2012-09-19
JPWO2007148429A1 (ja) 2009-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101473188B (zh) 利用电磁感应来检测物体的物体检测装置
CN102736804B (zh) 单层感应层的二维电容式触控板
CN102023771B (zh) 感测基板和位置检测装置
CN105379061B (zh) 用于检测感应充电器中的外来物体的方法和装置
KR20080003381A (ko) 압력 분포 검출 장치
KR20140051385A (ko) 측정 장치의 주위 환경들의 자기 특성들을 측정하기 위한 측정 장치
WO2013190504A1 (en) High resolution eddy current array probe
US8717012B2 (en) Eddy current probe for surface and sub-surface inspection
KR20050078205A (ko) 기판검사 장치 및 기판검사 방법
US9322806B2 (en) Eddy current sensor with linear drive conductor
CN110031543B (zh) 一种结合涡流与永磁扰动柔性阵列技术的传感器
JP2007157107A5 (zh)
US20060108995A1 (en) Low power and proximity AC current sensor
CN103985189A (zh) 纸币厚度的测量装置
CN110431428A (zh) 具有磁场梯度传感器的电流换能器
CN102743167B (zh) 用于磁感应成像系统的集成屏蔽线圈传感器
US20040129771A1 (en) Device for accepting banknotes
CN103460057B (zh) 无接触地确定电势的方法以及设备
CN104167043A (zh) 一种芯片式弱磁检测传感器
CN103617669B (zh) 一种硬币检测装置
CN202049133U (zh) 用于检测实心线形物体的测量端
CN108982655B (zh) 一种t型蜿蜒激励式涡流传感器及其线圈绕制方法
CN203825715U (zh) 纸币厚度的测量装置
Avila et al. A novel dual modality sensor with sensitivities to permittivity and conductivity
CN219368643U (zh) 一种基于电磁微位移测量技术的柔性阵列传感线圈

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20161130

Address after: Ibaraki

Patentee after: Newcom Inc.

Address before: Ibaraki

Patentee before: Newcom Inc.

TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20190506

Address after: Ibaraki

Patentee after: Xiroku Inc.

Address before: Ci Chengxian

Patentee before: NC3 Corporation

TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20210121

Address after: Saitama Prefecture, Japan

Patentee after: Newcom, Inc.

Address before: Ibaraki

Patentee before: XIROKU, Inc.